JPH02292844A - ウエハの外周位置検出装置 - Google Patents

ウエハの外周位置検出装置

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JPH02292844A
JPH02292844A JP1113127A JP11312789A JPH02292844A JP H02292844 A JPH02292844 A JP H02292844A JP 1113127 A JP1113127 A JP 1113127A JP 11312789 A JP11312789 A JP 11312789A JP H02292844 A JPH02292844 A JP H02292844A
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JP
Japan
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wafer
light source
linear
light
led
Prior art date
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Pending
Application number
JP1113127A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Chikamatsu
秀一 近松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH02292844A publication Critical patent/JPH02292844A/ja
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業玉の利用分野] この発明は、ウェハの外周位置検出装置に関し、詳しく
は、ウェハの外周を検出して検出データに基づきウェハ
のオリエンティション●フラット(以下OF)を基準位
置に一致させるとともに、回転中心に対するウェハの偏
心を修正して位置決めする場合において外乱先による検
出誤動作を防止することができるようなウェハの外周位
置検出装置に関するものである。
[従来の技術] 半導体製品のICチップは、シリコンなどのウェハに対
してマスクによりICパターンが投影露光され、所定の
処理が行われた後、チップ毎にカットされて製作される
。各処理装置ではICチップを正しく位置決めして処理
されるので、位置決めのためにウェハに設けられてい’
60Fを処理装置の基準位置に一致させて載置し或は装
着することが必要になる。また、このようなことは、ウ
ェハの異物を検査する異物検査装置等でも同様である。
第4図(a),(b)及び(c)は、ウェハの位置決め
等に利用されるOFの形式を示すものであって、図(a
)においてはウェハ1の外周に直線状のOFが1箇所設
けられ、図(b)では、互いに直角方向の2箇所にOF
1とこれより短いOF2が設けられている。これに対し
て、図(C)ではOF2の代わりにV字形のノッチが設
けられている。その位置決めには、図(a),(C)の
場合はOFが、また、図(b)のウェハではOF1が対
象とされ、これらの位置を基準位置に一致させることで
ウェハの位置決めが行われる。
第5図(a),(b)は従来のウェハの位置決め方式の
例を示すものであって、図(a)では、ウェハ1の外周
に対して、例えば、3個の光学センサ2a, 2b,2
cを配設し、ウェハ1を回転させて各センサがすべて受
光する位置を検出してそれを基準位置(角度)として位
置決めするものである。図(b)では、一次元COD等
を利用したリニア光センサ2dを利用して外周検出を行
うものであって、OFの位置でリュア光センサ2dの受
光画素の番号が変化するので、その番号変化によりOF
を検出して位置決めするものである。
しかも、前記の第5図(a)の位置決め方式では、基準
位置に対してOFを一致させることができるが、第4図
(b)のようにOF.,OF2がある場合は、なんらか
の方法によりOFI を判別することが必要になる。ま
た、ウェハ1に偏心があるときは、その方向は、もちろ
ん、偏心量も検出されず、偏心の修正を行うことができ
ない。これに対して、第5図(b)の方式では、まず、
OFを基準位置に合わせた後、外周部の偏心によるリニ
ア光センサの受光画素の番号の変化状態を調べ、ある程
度試行錯誤によりウェハ1を移動して、番号変化が最小
となるように位置修正することで多少の偏心を直すこと
ができる。
[解決しようとする課題コ 第5図(b)の方式では、通常、フィラメンを使用した
光源が用いられ、これからの光の受光の有無をリニア光
センサで検出するようになっている。そこで、外乱光が
リニア光センサに入射されたときに誤検出し易いという
欠点がある。
この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、リニア光センサを用いてウェハの外周位置
を検出することでウェハのOFを基塗位置に一致させる
ウェハの位置決め方式において外乱先による誤動作を防
止することができるようなウェハの外周位置検出装置を
提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段コ このような目的を達成するためのこの発明のウェハの外
周位置検出装置の構成は、外周側が回転テーブルより外
側にはみ出して載置されたウェハの外周位置を検出して
ウェハの位置決めを行うウェハ位置決め方式において、
はみ出した外周側を挟むようにウェハに隣接して平行に
配置されたリニア光源とこのリニア光源からの光を受け
るリニア光センサとを備えていて、リニア光i1Q/)
{LEDで構成されているものである。
[作用コ このように、リニア光源をLEDで構成することにより
、単色光となるので、リニア光源側の検出レベルを前記
単色光に合わせることができ、外乱光に影響され難いウ
ェハ外周位置の検出が可能になる。
[実施例コ 以下、この発明の一実施例について図面を参!16して
詳細に説明する。
第1図は、この発明の一実施例のウェハの外周位置検出
装置の説明図であり、第2図は、そのリニア光源とリニ
ア光センサとの関係を示す側面詳細図、第3図は、その
ウェハ位置決めシステムのブロック図である。
第1図において、1は、ウェハであって、ウェハ1は、
ウェハハンドリング機構(図示せず)により搬送されて
回転ステージ6上に載置される。
ここで、回転ステージ6の載置台6bの径は、ウェハ1
の径より小さいものであって、ウエノ)■が載置台6b
に載置されたときには、ウェハ1の外周1aが載置台6
bの外側にはみ出して載置される。そして、このはみ出
した外周1aを挟むように、下側にはLED素子を複数
個配列したリニア光[3aが、上側には1ラインCOD
イメージセンサ等のリニア光センサ3bがそれぞれウェ
ハ1に隣接して平行に配置されている。さらに、リニア
光源3aとリニア光センサ3bと間に多数直線状に配列
された棒状のレンズからなるロツドレンズアレイ3c.
