JPH02273499A - X線イメージング装置の線量校正法 - Google Patents
X線イメージング装置の線量校正法Info
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- JPH02273499A JPH02273499A JP2034056A JP3405690A JPH02273499A JP H02273499 A JPH02273499 A JP H02273499A JP 2034056 A JP2034056 A JP 2034056A JP 3405690 A JP3405690 A JP 3405690A JP H02273499 A JPH02273499 A JP H02273499A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/36—Temperature of anode; Brightness of image power
-
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- H05G—X-RAY TECHNIQUE
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-
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- H05G—X-RAY TECHNIQUE
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- H05G1/30—Controlling
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/60—Circuit arrangements for obtaining a series of X-ray photographs or for X-ray cinematography
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
本発明はX線イメージング装置に関するものであり、詳
しくはこの装置か放出するX線の線量率を校正するだめ
の技術に関するものである。
しくはこの装置か放出するX線の線量率を校正するだめ
の技術に関するものである。
医学的診断用X線イメージングでは、たとえばカテーテ
ル挿入手順の間に患者の螢光透視検査が行なわれる。こ
の用途のため、患者を透過したX線がイメージ増幅管に
よって可視光出力像に変換される。出力像がビデオカメ
ラによって撮像され、モニタで表示されるので、医者は
実時間で患者を観察することができる。同時に螢光透視
像を順次磁気テープに記録することができる。
ル挿入手順の間に患者の螢光透視検査が行なわれる。こ
の用途のため、患者を透過したX線がイメージ増幅管に
よって可視光出力像に変換される。出力像がビデオカメ
ラによって撮像され、モニタで表示されるので、医者は
実時間で患者を観察することができる。同時に螢光透視
像を順次磁気テープに記録することができる。
螢光透視モードでは、X線照射はかなり長い時間にわた
って継続する。その結果、X線の線量率、したがってX
線管の電流を比較的低く維持しなければならない。米国
政府の規制によれば、螢光透視の間の線量率はX線ビー
ムが患者に入る平面で毎分10レントゲン(IOR/分
)を超えてはならないとされている。
って継続する。その結果、X線の線量率、したがってX
線管の電流を比較的低く維持しなければならない。米国
政府の規制によれば、螢光透視の間の線量率はX線ビー
ムが患者に入る平面で毎分10レントゲン(IOR/分
)を超えてはならないとされている。
螢光透視が不要なときは、同じX線装置を用いて写真媒
体に像を記録することができる。この用途では、シネカ
メラまたはホトスポット(photospot )フィ
ルムカメラを使ってイメージ増倍管の出力が記録される
。この動作モードではX線放出がパルス状に行なわれて
、フィルムの各フレームが露出される。
体に像を記録することができる。この用途では、シネカ
メラまたはホトスポット(photospot )フィ
ルムカメラを使ってイメージ増倍管の出力が記録される
。この動作モードではX線放出がパルス状に行なわれて
、フィルムの各フレームが露出される。
動作モートが螢光透視モードであっても、フィルム記録
モードであっても、装置は自動輝度調節(ABC)シス
テムを使用する。この自動輝度調節システムにより、X
線放射が調節されて、イメージ増倍管からの光出力がほ
ぼ一定のレベルに維持される。ここで注意しなければな
らないのは、ビデオカメラとフィルムカメラとでは光感
度が異なるため、動作モードが違うと出力像の強度レベ
ルを変えなければならないということである。この調節
システムにより、照射の中に動いていく患者の身体の別
々の部分の密度の変動に拘わらず読取り可能な画像が作
られる。米国特許第4,703.496号に自動輝度調
節システムの1つの型式か開示されている。
モードであっても、装置は自動輝度調節(ABC)シス
テムを使用する。この自動輝度調節システムにより、X
線放射が調節されて、イメージ増倍管からの光出力がほ
ぼ一定のレベルに維持される。ここで注意しなければな
らないのは、ビデオカメラとフィルムカメラとでは光感
度が異なるため、動作モードが違うと出力像の強度レベ
ルを変えなければならないということである。この調節
システムにより、照射の中に動いていく患者の身体の別
々の部分の密度の変動に拘わらず読取り可能な画像が作
られる。米国特許第4,703.496号に自動輝度調
節システムの1つの型式か開示されている。
螢光透視モードでは、調節システムはイメージ増倍管の
光出力強度(輝度)の表示としてビデオ像の輝度を監視
する。シネカメラまたはホトスポットフィルムカメラに
よるモードでは、光検出器はイメージ増倍管からの光出
力を直接検知する。
光出力強度(輝度)の表示としてビデオ像の輝度を監視
する。シネカメラまたはホトスポットフィルムカメラに
よるモードでは、光検出器はイメージ増倍管からの光出
力を直接検知する。
自動輝度調節システムはX線管の陽極から陰極への電流
、陽極−陰極間電圧(KV)、およびカメラの開口寸法
を調節することにより、各カメラに入る光のレベルをほ
ぼ一定に維持する。しかし、この調節プロセスはこれら
のX線管励起パラメタの相互作用によって複雑になる。
、陽極−陰極間電圧(KV)、およびカメラの開口寸法
を調節することにより、各カメラに入る光のレベルをほ
ぼ一定に維持する。しかし、この調節プロセスはこれら
のX線管励起パラメタの相互作用によって複雑になる。
陽極と陰極との間に一定の電圧が印加されている間、陽
極から陰極に流れる電流は主として陰極(またはフィラ
メント)の温度の関数となる。X線強度、したがって画
