JPH02231526A - エンコーダ - Google Patents
エンコーダInfo
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- JPH02231526A JPH02231526A JP5165789A JP5165789A JPH02231526A JP H02231526 A JPH02231526 A JP H02231526A JP 5165789 A JP5165789 A JP 5165789A JP 5165789 A JP5165789 A JP 5165789A JP H02231526 A JPH02231526 A JP H02231526A
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- diffraction grating
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はエンコーダに関し,特に移動物体に取付けた回
折格子にレーザ光等の可干渉性光束を入射させ該回折格
子からの所定次数の回折光を互いに干渉させて干渉縞を
形成し,該干渉縞の明暗の縞を計数することによって回
折格子の移動量、即ち移動物体の移動量を測定するロー
タリーエンコーダやリニアエンコーダ等のエンコーダに
関するものである. (従来の技術) 従来より移動物体の移動量や移動方向を高精度に、例え
ばサブミクロンの単位で測定することのできる測定器と
してエンコーダがあり、各方面で使用されている. 特にレーザー等の可干渉性光束を移動物体に設けた回折
格子に入射させ該回折格子から生ずる所定次数の回折光
を互いに干渉させ、該干渉縞の明暗を計数することによ
り該移動物体の移動量や移動方向等の移動状態を求めた
エンコーダーが良く知られている. 本出願人はこのようなエンコーダーを例えば特開昭62
−163926号公報、特開昭62−163924号公
報、そして特開昭62−200225号公報で提案して
いる. (発明が解決しようとする問題点) このようなエンコーダにおいて使用波長が可視領や赤外
領域である場合、測定精度を向上させる一方法として格
子ピッチの細かな回折格子を用いる方法がある. しかしながら格子ピッチの細かな回折格子を形成するの
は一般に大変困難であり、例えば電子線描画装置を用い
た場合、線幅を1μm以下にすると安定した線幅が得ら
れないという問題点があった. 又ホログラフィーを利用すれば線幅lμm以下の格子ピ
ッチが比較的容易に得られるが格子ピッチを精度良く形
成するのが難しいという問題点があった. 特ニロータリーエンコーダ等において円板上に放射上の
微細な回折格子を精度良く形成することは非常に難しい
という問題点があった.本発明は所定の格子ピッチを有
する回折格子を複数個積層した回折手段を利用すること
により回折格子の格子ピッチをあまり細かくしなくても
高い分解能が容易に得られ高精度な検出が可能なエンコ
ーダの提供を目的とする. (問題点を解決するための手段) 本発明に係るエンコーダは光束を移動物体に連結した回
折手段に入射させ、該回折手段からの所定次数の回折光
より干渉光を形成し、該干渉光の明暗を検出手段で検出
することにより、該移動物体の移動状態を検出する際、
該回折手段を所定の格子ピッチの回折格子を複数個積層
して構成したことを特徴としている. (実施例) 第1図(A)は本発明をリニアエンコーダに適用したと
きの第1実施例の要゛部概略図である.同図において1
はレーザ、2はコリメーターレンズであり,レーザlか
らの光束を平行光束にしている.3は偏光ビームスブリ
ッターでありコリメーターレンズ2からの平行光束をP
偏光とS偏光の2つの光束に分割している. +00は回折手段であり不図示の移動物体に連結されて
いる.回折手段100は所定の格子ピッチの回折格子1
02a.l02bを形成した複数の回折スケール板、同
図では2枚の回折スケール板+01a、IOlbを積層
して構成されており、移動物体と共に例えば矢印の方向
に速度Vで移動している.本実施例では2つの回折スケ
ール仮+01a.lolbに形成した回折格子の格子ビ
ッチ4は等しいものを用いている. 4+.4mは1/4波長板であり直線偏光を円偏光又は
その逆に変換している. 5..5.は反射部材でありl/4波長板4=.4tか
らの光束を元の光路に戻している. 6は1/4波長板であり、直線偏光を円偏光に変換して
いる.7はビームスブリッターであり入射光束を2つの
光束に分割している.8..8.は偏光板、g,.9g
は受光素子である.本実施例ではレーザ1からの光束を
コリメーターレンズ2により略平行光束とし、偏光ビー
ムスブリッタ3によりP偏光を通過、S偏光を反射させ
て2つの光束に分割し、これらの各光束を所定の角度で
