JPH02249912A - 光干渉角速度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、閉ループ型ゼロ方式の光干渉角速度計に関
する。

「従来の技術」 広ダイナミツクレンジおよび低ドリフトの光干渉角速度
計として、光ファイバコイルの一端側に光変調器として
構成された位相変調器を設け、これに位相変調用のラン
プ電圧を印加して、光ファイバコイルを伝搬する二つの
光の間に位相差を与えるとともに、光検出器の出力から
光ファイバコイルを伝搬して干渉する二つの光の間の位
相差を検出し、その検出出力によって、その位相差が２
ｍπラジアン（ｍ＝０、±１．±２・・・・・・）にな
るように、一般にはゼロ（ｍ＝０）になるように上記の
ランプ電圧の極性と周波数を制御するものが考えられて
いる。

第５図は、従来の、このような閉ループ型ゼロ方式の光
干渉角速度計の一例を示し、ランプ電圧として鋸歯状波
電圧を用いるリニア位相ランプ方式の場合で、光源１１
からの光１２が光結合器１３および偏光子１４を通じて
光分岐結合器１５に供給されて二つの光１６ａ、１６ｂ
に分岐され、その二つの光１６ａ、１６ｂが、一方の光
１６ａは光ファイバコイル１７の一端１７ａから、他方
の光１６ｂは光ファイバコイル１７の他端１７ｂから、
それぞれ光ファイバコイル１７に供給されて、一方の光
１６ａは左回り光として、他方の光１６ｂは右回り光と
して、それぞれ光ファイバコイル１７を伝搬し、この光
ファイバコイル１７を伝搬した二つの光１８ａ、１８ｂ
が、一方の光１８ａは光ファイバコイル１７の他端１７
ｂから、他方の光１８ｂは光ファイバコイル１７の一端
１７ａから、それぞれ光分岐結合器１５に供給されて互
いに干渉し、その得られた干渉光１９が偏光子１４およ
び光結合器１３を通じて光検出器２１に供給されて電気
信号に変換されるが、光分岐結合器１５と光ファイバコ
イル１７の他端１７ｂとの間に位相変調器２２が配され
、これにバイアシング電圧発生回路２３からバイアシン
グ電圧Ｂｉが印加されて、光ファイバコイル１７の他端
１７ｂから光ファイバコイル１７に供給される光１６ｂ
および光ファイバコイル１７を伝搬して光ファイバコイ
ル１７の他端１７ｂから光分岐結合器１５に供給される
光１８ａの位相が偏移されるとともに、光分岐結合器１
５と光ファイバコイル１７の一端１７ａとの間に位相変
調器２４が配され、これにランプ電圧発生回路３０から
ランプ電圧ＬＰが印加されて、光ファイバコイル１７の
一端１７ａから光ファイバコイル１７に供給される光１
６ａおよび光ファイバコイル１７を伝搬して光ファイバ
コイル１７の一端１７ａから光分岐結合器１５に供給さ
れる光１８ｂの位相が偏移され、そして、光検出器２１
の出力電圧Ｖａが位相差検出制御回路４０を構成する同
期検波回路４１に供給されてバイアシング電圧発生回路
２３からのバイアシング電圧Ｂｉにより同期検波されて
光分岐結合器１５において干渉する二つの光１８ａ、１
８ｂの間の位相差Δφが検出され、同期検波回路４１の
出力電圧ｖｂがＰＩＤフィルタ（比例積分微分フィルタ
）４２に供給され、ＰＩＤフィルタ４２の出力電圧、す
なわち位相差検出制御回路４０の出力電圧Ｖｃがランプ
電圧発生回路３０に供給されて位相差Δφがゼロになる
ようにランプ電圧ｔ、ｐの極性と周波数が制御される。

バイアシング電圧Ｂｉによる位相変調器２２における位
相変調は、同期検波回路４１の出力電圧ｖｂが上記の位
相差Δφの正弦値に比例したＶｂ−ＫｓｉｎΔφ　　　
　　　　　・・・・・・（１）となるように光干渉角速
度計の動作点を設定するためのものである。ただし、Ｋ
は定数である。

