JPH02247970A - イオン注入装置 - Google Patents

イオン注入装置

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Publication number
JPH02247970A
JPH02247970A JP1068372A JP6837289A JPH02247970A JP H02247970 A JPH02247970 A JP H02247970A JP 1068372 A JP1068372 A JP 1068372A JP 6837289 A JP6837289 A JP 6837289A JP H02247970 A JPH02247970 A JP H02247970A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
charged
electrons
cup
faraday cup
Prior art date
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Pending
Application number
JP1068372A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Ito
昌樹 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu VLSI Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu VLSI Ltd
Priority to JP1068372A priority Critical patent/JPH02247970A/ja
Publication of JPH02247970A publication Critical patent/JPH02247970A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[概要] イオン注入装置に関し、 ウェハの表面に帯電するプラスイオンを中和する十分な
2次電子をウェハ表面に効率よく供給し、チャージアッ
プを防止することを目的とし、イオンビームが打ち込ま
れるウェハの前側に設けたファラデーカップ内側面に1
次電子発生手段からの1次電子を衝突させて2次電子を
放出させ、その2次電子にてウェハの表面に帯電するプ
ラスイオンを中和させるようにしたイオン注入装置にお
いて、前記ファラデーカップの内側面に電子が帯電しや
すい帯電体を形成した。 ■産業上の利用分野] 本発明はイオン注入装置に関するものである。 近年、LSIプロセスに用いられるイオン注入装置は高
スループツト化、コストダウン化を進めるために、高ビ
ーム電流化が図られている。この高ビーム電流に伴って
、半導体装置の破壊につながるウェハ表面にイオンが帯
電する、所謂チャージアップ現象が起こる。従って、イ
オン注入装置の高ビーム電流化が進むにつれて、そのチ
ャージアップを防止する対策が求められている。
【従来の技術】
従来、イオン注入装置においては、第4図に示すように
、イオンビームが打ち込まれろウェハ1の前側に配置さ
れたファラデー系のファラデーカツブ2にフィラメント
よりなる1次電子発生手段3を設けている。そして、1
次電子発生手段3に直流電源4を印加して熱電子(1次
電子)5を発生させ、その1次電子5をファラデ−カッ
プ2内側面に衝突させて、2次電子6を放出させている
。 この2次電子6はウェハ1の表面に帯電するプラスイオ
ン7を中和し、ウェハlの表面のチャージアンプを防止
している。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記ファラデーカップ2は電流検出のた
め、イオン打ち込みの際、ウェハ1から放出される2次
電子を吸収する役目を有することから、その内部表面の
材質はアルミニウムの酸化物(アルミナAj!zoa)
で作られている。従って、前記ウェハ1表面のプラスイ
オン7を中和するための前記1次電子5にて放出される
2次電子6はこのファラデーカップ2に吸収されてしま
い、ウェハ1表面に効率よ(供給されるのが困難となっ
ていた。 その結果、ウェハ1の表面に帯電するプラスイオン7が
多くなり、チャーシア・ノブが起こり、半導体装置を破
壊させるといった問題が生じていた。 本発明はウェハの表面に帯電するプラスイオンを中和す
る十分な2次電子をウェハ表面に効率よく供給し、チャ
ージアップを防止することができるイオン注入装置を提
供することを目的としている。
【課題を解決するための手段] 第1図は本発明の原理説明図であって、イオンビームが
打ち込まれるウェハ1の前側に設けられたファラデー系
を示す。 そのファラデー系のファラデーカップ2には同ファラデ
ーカップ2から2次電子6を放出させるための1次電子
発生手段3が設けられてぃ゛る。又、ファラデーカップ
2はその内部表面が電子を帯電しやすい帯電体8で形成
されている。 〔作用] イオンビーム打ち込み中にウェハ1から放出される電子
の一部はファラデーカップ2に形成した帯電体8に捕捉
され、その電子にてファラデ−カップ2内側面はマイナ
スに帯電される。 一方、1次電子発生手段3にて発生した1次電子5はフ
ァラデーカップ2に衝突し、同ファラデーカップ2から
2次電子6を放出させる。この2次電子6はファラデー
カップ2表面がマイナスに帯電していることから、同フ
ァラデーカップ2に吸収されずに反発してウェハ1に効
率よく到達し、プラスイオン7を中和する。 C実施例】 以下、本発明を具体化したイオン注入装置の一実施例を
図面に従って説明する。 第2図は本発明の一実施例を示すイオン注入装置の要部
概略図、第3図はファラデーカップの界面付近の電位分
布図であり、第1図と同様の構成については同一の符号
を付して説明する。 第2図において、ウェハ1の前側に設置されたファラデ
ーカップ2はその中央部分が膨出した円筒状に形成され