像の輝度は陽極から陰極に流れる電流に正比例するが、
X線強度と陽極−陰極間電圧との間には非線形な関係が
存在する。
極から陰極に流れる電流は主として陰極(またはフィラ
メント)の温度の関数となる。X線強度、したがって画
像の輝度は陽極から陰極に流れる電流に正比例するが、
X線強度と陽極−陰極間電圧との間には非線形な関係が
存在する。
前記米国特許第4,703,496号に開示されている
ような従来の輝度調節システムは優先順位に基いて励起
パラメータを調整した。最初に、X線管の陽極から陰極
に流れる電流か変えられて、出力光レベルを一定に保つ
。輝度調節システムが一定の画像強度を維持し損なった
場合、または余分の変動が許容最大線量率を超えたとき
、電圧が調整される。最後の手段として、カメラの絞り
開口が開かれて、より多くの光がカメラに送られる。
ような従来の輝度調節システムは優先順位に基いて励起
パラメータを調整した。最初に、X線管の陽極から陰極
に流れる電流か変えられて、出力光レベルを一定に保つ
。輝度調節システムが一定の画像強度を維持し損なった
場合、または余分の変動が許容最大線量率を超えたとき
、電圧が調整される。最後の手段として、カメラの絞り
開口が開かれて、より多くの光がカメラに送られる。
更に螢光透視モードでは、ビデオカメラの利得を大きく
することができるが、これに伴なって信号雑音が増大す
るというマイナスの効果もある。
することができるが、これに伴なって信号雑音が増大す
るというマイナスの効果もある。
イメージ増倍管、ビデオカメラ、X線管のようなシステ
ム構成品の特性変動を補償するように選択可能な各線量
率を校正してからでないとX線ンステムを動作さぜるこ
とができない。従来の校正プロセスでは、X線ビームが
患者に入る平面内に線量計が配置され、次に選定された
線量率でX線装置が螢光透視モードで作動される。線量
計の指示値が上記選定された線量率になるまでカメラの
絞りが手動調整される。螢光透視モードでの選定可能な
各線量率について、このプロセスか反復される。同様の
手動校正手順を使って、シネカメラまたはホトスポット
フィルムカメラによる動作モトに対する輝度調節ループ
が校正され一〇いる。
ム構成品の特性変動を補償するように選択可能な各線量
率を校正してからでないとX線ンステムを動作さぜるこ
とができない。従来の校正プロセスでは、X線ビームが
患者に入る平面内に線量計が配置され、次に選定された
線量率でX線装置が螢光透視モードで作動される。線量
計の指示値が上記選定された線量率になるまでカメラの
絞りが手動調整される。螢光透視モードでの選定可能な
各線量率について、このプロセスか反復される。同様の
手動校正手順を使って、シネカメラまたはホトスポット
フィルムカメラによる動作モトに対する輝度調節ループ
が校正され一〇いる。
発明の要約
本発明の一般的な目的はX線イメージングシステムから
の選択可能な線量率を自動的に校正するための方法およ
び装置を提供することである。
の選択可能な線量率を自動的に校正するための方法およ
び装置を提供することである。
より特定の目的は別個の線量計を使用しないで校正を達
成することである。たとえば、この目的はX線線量レベ
ルの表示としてX線システム中のイメージ増倍管の光電
陰極電流を使うことによって達成される。
成することである。たとえば、この目的はX線線量レベ
ルの表示としてX線システム中のイメージ増倍管の光電
陰極電流を使うことによって達成される。
もう1つの目的は選択可能な線量率の1つに対して校正
プロセスを実行し、その校正の結果から他の選択可能な
線量率に対する校正済みのパラメタを計算することであ
る。
プロセスを実行し、その校正の結果から他の選択可能な
線量率に対する校正済みのパラメタを計算することであ
る。
本発明の更にもう1つの目的は螢光透視動作モードの校
正を用いることにより照射パラメータを設定し、フィル
ムカメラ動作モートに対する回路を校正することである
。
正を用いることにより照射パラメータを設定し、フィル
ムカメラ動作モートに対する回路を校正することである
。
発明の詳細な説明
第1図はシネ記録と螢光透視の組合わせのX線イメージ
ングシステム10の機能構成品を示す。
ングシステム10の機能構成品を示す。
このシステムには回転陽極13、組合わせの陰極/フィ
ラメント14、および制御格子15をそなえた通常のX
線管12を含む。通常の電源17によって駆動されるフ
ィラメント変圧器16がフィラメント電流を供給する。
ラメント14、および制御格子15をそなえた通常のX
線管12を含む。通常の電源17によって駆動されるフ
ィラメント変圧器16がフィラメント電流を供給する。
線18の制御信号に応答してフィラメント電源17はフ
ィラメント変圧器j6の一次巻線に与えられる電流を調
節する。
ィラメント変圧器j6の一次巻線に与えられる電流を調
節する。
高電圧昇圧変圧器20の二次巻線は陽極13と陰極/フ
ィラメント14との間に結合され、これらの電極に高電
圧バイアスを与える。昇圧変圧器20の一次巻線は標準
の高電圧電源22の出力に接続されている。高電圧電源
22はrKV指令」と記した線24の信号により通常の
方法で制御される。制御格子15は線28の「パルス幅
指令」と記した信号に応じて格子電源26によってバイ
アスされる。この信号は各X線パルスの継続時間を規定
する。
ィラメント14との間に結合され、これらの電極に高電
圧バイアスを与える。昇圧変圧器20の一次巻線は標準
の高電圧電源22の出力に接続されている。高電圧電源
22はrKV指令」と記した線24の信号により通常の
方法で制御される。制御格子15は線28の「パルス幅
指令」と記した信号に応じて格子電源26によってバイ
アスされる。この信号は各X線パルスの継続時間を規定
する。
適正に励起されれば、X線管12は対の破線30によっ
て示されるようにX線ビームを放出する。
て示されるようにX線ビームを放出する。
システムのセットアツプの際にシャッタ31を手動調整
して、ビーム30の形状を規定する。第1図に示すよう
に、X線ビーム30に対して透明なテーブル33の」二
に横たわっている患者32の下側にX線12が配置され
る。
して、ビーム30の形状を規定する。第1図に示すよう
に、X線ビーム30に対して透明なテーブル33の」二
に横たわっている患者32の下側にX線12が配置され
る。
患者32を通過したX線を受けるように通常のX線イメ
ージ増倍管36が配置される。イメージ増倍管はX線に
感応する入力螢光面35、光電陰極37、および出力螢
光面38を含む。X線が入力螢光面35に当ると可視光
が生じ、この可視光は光電陰極37に向う。この光によ
り光電陰極37は電子を放出し、電子は増倍管36の中
の(図示されない)電子増倍管によって増倍される。増
倍管からの電子は出力螢光面38に当り、可視光出力像