上記の位相差Δφは、光ファイバコイル１７に入力角速
度Ωが加えられることによって生じるサニヤック位相差
ΔφＳと位相変調器２４にランプ電圧ＬＰが印加される
ことによって生じる位相差Δφｐの和として、 Δφ−ΔφＳ＋Δφｐ　　　　　　・・・・・・　（２
）で表されるが、サニヤック位相差ΔφＳは、周知のよ
うに で表される。ただし、Ｒは光ファイバコイル１７の半径
、Ｌは光ファイバコイル１７における光ファイバ長、λ
は光ファイバコイル１７を伝搬する光の波長、Ｃは真空
中における光速である。

そして、ランプ電圧ＬＰは、第６図の上段の左側または
右側に示すように正または負の鋸歯状波電圧で、しかも
、その波高値に相当する最大値または最小値は、これに
よる位相変調器２４における光の最大位相偏移が２にπ
ラジアン（ｋ＝±１゜±２・・・・・・）になるような
、一般には±２πラジアンになるような値にされる。

すなわち、入力角速度Ωが左回り方向に加えられてサニ
ヤック位相差ΔφＳが負になるときには位相差検出制御
回路４０の出力電圧Ｖｃによってランプ電圧ｔ、ｐが正
の鋸歯状波電圧にされるが、このとき、光ファイバコイ
ル１７の一端１７ａから光ファイバコイル１７に供給さ
れる光１６ａが位相変調器２４において受ける位相偏移
φａおよヒ光ファイバコイル１７を伝搬して光ファイバ
コイル１７の一端１７ａから光分岐結合器１５に供給さ
れる光１８ｂが位相変調器２４において受ける位相偏移
φｂが第６図の下段左側の実線および破線で示すような
関係になって、上述した位相変調器２４にランプ電圧ｔ
、ｐが印加されることによって生じる位相差Δφｐが正
になり、入力角速度Ωが右回り方向に加えられてサニヤ
ック位相差ΔφＳが正になるときには位相差検出制御回
路４０の出力電圧Ｖｃによってランプ電圧Ｌｐが負の鋸
歯状波電圧にされるが、このとき、上記の位相偏移φａ
およびφｂが第６図の下段右側の実線および破線で示す
ような関係になって、上記の位相差ΔφＰが負になる。

ただし、第６図のτは光が光ファイバコイル１７を伝搬
するのに要する時間である。

したがって、ランプ電圧ｔ、ｐの周期をＴ、周波数をｆ
とすると、第６図から明らかなようにτ Δφｐ−２にπ　□＝２にπ　・　τｆ　　・・・（４
）となり、光ファイバコイル１７における光の屈折率を
ｎとすると、 ｎＬ ・・・・・・　（５） の関係があるので、 ｎＬ Δφｐ−２にπ　　　　　　ｆ　　　　　　・・・・・
・　（６）となる、したがって、（２）式で表される位
相差Δφがゼロになるようにランプ電圧ｔ、ｐの極性と
周波数ｆが制御されることによって、（６）式および（
３）式とΔφｐ＝−ΔφＳとから ２にπ　・　ｎＬ ΔφＳ ２にπ　・　ｎＬ ２にπ　・　ｎＬ λＣ ｋｎ　　λ となり、 Ｒ で表される。ただし、入力角速度Ωが負方向である左回
り方向に加えられてランプ電圧Ｌｐが正の鋸歯状波電圧
になるときにはｋが正の整数になり、入力角速度Ωが正
方向である右回り方向に加えられてランプ電圧ｔ、ｐが
負の鋸歯状波電圧になるときにはｋが負の整数になる。

したがって、ランプ電圧ｔ、ｐの極性と周波数ｒから入
力角速度Ωの方向と大きさを計測することができる。

「発明が解決しようとする課題」 上述した位相変調器２４のような位相変調器は、一般に
、ニオブ酸リチウムなどからなる電気光学結晶にチタン
の拡散などによって光導波路を形成するとともに、変調
用の電圧を印加する一対の電極を形成して構成するが、
このような位相変調器における光の位相偏移量は、電気
光学結晶の電気光学定数ｒと印加電圧Ｖｐとの積ｒｖｐ
に比例し、しかも、その電気光学定数Ｔは、温度依存性
があり、電気光学結晶のカット方向によって多少異なる
が、５００ρｐｍ／’Ｃ程度の温度係数を有する。した
がって、位相変調器における光の位相偏移量は、印加電
圧Ｖｐが同じでも温度によって変化する。

