JPH02208554A - Ultrasonic flaw detector - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は金属材の探傷を行う超音波探傷装置に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to an ultrasonic flaw detection device for detecting flaws in metal materials.
管の超音波探傷において、ラミネーションの検出及びク
ラッド剥離の検出には垂直探傷方法が有効な手段として
利用されている。従来の垂直探傷方法においては、以下
に述べる２つの方法が主に使用されている。In ultrasonic flaw detection of pipes, a vertical flaw detection method is used as an effective means for detecting lamination and clad separation. In the conventional vertical flaw detection method, the following two methods are mainly used.
第１の方法はエコー高さ評価法である。これは垂直探傷
により得られる欠陥エコーの大きさを、予め定められた
標準反射源よりの反射エコーの大きさと比較し、この比
較結果より欠陥の大きさを推定する方法である。The first method is the echo height evaluation method. This is a method in which the size of a defect echo obtained by vertical flaw detection is compared with the size of a reflected echo from a predetermined standard reflection source, and the size of the defect is estimated from the comparison result.
第２の方法は肉厚測定法である。これは管の肉厚を連続
的に測定し、欠陥の存在による肉厚の検出異常値により
欠陥を検出する方法であり、管を螺旋状に探傷する場合
に前記検出異常値が発生した回数を測定すれば、管の軸
方向に伸びる欠陥の長さの推定が可能である。The second method is a wall thickness measurement method. This is a method that continuously measures the wall thickness of a pipe and detects defects based on the detected abnormal value of the wall thickness due to the presence of a defect. When testing a pipe in a spiral pattern, the number of times the detected abnormal value occurs is calculated. Once measured, it is possible to estimate the length of the defect extending in the axial direction of the tube.
前記ラミネーション及びクラッド剥離等の欠陥の品質評
価においては、欠陥の面積を評価対象とするのが妥当で
ある。ところが、第１の方法では欠陥の面積を求めるこ
とが可能であるが、この面積は前記標準反射源の面積に
対する相対値であるため軸方向１周方向の拡がりが判定
できず、また、この方法においては欠陥が探触子よりも
大きい場合は面積に対する評価ができないという問題が
あった。In quality evaluation of defects such as lamination and cladding peeling, it is appropriate to use the area of the defect as an evaluation target. However, although it is possible to determine the area of the defect with the first method, since this area is a relative value to the area of the standard reflection source, it is not possible to determine the extent of the defect in one circumferential direction in the axial direction. However, there was a problem in that if the defect was larger than the probe, the area could not be evaluated.
一方、第２の方法では欠陥の長さの推定は可能であるが
、欠陥の面積の推定は不可能であるという問題があった
。On the other hand, the second method has a problem in that it is possible to estimate the length of the defect, but it is impossible to estimate the area of the defect.
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、多数
の振動子を並設してなる探触子と、被検査材とを前記振
動子の配列方向と直交する方向へ相対移動させつつ垂直
探傷を行って、該相対移動方向及びこれに直交する方向
における欠陥の分布を検出し、該欠陥の分布より欠陥の
面積を求めることにより、欠陥検出精度が高い超音波探
傷装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and includes a probe having a large number of transducers arranged side by side, and a material to be inspected while relatively moving in a direction perpendicular to the arrangement direction of the transducers. To provide an ultrasonic flaw detection device with high defect detection accuracy by performing vertical flaw detection to detect the distribution of defects in the direction of relative movement and in a direction orthogonal thereto, and finding the area of the defect from the distribution of the defects. With the goal.
本発明に係る超音波探傷方法においては、被検査材と探
触子とを相対移動させつつ、該探触子より被検査材に対
して超音波を垂直に入射し、その反射エコーによって欠
陥を検出する超音波探傷装置において、前記相対移動方
向に対して直交する方向に多数の振動子を並設してなる
探触子と、該探触子による検出結果に基づき前記相対移
動方向及びこれに直交する方向の欠陥の分布状態を求め
、この分布状態より欠陥の面積を求める手段とを具備す
ることを特徴とする。In the ultrasonic flaw detection method according to the present invention, while the material to be inspected and the probe are moved relative to each other, ultrasonic waves are perpendicularly incident on the material to be inspected from the probe, and defects are detected by the reflected echoes. An ultrasonic flaw detection device for detecting includes a probe including a large number of transducers arranged in parallel in a direction orthogonal to the relative movement direction, and a detection result based on the detection result of the probe. The present invention is characterized by comprising means for determining the distribution state of defects in orthogonal directions and determining the area of the defects from this distribution state.
多数の振動子を並設してなる探触子は、該振動子の配列
の順に夫々の振動子が探傷を行うことにより振動子の配
列方向の探傷ができる。この探触子は、前記配列方向と
直交する方向に移動しつつ前記探傷を行うことにより、
欠陥の分布状態が検知できるため、該欠陥の分布状態よ
り欠陥の面積を求められる。A probe including a large number of transducers arranged in parallel can perform flaw detection in the direction in which the transducers are arranged by each transducer performing flaw detection in the order in which the transducers are arranged. By performing the flaw detection while moving in a direction perpendicular to the arrangement direction, this probe
Since the distribution state of defects can be detected, the area of the defects can be determined from the distribution state of the defects.
以下本発明をその実施例を示す図面に基づき具体的に説
明する。第１図は本発明に係る超音波探傷装置のブロッ
ク図である。図中２０は鋼管であり、軸心周りに回転し
ながら軸方向へ移送される。鋼管２０の移送経路には多
数（ｎ個）の小型の振動子を前記軸方向へ並設してなる
探触子１が鋼管２０に対して接触した状態で設けられて
おり、探触子１は鋼管２０の回転及び移送により鋼管２
０を螺旋状に探傷するようになっている。そして探触子
１は鋼管２０の垂直探傷を行う状態に設定する。これに
より１回の探傷において探触子１の振動子の面積に相当
する範囲の探傷が有効となり、これを軸方向へ螺旋状に
連続させることにより、鋼管２０の全周全長の探傷を行
う。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be specifically described below based on drawings showing embodiments thereof. FIG. 1 is a block diagram of an ultrasonic flaw detection apparatus according to the present invention. In the figure, 20 is a steel pipe, which is transported in the axial direction while rotating around the axis. A probe 1 consisting of a large number (n) of small oscillators arranged in parallel in the axial direction is provided in the transfer path of the steel pipe 20 in contact with the steel pipe 20. The steel pipe 2 is rotated and transferred by the steel pipe 20.
0 is detected in a spiral manner. Then, the probe 1 is set to perform vertical flaw detection of the steel pipe 20. This makes it possible to effectively detect flaws in a range corresponding to the area of the vibrator of the probe 1 in one flaw detection, and by continuing this in a spiral in the axial direction, flaw detection is performed over the entire circumference of the steel pipe 20.
このような探傷の順序及びタイミングはクロック制御器
１４により制御される。クロック制御器１４には、クロ
ック回路１３より一定周期で出力されるクロックパルス
信号が入力されている。クロック制御器１４は入力され
たクロックパルス信号を後述する如く分割制御し、この
分割制御された振動子の数ｎと同数の連続したパルス信
号り、−Ｄ、をパルス発振器１５へ出力する。The order and timing of such flaw detection are controlled by a clock controller 14. A clock pulse signal output from the clock circuit 13 at a constant cycle is input to the clock controller 14 . The clock controller 14 divides and controls the input clock pulse signal as described later, and outputs the same number of continuous pulse signals, -D, to the pulse oscillator 15 as the number n of vibrators subjected to the divided control.
パルス発振器１５は、クロック制御器１４より入力され
るパルス信号り、〜Ｄ、、の周期毎に、ｎ個の振動子を
有する探触子１の第１振動子より第ｎ振動子までの各振
動子を励振させるパルス信号を探触子１の各振動子へ順
次ば力する。The pulse oscillator 15 receives a pulse signal inputted from the clock controller 14, and generates each of the signals from the first to the nth oscillators of the probe 1, which has n oscillators, every cycle of ~D. A pulse signal that excites the transducers is sequentially applied to each transducer of the probe 1.
探触子１では、パルス発振器１５より入力されたパルス
信号により前述の如く各振動子順次が励振され、前記周
期毎に超音波を鋼管２０へ入射させる。In the probe 1, each transducer is sequentially excited as described above by a pulse signal input from the pulse oscillator 15, and ultrasonic waves are made to enter the steel pipe 20 at each cycle.
このように鋼管２０へ入射させられた超音波は表面、底
面及び疵等の反射源からの反射エコーとして前記探触子
ｌにより検出される。この検出信号は増幅器２へ入力さ
れる。The ultrasonic waves incident on the steel pipe 20 in this manner are detected by the probe 1 as reflected echoes from reflection sources such as the surface, bottom, and flaws. This detection signal is input to amplifier 2.
増幅器２へ入力された反射エコー信号は増幅され、ゲー
ト回路３へ出力される。ゲート回路３では、第４図に示
す如（、表面からの反射エコー信号Ｓと底面からの反射
エコー信号Ｂとに基づいて設定されるゲート信号により
、疵等の反射源からの反射エコー信号Ｆを選択し、かつ
その大きさを判定レベルＧと比較し、この比較結果によ
り反射エコー信号が判定レベルＧよりも大きいと判定さ
れた場合、前記反射エコー信号を欠陥エコー信号と見な
し、欠陥判定部４の第１欠陥判定器４１〜第ｎ欠陥判定
器４ｎの全てのものにハイレベル信号を出力する。The reflected echo signal input to the amplifier 2 is amplified and output to the gate circuit 3. In the gate circuit 3, as shown in FIG. is selected and its magnitude is compared with the determination level G. If the reflected echo signal is determined to be larger than the determination level G based on the comparison result, the reflected echo signal is regarded as a defective echo signal, and the defect determining section A high level signal is output to all of the first defect determiner 41 to the nth defect determiner 4n of No. 4.
また、クロック制御器１４は前記パルス発振器１５へ出
力した分割制御されたパルス信号り、〜Ｄｎの周期と同
一の周期にて第１振動子〜第ｎ振動子に対応して欠陥判
定部４に設けた第１欠陥判定器４１〜第ｎ欠陥判定器４
ｎへ順次ハイレベル信号を出力する。Further, the clock controller 14 sends the split-controlled pulse signals outputted to the pulse oscillator 15 to the defect determination unit 4 in correspondence with the first to nth oscillators at the same period as the period ~Dn. The provided first defect determiner 41 to n-th defect determiner 4
A high level signal is sequentially output to n.
欠陥判定部４の第１欠陥判定器４１〜第ｎ欠陥判定器４
ｎではゲート回路３より入力される信号及びクロック制
御器１４より入力される信号が共にハイレベルになった
場合、夫々が欠陥計数器５及び周方向欠陥判別器６ヘハ
イレベル信号を出力する。The first defect determiner 41 to the nth defect determiner 4 of the defect determiner 4
In n, when the signal input from the gate circuit 3 and the signal input from the clock controller 14 both become high level, each outputs a high level signal to the defect counter 5 and the circumferential defect discriminator 6.
このハイレベル信号は後述するりセント信号Ｃが欠陥判
定部４に入力されるまで欠陥判定部４に保持され、該リ
セット信号Ｃが入力されると、欠陥判定部４の出力信号
はリセットされるようになっている。This high level signal is held in the defect determining section 4 until a cent signal C, which will be described later, is input to the defect determining section 4, and when the reset signal C is input, the output signal of the defect determining section 4 is reset. It looks like this.
次に前述の如き欠陥判定部４における欠陥判定方法を第
２図に示すタイミングチャートにより説明する。同図（
ａ）はクロック回路１３から出力される一定周期のクロ
ックパルス信号を示しており、クロック制御器１４はこ
のクロック回路出力に基づき、同図（ｂ）に示す如く、
後述するリセット判定器１１へ出力するパルス信号Ａと
、前述した欠陥判定部４及び後述する欠陥計数器５並び
に周方向欠陥判定器６へ出力するリセット信号Ｃと、パ
ルス発振器１５及び欠陥判定部４へ出力する振動子の数
ｎと同数の連続したパルス信号Ｄ （Ｄ、−Ｄ、、）と
をこの順に分割制御して出力する。クロック制御器１４
より欠陥判定部４ヘパルス信号り、〜Ｄ、が一定周期で
出力されると、これに対応して同図ｔｅｌ〜（１１４１
に示す如く第１欠陥判定器４１〜第ｎ欠陥判定器４ｎに
はそれぞれ１つのパルス信号り、、Ｄ、・・・Ｄ、ｌが
順次一定周期で入力される。Next, a method of determining defects in the defect determining section 4 as described above will be explained with reference to a timing chart shown in FIG. Same figure (
(a) shows a clock pulse signal of a constant period output from the clock circuit 13, and the clock controller 14 uses the clock pulse signal as shown in (b) of the same figure based on this clock circuit output.
A pulse signal A outputted to the reset determination unit 11 described later, a reset signal C outputted to the defect determination unit 4 described above, a defect counter 5 described later and a circumferential defect determination unit 6, a pulse oscillator 15 and the defect determination unit 4. The same number of continuous pulse signals D (D, -D, . Clock controller 14
When the pulse signal RI, ~D, is outputted to the defect determination unit 4 at regular intervals, the same figure tel ~ (1141
As shown in the figure, one pulse signal 1, D, .
また、欠陥が存在する場合は同図（ｆ）に示す如くゲー
ト回路３より、前記パルス信号り、−Ｄ、ｌに同期した
欠陥エコー信号Ｅ１〜Ｅｎが第１欠陥判定器４１〜第ｎ
欠陥判定器４ｎの全てに入力される。In addition, when a defect exists, as shown in FIG.
It is input to all of the defect determination devices 4n.
第１欠陥判定器４１〜第ｎ欠陥判定器４ｎにおいて、パ
ルス信号及び欠陥エコー信号であるＤ＋、Ｅ＋、Ｄ、、
Ｅ、・・・Ｄ、、Ｅ、の信号の同期が夫々においてとれ
れば同図（ｇ１〜（１）に示す如く第１欠陥判定器４１
〜第ｎ欠陥判定器４ｎの出力を夫々ハイレベルとする。In the first defect determiner 41 to the nth defect determiner 4n, pulse signals and defect echo signals D+, E+, D, .
If the signals of E, . . . D, , E are synchronized, the first defect determiner 41
- The outputs of the n-th defect determiner 4n are respectively set to high level.
この出力はクロック制御器１４から出力されるリセット
信号Ｃ入力があった場合、リセットされ、再び同様の欠
陥判定が繰り返されるようになっている。This output is reset when a reset signal C output from the clock controller 14 is input, and the same defect determination is repeated again.
欠陥計数器５は鋼管２０の軸方向の欠陥検出数の計数を
行うものであり−、該欠陥計数器５では単色子１の第１
振動子〜第ｎ振動子による一巡の探傷に伴う欠陥判定部
４の欠陥判定が第１欠陥判定器４１〜第ｎ欠陥判定器４
ｎまで一巡し、前記クロック制御器１４よりリセット信
号Ｃが入力されるまでの間、欠陥判定部４より入力され
るハイレベル信号の数を計数する。そして、この計数値
を積算器７及びＤ／＾変換器９へ出力している。この計
数値は探触子１の第１振動子〜第ｎ振動子による探傷が
一巡するまでの間における欠陥の軸方向に存在する欠陥
数を示しており、Ｄ／へ変換器９は入力された計数値を
アナログ信号に変換して欠陥の軸方向の長さ情報として
出力する。The defect counter 5 counts the number of detected defects in the axial direction of the steel pipe 20.
The defect determination unit 4 performs defect determination by the first defect determination device 41 to the nth defect determination device 4 during one round of flaw detection using the vibrator to the nth vibrator.
The number of high-level signals inputted from the defect determination unit 4 is counted until the reset signal C is inputted from the clock controller 14. This counted value is then output to the integrator 7 and the D/^ converter 9. This count value indicates the number of defects that exist in the axial direction during the period from the first to the nth transducer of the probe 1, and is input to the converter 9 into D/. The counted value is converted into an analog signal and output as axial length information of the defect.
周方向欠陥判別器６では欠陥判定部４より入力されるハ
イレベル信号の有無を判別し、前記クロック制御部１４
からのリセット信号Ｃが入力されるまでに１つ以上のハ
イレベル信号が入力されていると判別すれば、欠陥が周
方向に連続しているものと判断し、パルス積算器８及び
後述するリセット判定器１１ヘハイレベル信号を出力す
る。このハイレベル信号は前記リセット信号Ｃが入力さ
れるまで保持される。The circumferential defect discriminator 6 determines the presence or absence of a high level signal input from the defect determination section 4, and the clock control section 14
If it is determined that one or more high-level signals have been input before the reset signal C is input from the pulse integrator 8, it is determined that the defect is continuous in the circumferential direction, and the pulse integrator 8 and the reset A high level signal is output to the determiner 11. This high level signal is held until the reset signal C is input.
前記パルス積算器８では周方向欠陥判別器６より入力さ
れるハイレベル信号を積算し、後述する積算リセット信
号が入力されるまでの間、積算結果をＤ／Ａ変換器１２
へ出力し、積算リセット信号が入力されると積算値をリ
セットする。この積算値は周方向へ連続する欠陥検出数
、即ち欠陥の周方向への広がりを示している。Ｄ／Ａ変
換器１２へ入力された積算結果は、アナログ信号に変換
され、欠陥の周方向の長さ情報として出力される。The pulse integrator 8 integrates the high level signal input from the circumferential defect discriminator 6, and transmits the integration result to the D/A converter 12 until an integration reset signal, which will be described later, is input.
When the integration reset signal is input, the integration value is reset. This integrated value indicates the number of consecutive defects detected in the circumferential direction, that is, the spread of defects in the circumferential direction. The integration result input to the D/A converter 12 is converted into an analog signal and output as circumferential length information of the defect.
また、前記積算器７では欠陥計数器５より入力される軸
方向の欠陥数を周方向に渡って積算することにより欠陥
数の総和を得られるようになっている。この欠陥数の総
和は欠陥全体の大きさの情報である。積算動作は後述す
る積算リセット信号が入力されるまで継続され、積算リ
セット信号がこの間積算結果をＤ／Ａ変換器１０へ出力
し、積算リセット信号が入力されると積算値をリセット
する。Further, the integrator 7 can obtain the total number of defects by integrating the number of defects in the axial direction input from the defect counter 5 in the circumferential direction. The total number of defects is information on the size of the entire defect. The integration operation continues until an integration reset signal, which will be described later, is input. During this time, the integration result is output to the D/A converter 10, and when the integration reset signal is input, the integration value is reset.
Ｄ／Ａ変換器１０に入力された積算結果はアナログ信号
に変換されて、欠陥の面積情報として出力される。The integration result input to the D/A converter 10 is converted into an analog signal and output as defect area information.
前記リセット判定器１１は、欠陥計数器５の出力を積算
する積算器７及び周方向欠陥判別器６の出力パルスを積
算するパルス積算器８の積算値をリセットするための積
算リセット信号を、積算器７及びパルス積算器８へ出力
させるか否かを判定するものである。すなわち、リセッ
ト判定器１１には、前述したクロック発生回路１３で分
割制御されたパルス信号Ａ（第２図（ｂ）参照）が一定
周期で人力されており、このパルス信号Ａが入力された
ときに、周方向欠陥判別器６より欠陥が存在する場合に
入力されるパルス信号が入力されていないとき、即ち欠
陥を検出していなければ、前記積算リセ７）信号を積算
器７及びパルス積算器８へ出力するように動作する。The reset determiner 11 integrates an integration reset signal for resetting the integrated values of an integrator 7 that integrates the output of the defect counter 5 and a pulse integrator 8 that integrates the output pulses of the circumferential defect discriminator 6. This is for determining whether or not to output to the pulse integrator 7 and pulse integrator 8. That is, the pulse signal A (see FIG. 2(b)) that is divided and controlled by the clock generation circuit 13 described above is manually inputted to the reset determination device 11 at a constant cycle, and when this pulse signal A is inputted, When the pulse signal that is input when a defect exists is not input from the circumferential defect discriminator 6, that is, when no defect is detected, the integration reset 7) signal is sent to the integrator 7 and the pulse integrator. It operates to output to 8.
斯かる超音波探傷装置においては、探触子ｌの振動子の
列の方向の長さが鋼管２０の軸方向に対する検出幅であ
り、この検出幅で周方向へ探傷を進めて行く。この探傷
において鋼管２０に欠陥が存在する場合、欠陥の面積は
検出した欠陥エコーの総数として得られ、欠陥の軸方向
及び周方向への長さは欠陥エコーの軸方向及び周方向へ
の検出繰り返し数として得られる。In such an ultrasonic flaw detection device, the length of the probe l in the direction of the row of transducers is the detection width in the axial direction of the steel pipe 20, and flaw detection is performed in the circumferential direction using this detection width. If a defect exists in the steel pipe 20 during this flaw detection, the area of the defect is obtained as the total number of detected defect echoes, and the length of the defect in the axial and circumferential directions is calculated by repeating detection of the defect echoes in the axial and circumferential directions. Obtained as a number.
次に本発明装置の探傷結果より欠陥の長さ及び面積を求
める方法について説明する。第３図は欠陥の長さ及び面
積の測定を説明するための模式図である。図において探
触子１は一辺の長さが７丁（ｍｍ）の正方形であるｎ個
の振動子２Ｌ２１・・・を鋼管の軸方向に並設してなり
、欠陥３０に対してＶ（鰭／パルス・振動子）の速度で
、白抜矢符で示す鋼管の周方向へ移動しているものとす
る。但し、Ｖはｎ個の振動子２１．２１・・・による探
傷が一巡するまでに探触子ｌが周方向に移動する距離を
示している。Next, a method for determining the length and area of a defect from the flaw detection results of the apparatus of the present invention will be explained. FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the measurement of the length and area of a defect. In the figure, the probe 1 is made up of n square transducers 2L21 with a side length of 7 mm arranged side by side in the axial direction of the steel pipe, /pulse/oscillator) in the circumferential direction of the steel pipe indicated by the white arrow. However, V indicates the distance that the probe l moves in the circumferential direction until the flaw detection by the n vibrators 21, 21, . . . completes one round.
このような場合において、ｎ子の振動子２１．２１・・
・による−巡の探傷毎にカウントされる欠陥計数器５の
カウント数のうち最も多いカウント数をｔ。In such a case, the n-element oscillators 21, 21...
・T is the largest count among the counts of the defect counter 5 counted for each flaw detection cycle.
とすると、欠陥３０の軸方向長さ１１は下記（１１式の
如く示される。Then, the axial length 11 of the defect 30 is expressed as shown below (Equation 11).
１、 ＝Ｊａ −ｔ ｌ＋１ （ｍｍ）
−（１）また、周方向に連続した欠陥が存
在する場合にパルス積算器８で積算される積算値をｔ７
とすると、欠陥３０の周方向長さ１７は下記（２）式の
如く示される。1, =Ja −t l+1 (mm)
-(1) Also, when there are continuous defects in the circumferential direction, the integrated value integrated by the pulse integrator 8 at t7
Then, the circumferential length 17 of the defect 30 is expressed by the following equation (2).
ｌ 、＝ｖ ・ ｔ＋ｓ （璽量り
・・・（２）更に、積算リセット信号が入力されるまで
の間に積算器７で積算される積算値をｔ３とすると、欠
陥３０の面積Ｓは下記（３）式の如く示される。l , = v ・ t + s (weighing
(2) Furthermore, if the integrated value integrated by the integrator 7 until the integration reset signal is input is t3, the area S of the defect 30 is expressed as shown in equation (3) below.
Ｓ＝／丁・ｖ −ｔ 、 ・ｃｘ （ｗｍ”）
−（３１但し、α：補正係数
このようにして、本発明においては欠陥の長さ及び面積
が求められるのである。S = / ding・v −t, ・cx (wm”)
-(31, however, α: correction coefficient In this way, the length and area of the defect are determined in the present invention.
なお、本実施例においては探触子１の各振動子により順
次探傷を行ったが、これに限らず、並設された振動子を
複数のブロックに分割し、各ブロック毎に増幅器２〜Ｄ
／Ａ変換器１２を設けると共に、各Ｄ／Ａ変換器９．１
０．１２からの出力を加算する回路を付設し、各プロ・
７りの先頭の振動子から順に同期して探傷するようにし
てもよい。また、各振動子の配列間隔を振動子による相
互干渉が発生しない距離としてこれらの振動子を配列し
、また、前記増幅器２及びゲート回路３を夫々振動子と
同数備え、各振動子が同時に探傷を行っても良い。In this example, flaw detection was performed sequentially using each transducer of the probe 1, but the present invention is not limited to this.
/A converter 12 is provided, and each D/A converter 9.1
A circuit is attached to add the output from 0.12, and each professional
The flaw detection may be performed in synchronization starting from the first transducer in the list. In addition, the transducers are arranged at such a distance that mutual interference between the transducers does not occur, and the amplifiers 2 and gate circuits 3 are provided in the same number as the transducers, so that each transducer can be inspected at the same time. You may do so.
以上詳述した如く本発明に係る超音波探傷装置において
は、多数の振動子を並設してなる探触子と被検査材とを
振動子の配列方向と直交する方向へ相対移動させつつ垂
直探傷を行って、該相対移動方向及びこれに直交する方
向における欠陥の分布を検出し、該欠陥の分布より欠陥
の面積を求めることにより、高精度で欠陥の面積測定が
できるため被検査材の品質評価の信頼性が従来より向上
する等本発明は優れた効果を奏する。As described in detail above, in the ultrasonic flaw detection apparatus according to the present invention, the probe formed by arranging a large number of transducers in parallel and the material to be inspected are moved vertically while relative to each other in a direction perpendicular to the arrangement direction of the transducers. By performing flaw detection, detecting the distribution of defects in the direction of relative movement and in the direction perpendicular to this, and determining the area of defects from the distribution of defects, it is possible to measure the area of defects with high accuracy, making it possible to The present invention has excellent effects such as improved reliability of quality evaluation compared to the conventional method.
図面は本発明の一実施例を示すものであり、第１図は本
発明に係る超音波探傷装置のブロック図、第２図は欠陥
判定部の動作を示すタイミングチャド、第３図は面積測
定を説明するための模式図、第４図はゲート回路の説明
図である。
１・・・探触子 ４・・・欠陥判定部 ５・・・欠陥計
数器６・・・周方向欠陥判別器 １４・・・クロック制
御器時 許 出願人 住友金属工業株式会社代理人
弁理士 河 野 登 夫拓
ηThe drawings show one embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a block diagram of the ultrasonic flaw detection device according to the present invention, FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the defect determination section, and FIG. 3 is an area measurement diagram. FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the gate circuit. 1... Probe 4... Defect determination unit 5... Defect counter 6... Circumferential defect discriminator 14... Clock controller time Applicant Sumitomo Metal Industries Co., Ltd. Agent
Patent Attorney Noboru Kono η
Claims (1)
より被検査材に対して超音波を垂直に入射し、その反射
エコーによって欠陥を検出する超音波探傷装置において
、 前記相対移動方向に対して直交する方向に 多数の振動子を並設してなる探触子と、 該探触子による検出結果に基づき前記相対 移動方向及びこれに直交する方向の欠陥の分布状態を求
め、この分布状態より欠陥の面積を求める手段とを具備
することを特徴とする超音波探傷装置。[Claims] 1. An ultrasonic device in which, while the material to be inspected and the probe are moved relative to each other, ultrasonic waves are perpendicularly incident on the material to be inspected from the probe, and defects are detected by the reflected echoes. The sonic flaw detection device includes: a probe including a large number of transducers arranged in parallel in a direction perpendicular to the relative movement direction; 1. An ultrasonic flaw detection device comprising means for determining the distribution state of defects in the area and determining the area of the defects from this distribution state.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1028490A JPH02208554A (en) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | Ultrasonic flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1028490A JPH02208554A (en) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | Ultrasonic flaw detector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02208554A true JPH02208554A (en) | 1990-08-20 |
Family
ID=12250106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1028490A Pending JPH02208554A (en) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | Ultrasonic flaw detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02208554A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0657501A (en) * | 1992-07-28 | 1994-03-01 | Uni Charm Corp | Wearing article |
| JP2005315892A (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | General Electric Co <Ge> | Method for ultrasonically inspecting aerofoil |
| JP2014528083A (en) * | 2011-09-26 | 2014-10-23 | オンタリオ パワー ジェネレーション インコーポレーテッド | Ultrasonic matrix inspection |
-
1989
- 1989-02-07 JP JP1028490A patent/JPH02208554A/en active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0657501A (en) * | 1992-07-28 | 1994-03-01 | Uni Charm Corp | Wearing article |
| JP2005315892A (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | General Electric Co <Ge> | Method for ultrasonically inspecting aerofoil |
| JP2014528083A (en) * | 2011-09-26 | 2014-10-23 | オンタリオ パワー ジェネレーション インコーポレーテッド | Ultrasonic matrix inspection |
| JP2017207517A (en) * | 2011-09-26 | 2017-11-24 | オンタリオ パワー ジェネレーション インコーポレーテッド | Ultrasound matrix inspection |
| US9970907B2 (en) | 2011-09-26 | 2018-05-15 | Ontario Power Generation Inc. | Ultrasound matrix inspection |
| US10024824B2 (en) | 2011-09-26 | 2018-07-17 | Ontario Power Generation Inc. | Ultrasound matrix inspection |
| KR20180116452A (en) * | 2011-09-26 | 2018-10-24 | 온타리오 파워제너레이션 인코퍼레이티드 | Ultrasound matrix inspection |
| KR20190119187A (en) * | 2011-09-26 | 2019-10-21 | 온타리오 파워제너레이션 인코퍼레이티드 | A device and method for performing ultrasound scanning of a conduit |
| US10466208B2 (en) | 2011-09-26 | 2019-11-05 | Ontario Power Generation Inc. | Ultrasound matrix inspection |
| US11300547B2 (en) | 2011-09-26 | 2022-04-12 | Ontario Power Generations Inc. | Ultrasound matrix inspection |
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