を発生し、この像がレンズ39によって投射される。電
源40がイメージ増倍管36に電力を供給し、また線4
2に増倍管の光電陰極電流レベルを表わす信号を送出す
る。光電陰極電流は、線43の制御信号に応答してサン
プリング回路41によって周期的にサンプリングされて
、ろ波される。
ージ増倍管36が配置される。イメージ増倍管はX線に
感応する入力螢光面35、光電陰極37、および出力螢
光面38を含む。X線が入力螢光面35に当ると可視光
が生じ、この可視光は光電陰極37に向う。この光によ
り光電陰極37は電子を放出し、電子は増倍管36の中
の(図示されない)電子増倍管によって増倍される。増
倍管からの電子は出力螢光面38に当り、可視光出力像
を発生し、この像がレンズ39によって投射される。電
源40がイメージ増倍管36に電力を供給し、また線4
2に増倍管の光電陰極電流レベルを表わす信号を送出す
る。光電陰極電流は、線43の制御信号に応答してサン
プリング回路41によって周期的にサンプリングされて
、ろ波される。
イメージ増倍管36からの出力像はレンズ39によって
ビームスプリッタ45に投射されて、この投射がビーム
スプリッタ45により2つの部分に分割される。一方の
部分はビデオカメラ44に向い、他方の部分はシネカメ
ラ46に向う。シネカメラ46の前に固定絞り49が配
置され、ビデオカメラ44の前には絞り調節回路50か
らの信号によって調節される可変絞り48が配置される
、前記米国特許第4,703,496号の輝度調節で使
用されているものと同様なビデオ利得および開口調節回
路か照射調節回路66に含まれている。
ビームスプリッタ45に投射されて、この投射がビーム
スプリッタ45により2つの部分に分割される。一方の
部分はビデオカメラ44に向い、他方の部分はシネカメ
ラ46に向う。シネカメラ46の前に固定絞り49が配
置され、ビデオカメラ44の前には絞り調節回路50か
らの信号によって調節される可変絞り48が配置される
、前記米国特許第4,703,496号の輝度調節で使
用されているものと同様なビデオ利得および開口調節回
路か照射調節回路66に含まれている。
ビデオ利得および開口調節回路は絞り開口の寸法を指定
する絞り調節回路50に調節指令を送出する。絞り調節
回路50はその指令に応答して絞り48の開口寸法を変
更する。
する絞り調節回路50に調節指令を送出する。絞り調節
回路50はその指令に応答して絞り48の開口寸法を変
更する。
カメラ44からのビデオ信号は可変利得増幅器60によ
って増幅される。可変利得増幅器60も照射調節回路6
6のビデオ利得および開口調節回路からの信号によって
調節される。増幅されたビデオ信号はモニタ62に表示
され、医者か見ることかできる。増幅器60の出力信号
は平均回路64にも結合され、平均回路64は各ビデオ
フレームの平均画像輝度レベルを表わす出力を発生する
。
って増幅される。可変利得増幅器60も照射調節回路6
6のビデオ利得および開口調節回路からの信号によって
調節される。増幅されたビデオ信号はモニタ62に表示
され、医者か見ることかできる。増幅器60の出力信号
は平均回路64にも結合され、平均回路64は各ビデオ
フレームの平均画像輝度レベルを表わす出力を発生する
。
輝度平均回路は米国特許第4,573,183号に開示
されているものであってよい。このような回路はビデオ
信号の輝度成分を平均する。平均輝度表示信号は2人力
1出力のマルチプレクサ58の一方の入力に与えられる
。
されているものであってよい。このような回路はビデオ
信号の輝度成分を平均する。平均輝度表示信号は2人力
1出力のマルチプレクサ58の一方の入力に与えられる
。
光検出器52がイメージ増倍管36の出力光ビムの縁に
配置されて、光の強度を検知する。このセンサはその入
力光強度に正比例する出力信号を発生する。検知された
光強度は積分器54によってX線パルス期間にわたって
積分される。積分器54の入力にある増幅器の信号利得
は後述するように画像調節バス56からの信号によって
設定される。積分器54の出力はマルチプレクサ58の
他方の入力に結合されている。システムの動作モードに
応じて、マルチプレクサは平均回路64の出力または積
分器54の出力を照射調節回路に結合する。
配置されて、光の強度を検知する。このセンサはその入
力光強度に正比例する出力信号を発生する。検知された
光強度は積分器54によってX線パルス期間にわたって
積分される。積分器54の入力にある増幅器の信号利得
は後述するように画像調節バス56からの信号によって
設定される。積分器54の出力はマルチプレクサ58の
他方の入力に結合されている。システムの動作モードに
応じて、マルチプレクサは平均回路64の出力または積
分器54の出力を照射調節回路に結合する。
以上のX線システム10の説明で述べたように、多くの
構成品は照射調節回路66から出力される調節信号に応
答する。詳しく述べると、調節回路はそれぞれフィラメ
ント電源17、高電圧電源22および格子電源26を調
節する「フィラメン)・指令」、rKV指令」および「
パルス幅指令」と名付けられた信号によりX線管の放出
を調節する。
構成品は照射調節回路66から出力される調節信号に応
答する。詳しく述べると、調節回路はそれぞれフィラメ
ント電源17、高電圧電源22および格子電源26を調
節する「フィラメン)・指令」、rKV指令」および「
パルス幅指令」と名付けられた信号によりX線管の放出
を調節する。
「フィラメント指令」信号は線18によりフィラメント
電源17に接続された標準テーパー(taper)機能
回路68によって処理される。テーパ機能回路はテーブ
ル33の上側表面34の平面に於けるX線線量が螢光透
視の際に10R/分の限界値を超えないようにする。
電源17に接続された標準テーパー(taper)機能
回路68によって処理される。テーパ機能回路はテーブ
ル33の上側表面34の平面に於けるX線線量が螢光透
視の際に10R/分の限界値を超えないようにする。
照射調節回路66はマルチプレクサ58の出力およびサ
ンプリング回路41からの光電陰極電流レベルを受ける
。線43のサンプリング回路制御信号は照射調節回路か
ら送出される。照射調節回路66は操作者端末装置67
からの入力指令も受ける。この端末装置67によって、
操作者は動作モード(螢光透視モードまたはフィルム記
録モト)を選択することができ、またX線照射に対する
1群の予め定められた線量率の中から選択することがで
きる。操作者端末装置はX線システム10の異なる動作
パラメータの可視表示も行なう。
ンプリング回路41からの光電陰極電流レベルを受ける
。線43のサンプリング回路制御信号は照射調節回路か
ら送出される。照射調節回路66は操作者端末装置67
からの入力指令も受ける。この端末装置67によって、
操作者は動作モード(螢光透視モードまたはフィルム記
録モト)を選択することができ、またX線照射に対する
