JPH0214439A - 焦点制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明は、光学装置のフォーカス状態を検出するため
の装置に係り、より詳細には情報記録媒体に情報を記録
する又は記録された情報を情報記録媒体から読出す為の
光ビームを情報記録媒体上にフォーカスさせる装置に関
する。

（従来の技術） 近年、文書などの画像情報を記録し、必要に応じてその
画像情報を検索してハードコピー或いはソフトコピーと
して再生し得る光デイスク装置のような画像情報記録再
生装置が開発されている。

光デイスク装置においては、集束性の光ビームが円盤状
記録媒体、即ち光ディスクに向けて照射されて情報が記
録又は再生される。すなわち、記録時においては、光ビ
ームが照射されることによって記録面上には状態変化が
起こされ、その結果情報は例えばピットとして光ディス
クに記録される。

また再生時においては定常光ビームが情報記録媒体上に
照射され、記録情報に応じて光ビームはビットで強度変
調される。光ビームの強度変調を処理して情報が再生さ
れる。記録及び再生時には、光ディスクが線速一定に回
転され、光ビームを光ディスクに向けるための光学ヘッ
ドが光デイスク上の半径方向に直線移動される。

光学ヘッドは、光学ディスク上にレーザ光を集束させる
対物レンズを備え、対物レンズは所定領域に正確に集光
ビームを照射するためにその光軸方向に移動可能に支持
されている。焦点制御系の可動機構によって対物レンズ
が光軸方向に移動されて対物レンズが合焦状態に維持さ
れ、対物レンズからの光ビームが光ディスクに集束され
る。対物レンズを合焦状態に維持させるために記録媒体
上における焦点ずれ状態が検出されその検出結果が対物
レンズの移動機構にフィードバックされる。

この焦点ずれの検出方法としてウェッジプリズム法が知
られている。

ウェッジプリズム法において、フォー力ッシング状態に
応じて情報記録媒体から出射された光ビームは集光レン
ズを経てウェッジプリズムで２つのビームに分岐される
。その際、２つの光ビームは入射ビームの光軸に対して
特定角度で互いに異なる方向に出射される。分岐された
光ビームはそれぞれ所定位置に配置された２つの検出器
上に照射され電気信号に変換される。電気信号は所定の
方法で処理され、フォー力ッシングエラーに応じた電流
が対物レンズ駆動用のボイスコイルに供給される。ボイ
スコイルに電流が供給されることによって対物レンズが
駆動され、光ビームが情報記録媒体上に合焦される。

（発明が解決しようとする課題） ウェッジプリズム法を用いた焦点制御においては、光ビ
ームはウェッジプリズムで入射光軸に対して特定角度で
互いに異なる方向に出射する２つのビームに分岐される
。このため２つのビームを検出する２つの検出器の間隔
は、ウェッジプリズムと検出器の間の光軸方向の距離に
大きく依存する。正確なフォー力ッシング制御を達成す
るにはウェッジプリズムの取付は位置に応じて検出器間
隔が調整されなければならない。

この発明は、情報記録媒体上のフォーカス状態を検出す
るための、新たな焦点制御装置を提供することを目的と
する。

また、この発明は光学部品の光軸方向の位置ずれによっ
ておこる検出器間隔の位置調整の問題を解決し、それに
よって組立てや調整の容易な焦点制御装置を提供するこ
とを目的とする。

［発明の構成］ （課頴を解決するための手段） この発明によれば、光ビームを発生する光源と、前記光
源からの光ビームを記録媒体上に集束するための集束手
段と、前記光源からの光ビーム及び前記記録媒体からの
光ビームの同一の光路上に配置され前記記録媒体からの
光ビームを互いに略平行な第１及び第２の光ビームに分
岐する第１及び第２の複屈折体と、前記記録媒体に対す
る前記集束手段の位置を調整する前記第１及び第２の光
ビームに応答する手段を備える焦点制御装置が提供され
る。

（作用） この発明においては、第１及び第２の複屈折体から入射
される光ビームの間隔りが各光学部品の光軸のずれに影
響されずに略一定に保たれるため組立て及び調整が容易
となる。

