JPH0214331A - Duplex system diagnosing system - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To directly execute the diagnosis of a standby system diagnosis object constituting element from a present system and to simultaneously execute the diagnosis of a present system interface in a standby system as well by executing hard-like interruption prohibition processing to be generated from a diagnosis object constituting element. CONSTITUTION:A diagnosis instruction for the standby system diagnosis object constituting element is read to a present system instruction register 260 and address generating data are outputted from an arithmetic circuit 300 by an address from a CM address generating circuit 200 and inputted through a gate circuit 320 to a shift register 200. Then, the data are inputted through a gate circuit 340 to a CM address generating circuit 220 and an address to read a diagnosis micro-program is successively outputted. Thus, the diagnosis of the standby system diagnosis object constituting element can be directly executed from the present system and the diagnosis of the present system of the standby system can be also executed simultaneously.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 待機系をシステムダウンなしに現用系から直接に診断し
得る二重化システム診断方式に関し、診断時間の短縮化
、診断精度の向上を目的とし、二重化システムの多糸の
メモリ毎に格納された他系診断対象構成要素のだめの診
断命令と、各制御記憶装置毎に格納された診断命令処理
用マイクロプログラム及びハード的割込み禁止を含む診
断マイクロプログラムとを設け、命令レジスタにセット
された診断命令の命令コードに応答したＣＭアドレス生
成回路によって制御記憶装置から読み出される診断命令
処理用マイクロプログラムの実行により診断命令のアド
レス生成部を受け取る演算回路のアドレス生成データを
ゲート回路を介してシフトレジスタへ入力させた後、ゲ
ート回路を介してＣＭアドレス生成回路へ入力せしめて
診断マイクロプログラムを起動し診断対象構成要素の診
断で発生されるハード的割込みを禁止しつつその診断を
実行するように構成した。[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a redundant system diagnosis method that allows the standby system to be diagnosed directly from the active system without system down, the present invention aims to shorten diagnosis time and improve diagnostic accuracy. A diagnostic instruction for the component to be diagnosed in another system is stored in each thread memory, and a diagnostic microprogram including a diagnostic instruction processing microprogram and a hardware interrupt prohibition stored in each control storage device is provided. The gate circuit generates the address generation data of the arithmetic circuit that receives the address generation part of the diagnostic instruction by executing the diagnostic instruction processing microprogram read from the control storage device by the CM address generation circuit in response to the instruction code of the diagnostic instruction set in the register. After inputting it to the shift register via the gate circuit, it is inputted to the CM address generation circuit via the gate circuit to start the diagnostic microprogram and perform the diagnosis while prohibiting hardware interrupts generated by the diagnosis of the component to be diagnosed. configured to run.

〔産業上の利用分野〕 本発明は、待機系診断対象構成要素の診断をシステムダ
ウンを起こすことなしに現用系から直接に行ない得る二
重化システム診断方式に関する。[Industrial Field of Application] The present invention relates to a redundant system diagnosis method that allows diagnosis of components to be diagnosed in the standby system directly from the active system without causing system failure.

ディジタル交換機等においては、システムの信頼性向上
という観点からシステムを二重化している。その二重化
システムはその一方の系を現用系としてシステムの制御
に用い、他方の系を待機系としている。その待機系は、
現用系の障害時に現用系に切り替えられて現用系として
の動作が開始されるが、待機系が正常な動作を遂行し得
なければ二重化構成の意義が失われるので、待機系を構
成して構成要素を現用系において診断して待機系として
の意義あらしめている。In digital exchanges, etc., systems are duplicated from the perspective of improving system reliability. In this duplex system, one system is used as the active system for controlling the system, and the other system is used as the standby system. The standby system is
When the active system fails, it switches to the active system and starts operating as the active system, but if the standby system cannot perform normal operations, the redundant configuration loses its meaning, so it is necessary to configure the system by configuring the standby system. The elements are diagnosed in the active system to determine its significance as a standby system.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の二重化交換システムにおけるその構成要素の診断
方式は次のようなものであった。例えば、第５図に示す
如きシステム構成において、そのＯ系が現用系として稼
動している最中に、待機系（１系）の主記憶装置（ＭＭ
、）１０、の診断を為さんとする場合に、現用系の中央
制御装置（ＣＣ０）１２゜から待機系の中央制御装置（
ｃｃｌ　）１２、に対しその主記憶装置診断コマンドを
与える。この現用系から待機系への診断コマンドの転送
はその制御回路１６゜の制御の下に主記憶装置１０ｏか
ら読み出された診断命令を内部バス１８０を介してシフ
トレジスタ２０１に入力させ、そのシフトレジスタ２０
１からケーブル３０を介して待機系のシフトレジスタ２
０１に転送することにより達成される。現用系シフトレ
ジスタ２００から待機系シフトレジスタ２０１への交差
部分Ａが第５図の交差部分Ａを表している。その待機系
のシフトレジスタ２０１にセットされた診断命令を待機
系の制御回路１６．がバス１Ｂ、を介して取り込むこと
により、待機系の主記憶装置１０に対する診断が行なわ
れる。The diagnosis method for the components in the conventional redundant switching system was as follows. For example, in the system configuration shown in Figure 5, while the O system is operating as the active system, the main memory (MM) of the standby system (1 system)
,)10, when trying to diagnose, from the active system central control unit (CC0) 12° to the standby system central control unit (CC0)
ccl ) 12, provides its main storage diagnostic command. The transfer of the diagnostic command from the active system to the standby system is carried out by inputting the diagnostic command read from the main memory 10o to the shift register 201 via the internal bus 180 under the control of the control circuit 16°, and register 20
1 to standby shift register 2 via cable 30
This is achieved by transferring to 01. The intersection A from the active shift register 200 to the standby shift register 201 represents the intersection A in FIG. The diagnostic command set in the standby shift register 201 is transferred to the standby control circuit 16. The standby main storage device 10 is diagnosed by taking in the data via the bus 1B.