1群の予め定められた線量率の中から選択することがで
きる。操作者端末装置はX線システム10の異なる動作
パラメータの可視表示も行なう。
米国特許第4.703,496号に開示されたものと類
似したハードワイヤの調節回路を使うこともできるが、
照射調節回路66はマイクロコンピュータをベースとし
た装置とすることが好ましい。この装置は、プログラム
の実行の間に使用される変数および定数とともに、自動
輝度調節プログラムを記憶するためにメモリを含んでい
る。上記米国特許に開示された概念をソフトウェアプロ
グラムでどのように具現するかは当業者には容易に考え
付くことができよう。
似したハードワイヤの調節回路を使うこともできるが、
照射調節回路66はマイクロコンピュータをベースとし
た装置とすることが好ましい。この装置は、プログラム
の実行の間に使用される変数および定数とともに、自動
輝度調節プログラムを記憶するためにメモリを含んでい
る。上記米国特許に開示された概念をソフトウェアプロ
グラムでどのように具現するかは当業者には容易に考え
付くことができよう。
X線システム10が螢光透視動作モードになっていると
き、カメラ44からのビデオ信号の各フィールドの平均
輝度は平均回路64によって測定される。照射調節回路
66はマルチプレクサ58を介して回路64から平均輝
度の表示を受ける。
き、カメラ44からのビデオ信号の各フィールドの平均
輝度は平均回路64によって測定される。照射調節回路
66はマルチプレクサ58を介して回路64から平均輝
度の表示を受ける。
平均輝度の表示に応答して、照射調節回路66はrKV
指令」および「フィラメント指令」を送出することによ
り、X線管励起を変更して出力画像の輝度をほぼ一定に
維持する。出力画像の輝度が少し変動しても、X線管の
励起は変化しない。出力画像の輝度はビデオカメラの絞
り48の開口寸法およびビデオ増幅器60の利得によっ
ても制御される。自動輝度調節ループの機能は米国特許
節4.703,496号に述べられている方法に類似し
ている。
指令」および「フィラメント指令」を送出することによ
り、X線管励起を変更して出力画像の輝度をほぼ一定に
維持する。出力画像の輝度が少し変動しても、X線管の
励起は変化しない。出力画像の輝度はビデオカメラの絞
り48の開口寸法およびビデオ増幅器60の利得によっ
ても制御される。自動輝度調節ループの機能は米国特許
節4.703,496号に述べられている方法に類似し
ている。
同様に、X線システム10かシネカメラ動作モードにな
っているとき、照射調節回路66はX線放出も調節して
、イメージ増倍管36の出力画像を一定の輝度に維持す
る。フィルムはイメージ増倍管の光出力に露出されるの
で、ビデオカメラからの平均ビデオレベルのかわりに、
この光の強度を用いて画像の輝度を調節する。この調節
を行なうため、光検出器52がシネカメラ動作モードに
おける出力画像の光強度を検出する。検知された画像の
輝度はフィルムのフレーム期間にわたって積分器54に
よって積分され、マルチプレクサ58によって照射調節
回路66の入力に結合されている。この画像輝度入力を
用いて、螢光透視モトの場合と同様にX線管の励起を調
節することにより、出力画像を一定輝度レベルにする。
っているとき、照射調節回路66はX線放出も調節して
、イメージ増倍管36の出力画像を一定の輝度に維持す
る。フィルムはイメージ増倍管の光出力に露出されるの
で、ビデオカメラからの平均ビデオレベルのかわりに、
この光の強度を用いて画像の輝度を調節する。この調節
を行なうため、光検出器52がシネカメラ動作モードに
おける出力画像の光強度を検出する。検知された画像の
輝度はフィルムのフレーム期間にわたって積分器54に
よって積分され、マルチプレクサ58によって照射調節
回路66の入力に結合されている。この画像輝度入力を
用いて、螢光透視モトの場合と同様にX線管の励起を調
節することにより、出力画像を一定輝度レベルにする。
照射調節回路66がその機能を実行するため、これは最
初にシステム構成品の特定の特性に対して校正しなけれ
ばならない。たとえば、X線管12およびイメージ増倍
管36はそれぞれ輝度調節の動作に影響を及ぼす独特の
性能特性をそなえている。したがって、X線システム1
0の初期動作の前、およびその後に構成品を交換すると
き、下記の技術を使ってシステムの線量率を校正しなけ
ればならない。
初にシステム構成品の特定の特性に対して校正しなけれ
ばならない。たとえば、X線管12およびイメージ増倍
管36はそれぞれ輝度調節の動作に影響を及ぼす独特の
性能特性をそなえている。したがって、X線システム1
0の初期動作の前、およびその後に構成品を交換すると
き、下記の技術を使ってシステムの線量率を校正しなけ
ればならない。
第2図のステップ80に於けるシステム校正手順の初め
に、専門技術者は特定のイメージ増倍管36の特性を操
作者端末装置67に入力する。これらの特性は照射調節
回路66のメモリに記憶される。これらの特性の1つは
イメージ増倍管36のX線入力強度に対する可視光出力
強度を表わす変換係数であり、これは増幅管の効率を特
徴付ける。システム10に入力されるイメージ増倍管の
もう1つのパラメータは光電陰極電流利得てあり、これ
は光電陰極電流とX線入力線量との間の線形関係を特徴
例ける。これらの特性はともに、X線イメージングシス
テム10に組立てる前に試験設備内で特定のイメージ増
倍管36の性能を測定することによって決定される。同
様に、ビデオカメラ44内のピックアップ管に関して前
に測定された感度が照射調節回路のメモリに入力される
。以下に述べる計算に必要な他のシステムパラメータも
このときに入力される。
に、専門技術者は特定のイメージ増倍管36の特性を操
作者端末装置67に入力する。これらの特性は照射調節
回路66のメモリに記憶される。これらの特性の1つは
イメージ増倍管36のX線入力強度に対する可視光出力
強度を表わす変換係数であり、これは増幅管の効率を特
徴付ける。システム10に入力されるイメージ増倍管の
もう1つのパラメータは光電陰極電流利得てあり、これ
は光電陰極電流とX線入力線量との間の線形関係を特徴
例ける。これらの特性はともに、X線イメージングシス
テム10に組立てる前に試験設備内で特定のイメージ増
倍管36の性能を測定することによって決定される。同
様に、ビデオカメラ44内のピックアップ管に関して前
に測定された感度が照射調節回路のメモリに入力される
。以下に述べる計算に必要な他のシステムパラメータも
このときに入力される。
システム構成品の特性が入力されれば、システムは自動
校正状態とされる。その中の第1の動作は選択可能な各
線量率に対するデフォルト(default )螢光透
視モード絞り開口設定値を計算して記憶することである
。通常、絞り開口寸法は一連のFナンバー、またはFス