（実施例） この発明の一実施例を図面を参照しながら以下に説明す
る。

第１図は、この発明の焦点制御装置が組込まれる光デイ
スク装置の側面図を示している。第１図において光ディ
スク（記録媒体）１は、ガラス或いは、プラスチックス
等の円盤状の基板上に情報記録膜としてテルル或いは、
ビスマス等の金属波膜がコーティングされて形成される
。円盤状の基板上には、記録領域を定めるグループ５が
同心円状に形成されている。光ディスク１に対向して光
学ヘッド３が設けられ、記録、再生及び検索時には、光
ディスク１が光学ヘッド３に対して線速−定で回転駆動
される。第１図に示した光ディスクにおいて、記録領域
を規定するグループ５はＹ方向に延出されている。

光学ヘッド３には光源としての半導体レーザ１１が備え
られている。この発明においては半導体レーザ１１は後
に述べる光検出器２０Ｘ。

２０Ｙに接近して設けられ、好ましくは光検出器２０Ｘ
と光検出器２０Ｙの間に挟まれるように配置されると共
に、各光検出器の受光面と光源１１の光ビーム出射面が
略同−平面上に配置されるように配置されている。半導
体レーザ１１からは発散性のレーザビームＬが発生され
る。光ビームＬは情報を光ディスク１の記録膜に書込む
記録時には書込むべき情報に応じてその光強度が変調さ
れて発生され、又情報を光ディスク１の記録膜から読み
出す再生時には一定の強度で発生される。半導体レーザ
１１からは特定方向、例えば第１図に於いてはＹ方向に
直線偏光された発散性の光ビームＬが発生される。直線
偏光された光ビームＬはその光路上に配置、された第１
及び第２の複屈折体２８．２９に入射される。第１図に
おいて複屈折体２８．２９は互いにその側面で接合され
て紙面に垂直な方向（Ｙ方向）に延出されている。また
複屈折体の各光学軸Ａ、Ｂは光軸に対して互いに異なる
方向に傾けて配置されている。複屈折体２８．２９に入
射された光ビームＬは透過されてレンズ１７に入射され
る。入射された光ビームＬはレンズ１７によって平行光
束に変換されてその光路上に配置された１／４波長板１
８に入射される。１／４波長板１８に入射されたＹ方向
に偏光面ををする直線偏光された光ビームＬはその位相
がシフトされて円偏光の光ビームＬに変換される。

円偏光された光ビームＬは光デイスク上に光ビームを集
光するための対物レンズ１６に入射され、それによって
集束性の光ビームＬが光ディスク１の記録膜上に集光さ
れる。

対物レンズ１６は、その先軸方向及び光軸と直交する面
内方向で移動可能に支持される。対物レンズ１６が光軸
上の最適位置即ち、合焦位置に配置されると、この対物
レンズ１６から発せられた集束性のレーザビームＬのビ
ームウェストが光ディスク１の記録膜の表面上に投射さ
れ、それによって最少ビームスポットが光ディスク１の
記録膜の表面上に形成される。一方、対物レンズ１６が
光軸と直交する面内（記録膜面に平行な面内）で最適位
置即ち、合トラック位置に配置されると光デイスク１上
に形成されるビームスポットが記録領域として定められ
たトラック上に正確に形成され、それによってトラック
がレーザビームで追跡される。この２つの状態（合焦状
態・合トラック状態）が保たれることによって情報の書
込み及び読出しが可能となる。即ち、記録時には強度変
調されたレーザービームによって記録膜にビット等の状
態変化が起こされ、再生時には一定強度のレーザビーム
がトラック内のビット等で形成された記録領域で強度変
調されて反射される。

光ディスク１の記録膜で反射された発散性の光ビームＬ
は、合焦時において対物レンズ１６によって平行光束に
変換されて再び１／４波長板１８に戻される。１／４波
長板１８に戻される光ビームＬは再び位相シフトされて
円偏光ビームからＸ方向に偏光面を有する直線偏光ビー
ムに変換される。Ｘ方向に直線偏光された光ビームＬは
、集束用のレンズ１７を透過され再びその光路上に配置
された第１及び第２の複屈折体２８．２９に入射される
。このとき、第１及び第２の複屈折体２８．２９の形状
及び光学軸の傾きは、入射された光ビームに対して所望
の特性があられれるように設定されている。すなわち第
１及び第２の複屈折体２８．２９はそこを透過されるＸ
方向に直線偏光された光ビームＬが、その光軸が互いに
平行な第１及び第２の光ビームに分岐されるように配さ
れている。このように配置された複屈折体２８．２９で
分岐された光ビームＬ１、Ｌ２はそれぞれ光Ｍｌｌの出
射面の両側に近接して配置された光検出器２０Ｘ、２０
Ｙに照射される。

