JPH0235340B2 - - Google Patents

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JPH0235340B2
JPH0235340B2 JP56012576A JP1257681A JPH0235340B2 JP H0235340 B2 JPH0235340 B2 JP H0235340B2 JP 56012576 A JP56012576 A JP 56012576A JP 1257681 A JP1257681 A JP 1257681A JP H0235340 B2 JPH0235340 B2 JP H0235340B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
storage device
failure
failure detection
detection
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP56012576A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57127998A (en
Inventor
Kyokatsu Iijima
Haruhiko Tsunoda
Masamitsu Kobayashi
Shigeo Kaneda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP56012576A priority Critical patent/JPS57127998A/ja
Publication of JPS57127998A publication Critical patent/JPS57127998A/ja
Publication of JPH0235340B2 publication Critical patent/JPH0235340B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、障害ユニツト切離し検出方式、特に
記憶領域が複数のメモリ・ユニツトに区分して構
成される記憶装置内で各メモリ・ユニツトに共通
にいわば単一のユニツト障害検出部をもうけると
共にアクセス側装置側に記憶装置障害検出部をも
うけ、各メモリ・ユニツトが時間的にシリヤルに
アクセスされる点に着目して、各メモリ・ユニツ
トの個別の障害を検出して切離しを行ない得るよ
うにした障害ユニツト切離し検出方式に関するも
のである。
データ処理システムにおいては、(i)システムを
障害発生前の状態に戻すために必要な情報を抽出
しつつ処理を進め、障害発生時に上記情報をもと
にして再試行を行なうようにされ、(ii)当該障害が
固定障害であつてシステム内の特定の資源に起因
している場合には、当該資源をシステムから切離
して、代替手段を用いてあるいはシステム資源の
縮少をはかつて続行処理を行なうようにされる。
上記の如き処理特に後者の処理を行なうに当つ
ては、個々の資源に起因する障害を特定すること
が不可欠であるが、記憶装置についてみると、最
近1つの装置当りの記憶容量当りの記憶容量が
益々増大ししたがつて装置に搭載されるメモリ・
ユニツトの個数が増大していることから、個々の
メモリ・ユニツト対応に障害検出手段をもうける
ことは実用的でなくまた個々の障害検出手段によ
る検出結果を収集するインタフエースが大とな
る。
本発明は、上記の点を解決することを目的とし
ており、上記メモリ・ユニツトに対するアクセス
がいわば時間的にシリヤルに行なわれる点に着目
して、少ないハードウエア構成によつて、個々の
メモリ・ユニツトにおける障害を抽出できるよう
にすることを目的としている。そしてそのため、
本発明の障害ユニツト切離し検出方式は、記憶領
域が複数のメモリ・ユニツトに区分して構成され
る記憶装置、および該記憶装置に対するアクセス
を行なうアクセス側装置をそなえ、上記記憶装置
と上記アクセス側装置とがバスを介して連繋され
るデータ処理システムにおいて、 上記複数のメモリ・ユニツトからの夫々の読出
しデータが上記記憶装置内で共通に乗るバス上に
各ユニツトに共通なユニツト障害検出部をもうけ
ると共に、 上記読出しデータが上記バスを介して転送され
てくる上記アクセス側装置内に記憶装置障害検出
部と、 上記ユニツト障害検出部からの障害検出結果と
上記記憶装置障害検出部からの障害検出結果とを
照合する照合回路とをもうけ、 上記ユニツト障害検出部による障害検出結果を
上記アクセス側装置側に転送した上で当該検出結
果と上記記憶装置障害検出部による障害検出結果
とを上記照合回路において照合するよう構成し
て、 上記各メモリ・ユニツト単位での障害を識別す
るようにした ことを特徴としている。以下図面を参照しつつ説
明する。
図は本発明の一実施例構成を示す。図中の符号