h ツブによって規定される。各Fナンバーは順次大き
くなる数字列の中で前のFナンバーから開口の寸法か5
0%小さくなることを表わす。しかし、これはX線シス
テムに対してはその増分が大ぎ過ぎる。その結果、開口
寸法の−組みの細かい階調が定められ、これらは「Nナ
ンバー」と呼ばれる。各Nナンバーは絞り開口寸法の1
つのステップを表わし、相次ぐ各ステップは前のステッ
プの寸法より10%小さくなる。すなわち、相次いで大
きくなるNナンバの各ステップにより、開口は前のNナ
ンバーのステップの寸法の90%まで小さくなる。たと
えば、Nナンバーが1であることは、開口が広く開放し
た場合の面積の90%まで閉じた場合に対応する。
校正状態とされる。その中の第1の動作は選択可能な各
線量率に対するデフォルト(default )螢光透
視モード絞り開口設定値を計算して記憶することである
。通常、絞り開口寸法は一連のFナンバー、またはFス
h ツブによって規定される。各Fナンバーは順次大き
くなる数字列の中で前のFナンバーから開口の寸法か5
0%小さくなることを表わす。しかし、これはX線シス
テムに対してはその増分が大ぎ過ぎる。その結果、開口
寸法の−組みの細かい階調が定められ、これらは「Nナ
ンバー」と呼ばれる。各Nナンバーは絞り開口寸法の1
つのステップを表わし、相次ぐ各ステップは前のステッ
プの寸法より10%小さくなる。すなわち、相次いで大
きくなるNナンバの各ステップにより、開口は前のNナ
ンバーのステップの寸法の90%まで小さくなる。たと
えば、Nナンバーが1であることは、開口が広く開放し
た場合の面積の90%まで閉じた場合に対応する。
この関係は次式で表わされる。
A=A ” (0,9)N (1)ax
但し、Nは開口のNナンバー、AはそのNナンバに対す
る開口の実効面積、A は広く開いたax 絞りの面積である。
る開口の実効面積、A は広く開いたax 絞りの面積である。
端末装置67て操作者か選択できる各線量率には、自動
輝度調節ループをその線量率に対して設定するために対
応した絞りNナンバーが設けられている。最初に、少な
くとも、校正プロセスの際に行なうべき照射で用いる操
作者選択可能な線量率に対して、理論的な、またはデフ
ォルト(defau]t)のNナンバーが計算される。
輝度調節ループをその線量率に対して設定するために対
応した絞りNナンバーが設けられている。最初に、少な
くとも、校正プロセスの際に行なうべき照射で用いる操
作者選択可能な線量率に対して、理論的な、またはデフ
ォルト(defau]t)のNナンバーが計算される。
これによってNナンバーの近似値が得られ、その最終値
は校正プロセスによって経験的に設定される。後述する
ように、この線量率に対して経験的に設定されたNナン
バーから、残りの選択可能な線量率に対するNナンバー
が計算される。したがって、計算の正確さを最適にする
ため、校正照射線量率は選択可能な線量率の範囲のほぼ
中間にすべきである。
は校正プロセスによって経験的に設定される。後述する
ように、この線量率に対して経験的に設定されたNナン
バーから、残りの選択可能な線量率に対するNナンバー
が計算される。したがって、計算の正確さを最適にする
ため、校正照射線量率は選択可能な線量率の範囲のほぼ
中間にすべきである。
デフォルトNナンバーの値は次式のように規定された線
量率に対するシステムの理論的な絞り開口Fナンバーか
ら求められる。
量率に対するシステムの理論的な絞り開口Fナンバーか
ら求められる。
ここで、Kは最初は1に等しい線量校正定数であり、T
oは(ルーメン/平方フィート)/フィト・ランベルト
で表わされる、光学系に対する分光透過率、SPはピッ
クアップ管の測定感度、ERはFナンバーを計算してい
る線量率、CFはイメージ増倍管の変換係数、A、はピ
ックアップ管ターゲットの照射される面積、Iはピック
アップ管のピーク動作電流、K1は組合わせ測定単位変
換係数である。異なる線量率に対するFナンバかステッ
プ82で計算される。
oは(ルーメン/平方フィート)/フィト・ランベルト
で表わされる、光学系に対する分光透過率、SPはピッ
クアップ管の測定感度、ERはFナンバーを計算してい
る線量率、CFはイメージ増倍管の変換係数、A、はピ
ックアップ管ターゲットの照射される面積、Iはピック
アップ管のピーク動作電流、K1は組合わせ測定単位変
換係数である。異なる線量率に対するFナンバかステッ
プ82で計算される。
次に選択可能な各線量率に対する理論的なFナンバーを
使って、次式によりステップ83て各線量率に対するデ
フォルト開口Nナンバーを求める。
使って、次式によりステップ83て各線量率に対するデ
フォルト開口Nナンバーを求める。
ここで、A は最大絞り開口直径、Fは式(2)て求
めた理論的なFナンバー、FLはビデオカメラのレンズ
の焦点距離である。ユーザか選択できる各線量率に対す
るデフォルトNナンバーは照射調節回路66のメモリに
記憶される。
めた理論的なFナンバー、FLはビデオカメラのレンズ
の焦点距離である。ユーザか選択できる各線量率に対す
るデフォルトNナンバーは照射調節回路66のメモリに
記憶される。
構成品の特性からデフォルト絞り開口Nナンバが計算さ
れれば、螢光透視動作モードの校正照射を逐行すること
ができる。デフォルト開口Nナンバーを使うことにより
、実際のNナンバー値を求める校正プロセスで最初に使
うための近似値が得られる。デフォルト値を使うことに
より校正プロセスが短縮されるが、最初にデフォルトN
ナンバーを計算しないで残りのステップを逐行すること
ができる。校正照射の間、第1図に示す患者32のかイ
っりにテーブル33の上にフィルタが配置される。この
フィルタは厚さが5.72cmのプレキシガラス(pl
exiglas :これはローム・アンド−ハース社(
RohlIand Haas Company )の商
標名)の板、厚さが0.1cmのアルミニウムの板、お
よび厚さが約0.08の銅の板で構成される。X線管の
陽極13とイメージ増倍管36との間の間隔は与えられ
た校正距離に設定される。
れれば、螢光透視動作モードの校正照射を逐行すること
ができる。デフォルト開口Nナンバーを使うことにより
、実際のNナンバー値を求める校正プロセスで最初に使
うための近似値が得られる。デフォルト値を使うことに
より校正プロセスが短縮されるが、最初にデフォルトN
ナンバーを計算しないで残りのステップを逐行すること
ができる。校正照射の間、第1図に示す患者32のかイ
っりにテーブル33の上にフィルタが配置される。この
フィルタは厚さが5.72cmのプレキシガラス(pl
exiglas :これはローム・アンド−ハース社(
RohlIand Haas Company )の商
標名)の板、厚さが0.1cmのアルミニウムの板、お
よび厚さが約0.08の銅の板で構成される。X線管の
陽極13とイメージ増倍管36との間の間隔は与えられ