ていて、充実状態のアルミナ(A1203)で成形され
ている。そして、その外周面には前記ウェハ1からイオ
ンビーム打ち込みに基づいて放出される2次電子を吸収
するための直流電源4が印加されていて、前記ウェハ1
から吸収されるプラスイオンとともに電流計9で検出さ
れてビーム電流が測定される。 ファラデーカップ2の内側面には帯電体としてのアルミ
ナよりなる多孔質体8が形成されていて、その多孔質構
造に基づいて電子をその孔内に保持しマイナスに帯電し
やすくなっている。従って、この多孔質体8には前記ウ
ェハ1から放出される2次電子の一部10が吸収される
ことなく一定の割合で保持され、多孔質体8の界面付近
は第3図に示す電位分布でマイナスに帯電される。 尚、ファラデーカップ2と多孔質体8は一方が充実状態
で他方が多孔質状態のアルミナであるので、本実施例で
はファラデーカップ2を成形する際にその内側に多孔質
体8を同時一体成形するようにしている。 ファラデーカップ2の前記膨出部の内側にはフィラメン
トよりなる1次電子発生手段3が配設され、その1次電
子発生手段3は前記直流電源4の一部の電圧が印加され
て発熱して熱電子(1次電子)5を放出する。この1次
電子5はファラデーカップ2の前記膨出部内側面に衝突
し、2次電子6を放出させる。 従って、この2次電子6はファラデーカップ2の内側面
が第3図に示す電位分布でマイナスに帯電されているの
で、−δV以下のエネルギーしか持たない2次電子6は
ファラデーカップ2に吸収されず、跳ね返ってウェハ1
の表面に到達し同表面にあるプラスイオン7を中和する
。 このように本実施例ではファラデーカップ2の内側面に
形成した多孔質体8にて、ウェハlから放出される2次
電子の一部10を保持してマイナスに帯電させたので、
ファラデーカップ2から放出される2次電子6をウェハ
1の表面に効率よく供給し、プラスイオンを中和しウェ
ハl上の半導体装置の破壊につながるチャージアンプの
発生を防止する。 尚、本発明は前記実施例では帯電体とピてアルミナの多
孔質体8としたが、これに限定されるものではなく、ウ
ェハ1からの2次電子の一部10を保持し帯電するもの
であればよく、例えばその他のカーボン等からなる多孔
質体、あるいはシリコン等の半導体をファラデ−カップ
2内側面に形成して実施してもよい。 [発明の効果] 以上詳述したように、本発明によればウェハの表面に帯
電するプラスイオンを中和する十分な2次電子をウェハ
に効率よく供給し、チャージアップの発生を防止するこ
とができる優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理説明図、第2図は本発明の一実施
例を示すイオン注入装置の要部概略図、第3図は帯電体
の界面付近の電位分布図、第4図は従来のイオン注入装
置の一部概略図である。 図において、1はウェハ、2はファラデーカップ、3は
1次電子発生手段、5は1次電子、6は2次電子、7は
プラスイオン、8は帯電体としての多孔質体である。 第1図 本発明の詳細な説明図 第2図 本発明の一実崩例を示すイオン注入装置のV部概略図第
3図 帯電体の界面付近の電色分右図 螢図面無し 第4図 fI来のイオン注入装置の一部概略図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 イオンビームが打ち込まれるウェハ(1)の前側に設け
    たファラデーカップ(2)内側面に1次電子発生手段(
    3)からの1次電子を衝突させて2次電子を放出させ、
    その2次電子にてウェハ(1)の表面に帯電するプラス
    イオンを中和させるようにしたイオン注入装置において
    、 前記ファラデーカップ(2)の内側面に電子が帯電しや
    すい帯電体(8)を形成したことを特徴とするイオン注
    入装置。
JP1068372A 1989-03-20 1989-03-20 イオン注入装置 Pending JPH02247970A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1068372A JPH02247970A (ja) 1989-03-20 1989-03-20 イオン注入装置

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JP1068372A JPH02247970A (ja) 1989-03-20 1989-03-20 イオン注入装置

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JPH02247970A true JPH02247970A (ja) 1990-10-03

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ID=13371859

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JP1068372A Pending JPH02247970A (ja) 1989-03-20 1989-03-20 イオン注入装置

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JP (1) JPH02247970A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5293508A (en) * 1991-10-16 1994-03-08 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Ion implanter and controlling method therefor

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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