1はアクセス側装置、2Aないし2Nは夫々記憶
装置、2A0ないし2Anおよび2N0ないし
2Nnは夫々メモリ・ユニツト、3Aないし3Nは
夫々レジスタ、4Aないし4Nは夫々エラー検出
部、5Aないし5Nは夫々2ビツト・エラー検出
部、6Aないし6Nは夫々記憶装置内データ・バ
ス、7Aないし7Nは夫々連繋バス、8Aないし
8Nは夫々信号線、9はメモリ・アクセス・キユ
ーであつてアクセス側装置1においてメモリをア
クセスした順序をキユーの形で保持しているも
の、10Aないし10Nは夫々レジスタ、11A
ないし11Nは夫々障害結果情報受信レジスタ、
12Aないし12Nは夫々2ビツト・エラー検出
情報受信レジスタ、13はアクセス側装置内デー
タ・バス、14はエラー検出部、15は2ビツ
ト・エラー検出部、16は1ビツト・エラー訂正
回路、17は照合回路を夫々表わしている。
メモリ読出しアクセスに当つて、アクセス側装
置は、アドレス情報にもとづいて記憶装置2Aな
いし2Nのいずれに対するものかによつて対応す
る記憶装置に対して読出しアクセス要求を発し、
アドレス情報を送出する。そして、このときアク
セスを行なつた旨をキユー9に格納する。このよ
うなアクセス要求はバス7や6において許される
範囲で時間的にシリヤルに行なつてゆく。
例えば記憶装置2Aに対するアクセスである場
合、当該記憶装置2Aにおいては、アドレス情報
に対応したメモリ・ユニツト例えば#0ユニツト
2A0に対して読出しアクセスが行なわれて当該
#0ユニツト2A0からの読出しデータがレジス
タ3Aにセツトされてアクセス側装置1に転送さ
れる。このときバス6A上の当該読出しデータに
ついてエラー検出部4Aにおいてエラー・チエツ
クが行なわれる。そしてエラー・チエツクの結果
は、信号線8Aを介してアクセス側装置1に通知
される。言うまでもなく記憶装置2に格納されて
いる情報には例えば1ビツト訂正・2ビツト検出
用のエラー訂正コードが附与されており、2ビツ
ト・エラーが生じている場合には2ビツト・エラ
ー検出部5Aにおいて検出し、この旨を特別にア
クセス側装置1に通知する。
アクセス側装置1においては、記憶装置2Aか
らの読出しデータはレジスタ10Aにセツトさ
れ、エラー検出部14および15によつてチエツ
クされる。このとき周知の如く、メモリ・アクセ
ス・キユー9から対応する#0ユニツト2A0に
対するアクセスに関する情報が出力され、レジス
タ10Aの内容がユニツト2A0に対するアクセ
スであることを知ることができる。
エラー検出部14および15による検出結果
は、照合回路17において、レジスタ11Aおよ
び12Aの内容を照合される。また仮に1ビツ
ト・エラーが生じていたとすると、1ビツト・エ
ラー訂正回路16によつてエラー訂正が行なわれ
る。
上記2ビツト・エラー検出部5Aにおいて2ビ
ツト・エラーを検出した場合にはエラーとしての
処理がなされるべきであり、レジスタ12Aに2
ビツト・エラーが通知された場合、アクセス側装
置1においては、2ビツト・エラー検出部15に
よる2ビツト・エラー検出を待つことなく、直ち
にエラー処理に入るようにされる。
上記の如く次々と読出しアクセスが行なわれる
が、照合回路17による照合結果に応じて、装置
内単一障害を考えると次の事柄を判定することが
可能となる。即ち、 (A) 例えばメモリ・ユニツト2A0に対する読出
しアクセス時に、検出部4Aの検出結果が「エ
ラーなし」でありかつ検出部14の検出結果が
「エラーなし」である場合、読出し処理結果に
エラーがなくかつ7Aにエラーがなくかつ各検
出部にエラーがないとして処理する。
(B) 例えばメモリ・ユニツト2A0に対する読出
しアクセス時に、検出部4Aの検出結果が「エ
ラーであり」でありかつ検出部14の検出結果
が「エラーなし」である場合、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2Anに対
するアクセスにおいても同じ結果であれば、
検出部4Aまたは14またはバス7A、レジ
スタ3A,10Aにおける障害であるとして
処理し、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2Anに対
するアクセスにおいて異なる結果であれば、
#0メモリ・ユニツトにおける障害であつた
として処理し、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2N0に対
するアクセスにおいて異なる結果であれば、
#0メモリ・ユニツトにおける障害であつた
として処理し、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2N0に対
するアクセスにおいて同じ結果であれば、検
出部4Aまたは14における障害であるとし
て処理する。
(C) 例えばメモリ・ユニツト2A0に対する読出
しアクセス時に、検出部4Aの検出結果が「エ
ラーなし」でありかつ検出部14の検出結果が
「エラーあり」であつた場合、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2Anに対
するアクセスにおいても同じ結果であれば、
検出部4Aまたは14またはバス7A、レジ
スタ3A,10Aにおける障害であるとして
処理し、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2Anに対
するアクセスにおいて異なる結果であれば、
#0メモリ・ユニツトにおける障害であつた
として処理し、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2N0に対
するアクセスにおいて異なる結果であれば、
#0メモリ・ユニツトにおける障害であつた
かバス7A、レジスタ3A,10Aにおける
障害であつたとして処理し、 ) 他のメモリ・ユニツト例えば2N0に対
するアクセスにおいて同じ結果であれば、検
出部4A,5Aまたは14,15における障
害であるとして処理する。
(D) 例えばメモリ・ユニツト2A0に対する読出
しアクセス時に、検出部4Aの検出結果が「エ
ラーあり」でありかつ検出部14の検出結果が
「エラーあり」であつた場合、#0メモリ・ユ
ニツト2A0における障害であつたとして処理
する。
以上説明した如く、本発明によれば、上記状態
(D)にとづいて、個々のユニツトにおける障害を抽
出することができ、当該ユニツトの切離しを簡単
な構成にもとづいて行なうことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例構成を示す。 図中、1はアクセス側装置、2は記憶装置、2
A0ないし2Nnは夫々メモリ・ユニツト、4,
5は夫々エラー検出部、7はバス、14,15は
夫々エラー検出部、16は1ビツト・エラー訂正
回路、17は照合回路を表わす。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 記憶領域が複数のメモリ・ユニツトに区分し
    て構成される記憶装置、および該記憶装置に対す
    るアクセスを行なうアクセス側装置をそなえ、上
    記記憶装置と上記アクセス側装置とがバスを介し
    て連繋されるデータ処理システムにおいて、 上記複数のメモリ・ユニツトからの夫々の読出
    しデータが上記記憶装置内で共通に乗るバス上に
    各ユニツトに共通なユニツト障害検出部をもうけ
    ると共に、 上記読出しデータが上記バスを介して転送され
    てくる上記アクセス側装置内に記憶装置障害検出
    部と、 上記ユニツト障害検出部からの障害検出結果と
    上記記憶装置障害検出部からの障害検出結果とを
    照合する照合回路とをもうけ、 上記ユニツト障害検出部による障害検出結果を
    上記アクセス側装置側に転送した上で当該検出結
    果と上記記憶装置障害検出部による障害検出結果
    とを上記照合回路において照合するよう構成し
    て、 上記各メモリ・ユニツト単位での障害を識別す
    るようにした ことを特徴とする障害ユニツト切離し検出方式。
JP56012576A 1981-01-30 1981-01-30 Detection system for disconnection of failed unit Granted JPS57127998A (en)

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JPS57127998A JPS57127998A (en) 1982-08-09
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JP56012576A Granted JPS57127998A (en) 1981-01-30 1981-01-30 Detection system for disconnection of failed unit

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JPS6432358A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Nec Corp Fault processing system
JP4582078B2 (ja) * 2006-10-18 2010-11-17 Tdk株式会社 メモリコントローラ及びフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法

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