た校正距離に設定される。
次に、螢光透視モードならびに操作者選択可能な線量率
の範囲の中央に選定された線量率に対してシステムが構
成される。次にステップ84で、X線管の電源22およ
び17にrKV指令」および「フィラメント指令」をそ
れぞれ送出する照射調節回路66によって照射が開始さ
れる。これらの指令は前に計算されたデフォルト絞り寸
法に対する螢光透視線量率で適正な画像強度を達成する
ために自動輝度調節ループによって決定される。
の範囲の中央に選定された線量率に対してシステムが構
成される。次にステップ84で、X線管の電源22およ
び17にrKV指令」および「フィラメント指令」をそ
れぞれ送出する照射調節回路66によって照射が開始さ
れる。これらの指令は前に計算されたデフォルト絞り寸
法に対する螢光透視線量率で適正な画像強度を達成する
ために自動輝度調節ループによって決定される。
螢光透視モードで格子電源26は「パルス幅指令」を受
け、この指令はビデオカメラ46のフィールド速度で制
御格子15をパルス駆動するように格子電源26に命令
する。照射調節回路66は選択された線量率に対する前
に求めたデフォルトNナンバーも絞り調節回路50に送
出する。これにより、絞り48の開口か自動輝度調節ル
ープに対する最初の寸法まで開く。照射調節回路は輝度
調節ループか休止状態に達するまでフィラメント電流お
よび陽極−陰極間室圧を調節する。
け、この指令はビデオカメラ46のフィールド速度で制
御格子15をパルス駆動するように格子電源26に命令
する。照射調節回路66は選択された線量率に対する前
に求めたデフォルトNナンバーも絞り調節回路50に送
出する。これにより、絞り48の開口か自動輝度調節ル
ープに対する最初の寸法まで開く。照射調節回路は輝度
調節ループか休止状態に達するまでフィラメント電流お
よび陽極−陰極間室圧を調節する。
次にステップ85で、照射調節回路66はイメー増倍管
電源40およびサンプリング回路41からの光電陰極電
流サンプルの受信を開始する。
電源40およびサンプリング回路41からの光電陰極電
流サンプルの受信を開始する。
光電陰極電流はイメージ増倍管36の人力に於けるX線
線量に対して線形の関係にある。したかって、光電陰極
電流をX線線量の測定値として使い、時間にわたって平
均することにより線量率を求めることができる。光電陰
極電流は10個のビデオフィールドに対してビデオカメ
ラのフィールド期間当り5回サンプリングされ、この結
果得られた50個のサンプルが照射調節回路66によっ
て平均される。
線量に対して線形の関係にある。したかって、光電陰極
電流をX線線量の測定値として使い、時間にわたって平
均することにより線量率を求めることができる。光電陰
極電流は10個のビデオフィールドに対してビデオカメ
ラのフィールド期間当り5回サンプリングされ、この結
果得られた50個のサンプルが照射調節回路66によっ
て平均される。
次に等値線量率が次式を用いてサンプル平均値から照射
調節回路66によってステップ86で計算される。
調節回路66によってステップ86で計算される。
1、”K2
線量率−(4)
ここで、■、はサンプリングされた光電陰極電流の平均
値、K2は41[1定単位変換係数、S、は特定のイメ
ージ増倍管の光電陰極電流利得である。
値、K2は41[1定単位変換係数、S、は特定のイメ
ージ増倍管の光電陰極電流利得である。
ステップ87で、計算された等値線量率が選択された線
量率の与えられた許容範囲(たとえは±5%)内にあれ
ば、システムはその線量率に対して校正されたものと考
えられる。計算された線量率が許容範囲外にあれば、ス
テップ88で照射調節回路66は画像調節バス56を介
して絞り調節回路50に新しいNナンバーを送出する。
量率の与えられた許容範囲(たとえは±5%)内にあれ
ば、システムはその線量率に対して校正されたものと考
えられる。計算された線量率が許容範囲外にあれば、ス
テップ88で照射調節回路66は画像調節バス56を介
して絞り調節回路50に新しいNナンバーを送出する。
新しいNナンバーにより絞り開口の寸法か変るので、輝
度調節ループは選定されたレベルに向って実際の線量率
を増加または減少させる。詳しく述べると、絞り開口の
変更により、平均回路64によって検出される平均画像
輝度レベルか増大または減少し、照IA=J調節回路6
6か平均画像輝度の変化に応答してX線管の励起を変え
、それに応じて線量率が変化する。次にプロセスはステ
ップ85に戻る。輝度調節ループが再び安定化した後、
50個の光電陰極電流サンプルのもう1つの組が平均さ
れ、新しい等値線量率か計算される。結局、絞り調整に
対するNナンバーが調整され、これにより輝度調節ルー
プか選定された線量率の許容範囲内にある実際の線量率
をX線管から発生させる。この点で、そのNナンバーが
その選定された線量率に対して使用する値としてステッ
プ89で照射調節回路66のメモリに記憶される。
度調節ループは選定されたレベルに向って実際の線量率
を増加または減少させる。詳しく述べると、絞り開口の
変更により、平均回路64によって検出される平均画像
輝度レベルか増大または減少し、照IA=J調節回路6
6か平均画像輝度の変化に応答してX線管の励起を変え
、それに応じて線量率が変化する。次にプロセスはステ
ップ85に戻る。輝度調節ループが再び安定化した後、
50個の光電陰極電流サンプルのもう1つの組が平均さ
れ、新しい等値線量率か計算される。結局、絞り調整に
対するNナンバーが調整され、これにより輝度調節ルー
プか選定された線量率の許容範囲内にある実際の線量率
をX線管から発生させる。この点で、そのNナンバーが
その選定された線量率に対して使用する値としてステッ
プ89で照射調節回路66のメモリに記憶される。
操作者選択可能な残りの線量率に対して上記の校正手順
を繰り返すこともできるが、それらのレベルに対するN
ナンバーはステップ90で第1の選択可能な線量率に対
する校正に基いて計算される。この計算には次式か用い
られる。
を繰り返すこともできるが、それらのレベルに対するN
ナンバーはステップ90で第1の選択可能な線量率に対
する校正に基いて計算される。この計算には次式か用い
られる。
ここで、NNDRは次の選択可能な線量率に対して計算
されるNナンバー、NCDRは第1の校正された線量率
に対するNナンバー、CDRは第1の校正された線量率
の値、NDRはそれに対してNナンバーを計算しなけれ
ばならない次の選択可能な線量率の値である。操作者選
択可能な各線量率に対する計算されたNナンバーが照射
調節回路66のメモリに記憶される。その後、操作者が
端末装置67を介してこれらの線量レベルのうちの1つ
を選択したとき、照射調節回路はそのメモリから対応す
るNナンバーを検索し、そのNナンバーを絞り調節回路
50に送用する。
されるNナンバー、NCDRは第1の校正された線量率