回折手段100に入射させてレ葛る.P偏光のうち回折
格子102aで+1次の回折をし、回折格子102bで
+1次の回折をした光束をl/4波長板48を通過させ
て円偏光として反射部材5,で反射させて元の光路に戻
し再び174波長板4.を通過させて最初の直線偏光状
態とは偏光方位が90度異なる直線偏光として、再度回
折格子102bで+1次の回折、回折格子102bで+
1次の回折をした(往復で全体として4回の+1次回折
をしたことになる.)光束を偏光ビームスブリッタ−3
に入射させている.そして今度は前と偏光方位が90度
異っている為に偏光ビームスブリッター3で反射させて
174波長仮6に導光している. 一方偏光ビームスブリッタ−3を反射し、回折手段10
0に入射させたS偏光のうち回折格子102aでー1次
の回折,回折格子102bで更にー1次の回折をした光
束を前述のP偏光の場合と同様にl/4波長扱4,、反
射部材51を介し、元の光路に戻し、再度回折格子10
2b、102aで各々−1次の回折を行なった後、最初
の直線偏光状態とは偏光方位が90度異なる直線偏光に
変換させて今度は偏光ビームスブリツタ3を通過させて
l/4波長板.6に導光している. そして1/4波長板6に導光した2光束は各々1次の回
折を4回行っているから回折格子の1ピッチ分の回折手
段lOOの移動に対して2冗×4ラジアンの波面の位相
がずれる.即ち+1次の回折を4回行った光束は+2π
×4=+81となり8冗の位相が進む.一方、一!次の
回折を4回行った光束は−2πX4=−8πとなり8π
の位相が遅れる.従って、2光束の位相差は回折手段1
00の移動lビッチ当り16?Cとなる.同図において
は1/4波長板6に導光された2光束は互いに直交した
直線偏光であるので、このままでは干渉せず明暗信号が
得られない.そこで1/4波長板6を介し互いに逆回転
する円偏光にして重ね合わせ、2光束の位相差で直線偏
光方位が変わる直線偏光にしている. そして偏光板8+.8mを介して、この重なった2光東
の干渉に基づく明暗信号を受光素子9−・9冨で検出し
てLl旭る. 本実施例では2光束の位相差が167tになる間に8周
期の明暗信号が得られる. このように本実施例では検出手段からの出力信号を利用
して回折手段l00の移動状態を検出している. 尚、本実施例において2枚の回折スケール板を用いる代
わりに1枚の回折スケール板101aの表裏に第1図(
B)に示すように各々回折格子102a.l02bを形
成したものを用いても同様の効果が得られる. 本実施例では回折スケール板を2枚用いた場合を示した
が回折スケール板を多く用いればそれに応じて回折手段
+00の1ピッチ当りの移動に対する2光束間の位相差
が増大するので検出精度が向」ニする. 第2図は第l図の回折手段l00として回折格子を5枚
積層して構成した場合の第2實施例の要部概略図である
. リニアエンコーダとしての測定原理は第1図の場合と同
様である.又第1図に示す要素と同一要素には同符番を
付している. 一般に回折格子をn枚重ねて第1図と同様な光?装置を
用いた場合、回折スケール板の移動に伴う2光束間の位
相のずれは、lビッチ当り8πX 2 I+ − 1
ラジアンとなり、回折格子の1ピッチ当り4 x 2m
− 1 =2 M − 1周期の明暗信号が現われる
.例久ばlビッチl2,8μmの回折格子を5枚重ねる
と、1ビッチ12.8μm当り2”’=64周期の明暗
信号が得られる.従って1周期当りの回折格子の移動置
は12.8/64=0.05μmとなる.尚、回折回数
を増やすと一般に光量が低下してくる.この為には例え
ば回折格子の断面形状を矩形又は三角形等にした位相格
子又はホログラフィー格子にすれば所定次数の回折光を
効率よく得ることができるので好ましい. 第3図は本発明をロータリーエンコーダに適用したとき
の第3実施例の要部概略図である.同図において第1図
の要素と同一要素には同符番を付している. 図中300は回折手段であり不図示の回転物体に連結さ
れており、円板上の周囲に所定の格子ピッチより成る回
折格子をその面上に形成した2つの回折スケール板30
1a.30lbより成っている. 本実施例では回折スケールf< 3 0 1 a、30
lb上の回折格子の格子ピッチは等しいものを用いてい
る. 33は2個の台形プリズム33..331を貼り合わせ
てなる光学部品、34は光分割面であり光学部品33の
貼合わせ面より成り、偏光ビームスプリツタと同機能の
光分割を行っている.35及び37は各々プリズム反射
鏡で光束を所定方向に反射させている. M I. M 虚は回折スケール板301aの周囲に設
けた回折格子への光束の入射点を示す.本実施例では光
源lより放射される光束をコリメータレンズ2によって
平行光束とし,光学部品33をなす台形プリズム33.
の斜面で反射させた後、光分割面34へ所定の角度で入
射するように指向する.光分割面34に入射した光束は
略I・1の比率で反射光束と透過光束の2つの直線偏光
光束に分割される.尚、光源lの光束は光分割面34の
直交偏波面に対し、所定の方向(通常45′″)の直線
偏光に設定されている.分割された2光束は台形プリズ
ム331、331内で各々2度反射し、光学部品33を
出射しプリズム反射fJ135又は37により回折スケ
ール仮301aの所定の位m M l及びM.へ所定の
入射角で入射する.回折格子302aで回折した透過回
折光のうち特定次数の回折光を、更に回折格子302b
で回折させた後、特定次数の回折光を174波長板4l
又は4,を介して反射千段5l又は58により反射させ
、同一光路を逆行させる.そして、回折格子302b、
302aで順次回折させた特定次数の回折光をプリズム
反射鏡35、又は37で反射させ同一光路を逆行させ、
光宇部品33で内面反射を繰り返し,光分割而34へ導
光している.ここでの光束は反射手段51又は5倉で反
射される前後で2度174波長板を通過する為、偏光方
位は回折手段300へ入射する前とは各々90゜異なっ
ている.従って、光分割面34で先に反射側であった光
束が今度は透過し、透過側であった光束が今度は反射し
て重なり合い干渉縞を形成し光学部品33で内面反射し
てl/4波長板6へ入射される.1/4波長板6を通過
した光束は同偏光となる. そして第1図の第1実施例と同様にl/4波長仮6を通
過した光束は光分割″a7で2分割され各々偏光方位を
異ならせて配置した偏光板8又は8攻を介し直線偏光と
して受光素子9.,又は9tにて2光束による干渉編の
強度を受光し、偏光板8I及び8寡の方位に応じた位相
差をもった2相信号を得ている. 本実施例においては第1図の第1実施例と同様に被測定
回転物体が回折格子の格子ピッチの1ピッチ分だけ回転
するとm次の回折光の位相は8mπだけ変化する.同様
に−m次の回折光の位相は−8mπだけ変化する.これ
により全体として受光素子9..9.からは8m個の正
弦波形が得られる.本実施例ではこのときの正弦波形を
検出することにより回折手段300の回転遣を測定して
いる. 本実施例では光分割器7により光束を2分割し各々の光
束間に90度の位相差をつけることにより回転物体の回
転方向も判別出来るようにしている. 本発明において回折手段に用いるn枚の回折スケール板
に設ける回折格子のとッチPはすべて等しければ前記の
通り1ピッチpi92″1周期の周期信号がとり出され
るが,各回折格子のピッチを各々異なるものより構成し
てもよい.例えば2つの回折スケール板を用い光束が最
初に入射する回折スケール板101aの回折格子102
aのビウチをP+,次に入射する回折スケール板10l
bの回折格子102bのピッチを22とする回折手役の
移動量を又とすると.第1の回折格子1 02aによっ
て1次回折光は位相が2π×文/ p +だけ変動(片
道の場合)する.第2の回折格子102bでは、更に、
2π×文/ P 2たけ変動(片道の場合)する.これ
を往復すれば各々2倍になるから合計4πχ文/ (
1/p+ +1 / p s )だけ位相が変化する.
−1次回折光は第1の回折格子】02aによって−2π
X l / p +たけ位相が変動し、tJ42の回折
格子102bで更に−2πX l / p tたけ位相
か変動するから,これらを往復すれば−4π×2/ (
1/p+ + 1/pt )だけ位相か変化する.よ
って土l次回折光同志の干t!)信号は回折スケール板
(回折手段)の移動閂交に対し 周期の明暗信号が得られる. 例えばピッチp,=4#Lm.p* −2ルmの回折格
子を用いれば1周期当りの回折手段の移動量又は となり小数で表示できないピッチの周期信号を得ること
ができる. 一般に回折スケール板の枚数をn枚とし各回折格子のピ
ッチをP+.Pオ....p.とすれば回折手段の移動
i文に対し ,文(二。二や.,.や二) 1’+ 9m I’
+1周期の正弦岐状信号が得られる. かかる複数の回折スケール板を組合せた回折手段はガラ
ス板の両面に各種の格子ピッチの回折格子を形成したり
、又は格子ピッチが異なる複数の回折格子より成る回折
スケール板を組合せて一体にして得ることができる. また、本発明は光束が回折格子を複数回通過する間に各
々の回折格子で回折される際に生ずる位相ずれを累積さ
せて合計の位相ずれを多く得ることを原理とするから、
回折格子を複数枚通過させて得られた回折光のうち2種
の光(例えば±1次回折光)を干渉させて信号を得る光
学構成とすれば本発明の目的とするエンコーダを達成す
ることができる. 第4図〜第7図は各々本発明をリニアエンコーダに適用
しhときの第4〜第7実施例の要部概略図である。
折格子にレーザ光等の可干渉性光束を入射させ該回折格
子からの所定次数の回折光を互いに干渉させて干渉縞を
形成し,該干渉縞の明暗の縞を計数することによって回
折格子の移動量、即ち移動物体の移動量を測定するロー
タリーエンコーダやリニアエンコーダ等のエンコーダに
関するものである. (従来の技術) 従来より移動物体の移動量や移動方向を高精度に、例え
ばサブミクロンの単位で測定することのできる測定器と
してエンコーダがあり、各方面で使用されている. 特にレーザー等の可干渉性光束を移動物体に設けた回折
格子に入射させ該回折格子から生ずる所定次数の回折光
を互いに干渉させ、該干渉縞の明暗を計数することによ
り該移動物体の移動量や移動方向等の移動状態を求めた
エンコーダーが良く知られている. 本出願人はこのようなエンコーダーを例えば特開昭62
−163926号公報、特開昭62−163924号公
報、そして特開昭62−200225号公報で提案して
いる. (発明が解決しようとする問題点) このようなエンコーダにおいて使用波長が可視領や赤外
領域である場合、測定精度を向上させる一方法として格
子ピッチの細かな回折格子を用いる方法がある. しかしながら格子ピッチの細かな回折格子を形成するの
は一般に大変困難であり、例えば電子線描画装置を用い
た場合、線幅を1μm以下にすると安定した線幅が得ら
れないという問題点があった. 又ホログラフィーを利用すれば線幅lμm以下の格子ピ
ッチが比較的容易に得られるが格子ピッチを精度良く形
成するのが難しいという問題点があった. 特ニロータリーエンコーダ等において円板上に放射上の
微細な回折格子を精度良く形成することは非常に難しい
という問題点があった.本発明は所定の格子ピッチを有
する回折格子を複数個積層した回折手段を利用すること
により回折格子の格子ピッチをあまり細かくしなくても
高い分解能が容易に得られ高精度な検出が可能なエンコ
ーダの提供を目的とする. (問題点を解決するための手段) 本発明に係るエンコーダは光束を移動物体に連結した回
折手段に入射させ、該回折手段からの所定次数の回折光
より干渉光を形成し、該干渉光の明暗を検出手段で検出
することにより、該移動物体の移動状態を検出する際、
該回折手段を所定の格子ピッチの回折格子を複数個積層
して構成したことを特徴としている. (実施例) 第1図(A)は本発明をリニアエンコーダに適用したと
きの第1実施例の要゛部概略図である.同図において1
はレーザ、2はコリメーターレンズであり,レーザlか
らの光束を平行光束にしている.3は偏光ビームスブリ
ッターでありコリメーターレンズ2からの平行光束をP
偏光とS偏光の2つの光束に分割している. +00は回折手段であり不図示の移動物体に連結されて
いる.回折手段100は所定の格子ピッチの回折格子1
02a.l02bを形成した複数の回折スケール板、同
図では2枚の回折スケール板+01a、IOlbを積層
して構成されており、移動物体と共に例えば矢印の方向
に速度Vで移動している.本実施例では2つの回折スケ
ール仮+01a.lolbに形成した回折格子の格子ビ
ッチ4は等しいものを用いている. 4+.4mは1/4波長板であり直線偏光を円偏光又は
その逆に変換している. 5..5.は反射部材でありl/4波長板4=.4tか
らの光束を元の光路に戻している. 6は1/4波長板であり、直線偏光を円偏光に変換して
いる.7はビームスブリッターであり入射光束を2つの
光束に分割している.8..8.は偏光板、g,.9g
は受光素子である.本実施例ではレーザ1からの光束を
コリメーターレンズ2により略平行光束とし、偏光ビー
ムスブリッタ3によりP偏光を通過、S偏光を反射させ
て2つの光束に分割し、これらの各光束を所定の角度で
回折手段100に入射させてレ葛る.P偏光のうち回折
格子102aで+1次の回折をし、回折格子102bで
+1次の回折をした光束をl/4波長板48を通過させ
て円偏光として反射部材5,で反射させて元の光路に戻
し再び174波長板4.を通過させて最初の直線偏光状
態とは偏光方位が90度異なる直線偏光として、再度回
折格子102bで+1次の回折、回折格子102bで+
1次の回折をした(往復で全体として4回の+1次回折
をしたことになる.)光束を偏光ビームスブリッタ−3
に入射させている.そして今度は前と偏光方位が90度
異っている為に偏光ビームスブリッター3で反射させて
174波長仮6に導光している. 一方偏光ビームスブリッタ−3を反射し、回折手段10
0に入射させたS偏光のうち回折格子102aでー1次
の回折,回折格子102bで更にー1次の回折をした光
束を前述のP偏光の場合と同様にl/4波長扱4,、反
射部材51を介し、元の光路に戻し、再度回折格子10
2b、102aで各々−1次の回折を行なった後、最初
の直線偏光状態とは偏光方位が90度異なる直線偏光に
変換させて今度は偏光ビームスブリツタ3を通過させて
l/4波長板.6に導光している. そして1/4波長板6に導光した2光束は各々1次の回
折を4回行っているから回折格子の1ピッチ分の回折手
段lOOの移動に対して2冗×4ラジアンの波面の位相
がずれる.即ち+1次の回折を4回行った光束は+2π
×4=+81となり8冗の位相が進む.一方、一!次の
回折を4回行った光束は−2πX4=−8πとなり8π
の位相が遅れる.従って、2光束の位相差は回折手段1
00の移動lビッチ当り16?Cとなる.同図において
は1/4波長板6に導光された2光束は互いに直交した
直線偏光であるので、このままでは干渉せず明暗信号が
得られない.そこで1/4波長板6を介し互いに逆回転
する円偏光にして重ね合わせ、2光束の位相差で直線偏
光方位が変わる直線偏光にしている. そして偏光板8+.8mを介して、この重なった2光東
の干渉に基づく明暗信号を受光素子9−・9冨で検出し
てLl旭る. 本実施例では2光束の位相差が167tになる間に8周
期の明暗信号が得られる. このように本実施例では検出手段からの出力信号を利用
して回折手段l00の移動状態を検出している. 尚、本実施例において2枚の回折スケール板を用いる代
わりに1枚の回折スケール板101aの表裏に第1図(
B)に示すように各々回折格子102a.l02bを形
成したものを用いても同様の効果が得られる. 本実施例では回折スケール板を2枚用いた場合を示した
が回折スケール板を多く用いればそれに応じて回折手段
+00の1ピッチ当りの移動に対する2光束間の位相差
が増大するので検出精度が向」ニする. 第2図は第l図の回折手段l00として回折格子を5枚
積層して構成した場合の第2實施例の要部概略図である
. リニアエンコーダとしての測定原理は第1図の場合と同
様である.又第1図に示す要素と同一要素には同符番を
付している. 一般に回折格子をn枚重ねて第1図と同様な光?装置を
用いた場合、回折スケール板の移動に伴う2光束間の位
相のずれは、lビッチ当り8πX 2 I+ − 1
ラジアンとなり、回折格子の1ピッチ当り4 x 2m
− 1 =2 M − 1周期の明暗信号が現われる
.例久ばlビッチl2,8μmの回折格子を5枚重ねる
と、1ビッチ12.8μm当り2”’=64周期の明暗
信号が得られる.従って1周期当りの回折格子の移動置
は12.8/64=0.05μmとなる.尚、回折回数
を増やすと一般に光量が低下してくる.この為には例え
ば回折格子の断面形状を矩形又は三角形等にした位相格
子又はホログラフィー格子にすれば所定次数の回折光を
効率よく得ることができるので好ましい. 第3図は本発明をロータリーエンコーダに適用したとき
の第3実施例の要部概略図である.同図において第1図
の要素と同一要素には同符番を付している. 図中300は回折手段であり不図示の回転物体に連結さ
れており、円板上の周囲に所定の格子ピッチより成る回
折格子をその面上に形成した2つの回折スケール板30
1a.30lbより成っている. 本実施例では回折スケールf< 3 0 1 a、30
lb上の回折格子の格子ピッチは等しいものを用いてい
る. 33は2個の台形プリズム33..331を貼り合わせ
てなる光学部品、34は光分割面であり光学部品33の
貼合わせ面より成り、偏光ビームスプリツタと同機能の
光分割を行っている.35及び37は各々プリズム反射
鏡で光束を所定方向に反射させている. M I. M 虚は回折スケール板301aの周囲に設
けた回折格子への光束の入射点を示す.本実施例では光
源lより放射される光束をコリメータレンズ2によって
平行光束とし,光学部品33をなす台形プリズム33.