その制御回路１６．は、取り込んだ診断命令を命令レジ
スタ２６０を介してそのＣＭアドレス生成回路２２１へ
与える。診断コマンドには、主記憶装置診断マイクロプ
ログラム起動のためのアドレス情報が含まれている。そ
のアドレス情報がＣＭアドレス生成回路２２１で用いら
れて主記憶袋ＺＪｌｉマイクロプログラム内の各マイク
ロ命令を制御記憶装置（ＣＭ）２４．から所定の順序で
読み出すアドレスがＣＭアドレス生成回路２２１から順
次に発生される。その読み出されたマイクロ命令毎に命
令対応に主記憶装置診断のための１つ又は複数の制御信
号が所定の順序で発生され、その診断が行なわれる。こ
の場合における診断には、例えば診断データの主記憶装
置１０１への書込み及びその読出し、その照合処理並び
にその結果の現用系へ転送するための処置が含まれる。Its control circuit 16. provides the imported diagnostic instruction to its CM address generation circuit 221 via the instruction register 260. The diagnostic command includes address information for starting the main memory diagnostic microprogram. The address information is used by the CM address generation circuit 221 to generate each microinstruction in the main memory bag ZJli microprogram in the control memory (CM) 24. The CM address generation circuit 221 sequentially generates addresses to be read from in a predetermined order. One or more control signals for diagnosing the main memory device are generated in a predetermined order in correspondence with each read microinstruction, and the diagnosis is performed. Diagnosis in this case includes, for example, writing and reading diagnostic data to the main storage device 101, checking the data, and transferring the results to the active system.

又、上述診断マイクロプログラムの実行において、ハー
ド的割込み原因が発生すると、ソフト的な割込み原因と
同様、割込みがかけられる。Furthermore, when a hardware interrupt cause occurs during execution of the above-mentioned diagnostic microprogram, an interrupt is generated in the same way as a software interrupt cause.

その診断終了合図を受け取る現用系中央制御装置１２．
は、待機系から診断結果を受け取るための命令を実行し
てその診断結果を取り込み、それに対する処置を執る。The active system central control unit 12 receives the diagnosis completion signal.
The system executes the command to receive the diagnostic results from the standby system, takes in the diagnostic results, and takes action on them.

このような待機系を介して現用系による待機系内の診断
対象構成要素の診断を行なうことにしているのは、現用
系において交換処理のために用いられるプログラムの中
に上述の診断のためのプログラムをも組み込んで上述と
同様の診断を為さんとすると、その診断において、ハー
ド的な障害が発生すると、ハード的な割込み処理が発生
し、主記憶装置アクセス不可等オンライン動作を実行し
得ない状態、つまりシステムダウンの状態に陥ってしま
うのを回避せんがためである。The reason why the active system diagnoses the components to be diagnosed in the standby system via the standby system is because the above-mentioned diagnosis is included in the program used for exchange processing in the active system. If you try to perform the same diagnosis as above by incorporating a program, if a hardware failure occurs during the diagnosis, hardware interrupt processing will occur, making it impossible to perform online operations such as being unable to access the main memory. This is to avoid falling into a system down state.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

このようなシステムダウンは、上述の待機系を介しての
現用系による診断にはないが、その診断には、各診断対
象毎に待機系の診断マイクロプログラムを起動し、その
結果を受け取るため等に費やされる時間が不可避的に含
まれてしまうため、３６１ｔＦｉに要する時間が長くな
らざるを得ない。リアルタイム性を要求される交換処理
の場合には、そのために悪影響を受けることになる。This kind of system down does not occur in the above-mentioned diagnosis using the active system via the standby system, but the diagnosis involves starting a standby diagnostic microprogram for each diagnosis target and receiving the results. Since the time spent on 361tFi is unavoidably included, the time required for 361tFi inevitably becomes longer. In the case of exchange processing that requires real-time performance, this will have an adverse effect.