光検出３２０Ｘ、２ＯＹ上に照射された光ビームＬ１及
びＬ２は光検出器の各光検出領域で電気信号に変換され
て所定の方法で処理される。信号が処理されることによ
って比較回路４１からは光デイスク１上の光ビームの焦
点ぼけに相当する信号、すなわちフォー力ッシングエラ
ー信号（Ｆ、Ｅ）が発生される。その発生された信号に
応じて駆動回路４４に電流が供給され、それに応じてボ
イスコイル８に電流が供給されて対物レンズ１６がその
光軸方向に駆動されて光ビームの焦点が制御される。ま
た比較回路４２からはトラッキングエラー信号（Ｔ、Ｅ
）が発生される。そのトラッキング信号に応じてトラッ
キング制御用の駆動回路４５に電流が供給されて光学ヘ
ッド３が対物レンズ１６の光軸に垂直な面内で直線的に
駆動され、それによつて所定のトラックが光ビームによ
って追跡される。更に光検出器２０Ｘ、２０Ｙの光検出
領域で検出された信号の全ては信号処理回路４３で処理
されて情報再生信号として利用される。

複屈折体２８．２９及びその後方に配置された検出器の
配置は第２図に示される。第２図において複屈折体２８
．２９は例えば方解石のような一軸結晶で構成され平行
平板形状を有している。各複屈折体はｘ−Ｚ平面に平行
な側面を有し、その側面は互いに入射ビームの光軸に接
するように配置されて互いに貼り合わされている。また
第１の複屈折体２８及び第２の複屈折体２９の入射面及
び出射面は光源１１から出射される光ビームＬの光軸及
び光ディスクから戻される光ビームＬの光軸に垂直に配
置される。更にまた第１の複屈折体２８の第１の光学軸
Ａ及び第２の複屈折体２９の第２の光学軸Ｂは光ビーム
Ｌの光軸に対して互いに所定の角度を有するように配置
される。好ましくはその複屈折体の光学軸Ａ及びＢが互
いに異なる方向で向けられ、入射される光ビームＬの光
軸に対して等しい角度を成すように配置される。このよ
うに複屈折体の形状及び光学軸の角度が設定されること
によって半導体レーザ１１から照射されるＹ方向に直線
偏光された光ビームＬの全ては複屈折されずに透過され
、同時に光ディスクからＸ方向に直線偏光されて戻され
る光ビームは互いに異なる方向に複屈折され、その光軸
を境に互いに平行な第１及び第２の光ビームに分岐され
光検出器上２０Ｘ、２０Ｙに入射される。換言すると、
半導体レーザから出射される先ビームＬが分岐されずに
透過され、また光ディスク１から戻される光ビームＬが
互いに平行な第１及び第２の光ビームに分岐されるよう
に複屈折体は備えられている。

なお光ビームＬは複屈折体の相互に接する側面すなわち
Ｘ−２面を境に分離されるが、この分離するＸ−２面は
光デイスク上のグループの延出される方向（Ｙ方向）に
直交するように設けられている。光検出器２０Ｘ、２０
Ｙに照射された光ビームはその光検出領域で電気信号に
変換されて所定の方法で処理される。それによつてフォ
ー力ッシング制御、トラッキング制御、及び情報検索が
可能となる。

複屈折体に入射される光ビームの複屈折現象はｇｊ４３
図を参照して更に詳細に説明される。複屈折体２９　（
２８）の入射面及び出射面が、入射光ビームの光軸に垂
直に配置され、かつその複屈折体２９　（２８）の光学
軸Ａが入射される光ビームＬの光軸に垂直な面からＺ方
向に特定の角度で傾けられている場合、複屈折体２９　
（２８）に入射された光ビームＬのうち光軸と光学軸を
含む面（主断面）に垂直な振動面を有する光ビームＬｂ
（常光線）は通常の屈折の法則に従うため真直ぐに透過
される。また複屈折体２９　（２８）に入射された光ビ
ームのうち主断面に平行な振動面を有する光ビームＬａ
（異常光線）は通常の屈折の法則に従わずに複屈折され
る。これによって例えば第３図に示されるように光ビー
ムＬａ（異常光線）は光ビームＬｂ（常光線）よりもわ
ずかに平行に変位される。

