JPH02290536A - 顕微分光測定装置 - Google Patents
顕微分光測定装置Info
- Publication number
- JPH02290536A JPH02290536A JP11129389A JP11129389A JPH02290536A JP H02290536 A JPH02290536 A JP H02290536A JP 11129389 A JP11129389 A JP 11129389A JP 11129389 A JP11129389 A JP 11129389A JP H02290536 A JPH02290536 A JP H02290536A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pinhole
- light
- afocal
- light source
- mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 30
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 7
- 238000001634 microspectroscopy Methods 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 241000276498 Pollachius virens Species 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、顕微分光測定装置に関する。
一般に、顕微鏡で分光測光をする場合は、先ず標本を置
かない状態でバックグラウンド（光源の分光特性とレン
ズ系の分光特性が含まれる。）を取り、次に標本の測光
をし、その相対比較で標本の分光特性を求めるが、ここ
で光源の分光特性にバラツキがあると、測光値に誤差が
乗ってくることになる。安定化電源等を用いることによ
り、光源の分光特性が一定という仮定のちとに演算処理
をすることもあるが、より正確な測光を行なうためには
光源の分光特性を常にモニタし、それをリファレンスと
して測光データを演算処理する必要がある。
かない状態でバックグラウンド（光源の分光特性とレン
ズ系の分光特性が含まれる。）を取り、次に標本の測光
をし、その相対比較で標本の分光特性を求めるが、ここ
で光源の分光特性にバラツキがあると、測光値に誤差が
乗ってくることになる。安定化電源等を用いることによ
り、光源の分光特性が一定という仮定のちとに演算処理
をすることもあるが、より正確な測光を行なうためには
光源の分光特性を常にモニタし、それをリファレンスと
して測光データを演算処理する必要がある。
そして、従来の顕微分光測定装置における光源モニタ法
は以下のものがあった。
は以下のものがあった。
その一つは、標本の代わりに分光反射率（分光透過率）
のわかっているものを置き、それによる光源，−レンズ
系等を含めた全系の分光特性を測定し、それをリファレ
ンスとする方法である。
のわかっているものを置き、それによる光源，−レンズ
系等を含めた全系の分光特性を測定し、それをリファレ
ンスとする方法である。
他の一つは、集光レンズと同じ集光位置に分光反射率の
分かっているミラーを有する対物レンズ（以下、リファ
レンス対物レンズと呼ぶ。）をレボルバーに取付けてお
き、そのリファレンス対物レンズを光路中にもってくる
ことによって光源，レンズ系等を含めた全系の分光特性
を測定し、それをリファレンスとする方法である。
分かっているミラーを有する対物レンズ（以下、リファ
レンス対物レンズと呼ぶ。）をレボルバーに取付けてお
き、そのリファレンス対物レンズを光路中にもってくる
ことによって光源，レンズ系等を含めた全系の分光特性
を測定し、それをリファレンスとする方法である。
ところが、上記従来例の前者では、リファレンスをとる
たびに標本を交換しなければならず、標本の位置出し等
も含め非常に効率が悪いという問題があった。
たびに標本を交換しなければならず、標本の位置出し等
も含め非常に効率が悪いという問題があった。
又、後者では、リファレンスをとるたびに、レボルバー
が回転して対物レンズが交換されるため、標本上にゴミ
等が落ちる危険性があるという問題があった。又、透過
分光測光には対応できないという問題があった。
が回転して対物レンズが交換されるため、標本上にゴミ
等が落ちる危険性があるという問題があった。又、透過
分光測光には対応できないという問題があった。
本発明は、上記問題点に鑑み、標本や対物レンズを動か
すことなくリファレンスをとることが可能であり、さら
に透過分光測光にも対応し得る顕微分光測定装置を提供
することを目的としている。
すことなくリファレンスをとることが可能であり、さら
に透過分光測光にも対応し得る顕微分光測定装置を提供
することを目的としている。
〔課題を解決するための手段及び作用〕本発明による顕