に対するNナンバー、CDRは第1の校正された線量率
の値、NDRはそれに対してNナンバーを計算しなけれ
ばならない次の選択可能な線量率の値である。操作者選
択可能な各線量率に対する計算されたNナンバーが照射
調節回路66のメモリに記憶される。その後、操作者が
端末装置67を介してこれらの線量レベルのうちの1つ
を選択したとき、照射調節回路はそのメモリから対応す
るNナンバーを検索し、そのNナンバーを絞り調節回路
50に送用する。
X線システム10を螢光透視モードに対して校正した後
、第1図に例示したシステムをシネカメラ動作モードに
対して校正しなければならない。
、第1図に例示したシステムをシネカメラ動作モードに
対して校正しなければならない。
シネカメラ46をホトスポットカメラに置き換えた場合
、シネカメラ動作モートの場合と同様な校正手順をホト
スポットカメラ動作モードの線量率に対して逐行しなけ
れはならない。前に述べたようにシステムがシネカメラ
動作モードにあるとき、イメージ増倍管36からの出力
画像の輝度を測定するためにビデオカメラ44は使用さ
れない。そのかわりに光検出器52および積分器54を
用いて、平均化した画像輝度サンプルを得る。螢光透視
モードの照射および前に校正された螢光透視モトの線量
率を用い−C積分器54か校正される。
、シネカメラ動作モートの場合と同様な校正手順をホト
スポットカメラ動作モードの線量率に対して逐行しなけ
れはならない。前に述べたようにシステムがシネカメラ
動作モードにあるとき、イメージ増倍管36からの出力
画像の輝度を測定するためにビデオカメラ44は使用さ
れない。そのかわりに光検出器52および積分器54を
用いて、平均化した画像輝度サンプルを得る。螢光透視
モードの照射および前に校正された螢光透視モトの線量
率を用い−C積分器54か校正される。
シネカメラ動作モードの線量率はこのモードの選択可能
な線量率に対する適切な積分回路利得を定めることによ
って校正される。積分器54は固定の線量率、たとえば
シネ記録モードでの選択可能な線量率の範囲の中央に近
い10mR/分で校正される。この固定の線量率が前に
校正された螢光透視線量率の1つに等しくない場合には
、所望の固定の線量率(たとえば10mR/分)に対す
る絞り開口Nナンバーが次式で計算される。
な線量率に対する適切な積分回路利得を定めることによ
って校正される。積分器54は固定の線量率、たとえば
シネ記録モードでの選択可能な線量率の範囲の中央に近
い10mR/分で校正される。この固定の線量率が前に
校正された螢光透視線量率の1つに等しくない場合には
、所望の固定の線量率(たとえば10mR/分)に対す
る絞り開口Nナンバーが次式で計算される。
この式は式(5)と類似している。但し、所望の線量率
はそこで積分器を校正すべき線量率、螢光線量率は前に
校正された螢光透視モードの線量率、N、 は所望の線
量率に対するNナンバーnt NFDRは校正された螢光透視の線量率のNナンバであ
る。N、 に対してこの式を解くと、その+nt Nナンバーが絞り調節回路50に送られ、絞り開口か所
望の線量率に対する適切な開口に設定される。代案とし
て、値が所望の固定の線量率に最も近い1つの前に校正
された螢光透視の線量率を用いて積分器54を校正して
もよい。
はそこで積分器を校正すべき線量率、螢光線量率は前に
校正された螢光透視モードの線量率、N、 は所望の線
量率に対するNナンバーnt NFDRは校正された螢光透視の線量率のNナンバであ
る。N、 に対してこの式を解くと、その+nt Nナンバーが絞り調節回路50に送られ、絞り開口か所
望の線量率に対する適切な開口に設定される。代案とし
て、値が所望の固定の線量率に最も近い1つの前に校正
された螢光透視の線量率を用いて積分器54を校正して
もよい。
シネカメラ動作モードの校正の初めに、ステップ92で
X線システムを螢光透視モードで動作させて所望の線量
率を設定する。システムは安定化した後、ステップ93
て手動螢光透視モードにおいて、自動輝度調節を不作動
に□し、X線管の励起、したがって線量率が所望の校正
レベルに固定される。次にマルチプレクサ58がスイッ
チングされ、積分器54の出力が照射調節回路66の入
力に結合される。ステップ94で積分器の出力が与えら
れた期間内に所定のレベルに達するまで積分器54の利
得が照射調節回路66によって変えられる。
X線システムを螢光透視モードで動作させて所望の線量
率を設定する。システムは安定化した後、ステップ93
て手動螢光透視モードにおいて、自動輝度調節を不作動
に□し、X線管の励起、したがって線量率が所望の校正
レベルに固定される。次にマルチプレクサ58がスイッ
チングされ、積分器54の出力が照射調節回路66の入
力に結合される。ステップ94で積分器の出力が与えら
れた期間内に所定のレベルに達するまで積分器54の利
得が照射調節回路66によって変えられる。
たとえば、積分器の出力が2秒以内に5ボルトに達する
まで、積分器の利得が調整される。この場合、l0DI
R/分の線量率に対して、67μR/ボルトの積分率を
発生する既知の利得で積分器が校正される。
まで、積分器の利得が調整される。この場合、l0DI
R/分の線量率に対して、67μR/ボルトの積分率を
発生する既知の利得で積分器が校正される。
積分計算を行なった後、初期線量率(たとえば10mR
/分)に対する利得を用いて、シネカメラ動作モードの
他の選択可能な線量率に対する積分器利得を求める。こ
の計算、では利得の積分器の伝達関数が線形で、原点を
通るものと仮定しているので、この単一点校正法を用い
ることができる。
/分)に対する利得を用いて、シネカメラ動作モードの
他の選択可能な線量率に対する積分器利得を求める。こ
の計算、では利得の積分器の伝達関数が線形で、原点を
通るものと仮定しているので、この単一点校正法を用い
ることができる。
第1図は本発明を用いたX線システムの概略ブロック図
である。第2図は本発明の校正法を示すフローチャート
である。 [主な符号の説明] 10・・・X線イメージングシステム、12・・・X線
管、 13・・・回転陽極、 14・・陰極/フィラメント、 36・・・X線イメージ増倍管、 37・・・光電陰極、 52・・・光検出器。
である。第2図は本発明の校正法を示すフローチャート
である。 [主な符号の説明] 10・・・X線イメージングシステム、12・・・X線
管、 13・・・回転陽極、 14・・陰極/フィラメント、 36・・・X線イメージ増倍管、 37・・・光電陰極、 52・・・光検出器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、陽極、陰極およびフィラメントをそなえ、励起され
てX線を放出するX線管を含み、さらに光電陰極をそな
えたイメージ増倍管を含むX線イメージングシステムの