第４図を参照して一対の複屈折体２８．２９が配置され
ている場合について考察する。一対の複屈折体２８．２
９は第２図に示されるように同−形状及び同一特性を有
し、その光学軸ＡＳＢが光ビームの光軸に対して異なる
方向で等しい角度に予め定められる。このため複屈折体
２８．２９に対して主断面に垂直な振動面を有する光ビ
ーム、すなわちＹ方向に直線偏光された光ビームは単に
透過され、他方、主断面に垂直な振動面を有する先ビー
ム、すなわちＸ方向に直線偏光された光ビームは複屈折
体の光学軸ＡＳＢの傾きに応じて複屈折される。この発
明の焦点制御は複屈折体に入射される光ビームの偏光状
態を以下のように定めることによって可能となる。すな
わち複屈折体２８．２９には半導体レーザ１１からは実
線矢印で示したようなＹ方向に直線偏光された光ビーム
Ｌが入射される。複屈折体２８及び複屈折体２９に入射
されるＹ方向に直線偏光された光ビームは複屈折されな
いため共に透過される。透過された光ビームは１／４波
長板１８で円偏光に変換されて光デイスク１上に照射さ
れる。照射された光ビームは記録面で反射されて１／４
波長板に戻される。１／４波長板を透過される光ビーム
は再び直線偏光に変換されて複屈折体２８．２９に入射
される。この際戻される光ビームＬは、点線矢印で示さ
れるようにＸ方向に直線偏光される。そのため複屈折体
２８に入射される光ビーム及び複屈折体２９に入射され
る光ビームは、それぞれその光学軸の傾きに応じて複屈
折体されて互いに平行な第１及び第２の光ビームＬ１、
Ｌ２に分岐される。分岐された光ビームＬ１、Ｌ２の軸
は一定の幅間隔りを維持した状態でそれぞれ光検出器２
０Ｘ及び２０Ｙに照射される。

これらの理由によって、第１及び第２の複屈折体２８．
２９から出射される光ビームＬ１、Ｌ２の間隔は各光学
部品の光軸方向のずれに影響されずに略一定に保たれる
。そのため組立て及び調整の容易な焦点制御装置が提供
される。

またこの発明において、複屈折体は平行平板形状に形成
され、その入射面及び出射面が光軸に垂直に配置される
。そのためプリズム及び傾斜されたガラス板に比べて取
付けが容易であり、それに応じて製造性も高くなりコス
トも低減される。

第１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２の入射され
る光検出器２０１２０Ｙは第７図に示されている。第７
図に示されるように、一方の光検出器２０Ｘは第１の複
屈折体２８を通過して照射された光を電気信号に変換す
る光検出領域２ＯＡ、２０Ｂ、２０Ｈ，２０Ｉで構成さ
れ、他方の光検出器２０Ｙは第２の複屈折体２９を通過
して照射された光を電気信号に変換する光検出領域２０
Ｃ，２０Ｄ、２０Ｆ、２０Ｇの検出領域から構成されて
いる。光検出器２０Ｘ、２０は互いに略同−平面上（Ｘ
−Ｙ平面上）に配置されると同時に、光ビームの分離さ
れる方向、すなわちＸ方向にわずかに間隔を空けて配置
される。この光検出器２０Ｘと光検出器２０Ｙの隙間に
は半導体レーザ等の光源１１が配置され、好ましくは各
光検出器の受光面と光源１１の光ビーム出射面が略同−
平面上に配置される。一方の光検出器２０Ｘは先非検出
領域としてのＸ方向の分割線２１によって縦方向に２分
割され、またＹ方向の分割線２３によって横方向に２分
割される。他方の光検出器２０Ｙは先非検出領域として
のＸ方向の分割線２２によって縦方向に２分割され、ま
たＹ方向の分割ｖＡ２４によって横方向に２分割される
。光検出器２０Ｘの分割線２３と光検出器２０Ｙの分割
線２４との間隔は、複屈折体２８．２９で略平行に分岐
された光ビームの間隔りと等しく形成されている。この
分離された検出領域２０Ａ〜２０１の出力は、焦点補正
、トラッキング補正、及び情報再生に利用される。

対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦位置にある場合
は、光検出器には第５Ｂに示すような像が投影される。

