JPH02240654A - 着色フォトレジストの現像装置 - Google Patents

着色フォトレジストの現像装置

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JPH02240654A
JPH02240654A JP6247489A JP6247489A JPH02240654A JP H02240654 A JPH02240654 A JP H02240654A JP 6247489 A JP6247489 A JP 6247489A JP 6247489 A JP6247489 A JP 6247489A JP H02240654 A JPH02240654 A JP H02240654A
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JP
Japan
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JP6247489A
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Hirozo Takegawa
武川 博三
Takashi Inami
敬 井波
Ryutaro Akutagawa
竜太郎 芥川
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はカラーテレビ、カラーカメラ及びカラー表示デ
バイス、カラー撮像デバイス等の製造におけるフォトリ
ングラフィ工程に用いられる現像装置に関するものであ
る。
従来の技術 現像処理方法としては、大別してデイツプ方式とスプレ
一方式がある。デイツプ方式で現像を行なう場合は、現
像液の新鮮度により現像能力の違いが見られるため現像
液の管理が重要となってくる。
従来の現像液の管理は、次のような方法によっていた。
即ち感光波長に対する透過率を15段階程度変えたもの
(例えばステップガイド:富士写真フィルム(株)製)
を用いていた。レジストの塗膜面にこのステップガイド
をのせ、一定の露光量の光エネルギを照射すると、ステ
ップガイドの透過率に応じ照射露光量が変化する。これ
を現像すると、特定の段数まで塗膜は残るが、それ以上
(あるいはそれ以下)では、塗膜が剥離する。この境界
の段数は、現像液の新鮮度の違いにより変化するため、
これを現像液管理の指標としてきた。
発明が解決しようとする課題 しかし、このような現像液の管理法では、時々刻々−の
現像液の新鮮度が把握できない。従って、現像液の更新
が遅いと対象物が現像不良になる。
あるいはそれを防ぐためには、早めに現像液を更新しな
ければいけないという課題があった。
本発明はかかる点に鑑み、対象物の現像不良を生じさせ
ない、あるいはムダな現像液の更新のない現像装置を提
供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段 本発明は、基板上に現像液中の塩基の陽イオンと反応し
てアルカリ可溶となる顔料を分散した着色フォトレジス
トを塗布Φ乾燥して被膜を形成し所定のフォトマスクを
介し露光を行なったのち、アルカリ現像液で現像するに
際し、前記アルカリ現像液中の塩基の陽イオン濃度、水
素イオン濃度と現像液の吸光度を検知する手段を有する
現像装置である。
作用 本発明の、現像液中の塩基の陽イオンと反応してアルカ
リ可溶となるレジストの現像までの過程は次のようであ
る。
露光後、現像液中の塩基の陽イオンと反応し水溶性塩を
形成する。この水溶性塩が解離し現像反応が進行するが
、現像液中で全ての溶解反応が完了するわけではなく、
現像液外に水溶性塩が持ち出される。そのため現像液中
の塩基の陽イオンが減少する。
また水溶性塩を生じさせる反応は、水酸イオン濃度が少
ないと進行しない。さらに顔料を分散した着色フォトレ
ジストでは、現像時顔料の溶解が生じ、現像を繰り返す
につれ現像液中の顔料濃度(吸光度)が増すため、現像
能力が低下する。従って、現像液中の塩基の陽イオン濃
度と水酸イオン濃度(即ち水素イオン濃度)、吸光度を
適正な範囲に保てば、一定の現像能力が得られ安定した
現像結果となる。
実施例 以下に、本発明の実施例について図面を参照しながら説
明する。
第1図は本発明の一実施例を示す現像装置の断面図であ
る。第1図において、■は現像槽、2は試験槽であり、
試験槽2の中の水3を加熱装置4、冷却装置5で一定温
度に保つことにより、現像槽1の現像液6を恒温化して
いる。また現像液6は剥離物の再付着を防止するため整
流板7を介し2ケのフィルタ8.9を通りポンプ10に
より循環している。ここでNa4測定装置IL  pH
測定装置12によりNa−濃度、H−濃度を測定してい
る。
13.14.15はそれぞれNa”センサ、pHセンサ
、吸光度測定装置である。
本実施例で使用したレジストはネガ型のアクリロイド系
着色レジストで緑色レジスト(商品名カラーモザイクG
:冨士ハントエレクトロニクステクノロジー社製)であ
り、現像液は1重量%炭酸ナトリウム溶液を使用した。
まず、緑色レジストを透明基板(例えばガラス)に所定
の膜厚になるようにスピンコードし、ホットプレートで
乾燥させた。その塗膜上にさらに酸素遮断用にポリビニ
ールアルコール(PVA)を塗布し、乾燥させLlne
&5paceが1〜50 u mまであるフォトマスク
を当て100sJ/am’の露光量で照射し、重合促進
のためにホットプレートで加熱したのち、第1図の現像
液6に1分間浸漬した。そののち2分間ンヤワーリンス
を行い、接着性を強めるため200 ’Cで15分間オ
ーブン炉でポストベークを行い、光学顕微鏡により解像
度(Line&5paceが最小何μmまで抜けるか)
を調べた。以上の実験を繰り返しNa’濃度、pH(O
H−濃度)、吸光度(k1色レジストでは、緑色の主波
長である550nmでの透過率)と解像度の関係を示し
たものである。第2図〜第4図はその結果でNa◆濃度
とpHの値が大(OH−211度が大)または、吸光度
が小のとき解像度が良<、Na″濃度とpHが小、ある
いは吸光度が大のとき解像度は悪くなった。
次に、この一実施例における作用を説明する。
前記レジストの現像時の反応は未露光部のバインダ中の
カルボキシル基(−COOH)がNa・と反応してアル
カリ可溶なナトリウム塩を生じることである。
−COOH+Na”+OH−−COONa+H20(1
) −COONaは現像液中でも溶解するが、一部現像槽外
に出て溶解する。
COONa       −C00−+Na”    
(2)従って現像を繰り返す毎に現像槽外に出るーCO
ONaも増加しNa’/s度は減少しく1)式の反応が
進行しにくくなる。また同様に0ICtlA度も小さく
なると(1)式の反応が進行しにくくなり現像能力が落
ちる。
また、現像液中の緑色顔料の濃度が増大すると、現像時
の緑色顔料の溶解が妨げられる。
よってNa’7E1度、OH−濃度、吸光度の管理を行
うことにより現像能力が一定に保たれる。
発明の効果 以上、述べてきたように本発明によれば、対象物の現像
不良を生じさせない、あるいはムダな現像液の更新のな
い現像装置を提供でき、工業上極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の現像装置の断面図、第21
図はNa−濃度と解像度の関係を示すグラフ、第3図は
pHと解像度の関係を示すグラフ、第4図は吸光度と解
像度の関係を示すグラフである。 1・・・現像槽、4・・・加熱装置、5・・・冷却装置
、6・・・現像液、11・・・Na’測定装置、12・
・・pH測定装置、13・・・Na”センサ、14・・
・pHセンサ、15・・・吸光度測定装置。 代理人の氏名 弁理士 栗野重孝はか18鵠2図 NOL+1lll Cpp広J 第 図 う 図 吸光演 (オ長父てrLyn)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に現像液中の塩基の陽イオンと反応してアルカリ
    可溶となる顔料を分散した着色フォトレジストを塗布・
    乾燥して被膜を形成し所定のフォトマスクを介し露光を
    行なったのち、アルカリ現像液で現像する現像装置にお
    いて、前記アルカリ現像液中の塩基の陽イオン濃度、水
    素イオン濃度と現像液の吸光度を検知する手段を有する
    ことによって、濃度と吸光度を管理を行うことを特徴と
    する着色フォトレジストの現像装置。
JP1062474A 1989-03-15 1989-03-15 着色フォトレジストの現像装置 Expired - Fee Related JP2839280B2 (ja)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10319604A (ja) * 1997-05-15 1998-12-04 Toshiba Electron Eng Corp レジストの現像方法および現像装置
KR101332191B1 (ko) * 2012-03-07 2013-11-22 (주)에스지이앤티 포토레지스트를 포함한 현상액의 농도 산출 방법 및 농도 조절 장치

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