しかしながら、上述した第５図に示す従来の光干渉角速
度計においては、ランプ電圧発生回路３０から位相変調
器２４に印加される位相変調用のランプ電圧Ｌｐの波高
値に相当する最大値または最小値が、例えば１５°Ｃと
いうような、ある特定の温度において、これによる位相
変調器２４における光の最大位相偏移が２にπラジアン
になるような固定された値にされるので、環境の変化に
よって光干渉角速度計の温度、したがって位相変調器２
４の温度が、その特定の温度と異なるときには、位相変
調器２４を構成する電気光学結晶の電気光学定数γが変
化することによって最大位相偏移が２にπラジアンから
ずれ、人力角速度Ωとランプ電圧Ｌｐの周波数ｆとの関
係が（７）式ないしく８）弐の関係からずれて、光干渉
角速度計の出力にスケールファクタエラーを生じる不都
合がある。

第７図は、従来の光干渉角速度計における、このスケー
ルファクタエラーを示し、１５°Ｃにおいて最大位相偏
移が±２πラジアンになるようにランプ電圧ＬＰの波高
値が設定された場合で、光干渉角速度計の温度が１５°
Ｃに対して＋７０°Ｃの＋８５°Ｃまたは一５５°Ｃに
なると、最大位相偏移が±２πラジアンから３．５％程
度ずれ、スケールファクタエラーが０．０６％程度にも
なる。ただし、上述したようにランプ電圧ｔ、ｐが鋸歯
状波電圧である場合には、実際上、その鋸歯状波電圧に
フライバック時間が存在し、特定の温度においても厳密
には（４）式が成立せず、光干渉角速度計の出力にスケ
ールファクタエラーを生じるが、第７図はランプ電圧ｔ
、ｐのフライバック時間が５０ナノ秒という微小な時間
にされてランプ電圧ＬＰのフライバック時間によるスケ
ールファクタエラーが微小にされた場合で、第７図に示
されたスケールファクタエラーはほとんどが最大位相偏
移が±２πラジアンからずれることによるものである。

そこで、この発明は、閉ループ型ゼロ方式の光干渉角速
度計において、所定範囲内の温度においてはランプ電圧
が印加される位相変調器の定数の温度による変化によっ
て光干渉角速度計の出力にスケールファクタエラーを生
じることがほとんどないようにしたものである。

「課題を解決するための手段」 この発明においては、閉ループ型ゼロ方式の光干渉角速
度計において、光干渉角速度計の温度を検出する温度検
出器と、この温度検出器の出力にもとづいて所定範囲内
の温度においては光干渉角速度計の温度にかかわらずラ
ンプ電圧が印加される位相変調器における光の最大位相
偏移が２πラジアンの整数倍になるようにランプ電圧の
波高値を制御する波高値制御回路とを設ける。

「作　用」 上記のように構成された、この発明の光干渉角速度計に
おいては、所定範囲内の温度においては、光干渉角速度
計の温度にかかわらずランプ電圧が印加される位相変調
器における光の最大位相偏移が２πラジアンの整数倍に
なるようにランプ電圧の波高値が制御されるので、ラン
プ電圧が印加される位相変調器の定数の温度による変化
によって光干渉角速度計の出力にスケールファクタエラ
ーを生じることがほとんどない。

「実施例」 第１図は、この発明の光干渉角速度計の一例で、ランプ
電圧として鋸歯状波電圧を用いるリニア位相ランプ方式
の場合である。

光源１１、光結合器１３、偏光子１４、光分岐結合器１
５、光ファイバコイル１７、光検出器２１、バイアシン
グ電圧Ｂｉが印加される位相変調器２２、バイアシング
電圧発生回路２３、ランプ電圧Ｌｐが印加される位相変
調器２４、ランプ電圧発生回路３０および位相差検出制
御回路４０からなる系が設けられることは、第５図に示
した従来の光干渉角速度計と同じであり、その動作も、
後述するようにランプ電圧ｔ、ｐの波高値が制御される
点を除いては、第５図に示した従来の光干渉角速度計と
同じである。