第１の複屈折体２８を通過した光ビームは、光検出領域
２ＯＡ、２０Ｂ、２０Ｈ。

２０１に半円像として投影される。他方、第２の複屈折
体２９を通過した光ビームは光検出領域２０Ｃ，２０Ｄ
、２０Ｆ、２０Ｇに反対向きの半円像として投影される
。各半円像が左右の光検出領域に等しい強度で投影され
るように先非検出領域としての分割線２１及び２２が予
め定められている。言替えるならば、第８Ａ図に示され
るように光検出領域２０Ａ〜２０Ｉの出力をそれぞれ■
〜■とすると、分割線２１及び２２の位置は、合焦時に
おいてフォー力ッシングエラー信号（Ｆ、Ｅ信号）がＯ
に等しくなる位置、即ちＦ、Ｅ−（（■＋■十■十〇） （■＋■十■十■））−〇の条件を満たすように設定さ
れる。

これによって、対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦
位置から離れた場合は、第５Ａ図に示すように、投影さ
れた２つの半円像は、合焦時の像よりも小さく形成され
、出力はＦ、Ｅ＞０となる。

逆に対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦位置に近づ
いた場合、第５Ｃ図に示されるように第１のグループと
第２のグループに投影された２つの半円像は合焦時の像
よりも大きく形成され、出力はＦ、Ｅｇｏとなる。

一方、光デイスク１上の案内溝の回折によって生ずる暗
部は、第６Ａ図乃至第６Ｃ図に示されるように光検出領
域の分割線２３及び２４に対して平行に現われる。第８
Ｂ図に示すように、トラック位置のずれは、光検出領域
２０Ａ〜２０１の出力信号■〜■に対して、トラッキン
グエラー信号（Ｔ、Ｅ）−＋（■＋■＋■十■） （■＋■＋■十■））を比較処理することによって検出
される。比較された信号のその差信号すなわちトラック
位置のずれ信号に応じて光学ヘッドの位置が光ディスク
に対して調整される。

次に第９図を参照して光検出器で検出された電気信号の
処理回路について説明する。光検出領域２ＯＡ及び２０
Ｇの出力は増幅回路３１Ａに供給される。光検出領域２
０Ｄ及び２０Ｈの出力は増幅回路３１Ｂに供給される。

光検出領域２０Ｃ及び２０１の出力は増幅回路３１Ｃに
供給される。

光検出領域２０Ｂ及び２０Ｆの出力は増幅回路３１Ｄに
それ供給される。各増幅器３１Ａ〜３１Ｄに供給された
各信号はそれぞれ増幅されて加算回路３６に供給される
。加算回路３６で加算された信号は情報再生信号として
図示しない制御回路に供給される。増幅回路３１Ａから
の信号は加算回路３２及び３４に供給される。増幅回路
３１Ｂからの信号は加算回路３３及び３４に供給される
。増幅回路３１Ｃからの信号は加算回路３３及び３５に
供給される。増幅回路３１Ｄからの信号は加算回路３２
及び３５に供給される。

加算回路３２の出力及び加算回路３３の出力はフォー力
ッシング制御信号をボイスコイル８に供給するために利
用される。すなわち加算回路３２の出力は比較回路４１
の反転入力端に供給され、加算回路３３の出力は比較回
路４１の非反転入力端に供給される。比較回路４１にお
いて光検出領域２ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｂ、２０Ｆの検出
信号の加算結果と光検出領域２０Ｃ，２０１，２０Ｄ。

２０Ｈの検出信号の加算結果とは比較され、その差信号
に応じた出力即ち、フォーカス制御信号がフォー力ッシ
ング用の駆動回路４４にフィードバックされる。駆動回
路４４にフィードバックされるフォーカスずれ検出信号
に応じて対物レンズ１６をその先軸方向に駆動するボイ
スコイル（図示しない）に電流が供給される。供給され
た電流に応じて対物レンズ１６が駆動されて焦点ぼけが
補正される。

加算回路３４の出力及び加算回路３５の出力はトラッキ
ング制御信号をボイスコイル８に供給するために利用さ
れる。すなわち加算回路３４の出力は比較回路４２の反
転入力端に供給され、上記加算回路３５の出力は比較回
路４２の非反転入力端に供給される。

比較回路４２において、上記光検出領域２ＯＡ、２０Ｇ
、２０Ｃ１２０Ｉの検出出力の加算結果及び光検出領域
２０Ｂ、２０Ｆ、２０Ｄ、２０Ｈの検出出力の加算結果
とは比較され、その差に応じた出力即ち、トラッキング
ずれ検出信号が駆動回路４５にフィードバックされる。

駆動回路４５にフィードバックされるトラッキング制御
信号に応じて対物レンズ１６をその光軸に垂直な平面内
で駆動するボイスコイルに（図示しない）電流が供給さ
れる。これにより対物レンズ１６が駆動されてトラッキ
ングずれが補正される。

加算回路３６の出力は信号処理回路４３に供給される。

この信号処理回路４３で処理された信号は検索信号とし
て情報再生に利用される。

上述した焦点制御装置においては、半導体レーザ１１か
ら発生された発散性のレーザビームしは、第１及び第２
の複屈折体２８．２９に入射される。

入射された光ビームは複屈折されずに透過されてレンズ
１７に入射される。レンズ１７に入射された光ビームは
１／４波長板１８を透過されて対物レンズ１６に入射さ
れる。入射された光ビームは対物レンズ１６によって光
ディスク１の記録膜に向けて集光される。

情報の記録においては、光デイスク１上へ強光底の変調
されたレーザビーム（記録ビーム）が照射されることに
より光デイスク１上のトラックにピットが形成される。

情報の再生においては、弱光塵の定常レーザビーム（再
生ビーム光）が光ディスク１上に照射されピットによっ
て強度変調されて反射される。光ディスク１からの反射
光は対物レンズ１６を経て１／４波長板１８に戻される
。

１／４波長板１８に戻された光ビームＬはレンズ１７を
透過されて再び第１及び第２の複屈折体体２８．２９に
入射される。第１及び第２の複屈折体２８．２９に入射
された光ビームはその光軸を境に互いに略平行な第１の
光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に分岐されて光検
出器２０Ｘの光検出領域２ＯＡ、２０Ｂ、２０１，２０
Ｈ及び光検出器２０Ｙの光検出領域２０Ｃ，２０Ｄ。

２０Ｇ、２０Ｆ−＋−に照射される。その結果、照射さ
れた光ビームの強度に応じた信号が光検出領域２０Ａ〜
２０１から出力され、それらの信号が増幅回路３１Ａ〜
３１Ｄに供給される。

このような状態におけるフォーカシング動作について説
明する。すなわち、上記増幅回路３１Ａ。

３１Ｄからの信号は加算回路３２に供給される。

上記増幅回路３１Ｂ、３１Ｃからの信号は、加算回路３
３に供給される。光検出領域２０Ａ１２０Ｇ、２０Ｂ、
２０Ｆからの検出信号は加算回路３２で加算されて比較
回路４１へ供給される。

光検出領域２０Ｃ，２０Ｉ、２０Ｄ、２０Ｈからの検出
信号は加算回路３３で加算されて比較回路４１に供給さ
れる。これにより比較回路４１において、上記光検出領
域２ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｂ。

２０Ｆの検出信号の加算結果と上記光検出領域２０Ｃ，
２０１，２０Ｄ、２０Ｈの検出信号の加算結果とが比較
され、その差信号つまり焦点制御信号が駆動回路４４に
フィードバックされる。駆動回路４４にフィードバック
された焦点制御信号に応じてコイル（図示しない）に電
流が供給される。供給された電流に応じて対物レンズ１
６が光軸方向に駆動されて光ビームのフォーカス状態が
制御される。

またトラッキング動作について説明する。すなわち上記
増幅回路３１Ａ、３１Ｃからの信号は加算回路３４に供
給される。上記増幅回路３１Ｂ。

３１Ｄからの信号は加算回路３５に供給される。

光検出領域２ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｃ，２０１からの信号
は加算回路３４で加算されて比較回路４２に供給される
。光検出領域２０Ｂ、２０Ｆ。

２０Ｄ、２０Ｈからの検出信号は加算回路３５で加算さ
れて比較回路４２に供給される。これにより上記光検出
領域２ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｃ。

２０１の検出信号の加算結果と上記検出領域２０Ｂ、２
０Ｆ、２０Ｄ、２０Ｈの検出信号の加算結果とは比較回
路４２で比較されてその差に応じた出力つまりトラッキ
ング制御信号が駆動回路４５にフィードバックされる。

トラッキング制御信号に応じて駆動回路４５からコイル
（図示しない）に電流が供給される。供給された信号に
応じて対物レンズ１６はその先軸に垂直な平面上で駆動
され光ビームのトラッキング位置が制御される。

次に情報の再生について説明する。情報の再生において
は半導体レーザ１１から一定の弱光度のレーザビームＬ
が発生される。記録された情報に応じて再生ビーム光全
体は強度変調されて光検出器に入射される。光検出器の
光検出領域２０Ａ〜２０１の出力は増幅回路３１Ａ、３
１Ｂ、３１Ｃ。

３１Ｄに供給される。増幅回路３１Ａ、３１Ｂ。

３１Ｃ１３１Ｄの総出力が信号処理回路４３で処理され
ることによって記録されたデータは再生される。

上に述べたこの発明の一実施例には、焦点制御、トラッ
ク位置制御及び信号検出を同一の検出器を用いて検出す
ることのできる８つの領域に分割された光検出器が記述
されている。しかしこの検出器は８分割の検出器に限る
必要はなく、他の４分割やその他の光検出器が利用され
てもよい。

また述べた実施例において、複屈折体２８．２９は平行
平板形状に形成されいる。しかしながら複屈折体の形状
は同様の効果を示す限り変更されてもよい。また複屈折
体の配設位置に伴う検出器の配置も変更可能である。例
えば、実施例における２つの複屈折体はその光学軸Ａ及
びＢが互いに異なる方向で向けられ、入射される光ビー
ムの光軸に対して等しい角度を成すように配置されてい
る。しかしながら、もし２つの複屈折体の光学軸Ａ及び
Ｂが光ビームの光軸に対して等しい角度で配置されない
としても検出器の配置を予め定めておくことで同様の検
出が可能である。

（発明の効果） この発明においては、第１及び第２の複屈折体から入射
される光ビームの間隔りが各光学部品の光軸のずれに影
響されずに略一定に保たれる。

そのため組立て及び調整の容易な焦点制御装置が提供さ
れる。また、複屈折体は平行平板形状に形成され、その
入射面及び出射面が光軸に垂直に配置される。そのため
プリズム及び傾斜を付けて配置したガラス等の平行平板
に比べて取付けが容易であり、それに応じてコストも低
減される。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の焦点制御装置を備える光学ヘッドの
概略構成を示す側面図、第２図はこの発明の焦点制御装
置の要部を示す斜視図、第３図はこの発明の複屈折体に
入射される光ビームの光路図、第４図は異なる光学軸を
有する２つの複屈折体に偏光ビームが入射される際の光
ビームの光路図、第５Ａ図乃至第５Ｃ図は第２図に示し
た光検出器に照射される光ビームの合焦状態及び非合焦
状態を示す光検出器の正面図、第６Ａ図乃至第６Ｃ図は
第２図に示した光検出器に照射される光ビームの合トラ
ック状態及び非合トラック状態を示す光検出器の正面図
、第７図は第２図に示した光検出器の正面図、第８Ａ図
乃至第８Ｂ図は第７図に示した光検出器で検出された信
号の処理方法を示す電気回路図、第９図は第７図に示し
た光検出器で検出される全信号の処理方法を示す電気回
路図である。 １・・・光ディスク、３・・・光学ヘッド、５・・・グ
ループ、８・・・ボイスコイル、１１・・・半導体レー
ザ（光源）　　１６・・・対物レンズ、１７・・・レン
ズ、１８・・・１／４波長板、２０Ｘ、２０Ｙ・・・光
検出器、２０Ａ〜２０１・・・光検出領域、２１〜２４
・・・分割線、２８・・・第１の複屈折体、２９・・・
第２の複屈折体、３１Ａ〜３１Ｄ・・・増幅回路、３２
〜３６・・・加算回路、４１．４２・・・比較回路、４
３・・・信号処理回路、４４．４５・・・駆動回路 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　光ビームを発生する光源と、 前記光源からの光ビームを記録媒体上に集束するための
   集束手段と、 前記光源からの光ビーム及び前記記録媒体からの光ビー
   ムの同一の光路上に配置され前記記録媒体からの光ビー
   ムを互いに略平行な第１及び第２の光ビームに分岐する
   第１及び第２の複屈折体と、前記記録媒体に対する前記
   集束手段の位置を調整する前記第１及び第２の光ビーム
   に応答する手段を具備することを特徴とする焦点制御装
   置。