3dが設けられていて、ウェハ1(試料)とリニア光セ
ンサ3b (COD)間にはフィルタが挿入されている
。なお、このフィルタの特性は、リニア光源3aのLE
Dの波長に対応する光を通すように選択されている。な
お、回転テーブル6の中心とリニア光センサ3bの受光
素子の回転テーブルθ側の端との距離は、J21に設定
されていて、リニア光センサ3bの中心とその受光素子
の前記端との距離は、,I!2に設定されている。この
ことにより受光素子の端からの番号それ自体が回転中心
からウェハ1の外周までの距離を表すことになる。また
、第1図において、3eはCOD駆動回路であり、3f
はLED電源回路であって、第3図ではこれらを省略し
ている。
さて、リニア光源3aとリニア光センサ3との関係の詳
細は、第2図に示されるように、リニア光源3aは、L
EDアレイ31で構成され、その上部に設けられ、この
LEDアレイ31の光を受ける、直線状に多数配列され
ら光ファイバ群32と、この光ファイバ群32の光を受
け、リニア光センサ3b側に光を発射するロッドレンズ
アレイ33(第t図のロッドレンズアレイ3cに対応)
が設けられている。ここで、光ファイバ群32は、LE
Dアレイ31の各LED素子の光の焦点位置からずれた
位置に、図では、光ファイバ群32の受光而32aより
さらに奥に焦点を結ぶように配置されていて、光ファイ
バ群32の受光面32aでは、焦点ぼけさせた光が受光
される。
このようにすることによりむらのない均一な光をリニア
光センサ3bに照射することができ、検出精度を向上さ
せることができる。また、LEDによる単色光にするこ
とにより、リニア光センサ3bで検出される信号に対し
て光受光の有無の検出レベルをLEDの波長とその強さ
に合わせて設定することができる。
一方、リニア光センサ3b側では、前記のロッドレンズ
アレイ33から照射される直線状に均一化された光を受
けるロッドレンズアレイ34(第1図のロツドレンズア
レイ3dに対応)が設けられ、このロッドレンズアレイ
34で受けた光をスリット35とその奥に配置されたフ
ィルタ36を通して一次元イメージセンサ37がほぼ均
一にされたLEDの単色光を受光するように構成されて
いる。
以上のような構成を採ることにより、たとえ外乱光がリ
ニア光センサ3b側に入ったとしてもノイズ光に影響さ
れ難い検出系とすることができる。
第3図は、このような検出装置を使用した場合の位置決
めシステムの全体的な構成である。ウェハエは回転ステ
ージ6に吸着されてスピンドルモ−タ6aにより回転さ
れ、回転角度は角度検出器8により検出されて角度信号
がMPU4に出力される。ウェハ1の外周に対してリニ
ア光源3aより平行な単色光の直線状ビームが照射され
、それをリニア光センサ3bにより受光する。ウェハ1
の回転中心に対する外周の位置に従って、受光した画素
よりの受光信号が出力され、これが画素番号検出回路7
に入力される。画素に対する番号は内側より半径方向に
順次付与されているものとし、受光した各画素のうち最
小番号を画素番号として画素番号検出回路7が検出する
。このことによりウェハ1の中心からの距離が検出でき
、検出画素番号がMPU4に出力される。
画素番号検出回路7より出力された画素番号は、角度検
出器8からの角度信号とともにMPU4で処理され、外
周の位置データが回転角度に応じて算出される。そして
、OFの中心の位置とこれに対するウェハの偏心方向及
び偏心量とが前記のデータからさらに算出されて、これ
らのデータがメモリ4aに記憶される。なお、メモリ4
aにあらかじめ近似解のテーブルを記憶しておき、MP
U4でこの近似テーブルを参照して偏心量とオリフラの
方向の解を求め、さらに高速に前記の算出を行うように
してもよい。
さて、OFの回転角や偏心方向、そして偏心量が得られ
ると、それをメモリ4aの所定領域に記憶する。次に、
OFの位置(基準位置からみた回転位置)をメモリ4a
から読出して回転制御回路5、スピンドルモータ6aに
より、OFの中心があらかじめ基準角度(基準位置)に
一致する川度までウェハ1を回転して停止する。ついで
、前記のようなウェハ1の偏心方向の角度と偏心揖とを
メモリ4aから読出し、これに応じてMPU4が回転ス
テージ6のウェハ1の吸着を解放し、移動機構9により
吸着機構10を制御してウェハ1(その周辺部又は裏側
)を吸着し、偏心を修正する方向に移動させる。なお、
移動方法としては上記と異なる、例えば、ウェハ1と回
転ステージ6などの回転機構全体をXY移動機構に搭載
して移動する方法でも差支えなく、その場合はウェハ1
は回転ステージ6に吸着したまま移動させることになる
以上説明してきたが、実施例では外乱光に影響されない
ばかりでなく、リニアセンサ,レンズ,リニア光源の構
成を採っているので、4インチ〜8インチ以上のウェハ
まで検出することができる。
この点従来ではウェハのインチが相違するごとに検出ユ
ニットを切換える機構を設けたり、切換えている。この
装置ではそのようなことをしないで済む利点がある。ま
た、従来の方式に比べて安価な装置にできる。さらに、
リニアな光を下からQ(1射するようにしているので、
リニアセンサが上となり反射光の影響を受けない。LE
D光源の像を試料(ウェハ)に結像させているので、ウ
ェハエッジのコントラストが高い像がCOD等のセンサ
に得られるのでS/N比が同一ヒする。
[発明の効果] 以上の説明により明らかなように、この発明にあっては
、リニア光源をLEDで構成することにより、単色光と
なるので、リニア光源側の検出レベルを前記単色光に合
わせることができ、外乱光に影響され難いウェハ外周位
置の検出が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例のウェハの外周位置検出
装置の説明図、第2図は、そのリニア光源とリニア光セ
ンサとの関係を示す側面詳細図、第3図は、そのウェハ
位置決めシステムのブロック図、第4図は、ウェハのオ
リエンティシロン拳フラットの種類の説明図、第5図は
、従来のウェハの外周位置検出方式の説明図である。 1・・・ウェハ、2at 2bt 2c・・・光学セン
サ、3a・・・リニア光源、3b・・・リニア光センサ
、3 c *  3 d・・・ロッドレンズアレイ、4
・・・マイクロプロセッサ(MPU)、4a・・・メモ
リ、5・・・回転制御回路、6・・・回転ステージ、6
a・・・スピンドルモータ、7・・・画素番号検出回路
、8・・・角度検出器、9・・・移動機構、10・・・
吸着機構。 第1図 3e 第2図 第 因 第 図 (a) (b) (C) 藁 図 (a) (b)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)外周側が回転テーブルより外側にはみ出して載置
    されたウェハの外周位置を検出してウェハの位置決めを
    行うウェハ位置決め方式において、はみ出した前記外周
    側を挟むように前記ウェハに隣接して平行に配置された
    リニア光源とこのリニア光源からの光を受けるリニア光
    センサとを備え、前記リニア光源はLEDで構成されて
    いることを特徴とするウェハの外周位置検出装置。
  2. (2)リニア光源とリニア光センサとの間にLEDの波
    長を透過させるフィルタが設けられていることを特徴と
    する請求項1記載のウェハの外周位置検出装置。
  3. (3)リニア光源はLEDアレイとこのLEDアレイの
    光を受ける直線状に多数配列されら光ファイバ群と、こ
    の光ファイバ群の光を受け、リニア光センサ側に光を発
    射するロッドレンズアレイとを有していて、前記光ファ
    イバ群は前記LEDアレイの各LED素子の光をその焦
    点位置からずれた位置において受けることを特徴とする
    請求項1記載のウェハの外周位置検出装置。
JP1113127A 1989-05-02 1989-05-02 ウエハの外周位置検出装置 Pending JPH02292844A (ja)

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JPS63280435A (ja) * 1987-05-12 1988-11-17 Nikon Corp ウエハのプリアライメント装置

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