ただし、位相変調器２４は、この例においては、ニオブ
酸リチウムなどのように電気光学定数γの温度係数が正
である電気光学結晶によって形成される。

また、ランプ電圧発生回路３０は、この例においては、
コンデンサ３１と、ランプ電圧発生回路３０の入力電圧
である位相差検出制御回路４０の出力電圧Ｖｃを電流に
変換してコンデンサ３１に供給する電圧電流変換回路３
２と、コンデンサ３１の放電用のスイッチ３３と、コン
デンサ３１の充電電圧を正の基準電圧子Ｖｐｒと比較す
る電圧比較回路３５と、コンデンサ３１の充電電圧を負
の基準電圧−Ｖｍｒと比較する電圧比較回路３６と、電
圧比較回路３５および３６の出力の論理和を得るオアゲ
ート３７と、オアゲート３７の出力によってトリガーさ
れてスイッチ３３をオンにする単安定マルチバイブレー
タ３８とによって構成されて、位相差検出制御回路４０
の出力電圧Ｖｃが正になるときには、コンデンサ３１が
正に充電され、その充電電圧が基準電圧＋Ｖｐｒに達す
ると、電圧比較回路３５の出力、したがってオアゲート
３７の出力が低レベルから高レベルに立ち上がって単安
定マルチパイプレーク３８がトリガーされ、スイッチ３
３がオンにされてコンデンサ３１が放電される動作が繰
り返されることによって、コンデンサ３１の両端間にラ
ンプ電圧Ｌｐとして最大値が基準電圧＋Ｖｐｒに等しい
正の鋸歯状波電圧が得られ、位相差検出制御回路４０の
出力電圧Ｖｃが負になるときには、コンデンサ３１が負
に充電され、その充電電圧が基準電圧−Ｖｍｒに達する
と、電圧比較回路３５の出力、したがってオアゲート３
７の出力が低レベルから高レベルに立ち上がって単安定
マルチバイブレータ３日がトリガーされ、スイッチ３３
がオンにされてコンデンサ３１が放電される動作が繰り
返されることによって、コンデンサ３１の両端間にラン
プ電圧ＬＰとして最小値が基準電圧−Ｖｍｒに等しい負
の鋸歯状波電圧が得られる。

この場合、スイッチ３３としては電界効果トランジスタ
などのようにオフ状態のときのリーク電流およびオン状
態のときの抵抗が十分小さいスイッチング素子が用いら
れるとともに、スイッチ３３がオンにされる時間、すな
わちランプ電圧Ｌｐのフラフイバック時間が十分短くな
るように単安定マルチバイブレーク３８の時定数が設定
される。

そして、この発明においては、温度検出器５０と、波高
値制御回路６０が設けられる。

温度検出器５０は、光干渉角速度計の温度、特に位相変
調器２４の温度を検出するもので、位相変調器２４の近
傍に配されるのが望ましいが、位相変調器２４との間に
温度差をほとんど生じない他の部分に設けられてもよく
、例えば、使用環境によって光干渉角速度計の温度が一
５４℃から＋８５℃までの範囲内で変化するとして、出
力の検出電圧Ｖｔとして、第２図に示すように、光干渉
角速度計の温度が基準温度とする２５°Ｃのときにはゼ
ロ（接地電位）となり、２５°Ｃより高いときには正の
電圧となり、２５°Ｃより低いときには負の電圧となる
、光干渉角速度針の温度に対して直線的に変化する電圧
が得られるようにされる。

波高値制御回路６０は、上記の検出電圧Ｖｔにもとづい
て、所定範囲内の温度においては、すなわち上記の例で
は一５４°Ｃから＋８５°Ｃまでの範囲内においては光
干渉角速度計の温度にかかわらず位相変調器２４におけ
る光の最大位相偏移が２にπラジアン（ｋ−±１．±２
・・・・・・）になるように、この例では±２πラジア
ンになるようにランプ電圧ＬＰの波高値を制御するもの
で、この例においては、正の電圧＋Ｖｐｏが得られる電
圧源６１と、負の電圧−Ｖｍｏが得られる電圧源６２と
、検出電圧Ｖｔから後述する補正電圧ＶｘおよびＶｙを
得る補正電圧発生回路６°３と、電圧＋Ｖｐ。

に対して補正電圧ＶＸを加算する加算回路６５と、電圧
−ＶｍＯに対して補正電圧ｖｙを加算する加算回路６６
とによって構成され、加算回路６５および６６の出力電
圧が、それぞれランプ電圧発生回路３０の上述した電圧
比較回路３５および３６に対する基準電圧＋Ｖｐｒおよ
び−Ｖｍｒとされる。

ここで、電圧＋Ｖｐｏおよび−Ｖｍｏは、光干渉角速度
針の温度が基準温度である２５℃で、後述するように補
正電圧Ｖｘおよびｖｙがゼロとなり、電圧＋Ｖｐｏおよ
び−Ｖｍｏがそのまま基準電圧子Ｖｐｒおよび−Ｖｍｒ
となって、ランプ電圧ＬＰとして正の鋸歯状波電圧が得
られるときのランプ電圧ｔ、ｐの最大値が電圧＋Ｖｐｏ
となり、ランプ電圧ＬＰとして負の鋸歯状波電圧が得ら
れるときのランプ電圧ｔ、ｐの最小値が電圧−Ｖｍ。