又、二重化システムにおいては、現用系において処理し
たデータをその主記憶装置に格納する場合には、そのデ
ータを又、そっくり待機系の主記憶装置に系間バス５０
を介して格納する。これはその待機系が現用系として動
作しなければならない状況にシステムの動作状態が陥っ
たときに備えるためである。従って、主記憶装置に格納
されるデータはその中に正しく格納されていることが必
要である。In addition, in a redundant system, when data processed in the active system is stored in its main memory, the data is also transferred to the main memory of the standby system via the intersystem bus 50.
Store via. This is to prepare for when the operating state of the system falls into a situation where the standby system must operate as the active system. Therefore, it is necessary that the data stored in the main memory be stored correctly therein.

しかしながら、上述従来診断方式の下では、待機系のた
めのインクフェイス（ドライバ等）を含めた診断は行な
い得てはいるが、上述データが通る待機系主記憶装置の
現用系インクフェイスに対する診断は行なわれないまま
、上述のデータはそのインクフェイスが当然に正常な動
作にあるものとして上述待機に備えている。従って、そ
のインクフェイスに障害が発生すると、二重化システム
の意義が喪失するに至り、事は極めて重大である。However, under the conventional diagnosis method described above, although it is possible to diagnose the ink face including the standby system ink face (driver, etc.), it is not possible to diagnose the active system ink face of the standby system main storage device through which the above-mentioned data passes. The above-mentioned data is prepared for the above-mentioned standby, assuming that the ink face is in normal operation. Therefore, if a failure occurs in the ink face, the meaning of the redundant system will be lost, which is extremely serious.

これを回避するためには、系の切替えを行なって待機系
を介しての診断では漏れてしまう部分の診断を行なわざ
るを得なかった。この系切替えには時間がかかり過ぎる
という難点を有する。従って、診断の高速化の障害とな
っている。In order to avoid this, it has been necessary to switch systems and perform diagnosis on parts that would otherwise be omitted by diagnosis via the standby system. This system switching has the disadvantage that it takes too much time. Therefore, this is an obstacle to speeding up diagnosis.

本発明は、斯かる問題点に鑑みて創作されたもので、診
断時間の短縮化、診断精度の向上を図り得る二重化シス
テム診断方式を提供することをその目的とする。The present invention was created in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a redundant system diagnosis method that can shorten diagnosis time and improve diagnosis accuracy.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第１図は本発明の原理ブロック図を示す。本発明は、現
用系のメモリ（１０゜又は１０．）から読み出された診
断命令によって現用系の制御記憶装置から読み出される
マイクロプログラムによって待機系診断対象構成要素を
診断するようにしたものである。そのために、各系制御
記憶装置毎に同一の診断命令処理用マイクロプログラム
及びハード的割込み禁止を含む診断マイクロプログラム
を格納したことと、現用系のメモリ（１１０又は１１＋
）から現用系の命令レジスタ（２６０又は２６、）へ読
み出された診断命令の命令コードで現用系の制御記憶装
置から診断命令処理用マイクロプログラムを読み出すこ
とと、その読み出される診断命令処理用マイクロプログ
ラムによってゲート回路３２０、３４０、３２１，３４
１を制御することと、前記読み出された診断命令のアド
レス生成部を用いて前記診断マイクロプログラムを読み
出すためのアドレス生成データを現用系の演算回路（３
００又は３０．）から出力せしめることとを二重化シス
テム内に構築して本発明は構成されている。２２０又は
２２１は診断命令の命令コードに受けて現用系の制御記
憶装置（ＣＭ）から診断命令処理用マイクロプログラム
を読み出させるためのアドレスを発生するＣＭアドレス
生成回路である。２００又は２０＋　はゲート回路３２
０又は３２．からのアドレス生成データを入力してその
アドレス生成データをゲート回路３４０又は３４１を介
してＣＭアドレス生成回路２２０又は２２１へ出力する
シフトレジスタである。FIG. 1 shows a block diagram of the principle of the present invention. The present invention diagnoses a component to be diagnosed in a standby system by a microprogram read out from a control storage device in an active system in accordance with a diagnostic instruction read out from a memory (10° or 10.) in an active system. . To this end, we stored the same diagnostic instruction processing microprogram and diagnostic microprogram including hardware interrupt prohibition in each system control storage device, and the current system memory (110 or 11+
) to the instruction register (260 or 26) of the active system to read the diagnostic instruction processing microprogram from the control storage device of the active system, and the read diagnostic instruction processing microprogram. Gate circuits 320, 340, 321, 34 by program
1, and the address generation data for reading out the diagnostic microprogram using the address generation section of the read diagnostic instruction is sent to the active system arithmetic circuit (3
00 or 30. ) is constructed in a duplex system. A CM address generation circuit 220 or 221 generates an address for reading a diagnostic instruction processing microprogram from the active control memory (CM) in response to the instruction code of the diagnostic instruction. 200 or 20+ is gate circuit 32
0 or 32. This is a shift register that inputs address generation data from and outputs the address generation data to the CM address generation circuit 220 or 221 via the gate circuit 340 or 341.