線量を校正する方法であって、 X線照射に対する所望の線量率を選択するステップ、 上記システムからX線照射を生じさせるステップ、 光電陰極を通って流れる電流の大きさを検知するステッ
プ、 光電陰極電流の検知された大きさから実際のX線照射線
量率を求めるステップ、 実際のX線照射線量率を選択された所望の線量率と比較
するステップ、および 実際のX線照射線量率が選択された所望の線量率にほぼ
等しくなるまで上記比較ステップの結果に応じてX線管
の励起を変更するステップ、を含むことを特徴とする方
法。 2、上記の実際のX線照射線量率を求めるステップが次
の式、線量=(I_P/S_i)を解くことを含み、こ
こでI_Pは光電陰極電流であり、S_iはイメージ増
倍管の光電陰極電流利得である請求項1記載の方法。 3、上記の光電陰極を通って流れる電流の大きさを検知
するステップが、与えられた時間にわたって検知された
電流を平均し、この平均値をI_Pの値として使うこと
により実際のX線照射線量率を求めることを含む請求項
2記載の方法。 4、上記のX線管の励起を変更するステップが、フィラ
メントを通る電流、陽極と陰極との間の電圧、および陽
極と陰極との間を流れる電流で構成されるグループの中
の1つ以上のパラメータを変更することを含む請求項1
記載の方法。 5、X線管、光電陰極をそなえたイメージ増倍管、イメ
ージ増倍管からの画像をビデオ信号に変換するビデオカ
メラ、およびビデオ信号の特性に応答してX線管の電気
的励起を調整する調節回路を含むX線イメージングシス
テムの線量を校正する方法であつて、 上記システムからX線照射を生じさせるステップ、 光電陰極を通って流れる電流の大きさを検知するステッ
プ、 光電陰極電流の検知された大きさから実際のX線の線量
率を求めるステップ、 実際の照射率を所望の線量率と比較するステップ、およ
び 実際の線量率が所望の線量率にほぼ等しくなるまで上記
比較ステップの結果に応じてX線管の励起を変更するス
テップ、 を含むことを特徴とする方法。 6、上記のX線管の励起を変更するステップが、ビデオ
カメラの開口の寸法を変えてカメラに入る光の量を調節
することにより調節回路によるX線管の励起を変更させ
ることを含み、上記の開口の変更が実際のX線の線量が
所望の線量レベルにほぼ等しくなるまで継続される請求
項5記載の方法。 7、実際のX線の線量が所望の線量率がほぼ等しくなっ
たときの開口の寸法から別の線量率に対する開口の寸法
を求めることを含む請求項6記載の方法。 8、X線照射を行う前に、X線システムの構成品の特性
に応じてビデオカメラの開口の初期寸法を決定すること
を含む請求項6記載の方法。 9、上記の実際のX線の線量率を求めるステップが線量
=(I_P/S_i)という式を解くことを含み、ここ
で、I_Pは光電陰極電流、S_iはイメージ増倍管の
光電陰極電流利得である請求項5記載の方法。 10、X線管、光電陰極をそなえたイメージ増倍管、イ
メージ増倍管からの画像をビデオ信号に変換するビデオ
カメラ、イメージ増倍管からの画像を記録するためのフ
ィルムカメラ、イメージ増倍管からの画像の輝度を表わ
す出力信号を発生する光検出器、可変利得増幅手段をそ
なえた光検出器出力信号の積分手段、およびX線管の電
気的励起を調節する調節回路を含み、螢光透視モードま
たはフィルムカメラモードのいずれのモードでも動作し
得るX線イメージングシステムの線量を校正する方法で
あって、 a)螢光透視モードにおいて、 1)上記システムから第1のX線照射 を生じさせるステップ、 2)光電陰極を通って流れる電流の大 きさを検知するステップ、 3)光電陰極電流の検知された大きさ から実際のX線の線量率を求めるステップ、4)実際の
線量率を所望の線量率と比 較するステップ、 5)実際の線量率が所望の線量率に実 質的に等しくなるまで上記比較ステップの結果に応じて
X線管の励起を変更するステップ、および6)実際の線
量率が選択された線量率 に実質的に等しくなったときのX線管の励起を規定する
システムデータを記憶するステップ により螢光透視モードに対する第1の線量率を校正し、
ならびに b)フィルムカメラモードにおいて、 1)前に校正された第1の線量率から 求めた所与の線量率で第2のX線照射を螢光透視モード
で生じさせるステップ、 2)上記システムが上記所与の線量率 で安定したときにX線管からのX線放出を実質的に一定
のレベルに維持するステップ、および3)上記積分手段
が与えられた期間内 に所定の出力を発生するまで上記増幅手段の利得を調整
するステップ によりフィルムカメラモードに対してシステムを校正す
ること、を特徴とする方法。 11、上記の光電陰極を通って流れる電流の大きさを検
知するステップが、所定期間の間の検知された電流を平
均することを含む請求項10記載の方法。 12、線量(I_P/S_i)という式に従って実際の
X線の線量率が求められ、ここでI_Pは光電陰極電流
、S_iはイメージ増倍管の光電陰極電流利得である請
求項10記載の方法。 13、上記の光電陰極を通って流れる電流の大きさを検
知するステップが、与えられた時間にわたって検知され
た電流を平均することを含み、この平均の結果をI_P
の値として使うことにより実際の線量率が求められる請
求項12記載の方法。 14、上記のX線管の励起を変更するステップが、ビデ
オカメラに対する絞り開口の寸法を変えることを含む請
求項10記載の方法。 15、上記の第2のX線照射を行うステップが、前に校
正された第1の線量率に対する絞り開口の寸法から絞り
開口の寸法を求めることを含む請求項14記載の方法。 16、上記のフィルムカメラモードに対してシステムを
校正する際に、上記増幅手段の第2の線量率に対する利
得設定値から第3の線量率に対する利得設定値を求める
ことを含む請求項10記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
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US07/311,726 US4980905A (en) | 1989-02-16 | 1989-02-16 | X-ray imaging apparatus dose calibration method |
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JPH0582040B2 JPH0582040B2 (ja) | 1993-11-17 |
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- 1990-02-16 JP JP2034056A patent/JPH02273499A/ja active Granted
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |