JPH02228051A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH02228051A
JPH02228051A JP4651989A JP4651989A JPH02228051A JP H02228051 A JPH02228051 A JP H02228051A JP 4651989 A JP4651989 A JP 4651989A JP 4651989 A JP4651989 A JP 4651989A JP H02228051 A JPH02228051 A JP H02228051A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive
package
holes
heat dissipation
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4651989A
Other languages
English (en)
Inventor
Takumi Matsuura
巧 松浦
Tetsuji Obara
哲治 小原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi ULSI Engineering Corp, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi ULSI Engineering Corp
Priority to JP4651989A priority Critical patent/JPH02228051A/ja
Publication of JPH02228051A publication Critical patent/JPH02228051A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体装置に適用して有効な技術に関するも
ので、例えば、LSIパッケージの表面に接着剤により
放熱フィンが直付けされた構造の半導体装置に利用して
有効な技術に関するものである。
[従来の技術] LSIパッケージから発せられる熱を放熱フィンにより
逃すようにした半導体装置が知られている。
この半導体装置は、例えばセラミック等よりなるLSI
パッケージの表面に、例えばシリコーンゴム等の接着剤
を介して、例えばアルミニウム等よりなる放熱フィンを
直付けした構造のもので。
この放熱フィンによりLSIパッケージから発せられる
熱を効率良く逃そうというものである。
そして、上記放熱フィンは、該放熱フィンをパッケージ
表面に接着させる最に生じる接着層のエアーボイド(接
着層にトラップされる空気)を少なくするために、軽く
スクラブ(パッケージにこすりつけること)をかけなが
ら空気を逃すようにして接着されている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記のスクラブをかけながら放熱フィン
をパッケージ表面に接着させる方法においては、完全に
エアーを接着層から排除するのが不可能で内部ボイドが
発生することがあり、この内部ボイドにより放熱フィン
がパッケージから剥がれてしまう畏れがある。
しかも放熱フィンの表面に汚れが残ったままで該放熱フ
ィンをパッケージに接着した場合には、接着強度が低下
してさらに放熱フィンがパッケージから剥がれ易い。
その上、放熱フィンと接着剤、パッケージ側との熱膨張
係数の違いから、熱影響により放熱フィンがパッケージ
から剥がれる畏れもある。
本発明は係る問題点に鑑みなされたものであって、放熱
フィンのパッケージからの剥がれを確実に防止する半導
体装置を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、LSIパッケージの表面に接着剤により放熱
フィンが直付けされた構造の半導体装置の前記放熱フィ
ンに貫通孔を設け、この貫通孔から前記接着剤をわきと
がらせるようにしたものである。
[作用] 上記した手段によれば、放熱フィンに貫通孔を設け、こ
の貫通孔から接着剤をわき上がらせるようにしたので、
該貫通孔を通して接着剤内のエアーがさらに逃げ得るよ
うになると共に、この貫通孔に充填される接着剤により
接着強度がさらに向上されるという作用により、放熱フ
ィンのパッケージからの剥がれを確実に防止するという
上記目的が達成されることになる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図、第2図には本発明に係る半導体装置装置の実施
例が示されている。その概要を説明すれば次のとおりで
ある。
第1図において、符号4は、例えば高熱伝導SiCより
なるLSIパッケージを示しており、このLSIパッケ
ージ4の側面からは、外部との電気的信号のやり取りを
行うためのリードフレーム5が突出している。該LSI
パッケージ4の表面には、例えばシリコーンゴムよりな
る接着剤1が塗付されており、この接着剤1の上面には
、例えばアJレミニウムよりなる放熱フィン2がaiさ
れた状態となっている。この放熱フィン2の表面には、
第1図、第2図に示されるように、放熱面積を大きくす
るため(放熱効果を上げるため)の凹凸部が形成されて
おり、該放熱フィン2の肉厚方向にはこの放熱フィン2
を貫通する貫通孔3が多数設けられている。この貫通孔
3はパッケージ側の径の方が小さいテーパ孔となってお
り、これら貫通孔3には上記接着剤1が充填され、さら
にその接着剤1は放熱フィン2の表面まで盛り上がって
露出しピン部1aが形成された状態となっている。
この貫通孔3内の接着剤1の充填と、ピン部1aの形成
は、放熱フィン2を接着剤1の塗付されたLSIパッケ
ージ4にスクラブをかけながら接着することにより行わ
れる。すなわち、放熱フィン2を接着剤1の塗付された
LSIパッケージ4にスクラブをかけながら接着すると
、放熱フィン2とLSIパッケージ4との間の接着剤1
が他に逃げ場がなくなって貫通孔3を伝うようになるの
で該貫通孔3内が充填されるようになる。そして、その
後この接着剤が放熱フィン2表面側にわき出てくるので
ピン部1aが形成される。
このように、本実施例においては、放熱フィン2とLS
Iパッケージ4との間の接着剤1を貫通孔3かられき上
がらせるようにしているので、このわき上がる接着剤と
共に接着剤内のエアーが貫通孔3を伝って外部に逃げる
ことができるようになっており、接着剤1内の内部ボイ
ドを極めて少なくすることが可能となっている。
また、上述の如く、放熱フィン2は、該放熱フィン2と
LSIパッケージ4とのフラットな合わせ面における接
着剤と、上記貫通孔3内に充填される接着剤及びピン部
1aを構成する接着剤によリLSIパッケージ4に接合
されているので、その接合面積は従来より大きく接着強
度がさらに増した状態となっている。
しかも、上記貫通孔3内に充填される接着剤及びピン部
1aを構成する接着剤は、図における横方向(特に熱膨
張時における力の方向)、上下方向の力に対してのピン
止め効果があるので、その接着強度は従来と比べものに
ならないほど大きくなっている。
その上、本実施例においては、上記貫通孔3がパッケー
ジ側の径の方が小さいテーパ孔となっているので、図に
おける上下方向の力に対してのピン止め効果は極めて強
いものとなっている。
このように構成される半導体装置によれば次のような効
果を得ることができる。
すなわち、放熱フィン2に貫通孔3を設け、この貫通孔
3から放熱フィン2とパッケージ4との間の接着剤1を
わき上がらせるようにしたので、該貫通孔3を伝って接
着剤内のエアーがさらに逃げ得るようになると共に、こ
の貫通孔3に充填される接着剤により接着強度がさらに
向上されるという作用により、放熱フィン2のパッケー
ジ4がらの剥がれが確実に防止されるようになる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが1本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、上記実施例おいては、LSIパッケージ4を高
熱伝導SiCに、接着剤1をシリコーンゴムに、放熱フ
ィン2をアルミニウムにそれぞれしているが、その材質
はこれらに限定されるものではない。
また、上記実施例おいては、貫通孔3はパッケージ4側
の径の方が小さいテーパ孔とされているが、テーパ孔で
ない通常の孔(何処の径も同じ孔)でも良いというのは
いうまでもない。
[発明の効果] 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
すなわち、LSIパッケージの表面に接着剤により放熱
フィンが直付けされた構造の半導体装置の前記放熱フィ
ンに貫通孔を設け、この貫通孔から前記接着剤をわき上
がらせるようにしたので、該貫通孔を通して接着剤内の
エアーがさらに逃げ得るようになると共に、この貫通孔
に充填される接着剤により接着強度がさらに向上される
ようになる。その結果、放熱フィンのパッケージからの
剥がれが確実に防止されるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る半導体装置の実施例の縦断面図、 第2図は同上実施例の上面図である。 1・・・・接着剤、2・・・・放熱フィン、3・・・・
貫通孔、4・・・・LSIパッケージ。 第  1  図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、LSIパッケージの表面に接着剤により放熱フィン
    が直付けされた構造の半導体装置において、前記放熱フ
    ィンに貫通孔を設け、この貫通孔から前記接着剤をわき
    上がらせるようにしたことを特徴とする半導体装置。 2、前記貫通孔は、前記パッケージ側の径の方が小さい
    テーパ孔であることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体装置。 3、前記パッケージは、セラミックパッケージであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載
    の半導体装置。
JP4651989A 1989-03-01 1989-03-01 半導体装置 Pending JPH02228051A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1319159C (zh) * 2003-03-26 2007-05-30 矽品精密工业股份有限公司 具有散热片的半导体封装件
JP2013065648A (ja) * 2011-09-16 2013-04-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及び当該半導体装置の製造方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1319159C (zh) * 2003-03-26 2007-05-30 矽品精密工业股份有限公司 具有散热片的半导体封装件
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