となるとき、位相変調器２４における光の最大位相偏移
がそれぞれ＋２πラジアンまたは一２πラジアンになる
ような値に設定される。

また、補正電圧Ｖｘは、第２図に示すように、光干渉角
速度針の温度が２５°Ｃで温度検出器５０の出力の検出
電圧Ｖｔがゼロのときにはゼロとなり、光干渉角速度計
の温度が２５°Ｃより高く検出電圧Ｖｔが正の電圧にな
るときには負の電圧となり、光干渉角速度計の温度が２
５°Ｃより低く検出電圧Ｖｔが負の電圧になるときには
正の電圧となる、光干渉角速度計の温度に対して検出電
圧Ｖｔとは逆の極性で直線的に変化し、しかも、その値
がランプ電圧ｔ、ｐとして正の鋸歯状波電圧が得られる
ときの位相変調器２４を構成する電気光学結晶の正の温
度係数を有する電気光学定数γの温度による変化による
位相変調器２４における光の位相偏移量の変化を打ち消
すものにされ、補正電圧ｖｙは、同図に示すように、光
干渉角速度計の温度に対して補正電圧Ｖｘとは逆の極性
で直線的に変化し、しかも、その値がランプ電圧ＬＰと
して負の鋸歯状波電圧が得られるときの位相変調器２４
を構成する電気光学結晶の正の温度係数を有する電気光
学定数γの温度による変化による位相変調器２４におけ
る光の位相偏移量の変化を打ち消すものにされる。

したがって、サニヤック位相差ΔφＳが負になって位相
差検出制御回路４０の出力電圧Ｖｃが正となり、ランプ
電圧ＬＰとして正の鋸歯状波電圧が得られるときには、
ランプ電圧ｔ、ｐの最大値が第３図の左側に示すように
電圧＋Ｖｐｏに光干渉角速度計の温度に対して上記のよ
うに変化する補正電圧Ｖｘが加算されたものになること
によって、上述した一５４°Ｃから＋８５°Ｃまでの範
囲内においては光干渉角速度計の温度にかかわらず位相
変調器２４における光の最大位相偏移が＋２πラジアン
となり、サニヤック位相差ΔφＳが正になって位相差検
出制御回路４０の出力電圧Ｖｃが負となり、ランプ電圧
ｔ、ｐとして負の鋸歯状波電圧が得られるときには、ラ
ンプ電圧Ｌｐの最小値が第３図の右側に示すように電圧
−Ｖｍｏに光干渉角速度計の温度に対して上記のように
変化する補正電圧ｖｙが加算されたものになることによ
って、上述した一５４°Ｃから＋８５°Ｃまでの範囲内
においては光干渉角速度計の温度にかかわらず位相変調
器２４における光の最大位相偏移が一２πラジアンとな
り、位相変調器２４を構成する電気光学結晶の電気光学
定数γの温度による変化によって光干渉角速度計の出力
にスケールファクタエラーを生じることがない。

ただし、補正電圧Ｖｘおよびｖｙは温度検出器５０によ
って検出される温度が位相変調器２４の温度に等しいも
のとして設定されるので、温度検出器５０によって検出
される温度が位相変調器２４の温度と異なるときには、
位相変調器２４における光の最大位相偏移が＋２πラジ
アンからずれ、位相変調器２４を構成する電気光学結晶
の電気光学定数γの温度による変化によって光干渉角速
度計の出力にスケールファクタエラーを生じるが、実際
上、温度検出器５０によって検出される温度と位相変調
器２４の温度とのずれはごく微小になり、位相変調器２
４における光の最大位相偏移はほぼ＋２πラジアンにな
るので、そのスケールファクタエラーはごく微小になる
。

なお、波高値制御回路６０は、温度検出器５０の出力の
検出電圧Ｖｔから上述した基準電圧子■ｐｒおよび−Ｖ
ｍｒが直接得られるようにされてもよい、また、位相差
検出制御回路４０は、ＰＩＤフィルタ４２の代わりに同
様の機能を有する電気フィルタが用いられてもよい。