微分光測定装置は、光源と、該光源により照明されたピ
ンホールをアフオーカル部を介して標本面に投影するピ
ンホール投影光学系と、ピンホール照明された標本から
の光をアフォーカル部を介して測光部に結像させる測光
光学系とを備えた顕微分光測定装置において、前記ピン
ホールからの光を前記アフォーカル部に置いた反射部材
の切換えによって直接測光部に導きモニタできるように
したことにより、標本や対物レンズを動かすことなくリ
ファレンスをとることを可能にしたものである。
微分光測定装置は、光源と、該光源により照明されたピ
ンホールをアフオーカル部を介して標本面に投影するピ
ンホール投影光学系と、ピンホール照明された標本から
の光をアフォーカル部を介して測光部に結像させる測光
光学系とを備えた顕微分光測定装置において、前記ピン
ホールからの光を前記アフォーカル部に置いた反射部材
の切換えによって直接測光部に導きモニタできるように
したことにより、標本や対物レンズを動かすことなくリ
ファレンスをとることを可能にしたものである。
又、上記アフォーカル部にハーフミラーを置いてピンホ
ール照明光を既知の分光反射率の反射鏡と標本とに導く
と共に、該ハーフミラーの反射鏡側においたシャッター
を開き且つ標本側においたシャッターを閉じることによ
って、前記ピンホールからの光を直接測光部に導きモニ
タできるようにしたことにより、上記と同様な作用が得
られるようにしたものである。
ール照明光を既知の分光反射率の反射鏡と標本とに導く
と共に、該ハーフミラーの反射鏡側においたシャッター
を開き且つ標本側においたシャッターを閉じることによ
って、前記ピンホールからの光を直接測光部に導きモニ
タできるようにしたことにより、上記と同様な作用が得
られるようにしたものである。
又、以下の理由により、補正用の光学系も必要なくなる
という利点もある。
という利点もある。
一般に顕微分光測定を行なう際は、測定精度を上げるた
めにスポット照明方式（***・直良方式）で照明する。
めにスポット照明方式（***・直良方式）で照明する。
そのため照明光は通常のケーラー照明と異なり、標本面
に集光するように投影光学系に導入される。例えば、落
射照明系では、照明されたピンホールからの光が標本面
に集光するように対物レンズに導入される。しかし、対
物レンズが有限設計の場合は、対物レンズに入る前に光
路を切り換えて光源からの光を測光側に直接導入すると
、その集光位置が実際の測光の際の集光位置と異なるの
で、それを補正する光学系が必要となる。
に集光するように投影光学系に導入される。例えば、落
射照明系では、照明されたピンホールからの光が標本面
に集光するように対物レンズに導入される。しかし、対
物レンズが有限設計の場合は、対物レンズに入る前に光
路を切り換えて光源からの光を測光側に直接導入すると
、その集光位置が実際の測光の際の集光位置と異なるの
で、それを補正する光学系が必要となる。
これに対して、本発明のように対物レンズが無限設計の
場合は、対物レンズに入る前でもアフォーカルの光束中
で切り換えればその集光位置は実際の測光の際の集光位
置と一致するため、補正用の光学系は必要なくなる。同
様に、透過照明系の場合でも、無限設計のコンデンサレ
ンズを用いてアフォーカルの光束中で切り換えれば、補
正用の光学系は必要なくなる。
場合は、対物レンズに入る前でもアフォーカルの光束中
で切り換えればその集光位置は実際の測光の際の集光位
置と一致するため、補正用の光学系は必要なくなる。同
様に、透過照明系の場合でも、無限設計のコンデンサレ
ンズを用いてアフォーカルの光束中で切り換えれば、補
正用の光学系は必要なくなる。
以下、図示した実施例に基づき本発明を詳細に説明する
。
。
第１図は第１実施例の光学系（落射分光測光系）を示し
ており、■は光源、２はピンホール、３は結像レンズ、
４はハーフミラー ５は対物レンズ、６は標本、７は結
像レンズである。そして、結像レンズ３と対物レンズ５
との間及び対物レンズ５と結像レンズ７との間は何れも
アフォーカル部となっており、そこにハーフミラー４が
位置している。
ており、■は光源、２はピンホール、３は結像レンズ、
４はハーフミラー ５は対物レンズ、６は標本、７は結
像レンズである。そして、結像レンズ３と対物レンズ５
との間及び対物レンズ５と結像レンズ７との間は何れも
アフォーカル部となっており、そこにハーフミラー４が
位置している。
本実施例は上述の如く構成されているから、通常の測光
の際には、光源１からの光で照明されたピンホール２が
結像レンズ３，ハーフミラー４，対物レンズ５を介して
標本面６に投影される。そのピンホール照明された微小
部分の反射光は、対物レンズ５，ハーフミラー４，結像
レンズ７を通って測光系に導かれる。一方、光源ｌをモ
ニタする時（リファレンスをとる時）は、第２図のよう
に、ハーフミラー４を９０゜回転させることによって、
光源ｌからの光を直接測光系に導く。
の際には、光源１からの光で照明されたピンホール２が
結像レンズ３，ハーフミラー４，対物レンズ５を介して
標本面６に投影される。そのピンホール照明された微小
部分の反射光は、対物レンズ５，ハーフミラー４，結像
レンズ７を通って測光系に導かれる。一方、光源ｌをモ
ニタする時（リファレンスをとる時）は、第２図のよう
に、ハーフミラー４を９０゜回転させることによって、
光源ｌからの光を直接測光系に導く。
かくして、標本６や対物レンズ５を動かすことなくリフ
ァレンスをとることができる。
ァレンスをとることができる。
第３図は第２実施例の光学系を示しており、これは第１
実施例のハーフミラー４の左側（透過側）にシャッター
８と分光反射率の分かっているミラー９を置き、またハ
ーフミラー４の下側（反射側）にもシャッター１０を置
いたものである。
実施例のハーフミラー４の左側（透過側）にシャッター
８と分光反射率の分かっているミラー９を置き、またハ
ーフミラー４の下側（反射側）にもシャッター１０を置
いたものである。
通常の測光の際には、シャッター８を閉じ且つシャッタ
ーｌＯを開いておく。一方、光源ｌをモニタする時（リ
ファレンスをとる時）は、シャッター８を開き且つシャ
ッター１０を閉じることにより、ハーフミラー４，シャ
ッター８を通った光がミラー９で反射され、再びシャッ
ター８を通りハーフミラー４で反射されて測光系に導か
れる。
ーｌＯを開いておく。一方、光源ｌをモニタする時（リ
ファレンスをとる時）は、シャッター８を開き且つシャ
ッター１０を閉じることにより、ハーフミラー４，シャ
ッター８を通った光がミラー９で反射され、再びシャッ
ター８を通りハーフミラー４で反射されて測光系に導か
れる。
第４図は第３実施例の光学系（透過分光測光系）を示し
ており、１）はコンデンサーレンズ、１２，１３，１４
．１５はミラーである。そして、結像レンズ３とコンデ
ンサーレンズＩＩとの間及び対物レンズ５と結像レンズ
７との間は何れもアフォーカル部となっており、夫々に
ミラーＩ３及びミラーｌ５が挿脱可能に配置されている
。
ており、１）はコンデンサーレンズ、１２，１３，１４
．１５はミラーである。そして、結像レンズ３とコンデ
ンサーレンズＩＩとの間及び対物レンズ５と結像レンズ
７との間は何れもアフォーカル部となっており、夫々に
ミラーＩ３及びミラーｌ５が挿脱可能に配置されている
。
本実施例は上述の如く構成されているから、通常の測光
時にはミラーＩ３が光路内にあり、ミラー１５が光路か
ら離脱している。この時、光源ｌからの光で照明された
ピンホール２が結像レンズ３，コンデンサーレンズ１）
を介して標本面６に投影される。そのピンホール照明さ
れた微小部分から出た光は、対物レンズ５，結像レンズ
７を通って測光系に導かれる。一方、光源１をモニタす
る時（リファレンスをとる時）は、々ラー１２が光路か
ら離脱し、ミラーｌ５が光路内に挿入されることによっ
て、光源１からの光がミラー１３，ミラー１４， ミ
ラーＩ５を介して測光系に直接導かれる。
時にはミラーＩ３が光路内にあり、ミラー１５が光路か
ら離脱している。この時、光源ｌからの光で照明された
ピンホール２が結像レンズ３，コンデンサーレンズ１）
を介して標本面６に投影される。そのピンホール照明さ
れた微小部分から出た光は、対物レンズ５，結像レンズ
７を通って測光系に導かれる。一方、光源１をモニタす
る時（リファレンスをとる時）は、々ラー１２が光路か
ら離脱し、ミラーｌ５が光路内に挿入されることによっ
て、光源１からの光がミラー１３，ミラー１４， ミ
ラーＩ５を介して測光系に直接導かれる。
第５図は第４実施例の光学系を示しており、これは第２
実施例のシャッター８とミラー９との間に正レンズｌ６
を配置してミラー９上に集光させるようにしたものであ
る。
実施例のシャッター８とミラー９との間に正レンズｌ６
を配置してミラー９上に集光させるようにしたものであ
る。
光源をモニタする方法は第２実施例と同じである。
第２実施例では、ミラー９の位置（傾き）を調整したあ
とハーフミラー４の交換等によりハーフミラー４の傾き
がずれると、ピンホール２を通ってハーフミラー４で反
射した光は標本６上で光軸からずれてしまう。そこで、
光軸上にくるようにピンホール２を動かすと今度は光源
モニタのための光がとんでもない方へ行ってしまうので
、これを避けるためにミラー９の傾きを再調整しなけれ
ばならない。そして、このやり方では、ハーフミラー４
の傾きが変わる毎にミラー９の傾きも調整することが必
要である。しかし、本実施例のようにレンズｌ６を入れ
てレンズｌ６の焦点面にミラー９が位置するようにする
と、レンズ１６に入射した光はミラー９で反射された後
必ず入射光と平行にレンズ１６から出てゆ《。従って、
最初のセッティングが適正であれば、ハーフミラー４の
傾きが変化してもピンホール２を動かして標本６上で光
軸上にピンホール像が出来るようにすれば、光源モニタ
の場合も光は必ず測光系の光軸上に集まる（ピンホール
像を形成する）ので好ましい。
とハーフミラー４の交換等によりハーフミラー４の傾き