の斜面で反射させた後、光分割面34へ所定の角度で入
射するように指向する.光分割面34に入射した光束は
略I・1の比率で反射光束と透過光束の2つの直線偏光
光束に分割される.尚、光源lの光束は光分割面34の
直交偏波面に対し、所定の方向(通常45′″)の直線
偏光に設定されている.分割された2光束は台形プリズ
ム331、331内で各々2度反射し、光学部品33を
出射しプリズム反射fJ135又は37により回折スケ
ール仮301aの所定の位m M l及びM.へ所定の
入射角で入射する.回折格子302aで回折した透過回
折光のうち特定次数の回折光を、更に回折格子302b
で回折させた後、特定次数の回折光を174波長板4l
又は4,を介して反射千段5l又は58により反射させ
、同一光路を逆行させる.そして、回折格子302b、
302aで順次回折させた特定次数の回折光をプリズム
反射鏡35、又は37で反射させ同一光路を逆行させ、
光宇部品33で内面反射を繰り返し,光分割而34へ導
光している.ここでの光束は反射手段51又は5倉で反
射される前後で2度174波長板を通過する為、偏光方
位は回折手段300へ入射する前とは各々90゜異なっ
ている.従って、光分割面34で先に反射側であった光
束が今度は透過し、透過側であった光束が今度は反射し
て重なり合い干渉縞を形成し光学部品33で内面反射し
てl/4波長板6へ入射される.1/4波長板6を通過
した光束は同偏光となる. そして第1図の第1実施例と同様にl/4波長仮6を通
過した光束は光分割″a7で2分割され各々偏光方位を
異ならせて配置した偏光板8又は8攻を介し直線偏光と
して受光素子9.,又は9tにて2光束による干渉編の
強度を受光し、偏光板8I及び8寡の方位に応じた位相
差をもった2相信号を得ている. 本実施例においては第1図の第1実施例と同様に被測定
回転物体が回折格子の格子ピッチの1ピッチ分だけ回転
するとm次の回折光の位相は8mπだけ変化する.同様
に−m次の回折光の位相は−8mπだけ変化する.これ
により全体として受光素子9..9.からは8m個の正
弦波形が得られる.本実施例ではこのときの正弦波形を
検出することにより回折手段300の回転遣を測定して
いる. 本実施例では光分割器7により光束を2分割し各々の光
束間に90度の位相差をつけることにより回転物体の回
転方向も判別出来るようにしている. 本発明において回折手段に用いるn枚の回折スケール板
に設ける回折格子のとッチPはすべて等しければ前記の
通り1ピッチpi92″1周期の周期信号がとり出され
るが,各回折格子のピッチを各々異なるものより構成し
てもよい.例えば2つの回折スケール板を用い光束が最
初に入射する回折スケール板101aの回折格子102
aのビウチをP+,次に入射する回折スケール板10l
bの回折格子102bのピッチを22とする回折手役の
移動量を又とすると.第1の回折格子1 02aによっ
て1次回折光は位相が2π×文/ p +だけ変動(片
道の場合)する.第2の回折格子102bでは、更に、
2π×文/ P 2たけ変動(片道の場合)する.これ
を往復すれば各々2倍になるから合計4πχ文/ (
1/p+ +1 / p s )だけ位相が変化する.
−1次回折光は第1の回折格子】02aによって−2π
X l / p +たけ位相が変動し、tJ42の回折
格子102bで更に−2πX l / p tたけ位相
か変動するから,これらを往復すれば−4π×2/ (
1/p+ + 1/pt )だけ位相か変化する.よ
って土l次回折光同志の干t!)信号は回折スケール板
(回折手段)の移動閂交に対し 周期の明暗信号が得られる. 例えばピッチp,=4#Lm.p* −2ルmの回折格
子を用いれば1周期当りの回折手段の移動量又は となり小数で表示できないピッチの周期信号を得ること
ができる. 一般に回折スケール板の枚数をn枚とし各回折格子のピ
ッチをP+.Pオ....p.とすれば回折手段の移動
i文に対し ,文(二。二や.,.や二) 1’+ 9m I’
+1周期の正弦岐状信号が得られる. かかる複数の回折スケール板を組合せた回折手段はガラ
ス板の両面に各種の格子ピッチの回折格子を形成したり
、又は格子ピッチが異なる複数の回折格子より成る回折
スケール板を組合せて一体にして得ることができる. また、本発明は光束が回折格子を複数回通過する間に各
々の回折格子で回折される際に生ずる位相ずれを累積さ
せて合計の位相ずれを多く得ることを原理とするから、
回折格子を複数枚通過させて得られた回折光のうち2種
の光(例えば±1次回折光)を干渉させて信号を得る光
学構成とすれば本発明の目的とするエンコーダを達成す
ることができる. 第4図〜第7図は各々本発明をリニアエンコーダに適用
しhときの第4〜第7実施例の要部概略図である。
これらの各実施例において第1〜第3図に示す要素と同
一要素には同符番を付しており、又リニアエンコーダと
しての移動物体の検出方法は第1図の第1実施例と基本
的に同じである.第4図に示す第4実施例ではレーザ1
からの光束をコリメーターレンズ2,光学部品33の光
分割而34を利用して2つの光束に分割し174波長板
4,.4,を通過させて回折手段400の回折スケール
板401aの表裏に形成した回折格子402a、402
bに順次入射させている.そして回折千段400で回折
された±1次の回折先が回折手段400から垂直にかつ
重なり合って射出し、共通の反射部材5で反射し、元の