第４図は、この発明の光干渉角速度計の他の例で、ラン
プ電圧として階段波電圧を用いるディジタル位相ランプ
方式の場合である。

ディジタル位相ランプ方式の場合には、制御発生回路７
１からディジタル信号Ｄｐが得られ、そのディジタル信
号ＤｐがＤ／Ａコンバータ７２によってアナログ信号に
変換されてＤ／Ａコンバータ７２からランプ電圧ｔ、ｐ
として正または負の階段波電圧が得られ、そのランプ電
圧ｔ、ｐが位相変調器２４に印加されるとともに、ＰＩ
Ｄフィルタ４２の出力電圧ＶｃがＡ／Ｄコンバータ７３
によってディジタル信号Ｄｃに変換され、そのディジタ
ル信号Ｄｃが制御発生回路７１に供給されて、制御発生
回路７１の一部およびＤ／Ａコンバータ７２がランプ電
圧発生回路３０を構成するとともに、同期検波回路４１
、ＰＩＤフィルタ４２、Ａ／Ｄコンバータ７３および制
御発生回路７１の一部が位相差検出制御回路４０を構成
し、また、クロック発生回路７４から得られるクロック
ＣＬによってバイアシング電圧発生回路２３からバイア
シング電圧Ｂｉとして矩形波電圧が得られるとともに、
クロックＣＬによってＡ／Ｄコンバータ７３および制御
発生回路７１が制御される。

そして、この例においては、ランプ電圧発生回路３０を
構成するＤ／Ａコンバータ７２に対して、温度検出器５
０の出力の検出電圧Ｖｔによって上述した一５４°Ｃか
ら＋８５°Ｃまでの範囲内においては光干渉角速度計の
温度にかかわらず位相変調器２４における光の最大位相
偏移が±２πラジアンになるようにランプ電圧Ｌｐの波
高値を制御する波高値制御回路６０が設けられる。

したがって、この例においても、位相変調器２４を構成
する電気光学結晶の電気光学定数γの温度による変化に
よって光干渉角速度計の出力にスケールファクタエラー
を生じることがほとんどない。

なお、ＰＩＤフィルタ４２の代わりに同様の機能を有す
る電気フィルタが用いられてもよいとともに、このＰＩ
Ｄフィルタ４２ないし電気フィルタの機能は制御発生回
路７１において実行されてもよい。

「発明の効果」 上述したように、この発明によれば、光干渉角速度計の
温度を検出する温度検出器と、この温度検出器の出力に
もとづいて所定範囲内の温度においては光干渉角速度計
の温度にかかわらずランプ電圧が印加される位相変調器
における光の最大位相偏移が２πラジアンの整数倍にな
るようにランプ電圧の波高値を制御する波高値制御回路
が設けられることによって、所定範囲内の温度において
はランプ電圧が印加される位相変調器の定数の温度によ
る変化によって光干渉角速度計の出力にスケールファク
タエラーを生じることがほとんどない。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の光干渉角速度計の一例を示す系統
図、第２図および第３図は、その各部に得られる電圧を
示す図、第４図は、この発明の光干渉角速度計の他の例
を示す系統図、第５回は、従来の光干渉角速度計の一例
を示す系統図、第６図および第７図は、その説明のため
の図である。 算７０

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）光ファイバコイルと、 光源と、 この光源からの光を二つに分岐して上記光 ファイバコイルの一端および他端から上記光ファイバコ
   イルに供給するとともに、上記光ファイバコイルを伝搬
   した二つの光を干渉させる光分岐結合器と、 この光分岐結合器から得られる干渉光を検 出する光検出器と、 上記光分岐結合器と上記光ファイバコイル の一端との間に配された位相変調器と、 この位相変調器に印加される位相変調用の ランプ電圧を発生するランプ電圧発生回路と、上記光検
   出器の出力から上記光分岐結合器 において干渉する二つの光の間の位相差を検出し、その
   検出出力によって、その位相差が２ｍπラジアン（ｍ＝
   ０、±１、±２・・・・・・）になるように上記ランプ
   電圧発生回路を制御する位相差検出制御回路と、 を備える光干渉角速度計において、 光干渉角速度計の温度を検出する温度検出 器と、 この温度検出器の出力にもとづいて所定範 囲内の温度においては光干渉角速度計の温度にかかわら
   ず上記位相変調器における光の最大位相偏移が２πラジ
   アンの整数倍になるように上記ランプ電圧の波高値を制
   御する波高値制御回路と、 が設けられた光干渉角速度計。