がずれると、ピンホール２を通ってハーフミラー４で反
射した光は標本６上で光軸からずれてしまう。そこで、
光軸上にくるようにピンホール２を動かすと今度は光源
モニタのための光がとんでもない方へ行ってしまうので
、これを避けるためにミラー９の傾きを再調整しなけれ
ばならない。そして、このやり方では、ハーフミラー４
の傾きが変わる毎にミラー９の傾きも調整することが必
要である。しかし、本実施例のようにレンズｌ６を入れ
てレンズｌ６の焦点面にミラー９が位置するようにする
と、レンズ１６に入射した光はミラー９で反射された後
必ず入射光と平行にレンズ１６から出てゆ《。従って、
最初のセッティングが適正であれば、ハーフミラー４の
傾きが変化してもピンホール２を動かして標本６上で光
軸上にピンホール像が出来るようにすれば、光源モニタ
の場合も光は必ず測光系の光軸上に集まる（ピンホール
像を形成する）ので好ましい。
上述の如く、本願発明による顕微分光測定装置は、標本
や対物レンズを動かすことなくリファレンスをとること
が可能であり、さらに透過分光測光にも対応し得るとい
う実用上重要な利点を有している。
や対物レンズを動かすことなくリファレンスをとること
が可能であり、さらに透過分光測光にも対応し得るとい
う実用上重要な利点を有している。
第１図は第１実施例の光学系を示す図、第２図は第１実
施例においてハーフミラーを切換えた状態を示す図、第
３図は第２実施例の光学系の要部を示す図、第４図は第
３実施例の光学系を示す図、第５図は第４実施例の要部
を示す図である。 ｌ・・・・光学系、２・・・・ピンホール、３，７・・
・・結像レンズ、４・・・・ハーフミラー ５・・・・
対物レンズ、６・・・・標本、８，ｌＯ・・・・シャッ
ター ９，１２， １３． １４． １５・・・
・ミラー １ ｌ・・・・コンデンサーレンズ、ｌ６・
・・・正レンズ。 １−４図 本 １′−１図 １−２図 オ３図
施例においてハーフミラーを切換えた状態を示す図、第
３図は第２実施例の光学系の要部を示す図、第４図は第
３実施例の光学系を示す図、第５図は第４実施例の要部
を示す図である。 ｌ・・・・光学系、２・・・・ピンホール、３，７・・
・・結像レンズ、４・・・・ハーフミラー ５・・・・
対物レンズ、６・・・・標本、８，ｌＯ・・・・シャッ
ター ９，１２， １３． １４． １５・・・
・ミラー １ ｌ・・・・コンデンサーレンズ、ｌ６・
・・・正レンズ。 １−４図 本 １′−１図 １−２図 オ３図
Claims (2)
- （１）光源と、該光源により照明されたピンホールをア
フォーカル部を介して標本面に投影するピンホール投影
光学系と、ピンホール照明された標本からの光をアフォ
ーカル部を介して測光部に結像させる測光光学系とを備
えた顕微分光測定装置において、前記ピンホールからの
光を前記アフォーカル部に置いた反射部材の切換えによ
って直接測光部に導きモニタできるようにしたことを特
徴とする顕微分光測定装置。 - （２）光源と、該光源により照明されたピンホールをア
フォーカル部を介して標本面に投影するピンホール投影
光学系と、ピンホール照明された標本からの光をアフォ
ーカル部を介して測光部に結像させる測光光学系とを備
えた顕微分光測定装置において、前記アフォーカル部に
ハーフミラーを置いてピンホール照明光を既知の分光反
射率の反射鏡と標本とに導くと共に、該ハーフミラーの
反射鏡側に置いたシャッターを開き且つ標本側に置いた
シャッターを閉じることによって、前記ピンホールから
の光を直接測光部に導きモニタできるようにしたことを
特徴とする顕微分光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11129389A JPH02290536A (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 顕微分光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11129389A JPH02290536A (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 顕微分光測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02290536A true JPH02290536A (ja) | 1990-11-30 |
Family
ID=14557549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11129389A Pending JPH02290536A (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 顕微分光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02290536A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0459819U (ja) * | 1990-09-29 | 1992-05-22 | ||