光路を戻り、再度回折格子402b.402aで回折し
た後1/4波長板4,.4..光学部品33を介し17
4波長板6に導光している.そして第1図の実施例と同
様に光分割手段7で2光束に分割し、これらの干渉光を
各々偏光板81.8mを介し受光素子9,.’lで受光
している.そして受光素子9+.9麓からの出力信号を
用いて回折手段400の移動攬を検出している. 第5図に示す第5実施例では第4図の実施例に比べて回
折手段500を所定の格子ピッチの回折格子を有する5
つの回折スケール板501a〜501eを積層して構成
し、回折手段500からの所定次数の2つの回折光を各
々専用の174波長板41 . 4ffiと反射部材5
+.5gを介して元の光路に戻している点が異なり、そ
の他の構成は同じである. 第6図に示す第6実施例では第1図の実施例において回
折手段の回折スケール板の表裏に形成した2つの回折格
子102a.l02bで回折した±1次の回折光束をプ
リズム型の光分割器67のハーフミラー面67aを利用
して重ね合わせ、方の重なり合った光束は45゜方位に
偏光面を持つ偏光板88を介して干渉信号になり,受光
素子9・,に入射し、もう一方の重なり合った光束は1
/4波長板6によってその中の一方の光束の波面をl/
4λだけずらした後に45゜方位に偏光面を持つ偏光板
8.を介して干渉信号になり受光素子9lに入射する. 本実施例では回折格子の1ピッチの移動に対して受光素
子で検出される2光束の位相差は8πとなる. 第7図はレーザlからの光束をコリメーターレンズ2を
介し3つの回折スケール板101a、10lb.101
cを積層した回折手段700に垂直に入射させ、回折手
段700の各回折格子で回折した±1次の回折光をその
まま取り出し,互いに偏光面が直交するように配置した
偏光板10a.lobを介した後光分割器77のハーフ
ミラー面77aを利用して2光束を重ね合わして干渉光
を得ている. そして第6図の実施例と同様にして偏光仮8+ .81
.1/4波長板6を介して受光素子91.9mにより
干渉信号を検出している.(発明の効果) 本発明によれば而述の如く同一又は異った格子ピッチの
回折格子を複数個積層した回折手段を利用することによ
り、細かな格子ピッチの回折格子を用いなくても移動物
体の僅かな変位に対しても効果的に良好なる周期信号が
得られ、高い分解能が容易に得られるエンコーダを達成
することができる.
一要素には同符番を付しており、又リニアエンコーダと
しての移動物体の検出方法は第1図の第1実施例と基本
的に同じである.第4図に示す第4実施例ではレーザ1
からの光束をコリメーターレンズ2,光学部品33の光
分割而34を利用して2つの光束に分割し174波長板
4,.4,を通過させて回折手段400の回折スケール
板401aの表裏に形成した回折格子402a、402
bに順次入射させている.そして回折千段400で回折
された±1次の回折先が回折手段400から垂直にかつ
重なり合って射出し、共通の反射部材5で反射し、元の
光路を戻り、再度回折格子402b.402aで回折し
た後1/4波長板4,.4..光学部品33を介し17
4波長板6に導光している.そして第1図の実施例と同
様に光分割手段7で2光束に分割し、これらの干渉光を
各々偏光板81.8mを介し受光素子9,.’lで受光
している.そして受光素子9+.9麓からの出力信号を
用いて回折手段400の移動攬を検出している. 第5図に示す第5実施例では第4図の実施例に比べて回
折手段500を所定の格子ピッチの回折格子を有する5
つの回折スケール板501a〜501eを積層して構成
し、回折手段500からの所定次数の2つの回折光を各
々専用の174波長板41 . 4ffiと反射部材5
+.5gを介して元の光路に戻している点が異なり、そ
の他の構成は同じである. 第6図に示す第6実施例では第1図の実施例において回
折手段の回折スケール板の表裏に形成した2つの回折格
子102a.l02bで回折した±1次の回折光束をプ
リズム型の光分割器67のハーフミラー面67aを利用
して重ね合わせ、方の重なり合った光束は45゜方位に
偏光面を持つ偏光板88を介して干渉信号になり,受光
素子9・,に入射し、もう一方の重なり合った光束は1
/4波長板6によってその中の一方の光束の波面をl/
4λだけずらした後に45゜方位に偏光面を持つ偏光板
8.を介して干渉信号になり受光素子9lに入射する. 本実施例では回折格子の1ピッチの移動に対して受光素
子で検出される2光束の位相差は8πとなる. 第7図はレーザlからの光束をコリメーターレンズ2を
介し3つの回折スケール板101a、10lb.101
cを積層した回折手段700に垂直に入射させ、回折手
段700の各回折格子で回折した±1次の回折光をその
まま取り出し,互いに偏光面が直交するように配置した
偏光板10a.lobを介した後光分割器77のハーフ
ミラー面77aを利用して2光束を重ね合わして干渉光
を得ている. そして第6図の実施例と同様にして偏光仮8+ .81
.1/4波長板6を介して受光素子91.9mにより
干渉信号を検出している.(発明の効果) 本発明によれば而述の如く同一又は異った格子ピッチの
回折格子を複数個積層した回折手段を利用することによ
り、細かな格子ピッチの回折格子を用いなくても移動物
体の僅かな変位に対しても効果的に良好なる周期信号が
得られ、高い分解能が容易に得られるエンコーダを達成
することができる.
