JPH02208554A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPH02208554A JPH02208554A JP1028490A JP2849089A JPH02208554A JP H02208554 A JPH02208554 A JP H02208554A JP 1028490 A JP1028490 A JP 1028490A JP 2849089 A JP2849089 A JP 2849089A JP H02208554 A JPH02208554 A JP H02208554A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/023—Solids
- G01N2291/0234—Metals, e.g. steel
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は金属材の探傷を行う超音波探傷装置に関する。
管の超音波探傷において、ラミネーションの検出及びク
ラッド剥離の検出には垂直探傷方法が有効な手段として
利用されている。従来の垂直探傷方法においては、以下
に述べる2つの方法が主に使用されている。
ラッド剥離の検出には垂直探傷方法が有効な手段として
利用されている。従来の垂直探傷方法においては、以下
に述べる2つの方法が主に使用されている。
第1の方法はエコー高さ評価法である。これは垂直探傷
により得られる欠陥エコーの大きさを、予め定められた
標準反射源よりの反射エコーの大きさと比較し、この比
較結果より欠陥の大きさを推定する方法である。
により得られる欠陥エコーの大きさを、予め定められた
標準反射源よりの反射エコーの大きさと比較し、この比
較結果より欠陥の大きさを推定する方法である。
第2の方法は肉厚測定法である。これは管の肉厚を連続
的に測定し、欠陥の存在による肉厚の検出異常値により
欠陥を検出する方法であり、管を螺旋状に探傷する場合
に前記検出異常値が発生した回数を測定すれば、管の軸
方向に伸びる欠陥の長さの推定が可能である。
的に測定し、欠陥の存在による肉厚の検出異常値により
欠陥を検出する方法であり、管を螺旋状に探傷する場合
に前記検出異常値が発生した回数を測定すれば、管の軸
方向に伸びる欠陥の長さの推定が可能である。
前記ラミネーション及びクラッド剥離等の欠陥の品質評
価においては、欠陥の面積を評価対象とするのが妥当で
ある。ところが、第1の方法では欠陥の面積を求めるこ
とが可能であるが、この面積は前記標準反射源の面積に
対する相対値であるため軸方向1周方向の拡がりが判定
できず、また、この方法においては欠陥が探触子よりも
大きい場合は面積に対する評価ができないという問題が
あった。
価においては、欠陥の面積を評価対象とするのが妥当で
ある。ところが、第1の方法では欠陥の面積を求めるこ
とが可能であるが、この面積は前記標準反射源の面積に
対する相対値であるため軸方向1周方向の拡がりが判定
できず、また、この方法においては欠陥が探触子よりも
大きい場合は面積に対する評価ができないという問題が
あった。
一方、第2の方法では欠陥の長さの推定は可能であるが
、欠陥の面積の推定は不可能であるという問題があった
。
、欠陥の面積の推定は不可能であるという問題があった
。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、多数
の振動子を並設してなる探触子と、被検査材とを前記振
動子の配列方向と直交する方向へ相対移動させつつ垂直
探傷を行って、該相対移動方向及びこれに直交する方向
における欠陥の分布を検出し、該欠陥の分布より欠陥の
面積を求めることにより、欠陥検出精度が高い超音波探
傷装置を提供することを目的とする。
の振動子を並設してなる探触子と、被検査材とを前記振
動子の配列方向と直交する方向へ相対移動させつつ垂直
探傷を行って、該相対移動方向及びこれに直交する方向
における欠陥の分布を検出し、該欠陥の分布より欠陥の
面積を求めることにより、欠陥検出精度が高い超音波探
傷装置を提供することを目的とする。
本発明に係る超音波探傷方法においては、被検査材と探
触子とを相対移動させつつ、該探触子より被検査材に対
して超音波を垂直に入射し、その反射エコーによって欠
陥を検出する超音波探傷装置において、前記相対移動方
向に対して直交する方向に多数の振動子を並設してなる
探触子と、該探触子による検出結果に基づき前記相対移
動方向及びこれに直交する方向の欠陥の分布状態を求め
、この分布状態より欠陥の面積を求める手段とを具備す
ることを特徴とする。
触子とを相対移動させつつ、該探触子より被検査材に対
して超音波を垂直に入射し、その反射エコーによって欠
陥を検出する超音波探傷装置において、前記相対移動方
向に対して直交する方向に多数の振動子を並設してなる
探触子と、該探触子による検出結果に基づき前記相対移
動方向及びこれに直交する方向の欠陥の分布状態を求め
、この分布状態より欠陥の面積を求める手段とを具備す
ることを特徴とする。
多数の振動子を並設してなる探触子は、該振動子の配列
の順に夫々の振動子が探傷を行うことにより振動子の配
列方向の探傷ができる。この探触子は、前記配列方向と
直交する方向に移動しつつ前記探傷を行うことにより、
欠陥の分布状態が検知できるため、該欠陥の分布状態よ
り欠陥の面積を求められる。
の順に夫々の振動子が探傷を行うことにより振動子の配
列方向の探傷ができる。この探触子は、前記配列方向と
直交する方向に移動しつつ前記探傷を行うことにより、
欠陥の分布状態が検知できるため、該欠陥の分布状態よ
り欠陥の面積を求められる。
以下本発明をその実施例を示す図面に基づき具体的に説
明する。第1図は本発明に係る超音波探傷装置のブロッ
ク図である。図中20は鋼管であり、軸心周りに回転し
ながら軸方向へ移送される。鋼管20の移送経路には多
数(n個)の小型の振動子を前記軸方向へ並設してなる
探触子1が鋼管20に対して接触した状態で設けられて
おり、探触子1は鋼管20の回転及び移送により鋼管2
0を螺旋状に探傷するようになっている。そして探触子
1は鋼管20の垂直探傷を行う状態に設定する。これに
より1回の探傷において探触子1の振動子の面積に相当
する範囲の探傷が有効となり、これを軸方向へ螺旋状に
連続させることにより、鋼管20の全周全長の探傷を行
う。
明する。第1図は本発明に係る超音波探傷装置のブロッ
ク図である。図中20は鋼管であり、軸心周りに回転し
ながら軸方向へ移送される。鋼管20の移送経路には多
数(n個)の小型の振動子を前記軸方向へ並設してなる
探触子1が鋼管20に対して接触した状態で設けられて
おり、探触子1は鋼管20の回転及び移送により鋼管2
0を螺旋状に探傷するようになっている。そして探触子
1は鋼管20の垂直探傷を行う状態に設定する。これに
より1回の探傷において探触子1の振動子の面積に相当
する範囲の探傷が有効となり、これを軸方向へ螺旋状に
連続させることにより、鋼管20の全周全長の探傷を行
う。
このような探傷の順序及びタイミングはクロック制御器
14により制御される。クロック制御器14には、クロ
ック回路13より一定周期で出力されるクロックパルス
信号が入力されている。クロック制御器14は入力され
たクロックパルス信号を後述する如く分割制御し、この
分割制御された振動子の数nと同数の連続したパルス信
号り、−D、をパルス発振器15へ出力する。
14により制御される。クロック制御器14には、クロ
ック回路13より一定周期で出力されるクロックパルス
信号が入力されている。クロック制御器14は入力され
たクロックパルス信号を後述する如く分割制御し、この
分割制御された振動子の数nと同数の連続したパルス信
号り、−D、をパルス発振器15へ出力する。
パルス発振器15は、クロック制御器14より入力され
るパルス信号り、〜D、、の周期毎に、n個の振動子を
有する探触子1の第1振動子より第n振動子までの各振
動子を励振させるパルス信号を探触子1の各振動子へ順
次ば力する。
るパルス信号り、〜D、、の周期毎に、n個の振動子を
有する探触子1の第1振動子より第n振動子までの各振
動子を励振させるパルス信号を探触子1の各振動子へ順
次ば力する。
探触子1では、パルス発振器15より入力されたパルス
信号により前述の如く各振動子順次が励振され、前記周
期毎に超音波を鋼管20へ入射させる。
信号により前述の如く各振動子順次が励振され、前記周
期毎に超音波を鋼管20へ入射させる。
このように鋼管20へ入射させられた超音波は表面、底
面及び疵等の反射源からの反射エコーとして前記探触子
lにより検出される。この検出信号は増幅器2へ入力さ
れる。
面及び疵等の反射源からの反射エコーとして前記探触子
lにより検出される。この検出信号は増幅器2へ入力さ
れる。
増幅器2へ入力された反射エコー信号は増幅され、ゲー
ト回路3へ出力される。ゲート回路3では、第4図に示
す如(、表面からの反射エコー信号Sと底面からの反射
エコー信号Bとに基づいて設定されるゲート信号により
、疵等の反射源からの反射エコー信号Fを選択し、かつ
その大きさを判定レベルGと比較し、この比較結果によ
り反射エコー信号が判定レベルGよりも大きいと判定さ
れた場合、前記反射エコー信号を欠陥エコー信号と見な
し、欠陥判定部4の第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定
器4nの全てのものにハイレベル信号を出力する。
ト回路3へ出力される。ゲート回路3では、第4図に示
す如(、表面からの反射エコー信号Sと底面からの反射
エコー信号Bとに基づいて設定されるゲート信号により
、疵等の反射源からの反射エコー信号Fを選択し、かつ
その大きさを判定レベルGと比較し、この比較結果によ
り反射エコー信号が判定レベルGよりも大きいと判定さ
れた場合、前記反射エコー信号を欠陥エコー信号と見な
し、欠陥判定部4の第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定
器4nの全てのものにハイレベル信号を出力する。
また、クロック制御器14は前記パルス発振器15へ出
力した分割制御されたパルス信号り、〜Dnの周期と同
一の周期にて第1振動子〜第n振動子に対応して欠陥判
定部4に設けた第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4
nへ順次ハイレベル信号を出力する。
力した分割制御されたパルス信号り、〜Dnの周期と同
一の周期にて第1振動子〜第n振動子に対応して欠陥判
定部4に設けた第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4
nへ順次ハイレベル信号を出力する。
欠陥判定部4の第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4
nではゲート回路3より入力される信号及びクロック制
御器14より入力される信号が共にハイレベルになった
場合、夫々が欠陥計数器5及び周方向欠陥判別器6ヘハ
イレベル信号を出力する。
nではゲート回路3より入力される信号及びクロック制
御器14より入力される信号が共にハイレベルになった
場合、夫々が欠陥計数器5及び周方向欠陥判別器6ヘハ
イレベル信号を出力する。
このハイレベル信号は後述するりセント信号Cが欠陥判
定部4に入力されるまで欠陥判定部4に保持され、該リ
セット信号Cが入力されると、欠陥判定部4の出力信号
はリセットされるようになっている。
定部4に入力されるまで欠陥判定部4に保持され、該リ
セット信号Cが入力されると、欠陥判定部4の出力信号
はリセットされるようになっている。
次に前述の如き欠陥判定部4における欠陥判定方法を第
2図に示すタイミングチャートにより説明する。同図(
a)はクロック回路13から出力される一定周期のクロ
ックパルス信号を示しており、クロック制御器14はこ
のクロック回路出力に基づき、同図(b)に示す如く、
後述するリセット判定器11へ出力するパルス信号Aと
、前述した欠陥判定部4及び後述する欠陥計数器5並び
に周方向欠陥判定器6へ出力するリセット信号Cと、パ
ルス発振器15及び欠陥判定部4へ出力する振動子の数
nと同数の連続したパルス信号D (D、−D、、)と
をこの順に分割制御して出力する。クロック制御器14
より欠陥判定部4ヘパルス信号り、〜D、が一定周期で
出力されると、これに対応して同図tel〜(1141
に示す如く第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4nに
はそれぞれ1つのパルス信号り、、D、・・・D、lが
順次一定周期で入力される。
2図に示すタイミングチャートにより説明する。同図(
a)はクロック回路13から出力される一定周期のクロ
ックパルス信号を示しており、クロック制御器14はこ
のクロック回路出力に基づき、同図(b)に示す如く、
後述するリセット判定器11へ出力するパルス信号Aと
、前述した欠陥判定部4及び後述する欠陥計数器5並び
に周方向欠陥判定器6へ出力するリセット信号Cと、パ
ルス発振器15及び欠陥判定部4へ出力する振動子の数
nと同数の連続したパルス信号D (D、−D、、)と
をこの順に分割制御して出力する。クロック制御器14
より欠陥判定部4ヘパルス信号り、〜D、が一定周期で
出力されると、これに対応して同図tel〜(1141
に示す如く第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4nに
はそれぞれ1つのパルス信号り、、D、・・・D、lが
順次一定周期で入力される。
また、欠陥が存在する場合は同図(f)に示す如くゲー
ト回路3より、前記パルス信号り、−D、lに同期した
欠陥エコー信号E1〜Enが第1欠陥判定器41〜第n
欠陥判定器4nの全てに入力される。
ト回路3より、前記パルス信号り、−D、lに同期した
欠陥エコー信号E1〜Enが第1欠陥判定器41〜第n
欠陥判定器4nの全てに入力される。
第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4nにおいて、パ
ルス信号及び欠陥エコー信号であるD+、E+、D、、
E、・・・D、、E、の信号の同期が夫々においてとれ
れば同図(g1〜(1)に示す如く第1欠陥判定器41
〜第n欠陥判定器4nの出力を夫々ハイレベルとする。
ルス信号及び欠陥エコー信号であるD+、E+、D、、
E、・・・D、、E、の信号の同期が夫々においてとれ
れば同図(g1〜(1)に示す如く第1欠陥判定器41
〜第n欠陥判定器4nの出力を夫々ハイレベルとする。
この出力はクロック制御器14から出力されるリセット
信号C入力があった場合、リセットされ、再び同様の欠
陥判定が繰り返されるようになっている。
信号C入力があった場合、リセットされ、再び同様の欠
陥判定が繰り返されるようになっている。
欠陥計数器5は鋼管20の軸方向の欠陥検出数の計数を
行うものであり−、該欠陥計数器5では単色子1の第1
振動子〜第n振動子による一巡の探傷に伴う欠陥判定部
4の欠陥判定が第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4
nまで一巡し、前記クロック制御器14よりリセット信
号Cが入力されるまでの間、欠陥判定部4より入力され
るハイレベル信号の数を計数する。そして、この計数値
を積算器7及びD/^変換器9へ出力している。この計
数値は探触子1の第1振動子〜第n振動子による探傷が
一巡するまでの間における欠陥の軸方向に存在する欠陥
数を示しており、D/へ変換器9は入力された計数値を
アナログ信号に変換して欠陥の軸方向の長さ情報として
出力する。
行うものであり−、該欠陥計数器5では単色子1の第1
振動子〜第n振動子による一巡の探傷に伴う欠陥判定部
4の欠陥判定が第1欠陥判定器41〜第n欠陥判定器4
nまで一巡し、前記クロック制御器14よりリセット信
号Cが入力されるまでの間、欠陥判定部4より入力され
るハイレベル信号の数を計数する。そして、この計数値
を積算器7及びD/^変換器9へ出力している。この計
数値は探触子1の第1振動子〜第n振動子による探傷が
一巡するまでの間における欠陥の軸方向に存在する欠陥
数を示しており、D/へ変換器9は入力された計数値を
アナログ信号に変換して欠陥の軸方向の長さ情報として
出力する。
周方向欠陥判別器6では欠陥判定部4より入力されるハ
イレベル信号の有無を判別し、前記クロック制御部14
からのリセット信号Cが入力されるまでに1つ以上のハ
イレベル信号が入力されていると判別すれば、欠陥が周
方向に連続しているものと判断し、パルス積算器8及び
後述するリセット判定器11ヘハイレベル信号を出力す
る。このハイレベル信号は前記リセット信号Cが入力さ
れるまで保持される。
イレベル信号の有無を判別し、前記クロック制御部14
からのリセット信号Cが入力されるまでに1つ以上のハ
イレベル信号が入力されていると判別すれば、欠陥が周
方向に連続しているものと判断し、パルス積算器8及び
後述するリセット判定器11ヘハイレベル信号を出力す
る。このハイレベル信号は前記リセット信号Cが入力さ
れるまで保持される。
前記パルス積算器8では周方向欠陥判別器6より入力さ
れるハイレベル信号を積算し、後述する積算リセット信
号が入力されるまでの間、積算結果をD/A変換器12
へ出力し、積算リセット信号が入力されると積算値をリ
セットする。この積算値は周方向へ連続する欠陥検出数
、即ち欠陥の周方向への広がりを示している。D/A変
換器12へ入力された積算結果は、アナログ信号に変換
され、欠陥の周方向の長さ情報として出力される。
れるハイレベル信号を積算し、後述する積算リセット信
号が入力されるまでの間、積算結果をD/A変換器12
へ出力し、積算リセット信号が入力されると積算値をリ
セットする。この積算値は周方向へ連続する欠陥検出数
、即ち欠陥の周方向への広がりを示している。D/A変
換器12へ入力された積算結果は、アナログ信号に変換
され、欠陥の周方向の長さ情報として出力される。
また、前記積算器7では欠陥計数器5より入力される軸
方向の欠陥数を周方向に渡って積算することにより欠陥
数の総和を得られるようになっている。この欠陥数の総
和は欠陥全体の大きさの情報である。積算動作は後述す
る積算リセット信号が入力されるまで継続され、積算リ
セット信号がこの間積算結果をD/A変換器10へ出力
し、積算リセット信号が入力されると積算値をリセット
する。
方向の欠陥数を周方向に渡って積算することにより欠陥
数の総和を得られるようになっている。この欠陥数の総
和は欠陥全体の大きさの情報である。積算動作は後述す
る積算リセット信号が入力されるまで継続され、積算リ
セット信号がこの間積算結果をD/A変換器10へ出力
し、積算リセット信号が入力されると積算値をリセット
する。
D/A変換器10に入力された積算結果はアナログ信号
に変換されて、欠陥の面積情報として出力される。
に変換されて、欠陥の面積情報として出力される。
前記リセット判定器11は、欠陥計数器5の出力を積算
する積算器7及び周方向欠陥判別器6の出力パルスを積
算するパルス積算器8の積算値をリセットするための積
算リセット信号を、積算器7及びパルス積算器8へ出力
させるか否かを判定するものである。すなわち、リセッ
ト判定器11には、前述したクロック発生回路13で分
割制御されたパルス信号A(第2図(b)参照)が一定
周期で人力されており、このパルス信号Aが入力された
ときに、周方向欠陥判別器6より欠陥が存在する場合に
入力されるパルス信号が入力されていないとき、即ち欠
陥を検出していなければ、前記積算リセ7)信号を積算
器7及びパルス積算器8へ出力するように動作する。
する積算器7及び周方向欠陥判別器6の出力パルスを積
算するパルス積算器8の積算値をリセットするための積
算リセット信号を、積算器7及びパルス積算器8へ出力
させるか否かを判定するものである。すなわち、リセッ
ト判定器11には、前述したクロック発生回路13で分
割制御されたパルス信号A(第2図(b)参照)が一定
周期で人力されており、このパルス信号Aが入力された
ときに、周方向欠陥判別器6より欠陥が存在する場合に
入力されるパルス信号が入力されていないとき、即ち欠
陥を検出していなければ、前記積算リセ7)信号を積算
器7及びパルス積算器8へ出力するように動作する。
斯かる超音波探傷装置においては、探触子lの振動子の
列の方向の長さが鋼管20の軸方向に対する検出幅であ
り、この検出幅で周方向へ探傷を進めて行く。この探傷
において鋼管20に欠陥が存在する場合、欠陥の面積は
検出した欠陥エコーの総数として得られ、欠陥の軸方向
及び周方向への長さは欠陥エコーの軸方向及び周方向へ
の検出繰り返し数として得られる。
列の方向の長さが鋼管20の軸方向に対する検出幅であ
り、この検出幅で周方向へ探傷を進めて行く。この探傷
において鋼管20に欠陥が存在する場合、欠陥の面積は
検出した欠陥エコーの総数として得られ、欠陥の軸方向
及び周方向への長さは欠陥エコーの軸方向及び周方向へ
の検出繰り返し数として得られる。
次に本発明装置の探傷結果より欠陥の長さ及び面積を求
める方法について説明する。第3図は欠陥の長さ及び面
積の測定を説明するための模式図である。図において探
触子1は一辺の長さが7丁(mm)の正方形であるn個
の振動子2L21・・・を鋼管の軸方向に並設してなり
、欠陥30に対してV(鰭/パルス・振動子)の速度で
、白抜矢符で示す鋼管の周方向へ移動しているものとす
る。但し、Vはn個の振動子21.21・・・による探
傷が一巡するまでに探触子lが周方向に移動する距離を
示している。
める方法について説明する。第3図は欠陥の長さ及び面
積の測定を説明するための模式図である。図において探
触子1は一辺の長さが7丁(mm)の正方形であるn個
の振動子2L21・・・を鋼管の軸方向に並設してなり
、欠陥30に対してV(鰭/パルス・振動子)の速度で
、白抜矢符で示す鋼管の周方向へ移動しているものとす
る。但し、Vはn個の振動子21.21・・・による探
傷が一巡するまでに探触子lが周方向に移動する距離を
示している。
このような場合において、n子の振動子21.21・・
・による−巡の探傷毎にカウントされる欠陥計数器5の
カウント数のうち最も多いカウント数をt。
・による−巡の探傷毎にカウントされる欠陥計数器5の
カウント数のうち最も多いカウント数をt。
とすると、欠陥30の軸方向長さ11は下記(11式の
如く示される。
如く示される。
1、 =Ja −t l+1 (mm)
−(1)また、周方向に連続した欠陥が存
在する場合にパルス積算器8で積算される積算値をt7
とすると、欠陥30の周方向長さ17は下記(2)式の
如く示される。
−(1)また、周方向に連続した欠陥が存
在する場合にパルス積算器8で積算される積算値をt7
とすると、欠陥30の周方向長さ17は下記(2)式の
如く示される。
l 、=v ・ t+s (璽量り
・・・(2)更に、積算リセット信号が入力されるまで
の間に積算器7で積算される積算値をt3とすると、欠
陥30の面積Sは下記(3)式の如く示される。
・・・(2)更に、積算リセット信号が入力されるまで
の間に積算器7で積算される積算値をt3とすると、欠
陥30の面積Sは下記(3)式の如く示される。
S=/丁・v −t 、 ・cx (wm”)
−(31但し、α:補正係数 このようにして、本発明においては欠陥の長さ及び面積
が求められるのである。
−(31但し、α:補正係数 このようにして、本発明においては欠陥の長さ及び面積
が求められるのである。
なお、本実施例においては探触子1の各振動子により順
次探傷を行ったが、これに限らず、並設された振動子を
複数のブロックに分割し、各ブロック毎に増幅器2〜D
/A変換器12を設けると共に、各D/A変換器9.1
0.12からの出力を加算する回路を付設し、各プロ・
7りの先頭の振動子から順に同期して探傷するようにし
てもよい。また、各振動子の配列間隔を振動子による相
互干渉が発生しない距離としてこれらの振動子を配列し
、また、前記増幅器2及びゲート回路3を夫々振動子と
同数備え、各振動子が同時に探傷を行っても良い。
次探傷を行ったが、これに限らず、並設された振動子を
複数のブロックに分割し、各ブロック毎に増幅器2〜D
/A変換器12を設けると共に、各D/A変換器9.1
0.12からの出力を加算する回路を付設し、各プロ・
7りの先頭の振動子から順に同期して探傷するようにし
てもよい。また、各振動子の配列間隔を振動子による相
互干渉が発生しない距離としてこれらの振動子を配列し
、また、前記増幅器2及びゲート回路3を夫々振動子と
同数備え、各振動子が同時に探傷を行っても良い。
以上詳述した如く本発明に係る超音波探傷装置において
は、多数の振動子を並設してなる探触子と被検査材とを
振動子の配列方向と直交する方向へ相対移動させつつ垂
直探傷を行って、該相対移動方向及びこれに直交する方
向における欠陥の分布を検出し、該欠陥の分布より欠陥
の面積を求めることにより、高精度で欠陥の面積測定が
できるため被検査材の品質評価の信頼性が従来より向上
する等本発明は優れた効果を奏する。
は、多数の振動子を並設してなる探触子と被検査材とを
振動子の配列方向と直交する方向へ相対移動させつつ垂
直探傷を行って、該相対移動方向及びこれに直交する方
向における欠陥の分布を検出し、該欠陥の分布より欠陥
の面積を求めることにより、高精度で欠陥の面積測定が
できるため被検査材の品質評価の信頼性が従来より向上
する等本発明は優れた効果を奏する。
図面は本発明の一実施例を示すものであり、第1図は本
発明に係る超音波探傷装置のブロック図、第2図は欠陥
判定部の動作を示すタイミングチャド、第3図は面積測
定を説明するための模式図、第4図はゲート回路の説明
図である。 1・・・探触子 4・・・欠陥判定部 5・・・欠陥計
数器6・・・周方向欠陥判別器 14・・・クロック制
御器時 許 出願人 住友金属工業株式会社代理人
弁理士 河 野 登 夫拓 η
発明に係る超音波探傷装置のブロック図、第2図は欠陥
判定部の動作を示すタイミングチャド、第3図は面積測
定を説明するための模式図、第4図はゲート回路の説明
図である。 1・・・探触子 4・・・欠陥判定部 5・・・欠陥計
数器6・・・周方向欠陥判別器 14・・・クロック制
御器時 許 出願人 住友金属工業株式会社代理人
弁理士 河 野 登 夫拓 η
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被検査材と探触子とを相対移動させつつ、該探触子
より被検査材に対して超音波を垂直に入射し、その反射
エコーによって欠陥を検出する超音波探傷装置において
、 前記相対移動方向に対して直交する方向に 多数の振動子を並設してなる探触子と、 該探触子による検出結果に基づき前記相対 移動方向及びこれに直交する方向の欠陥の分布状態を求
め、この分布状態より欠陥の面積を求める手段とを具備
することを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1028490A JPH02208554A (ja) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1028490A JPH02208554A (ja) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02208554A true JPH02208554A (ja) | 1990-08-20 |
Family
ID=12250106
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1028490A Pending JPH02208554A (ja) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02208554A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0657501A (ja) * | 1992-07-28 | 1994-03-01 | Uni Charm Corp | 着用物品 |
JP2005315892A (ja) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | General Electric Co <Ge> | エーロフォイルを超音波検査する方法 |
JP2014528083A (ja) * | 2011-09-26 | 2014-10-23 | オンタリオ パワー ジェネレーション インコーポレーテッド | 超音波マトリックス検査 |
-
1989
- 1989-02-07 JP JP1028490A patent/JPH02208554A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0657501A (ja) * | 1992-07-28 | 1994-03-01 | Uni Charm Corp | 着用物品 |
JP2005315892A (ja) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | General Electric Co <Ge> | エーロフォイルを超音波検査する方法 |
JP2014528083A (ja) * | 2011-09-26 | 2014-10-23 | オンタリオ パワー ジェネレーション インコーポレーテッド | 超音波マトリックス検査 |
JP2017207517A (ja) * | 2011-09-26 | 2017-11-24 | オンタリオ パワー ジェネレーション インコーポレーテッド | 超音波マトリックス検査 |
US9970907B2 (en) | 2011-09-26 | 2018-05-15 | Ontario Power Generation Inc. | Ultrasound matrix inspection |
US10024824B2 (en) | 2011-09-26 | 2018-07-17 | Ontario Power Generation Inc. | Ultrasound matrix inspection |
KR20180116452A (ko) * | 2011-09-26 | 2018-10-24 | 온타리오 파워제너레이션 인코퍼레이티드 | 초음파 매트릭스 조사 장치 |
KR20190119187A (ko) * | 2011-09-26 | 2019-10-21 | 온타리오 파워제너레이션 인코퍼레이티드 | 도관을 초음파 스캐닝하는 장치 및 방법 |
US10466208B2 (en) | 2011-09-26 | 2019-11-05 | Ontario Power Generation Inc. | Ultrasound matrix inspection |
US11300547B2 (en) | 2011-09-26 | 2022-04-12 | Ontario Power Generations Inc. | Ultrasound matrix inspection |
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