| JP2003106997A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Jasco Corp | 顕微分光装置 |
| WO2017094082A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | オリンパス株式会社 | 湾曲情報導出装置 |
-
1989
- 1989-04-28 JP JP11129389A patent/JPH02290536A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0459819U (ja) * | 1990-09-29 | 1992-05-22 | ||
| JP2003106997A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Jasco Corp | 顕微分光装置 |
| WO2017094082A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | オリンパス株式会社 | 湾曲情報導出装置 |
| JPWO2017094082A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2018-10-04 | オリンパス株式会社 | 湾曲情報導出装置 |
| US10197386B2 (en) | 2015-11-30 | 2019-02-05 | Olympus Corporation | Bend information computation apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6597499B2 (en) | Total internal reflection fluorescence microscope having a conventional white-light source | |
| US4711541A (en) | Slit lamp and accessory device thereof | |
| US7345814B2 (en) | Microscope system and microscope focus maintaining device for the same | |
| JP3385432B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPS58145911A (ja) | 反射光照明による透過光顕微鏡試験のための光学系 | |
| AU753282B2 (en) | Apparatus for measuring characteristics of optical angle | |
| US6084672A (en) | Device for optically measuring an object using a laser interferometer | |
| US3664751A (en) | Accessory for microscopes for use as a two-beam photometer | |
| JPH02290536A (ja) | 顕微分光測定装置 | |
| US4402602A (en) | Knife edge system | |
| JP2006047780A (ja) | 赤外顕微鏡 | |
| JP4012709B2 (ja) | レンズ鏡筒加工装置 | |
| US4181436A (en) | Microscope scanning accessory for a photometer | |
| JPS60420A (ja) | 螢光顕微測光装置 | |
| JP3325095B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPH05340869A (ja) | 薄膜測定器 | |
| JPH0618410A (ja) | 赤外顕微測定装置 | |
| KR0120646Y1 (ko) | 광축 조정용 오토콜리메이터 장치 | |
| JP3829663B2 (ja) | 分光光度計 | |
| JP2001188177A (ja) | 実体顕微鏡および暗視野照明装置 | |
| JP2002310870A (ja) | 硬さ試験機 | |
| KR910007629Y1 (ko) | 렌즈 초점거리 측정장치 | |
| JP2766735B2 (ja) | 反射対物レンズを用いた光学系 | |
| JP3447877B2 (ja) | 濃度計測光学系 | |
| JP2004046107A (ja) | 顕微鏡用ミラーユニット |