第1図(A)、第2図は本発明をリニアエンコーダに適
用したときの第1、第2実施例の要部概略図、第1図(
B)は第1図(A)の一部分の変形例の説明図、第3図
は本発明をロータリーエンコーダに適用したときの第3
実施例の要部概略図,第4図〜第7図は各々本発明をリ
ニアエンコーダに適用したときの第4〜第7実施例の要
部概略図である.図中1はレーザ、2はコリメーターレ
ンズ,3は偏光ビームスブリッタ+00.300、40
0.500、700は回折手段、4、4,.4..6は
1/4波長板25,5+.5mは反射部材、7はビーム
スブリッタ−(光分割器).8..8.は偏光板、9+
.9mは受光素子、である.
用したときの第1、第2実施例の要部概略図、第1図(
B)は第1図(A)の一部分の変形例の説明図、第3図
は本発明をロータリーエンコーダに適用したときの第3
実施例の要部概略図,第4図〜第7図は各々本発明をリ
ニアエンコーダに適用したときの第4〜第7実施例の要
部概略図である.図中1はレーザ、2はコリメーターレ
ンズ,3は偏光ビームスブリッタ+00.300、40
0.500、700は回折手段、4、4,.4..6は
1/4波長板25,5+.5mは反射部材、7はビーム
スブリッタ−(光分割器).8..8.は偏光板、9+
.9mは受光素子、である.
Claims (4)
- (1)光束を移動物体に連結した回折手段に入射させ、
該回折手段からの所定次数の回折光より干渉光を形成し
、該干渉光の明暗を検出手段で検出することにより、該
移動物体の移動状態を検出する際、該回折手段を所定の
格子ピッチの回折格子を複数個積層したもので構成した
ことを特徴とするエンコーダ。 - (2)前記複数の回折格子は格子ピッチが互いに異なっ
ていることを特徴とする請求項1記載のエンコーダ。 - (3)互いに異つた格子ピッチより成る複数の回折格子
を積層して構成した回折手段に光束を入射させ、該回折
手段の複数の回折格子を介した際に得られる所定次数の
回折光より干渉光を形成し、該干渉光の明暗の数を検出
手段により検出することにより該回折手段に連結した移
動物体の移動状態を検出したことを特徴とするエンコー
ダ。 - (4)前記回折手段は透明基板の表裏に各々回折格子を
設けた回折スケール板を少なくとも1枚有していること
を特徴とする請求項1又は請求項3記載のエンコーダ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5165789A JP2600888B2 (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | エンコーダ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5165789A JP2600888B2 (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | エンコーダ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02231526A true JPH02231526A (ja) | 1990-09-13 |
JP2600888B2 JP2600888B2 (ja) | 1997-04-16 |
Family
ID=12892951
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5165789A Expired - Fee Related JP2600888B2 (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | エンコーダ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2600888B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002023130A1 (fr) * | 2000-09-13 | 2002-03-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Codeur optique |
JP2009156862A (ja) * | 2007-11-01 | 2009-07-16 | Asml Netherlands Bv | 位置測定システムおよびリソグラフィ装置 |
-
1989
- 1989-03-03 JP JP5165789A patent/JP2600888B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002023130A1 (fr) * | 2000-09-13 | 2002-03-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Codeur optique |
JP2009156862A (ja) * | 2007-11-01 | 2009-07-16 | Asml Netherlands Bv | 位置測定システムおよびリソグラフィ装置 |
US8319940B2 (en) | 2007-11-01 | 2012-11-27 | Asml Netherlands B.V. | Position measurement system and lithographic apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2600888B2 (ja) | 1997-04-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090129 Year of fee payment: 12 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |