JPH02168372A - 把数検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、例えば金融機関において用いられる紙幣計数
装置などにおいて、搬送される紙幣の束に包含される把
数を検出する把数検出装置に関する。

（従来の技術） 従来、紙幣計数手段の１つとして、搬送されてくる紙幣
（紙葉類）の束の妥当性を検出することにより、束に含
まれている把の数を検出する把数検出装置がある。ここ
で、「把」とは、紙幣を一定枚数（例えば１００枚）束
ねて小帯で巻いたものをいい、「束」とは、把を一定数
（例えば１０把）束ねて大帯で巻いたものをいう。

このような把数検出装置は、束の重さによりその束の妥
当性を検出する計量方式を採用するものである。すなわ
ち、検出の対象とする束の重量を測定し、この測定した
重量が、予め紙幣の種類毎に用意された重量の上限値お
よび下限値（比較デ−タ）の範囲内に在るか否かを調べ
、これらの範囲内になければその束には所定の上敷が含
まれていないと判断するものである。

しかしながら、このような重量により上敷を検出するも
のは、紙幣に貼られたテープ等の異物や計ｎ１時の湿度
等の影響で紙幣の重量が変化することにより、設定され
た上限値および下限値の範囲内から逸脱したり、あるい
は本来は所定の重量に満たないにも拘らず上記上限値お
よび下限値の範囲内入ってしまい誤検出を生じるという
欠点があった。また、紙幣の種類に応じて重量の上限値
お、よび゛下限値を設定しなければならず、その操作が
面倒であり、さらに、重量を測定するために搬送されて
いる束を一時的に停止させる必要があり、処理速度に限
界がある等の欠点があった。

（発明が解決しようとする課８） 本発明は、上記したように重量により上敷を検知するも
のは紙葉類に付着された異物や計測時の湿度等の影響で
紙葉類の重量が変化することにより正確な計測ができず
誤検出が発生し、また検出する紙葉類の種類に応じて比
較データを設定しなければならず、その操作が面倒であ
り、さらに重量測定のために搬送を一時的に停止させる
必要があるので処理速度に限界がある等の欠点を解消す
るためになされたもので、紙葉類の重量に影響されずに
、簡単な操作により正確な上敷を高速度で検出すること
のできる上敷検出装置を提供することを目的としている
。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明の上敷検出装置は、所定枚数の紙葉類を小事で巻
いてなる把を所定数束ねて大帯で巻いてなる束を搬送す
る搬送手段と、この搬送手段により搬送される前記束に
光を照射して走査する走査手段と、この走査手段により
光照射された前記束からの反射光を電気信号に変換して
走査信号を得る光電変換手段と、この光電変換手段から
の走査信号の変化点により把と把との境目を検出する境
目検出手段と、この境目検出手段により検出された境目
の数に基づき、前記束に包含される上敷を検出する上敷
検出手段とを具備したことを特徴とする。

（作用） 本発明は、搬送される紙葉類の束に光を照射して走査を
行ゝい、この光照射された束からの反射光を光電変換す
ることにより走査信号を得、この走査信号に含まれる変
化点を把と把との境目に生じる暗部に基づく境目信号と
して検出することにより上敷を検出するようにしたもの
である。

（実施例） 以下、本発明の一実施例に１いて図面を参照して説明す
る。第１図は光学系の概略構成を示すもので、光学系ベ
ース１０、半導体レーザ１１、コリメータレンズ１２、
正８面体ミラー１３、反射ミラー１４、フォトセル１５
．１６．１７．１８および標準板１９．２０により構成
されている。

光学系ベース１０上に配設される半導体レーザ（走査手
段）１１は、例えば７８０　ｎＩｌの近赤外波長のレー
ザ光を発生するものである。この半導体レーザ１１が発
生するレーザ光はコリメータレンズ１２を通して、図示
矢印Ｃ方向へ一定速度で回転する正８面体ミラー（走査
手段）１３の側面部に照射されるようになっている。そ
して、この正８面体ミラー１３からの反射光は、その正
８面体ミラー１３の回転動作に伴って一定方向（図示矢
印Ａ方向）の走査ビーム光を構成するようになっている
。すなわち、この走査ビーム光は、上記紙幣の束１の搬
送方向Ｂに対して略直角になるように走査されるように
なっている。

上記正８面対ミラー１３からの走査ビーム光は、固定し
て配設されている反射ミラー１により反射され、光学系
下を搬送される紙幣の束１に照射されるようになってい
る。上記コリメータレンズ１２は、半導体レーザ１１か
らの光をこの束１の上面で結像するように調整されてい
る。

上記レーザ光を照射された束１が反射する拡散光は、そ
の斜め上方に設けられた４個のフォトセル１５．１６．
１７．１８に導かれるようになっている。これら４個の
フォトセル１５．１６、１７．１８の前面に位置する光
学系ベース１０には、第２図に示すように、それぞれ、
７００ないし１２００ｎ■の領域の波長の光を透過させ
るフィルタ１５ａ、１６ａ、１７ａ、１８ａが設けられ
ており、さらに、これらフォトセル１５．１６．１７．
１８とフィルタ１５　ａ　ｓ　１６　ａ　ｓ　１７　ａ
　５１８ａとの間には集光レンズ１５ｂ、１６ｂ。

１７ｂ、１８ｂが設けられている。そして、上記４個の
フォトセル１５．１６．１７．１８は、フィルタ１５ａ
、１６ａ、１７ａ、１８ａおよび集光レンズ１５ｂ、１
６ｂ、１７ｂ、１８ｂを介して受光した光の強度に応じ
た電気信号（走査信号）を出力するようになっている。

また、１９および２０は標準板であり、搬送される束１
の上面と路間−の高さに設けられ、これらの間を束１が
搬送されるようになっている。標準板１９は、フォトセ
ル１５．１６．１７．１８から出力される光電変換信号
の取込み開始タイミングを検知するために使用されるも
ので、標準板２０は、例えばフォトセル１５．１６．１
７．１８の自己診断のために用いられるものである。

また、２１は搬送路（搬送手段）で、上記光学系下に設
けられ、束１を載置して図示矢印Ｂ方向へ所定速度で搬
送するものである。

なお、図中、３は把２に巻かれた小事であり、４．５は
束１に巻かれた大帯である。

第２図は、各フォトセル１５．１６．１７．１８が検出
する検出視野を示すものである。すなわち、フォトセル
１５は範囲Ｅの領域、フォトセル１６は範囲Ｆの領域、
フォトセル１７は範囲Ｇの領域、フォトセル１８は範囲
Ｈの領域に対応する反射光を、それぞれ光電変換するよ
うになっている。このように、複数の検出領域Ｅ−Ｈを
、その斜め上方に設けた複数のフォトセル１５．１６．
１７．１８で分担して検出するように構成することによ
り、次に述べるように、小事３に描かれた文字あるいは
図形等の影響を除去して把２と把２との境目を正確に検
出することができるようになっている。

把２と把２の境目の検出原理について第３図および第４
図を参照して説明する。すなわち、把２の検出は、把２
に巻かれた小事３にレーザ光を照射し、その反射光を光
電変換して把２と把２との間に形成される暗部に対応し
て変化する信号（境１」信号）を検出することにより行
う。この際、小事３に押されたスタンプによる文字ある
いは図形等の影響を除去して把２を検知するようになっ
ている。

すなわち、小事３に照射したレーザ光による反射光を、
その小事３の真上に設けられた受光器２５で受光した場
合、第４図（ｂ）に示すように、把２と把２との間に形
成される暗部に基づく信号Ｓ１の他に、小事３に押され
たスタンプによる文字あるいは図形等３ａによりレーザ
光が吸収され、これによって反射率が小さくなったこと
による信号Ｓ２が出現し、上記暗部に基づく信号Ｓ１と
の区別ができなくなる。一方、小事３に照射したレーザ
光による反射光を、その小事３の斜め上方に設けられた
受光器２６で受光するようにすると、上記小事３に押さ
れたスタンプによる文字あるいは図形等３ａからの反射
光の影響は少なくなり、第４図（ｃ）に示すように、把
２と把２との間に形成される暗部に基づく境目信号Ｓ１
は明確に暗部信号として現われるが、小事３に押された
スタンプによる文字等３ａによる信号Ｓ２は極端に弱め
られ、これら信号１と信号Ｓ２との区別は充分できるも
のとなっている。かかる理由により、第１図および第２
図に示すように、検出領域に対してフォトセルが斜め上
方に位置するように、検出領域およびフォトセルを複数
に分割して配設している。また、可視領域の模様に関し
ては、レーザ光とフィルタ１５ｂ、１６ｂ、ｌｂ、１８
ｂの波長域により影響を除去するようになっている。

上記のように、把２の上面からの反射光を、その斜め上
方で受光した各フォトセル１５．１６．１７．１８から
の出力波形を第５図（ｂ）ないしくｅ）に示す。これら
各信号は、後述する信号合成回路３０で合成され、１つ
の走査信号が生成されるようになっている。すなわち、
フォトセル１５の下方部に配設されている標準板１９の
反射光をフォトセル１５で受光して電気信号に変換し、
その信号を基準（トリガー）として以下１こ続く各フォ
トセル１５．１６．１７．１８からの信号を合成するこ
とにより第５図（ｆ）に示すような境目信号を得ること
ができるようになっている。

第６図は本実施例の電気回路のブロック図であり、フォ
トセル１５．１６．１７．１８の各出力信号は、それぞ
れ増幅器１５　ｃ　ｓ　１６　ｃ　ｓ　１７　ｃ　５１
８ｃにより増幅され、信号合成部３０におくられる。ま
た、標準板１９を検知したフォトセル１５からの信号は
、増幅器１５ｃにより増幅された後、走査方向タイミン
グ発生部３４に送られる。

走査方向タイミング発生部３４は、この信号を受取って
走査方向タイミング信号を生成し、図示各部の制御タイ
ミングとして送出するようになっている。上記信号合成
部３０では、上記したように、走査方向タイミング信号
に従って増幅器１５Ｃ１１６ｃ、１７ｃｖ　１８ｃから
の各信号を合成し、第５図（ｆ）に示すような境目信号
を生成する。

この信号合成部３０からの出力信号は、シェージング補
正回路３１にて、フォトセル１５．１６．１７．１８と
検出位置との距離の関係で信号の繋ぎ目付近に生じる歪
みが除去されるようになっている。このシェージング補
正回路３１からの信号は、ローパスフィルタ３２により
高周波成分が除去された後、ＡＧＣ回路３３に送られる
。このＡＧＣ回路３３は、レーザ光の低下による悪影響
を除去するため、標準板１９の反射光量の変化に比例し
なＡＧＣ補正を行なうものである。そして、このＡＧＣ
回路３３の出力信号は、２値化信号変換回路３５により
２値化されて人寄信号が生成され、また、２値化信号変
換回路３６により２値化されて束幅信号が生成され、さ
らに、増幅回路３７で所定の増幅が行われた後、微分回
路３８で微分され、２値化信号変換回路３９で２値化さ
れて境目信号が生成される。

上記２値化信号変換回路３５．３６．３９における２値
化は、所定のレベルの電圧（スライス電圧）と入力信号
とを比較することにより行われ、スライス電圧よりも高
い電圧の人力信号が得られたときに　°１°に変換され
るようになっている。

第７図は、上記２値化信号変換回路３９から得られる信
号の一例を示す。同図（ａ）に示す走査ａ１つまり小事
３や大帯５がない部分の走査を行なった時の各部の信号
は同図（ｂ）に示す通りである。つまり、信号合成部３
０から出力される合成信号Ｓ　ＩＧＩがシェージング補
正回路３１、ローパスフィルタ３２、ＡＧＣ回路３３、
および増幅回路３７を経由して微分回路３８に供給され
ると、微分回路３８からは、その立上がりの変化時点を
捕えて変化する微分信号５ＩＧ２が出力される。この微
分信号Ｓ　ＩＯ２が、２値化信号変換回路３９に供給さ
れることにより所定のスライス電圧でスライスされて２
値化された境目信号５ＩＧ３として出力される。同様に
、第７図（ａ）に示す走査ｂ１つまり大帯５の上を走査
した時の各部の信号は同図（Ｃ）に示す通りである。つ
まり、信号合成部３０から出力される合成信号５ＩＧＩ
が、上記と同様の回路を経由して微分回路３８に供給さ
れると、微分回路３８からは、その立上がりの変化時点
を捕えて変化する微分信号５ＩＧ２が出力される。この
場合、大帯５からの反射光量が大きいので上記走査ａに
おける信号Ｓ　ＩＧＩ、Ｓ　ＩＯ２よりも、大きいレベ
ルの信号５ＩＧ１．５ＩＧ２が得られる。この微分信号
５ＩＧ２が、２値化信号変換回路３９に供給されること
により所定のスライス電圧でスライスされて２値化され
た境目信号５ＩＧ３が出力される。また、第７図（ａ）
に示す走査Ｃ１つまり小事３の上を走査した時の各部の
信号は同図（ｄ）に示す通りである。

つまり、信号合成部３０から出力される合成信号５ＩＧ
Ｉが、上記と同様の回路を経由して微分回路３８に供給
されると、微分回路３８からは、その立上がりの変化時
点を捕えて変化する微分信号５ＩＧ２が出力される。こ
の微分信号５ＩＧ２は、把２の境目に対応したパルス数
だけ出力される。

この微分信号５ＩＧ２が、２値化信号変換回路３９に供
給されることにより所定のスライス電圧でスライスされ
て２値化された境目信号Ｓ　ＩＯ２として出力される。

この第７図（ｄ）に示す境目信号５ＩＧ３が、把２を計
数する信号として使用されることになる。

次に、上記２値化化号変換回路３５および３６から得ら
れる人寄信号および束幅信号の一例を第８図に示す。同
図（ａ）に示す走査ｄ１つまり搬送路２１部分の走査を
行なった時に、信号合成部３０から出力される合成信号
５ＩＧ４は、シェージング補正回路３１、ローパスフィ
ルタ３２、ＡＧＣ回路３３を経由して２値化化号変換回
路３５および３６に供給される。しかしながら、束幅検
出用のスライス電圧Ｖａおよび大帯検出用のスライス電
圧ｖｂのいずれにも達しないために、２値化化号変換回
路３５および３６からは有意信号　°１°は出力されな
い。次に、走査ｅ１つまり帯のない束１の上面部分の走
査を行なった時も同様に、信号合成部３０から出力され
る合成信号５ＩＧ５は、シェージング補正回路３１、ロ
ーノくスフィルタ３２、ＡＧＣ回路３３を経由して２値
化化号変換回路３５および３６に供給される。この場合
は、走査ｄの場合よりもレベルの高い信号が得られ、大
帯検出用のスライス電圧ｖｂには達しないが束幅検出用
のスライス電圧Ｖａには達し、２値化化号変換回路３５
からは有意信号　°１゛は出力されないが、２値化化号
変換回路３６からは、スライス電圧Ｖａ以上の電圧の部
分を有意信号°１゛とする２値化号（図示しない）が出
力される。次に、走査ｆ１つまり大帯５の部分の走査を
行なった時も同様に、信号合成部３０から出力される合
成信号５ＩＧ６は、シェージング補正回路３１、ローパ
スフィルタ３２、ＡＧＣ回路３３を経由して２１ｉ１！
化信号変換回路３５および３６に供給される。この場合
は、白い帯の部分を走査することになるのでその反射光
量も大きくなり、上記走査ｄ、ｅの場合よりもレベルの
高い信号が得られる。そして、この信号５ＩＧ６は、束
幅検出用のスライス電圧Ｖａおよび大帯検出用のスライ
ス電圧ｖｂを越えるため、２値化化号変換回路３５およ
び３６からは、スライス電圧Ｖａおよびｖｂ以上の電圧
の部分を有意信号°１゛とする２値化号（図示しない）
が出力される。

また、第６図に示す大帯サンプリング回路４０は、２値
化化号変換回路３５が出力する人寄信号を、上記走査方
向タイミング発生部３４で発生する走査方向タイミング
信号でサンプリングし、メモリ４１に送出して記憶せし
めるものである。このメモリ４１はＣＰＵ４２によりア
クセスされるようになっている。また、２値化化号変換
回路３６から出力される束幅信号は、束影検出回路４３
、走査信号取込み発生回路４５、および束幅後端信号発
生回路４６に供給されるようになっている。そして、束
幅信号を受取った束影検出回路４３は、束１が搬送され
てきたきたことを検出して搬送方向タイミング発生回路
４４に供給する。

搬送方向タイミング発生回路４４では、搬送方向に関す
るタイミング信号を発生し、走査信号取込み発生回路４
５に供給する。この走査信号取込み発生回路Ａ５で発生
する取込み信号はＣＰＵ４２および走査方向サンプリン
グ回路４７に供給され、走査信号の取込み範囲を規定す
るようになっている。

また、束幅後端信号発生回路４６は、２値化化号変換回
路３６が出力する束幅信号の後端の立下がりを検出して
後端信号を発生し、走査方向サンプリング回路４７に供
給するものである。走査方向サンプリング回路４７は、
２値化化号変換回路３９から供給される境目信号を、上
記走査信号取込み発生回路４５からの取込み信号が出力
されている間、サンプリングを行なって変換回路４８に
供給するものである。この際、束幅後端信号発生回路４
６が出力する後端信号をもサンプリングするようになっ
ている。また、変換回路４８では、走査方向サンプリン
グ回路４７から受取ったサンプリングデータをバイトデ
ータに変換し、メモリ４１に順次格納して行くものであ
る。かかるサンプリングデータは、各走査線に対応して
得られ、次々とメモリ４１に格納されていく。

次に、上記のような構成において第１０図のフローチャ
ートを参照しながら動作を説明する。本実施例では、第
９図（ｂ）に示すように、走査方向のサンプリング数を
０〜１５９までの１６０個とし、同図（ａ）に示すデー
タ取込み範囲について行なう走査回数を４０回とする場
合について説明する。

まず、ＣＰＵ４２は、メモリ４１に記憶されたデータに
より束１の先端を基準に・して走査方向に対する　°１
゛のデータ、つまり境目信号を累積した度数分布を作成
する（ステップＴＩ）。つまり、メモリ４１内にアドレ
ス０〜１５９を有する１６０の領域を設定する。ついで
、上記した動作によりメモリ４１に格納されている１回
目の走査信号のデータを順次読出し、°１゛であるか否
かを検査し、　°１°であればそのサンプリング位置に
対応するアドレスで指定される領域に１を加算する。次
に、同様にして、２回目の走査信号のデータを順次読出
し、　°１°であるか否かを検査し、１°であればその
サンプリング位置に対応するアドレスで指定される領域
に１を加算する。上記動作を４０回の走査信号分実行す
ることにより、第９図（ｃ）に示すような境目信号の度
数分布が得られる。

次に、上記度数分布より束幅を求める（ステップＴ２）
。つまり、束１の先端の信号と後端の信号は各走査にお
いて必ず検出されるので（第９図（ｂ）参照）、束幅は
累計値のピークとピークとの間として求められる。した
がって、これが所定の累計値より大きいという条件のも
とて最大の累計値を有する走査方向位置（サンプリング
位置）を求め、その位置を束幅ｐとする。そして、求め
られた束幅ｐを、予め束幅の許容値として設定されてい
る値と比較しくステップＴ３）、許容値外であればステ
ップ１４へ分岐して異常束として認識し、判定結果とし
て排除信号を送出して処理を終了する。

一方、上記束幅ｐが許容値以内であれば、ステップＴ４
へ進み、大帯５が巻かれているか否かが調べられる。つ
まり、大帯信号を大帯信号サンプリング回路４０でサン
プリングしてメモリ４１に格納されているデータを読出
し、格納されている走査信号の本数を調べ、その数が予
め設定されている数量上あるか否かを調べる。そして、
設定されている数より少なければステップ１４へ分岐し
、大帯が巻かれていない異常束として認識し、判定結果
として排除信号を送出して処理を終了する。

一方、上記ステップＴ４で大帯が巻かれていることが判
断されると、ステップＴ５へ進み、基準上幅を求める。

基準上幅は、上記ステップＴ２で求めた束幅ｐを、束１
に含まれているべき把の数（例えば１０）で割ったもの
である。

次に、上記ステップＴ２で求めた束幅ｐより境目検出ゲ
ートＳを作成する。境目検出ゲートＳとは、境目信号が
出現すべき範囲を示すデータであり、次式に従って作成
する。

ｒＸｎ−ｔ　　≦　Ｓ　≦　ｒＸｎ＋ｔここでｎは、上
敷であり、ｎ−１、・・・ｑの任意の値を選択すること
ができる。また、「は、束幅ｐを検出すべき上敷ｑで割
った値である。また、ｔは、許容誤差を規定する任意の
値である。

次に、上記で作成した境目検出ゲー）ｓ内で、ピーク値
が所定累計値以上の境目信号のアドレアス（走査方向位
置）を求める（ステップＴ７）。

そして、求めたピーク値のアドレスより、６把の上幅を
求める（ステップＴ８）。次いで、ステップＴ５で求め
た基準上幅に基づき上幅の許容値を算出しくステップＴ
９）、ステップＴ８で求めた許容値の範囲に入っている
か否かを調べることにより上幅の異常があるか否かを調
べる（ステップＴ１０）。すなわち、各上幅が次式で示
す範囲内にあるか否かを調べる。

ｒ−ｕ≦把上幅ｒ十ｕ ここで、ＵおよびＶは、上幅の許容値であり、任意に設
定されるものである。ここで、上幅が上記許容範囲外で
あればステップ１４へ分岐して異常束として認識し、判
定結果として排除信号を送出して処理を終了する。一方
、上幅が上記範囲内にあれば上幅内の上敷を数え（ステ
ップＴ１１）、上敷が予め設定された値と一致するか否
かが調べられる（ステップ１２）。ここで一致しなけれ
ば、ステップ１４へ分岐して異常束として認識し、判定
結果として排除信号を送出して処理を終了する。

一方、上記上敷が一致すれば、ステップＴ１３へ進み、
正常束として認識し、判定結果として正常信号を送出し
て処理を終了する。

以上説明したように、搬送される紙幣の束１にレーザ光
を照射して走査を行い、このレーザ光を照射された束１
からの反射光を光電変換することにより、束を構成する
把２の境目信号を含んだ走査信号、大帯信号、束幅信号
をメモリ４１に記憶しておき、このメモリ４１に記憶さ
れた上記各信号に基づいて上敷を検出するようにしたの
で、従来のように紙幣の重量に影響されずに、正確な上
敷を検出することができるとともに、紙幣の種類に従っ
た比較データを設定する必要もないので操作が簡単であ
り、また、光学的手段により上敷を検出するようにした
ので高速度で検出することのできるものとなっている。

また、上記実施例によれば、上敷を検出するとともに、
束幅の異常、大帯の有無あるいは上幅の異常等も検出す
ることができるので、束および把に関して多面的に検査
することができ、非常に有用なものとなっている。

なお、前記実施例では、上敷検出を行う紙葉類が紙幣の
場合について説明したが、本発明はこれに限定されるも
のではなく、たとえば紙幣以外の有価証券あるいは郵便
物などの場合も同様に適用できる。

［発明の効果］ 以上詳述したように本発明によれば、搬送される紙葉類
の束に光を照射して走査を行い、この光照射された束か
らの反射光を光電変換することにより走査信号を得、こ
の走査信号に含まれる変化点を把と把との境目に生じる
暗部に基づく境目信号として検出することにより上敷を
検出するようにしたので、紙葉類の重量に影響されずに
、簡単な操作により正確な上敷を高速度で検出すること
のできる上敷検出装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示すもので、第１図は光学系の
概略構成図で、同図（ａ）は平面図、同図（ｂ）は正面
図、同図（ｃ）は側面図、第２図は検出視野を説明する
ための図、第３図は反射光の検出原理を説明するための
図、第４図および第５図は反射光の検出原理を説明する
ための波形図、第６図は電気回路のブロック図、第７図
および第８図は電気回路の動作を説明するための波形図
、第９図は境目検出処理の動作を説明するための説明図
、第１０図は動作を説明するためのフローチャートであ
る。 １・・・束、２・・・把、１１・・・半導体レーザ（走
査手段）　　１２・・・コリメータレンズ、１３・・・
正８面体ミラー（走査手段）　１４・・・反射ミラー１
５．１６．１７．１８・・・フォトセル（光電変換手段
）、１９．２０・・・標準板、２１・・・搬送路（搬送
手段）、４１・・・メモリ、４２・・・ＣＰＵ　（境目
検出手段、上敷検出手段）。 代理人　弁理士　則　近　憲　佑 同　　弁理士　山　下 （ｂ） （Ｃ） 第　１　図 第 図 口ｙ２５ ｙ２６ 第 図 第 図 第 図 ＠　１０ 図（ａ）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　所定枚数の紙葉類を小帯で巻いてなる把を所定数束ね
   て大帯で巻いてなる束を搬送する搬送手段と、 この搬送手段により搬送される前記束に光を照射して走
   査する走査手段と、 この走査手段により光照射された前記束からの反射光を
   電気信号に変換して走査信号を得る光電変換手段と、 この光電変換手段からの走査信号の変化点により把と把
   との境目を検出する境目検出手段と、この境目検出手段
   により検出された境目の数に基づき、前記束に包含され
   る把数を検出する把数検出手段と を具備することを特徴とする把数検出装置。