JPH0235367A - 分折用試料供給方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、分析用試料供給方法に係り、特に自動分析装
置の試料容器から反応容器へ液体試料を分取する場合に
用いるに好適な分析用試料供給方法に関する。

〔発明の背景〕

従来、自動分析装置に用いられている試料供給装置は、
例えば第１図に示すごとく、試料テーブル１上に試料容
器２を配列して回転軸３の回りに例えば矢印５の方向に
回転し、自動分析装置の試斜眼入位置４へ試料容器２を
順次移動させ、被測定試料を分取するような方式が最も
多い。第１図に示しである状態を分析開始の基準位置と
すると、試料吸入位置４にある試料容器６は自動分析装
置較正のうち０点調整に用いるブランク用試料を入れて
おくための試料容器であり、試料容器７は利得調整に用
いる標準試料を入れておくための試料容器である。続く
試料容器８以下は被測定試料を入れておくための試料容
器である。分析測定を開始して試料容器８以下の普通試
料を順次分取していくが、この場合試料容器８以下の普
通試料に関する分取の条件、例えば分取量や分析項目等
は前もって決められており、それに従って分取していた
。そのため同一試料については各測定項目につき１回分
の試料を分取していた。

ところが最近エンザイムイムノアツセイ（免疫反応法）
等の測定が増える傾向にあり、この場合は同一試料につ
いて複数回測定するのが望ましいのであるが、従来の分
析装置によっては同一試料の特定の分析項目について複
数回の分取を自動的に行うのが困難であった。

第１図の従来技術に関連する試料テーブルの位置決めの
ための構成は、実開昭５１−１６１８３９号に示されて
いる。この例では、円盤」二に試料容器を配列し、この
円盤と一体回転する符号板を設け、この符号板に半径の
異なる複数の円周を等分割した点と回転中心を結ぶ半径
方向に複数の孔の列を形成してコード化し、各孔の列に
対応する複数の受光素子の出カバターンからなるコード
信号によって回転角情報を得る構成が示されている。

この例によれば、円盤」二の各試料容器に対応してコー
ド信号が得られるように多数の孔を符号板に設けなけれ
ばならず、受光素子も多数用いなければならない。しか
も、この実開昭５１．−１．６１８３９号にも同一の試
料の特定の分析項目について複数回の分取を自動的に行
うための具体的構成が示されていない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、試料テーブル」二に置かれた同一試料
の複数回の分取を、位置情報を入力しておくだけの簡単
な方法で実行可能にした試料供給装置を提供することに
ある。

〔発明の概要〕

本発明は、複数の試料容器を配列し得る試料保持用回転
テーブルと、この回転テーブルの位置決め用の検知孔が
形成され上記回転テーブルと共に駆動される検知板と、
上記検知孔を検知する検知器を用いて、上記回転テーブ
ルの位置決めを行う分析用試料供給方法において、上記
検知板には回転テーブルに載置し得る各試料容器に対応
づけられた複数の検知孔を同一円周上に形成しておくと
共にその円周から離間して基準位置決め用の単一の基準
検知孔を形成しておくこと、同一の試料について同一の
分析項目の反応容器への複数回の分取が必要なときに入
力装置からその試料についての回転テーブル−にの試料
位置情報を連続したシーケンス番号で入力し記憶部に記
憶すること、この記憶部からシーケンス番号順に読み出
された試料位置情報が同しものの複数回の連続であると
きに回転テーブルを停止状態のままとし、指定されてい
る分取回数の試料分取動作を試料吸入プローブによって
繰り返すこと、および指定された回数の試料分取が終了
したあと、上記基準検知孔を基準として上記円周上の検
知孔の数に基づく信号によって回転テーブル上の試料容
器を位置決めし、次の試料容器を試料分取位置に停止す
ること、を特徴とする。

〔実施例〕

第２図は本発明の実施例の側断面図を示す。試料テーブ
ル９は外筒２０に固定され、外筒２０は内筒２１に固定
されている。軸受２２および２３を有する内筒２１はベ
ース２４に固定されている。

外筒２０には検知板２５が固定され、外筒２０の外周に
歯車２６が付いている。ベース２４に固定されたモータ
２８の軸には歯車２７が固定されており、歯車２６と連
結してモータ２８の回転を試料テーブル９に伝える。検
知器２９．３０はベース２４に固定された金具３１．３
２にそれぞれ保持されている。

第３図は検知板２５と検知器２９．３０の関係を示す平
面図である。検知器２９．３０は光学的位置検知器（ホ
トセンサー）であり、それぞれ検知板２５」二の検知孔
３３．３４を検知する。第４図は試料テーブル９の平面
図であるが、試料容器列４３」；には４０箇の試料容器
を設置できるようになっている。まず分取すべき試料が
試料吸入位置１］にきたとき、試料テーブル９は停止す
る。

いま試料容器］３が試料吸入位置１１にあるとすると、
試料吸入プローブ」７は回転装置１８によって回転し、
試料容器１３で下降する。そして必要試料量をポンプ１
９の動作によって吸入したあと、試料吸入プローブ１７
は再び動いて反応ライン」−の反応容器４５内に吐出し
たあと、洗浄槽４６によって洗浄され、再び次の試料を
吸入するために試料テーブル９側に移動する。もし試料
容器１３からの分取回数が複数回と入力してあれば、分
取が済むまで試料テーブルは停止している。

次に第３図の検知孔と第４図の試料容器の関係について
述へる。基準位置決め用の検知孔３３は１箇であり、試
料テーブル９の基準位置を定めるだめのものである。つ
まり検知孔３３が検知器２９を通過したとき検知器３０
の位置にある検知孔３４の位置を試料テーブル９の基準
位置とし、このとき試料吸入位置１１にある試料容器を
基準位置の容器とすると、基準容器からの順番で試料容
器列４３」二の容器を区別することができる。ここで検
知孔列４４」二の孔と試料容器列４３上の容器は」対１
に対応づけられており、検知孔が１ピッチ進めば、試料
容器も１ピッチ進むようになっている。

第５図は本実施例の制御系のブロック図である。

記憶装置４０　（ＲＯＭ）に格納されているプログラム
に従って中央処理装置３５は動作している。

いまキイ入力装置３８より試料の種類と試料分取の順番
と試料テーブル上の位置及び測定項目を入力すると、中
央処理装置１１３５はこの情報を記憶装置４．１（ＲＡ
Ｍ）に格納するとともに表示装置３９に表示する。今、
同一試料の各分析項目を複数回測定したい場合は上記入
力後、次の試料分取の順番と、該試料の位置及び分析項
目を入力する。

以下同様に繰り返せば同一試料の各分析項目を複数回測
定できることになる。ここで試料の種類とは分析装置較
正用のブランク試料、標準試料、普通試料のことであり
、また分析項目は主項目又は複数項目のいずれでも可で
あり、複数項目ならば項目の数だけ回転装置］８及びポ
ンプ１９は動作することになる。

以」二のように各試料に対する試料分取の情報が入力さ
れたならば、分析装置を起動し、分析を開始する。まず
中央処理装置３５は記憶装置４］に格納されている試料
情報を読み出し、試料分取の順番の１番若い試料につい
て入力されている試料テーブル上の位置にある試料容器
が試料吸入位置］−］−にくるように試料テーブル９を
回転させる。

つまり、中央処理装置は検知器２９及び３０からの信号
を検知受信装置３７を通して試料テーブル９上の試料容
器の位置を監視し、所定の試料容器が試料吸入位置１１
にきたらモータ２８を停止し、試料テーブル９を所定位
置で止める。

次に回転装置１８を回転させ試料吸入プローブ１７を試
料容器へ下ろし、ポンプ１９により試料を一定量吸入す
る。吸入後、回転装置１８を反応容器４５まで回転し試
料を反応容器４５の中へ吐出する。吐出後回転装置１８
を洗浄槽４６まで回転し、試料吸入プローブを洗浄する
。ただし同一・試料の分析項目が複数の場合はプローブ
を洗浄せず最後の項目を測定容器へ吐出後に次の試料を
分取１こ行く前にプローブを洗浄する。一つの試料につ
いての分取が終了すると、中央処理装置３５は次の順番
の試料についての分取動作を制御する。

もしこの試料の位置が１つ前に分取した試料と同し位置
にあるならば、試料テーブル９は回転せず同し場所にと
どまっている。そしてこの状態で」二連したと同じよう
に試料を分取する。以下同様にして入力した試料分取の
順に従って試料を分取していく。試料分取の終了は分析
項目が入力していない順番にきたとき自動的に行い、分
析装置より再スタートの信号がくるまで停止し続ける。

また各反応容器４５に注入された試料には反応用試薬を
加えた後測定し、結果はプリンター４２により出力され
る。

第６図は本実施例における試料供給装置の制御方法をフ
ローチャー１〜で示したものである。まず分析装置のス
ター１〜と同様に試料供給装置もスタートし、試料分取
のシーケンス類に入力されている試料情報を記憶装置４
１がら読み出してくる。

そして分取に必要な試料情報、例えば分析項目や試料テ
ーブル」−の位置の情報が入力されていれば、試料テー
ブルの回転か必要がどうかをチエツクして分取すべき試
料が分取位置になければ試料テーブルを回転させ試料を
分取位置まで回転させる。

もし分取すべき試料が分取位置にあるなら回転しない。

このことはシーケンス類に入力されている試料情報のう
ち試料の位置の情報とした同一位置の情報を続いたシー
ケンス番号について入力することにより同一試料の分取
回数を任意に決めることができることになる。次に入力
された試料情報に従い試料の分取を行う。−試料当りの
分析項目は単項目の時もあり複数項目の時もある。また
一般には項目により分取量も異なるが、いずれにしても
入力されている全分析項目についての分取が終了するま
で一試料についての分取を繰り返す。

−試料についての指定された回数の分取が終了したなら
ば試料吸入プローブを洗浄して次のシーケンス番号につ
いての分取を行うため、シーケンス番号を１つ増やして
スター１−点へ戻り以上述へた動作を試料情報が無くな
るまで繰り返す。もし、シーケンス番号に対応する試料
情報の入力が無いならば試料供給装置は試料テーブルの
動作を停止し、次に分析装置からスタート指令がくるま
で待機している。

以」二のように本発明の実施例によれば、試料情報を入
力することにより同一試料の複数回分取を容易に行うこ
とができる。

上述の実施例では１試料当りの測定項目数だけ分取動作
を繰り返しているが、１回の分取量を測定項目数分にし
て１回の分取で測定項目全部をまかなうようにすれば分
析装置の測定時間を短くできる。また」二連の実施例で
は試料テーブルは一列の試料容器列を持っているが、こ
れは複数列でも可能でありこの場合は多数試料を同時に
試料テーブルに載せることができ、試料供給装置の小型
化につながる。

〔発明の効果〕

以上の説明かられかるように、本発明によれば比較的簡
単な構成と操作でもって、同一試料を複数回分取ができ
るため、同一試料を複数回分取する必要のある分析法を
自動的に実施することができ、オペレータの労力を減す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来技術による試料供給装置の説明図、第２図
は本発明の一実施例の側断面図、第３図は回転停止の位
置検知板と検知器の関係を説明する平面図、第４図は試
料テーブル」二の試料の動きと分取方法を説明する平面
図、第５図は第２図の実施例の制御系のブロック図、第
６図は試料供給装置の制御方法を示すフローチャー１・
である。 ９・・・試料テーブル、１０．１３〜１６・・試料容器
、１７・・・試料吸入プローブ、２５・検知板、２９゜
３０　・検知器、３３．３４・・・検知穴、３８・・キ
イ入力装置、４５・・反応容器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、複数の試料容器を配列し得る試料保持用回転テーブ
   ルと、この回転テーブルの位置決め用の検知孔が形成さ
   れ上記回転テーブルと共に駆動される検知板と、上記検
   知孔を検知する検知器を用いて、上記回転テーブルの位
   置決めを行う分析用試料供給方法において、上記検知板
   には上記回転テーブルに載置し得る各試料容器に対応づ
   けられた複数の検知孔を同一円周上に形成しておくと共
   に上記円周から離間して基準位置決め用の単一の基準検
   知孔を形成しておくこと、同一の試料について同一の分
   析項目の反応容器への複数回の分取が必要なときに入力
   装置からその試料についての上記回転テーブル上の試料
   位置情報を連続したシーケンス番号で入力し記憶部に記
   憶すること、この記憶部からシーケンス番号順に読み出
   された試料位置情報が同じものの複数回の連続であると
   きに上記回転テーブルを停止状態のままとし、指定され
   ている分取回数の試料分取動作を試料吸入プローブによ
   つて繰り返すこと、および指定された回数の試料分取が
   終了したあと、上記基準検知孔を基準として上記円周上
   の検知孔の数に基づく信号によつて上記回転テーブル上
   の試料容器を位置決めし、次の試料容器を上記試料分取
   位置に停止すること、を特徴とする分析用試料供給方法
   。