〔作　用〕[For production]

現用系のメモリからプログラムを読み出し、現用系によ
るシステムの稼動を為すための現用系のメモリ（例えば
、０系のメモリ１１０）から読み出されるプログラムの
中に待機系診断対象構成要素のだめの診断命令が現用系
命令レジスタ２６０に読み出されると、その命令コード
を人力されるＣＭアドレス生成回路２００からアドレス
が順次に出力され、そのアドレスによって診断命令処理
用マイクロプログラムが制御記憶装置から読み出される
のと並行して、診断命令のアドレス生成部を入力される
演算回路３０．からアドレス生成データが出力される。A program is read from the active system memory, and a diagnostic instruction for a component to be diagnosed on the standby system is included in the program read from the active system memory (for example, the 0 system memory 110) for operating the system by the active system. When the instruction code is read into the active system instruction register 260, the address is sequentially outputted from the CM address generation circuit 200 into which the instruction code is manually input, and the diagnostic instruction processing microprogram is read out from the control storage device in parallel with the address. The arithmetic circuit 30. which receives the address generation part of the diagnostic command. Address generation data is output from.

そのアドレス生成データは制御記憶装置から読み出され
る診断命令処理用マイクロプログラムのマイクロ命令を
下にして発生されるゲート信号によってゲート回路３２
ｏを介してシフトレジスタ２０１へ入力された後、シフ
トレジスタ２０１へ入力されたアドレス生成データは制
御記憶装置から読み出される診断命令処理用マイクロプ
ログラムのマイクロ命令を下にして発生されるゲート信
号によってゲート回路３４０を介してＣＭアドレス生成
回路２２０に入力される。The address generation data is sent to the gate circuit 32 by a gate signal generated in response to a microinstruction of a diagnostic instruction processing microprogram read from a control storage device.
The address generation data input to the shift register 201 is gated by a gate signal generated under the microinstruction of the diagnostic instruction processing microprogram read from the control storage. The signal is input to the CM address generation circuit 220 via the circuit 340.

そのＣＭアドレス生成回路２２０から前記診断命令対応
の診断マイクロプログラムを読み出すためのアドレスが
順次に出力される。読み出される診断マイクロプログラ
ムによって、現用系から直接、待機系の診断命令に対応
する診断対象構成要素の診断が行なわれる。その診断に
おいて発生されるハード的割込みは診断マイクロプログ
ラムの実行において禁止される。The CM address generation circuit 220 sequentially outputs addresses for reading the diagnostic microprogram corresponding to the diagnostic command. The diagnostic microprogram that is read directly diagnoses the component to be diagnosed corresponding to the diagnostic instruction in the standby system from the active system. Hard interrupts generated during the diagnosis are prohibited in the execution of the diagnostic microprogram.

従って、待機系を介することはないから、介することに
よって費やされる時間は不用となり、診断の高速化とな
る。二重化系であるために現用系に生起している各種情
報を絶えず待機系に転送（コピー）しなければならない
回路系の診断も同時に行なうことができる。これ又、診
断の高速化を促す。Therefore, since there is no need to go through the standby system, the time spent by going through the system is unnecessary, resulting in faster diagnosis. Since the system is a redundant system, it is also possible to simultaneously diagnose the circuit system in which various information occurring in the active system must be constantly transferred (copied) to the standby system. This also facilitates faster diagnosis.

〔実施例〕〔Example〕

第２図は本発明一実施例の要部構成を示すための図であ
る。この実施例は第５図に示すシステム構成における実
施例で、そのハード構成を示す。FIG. 2 is a diagram showing the main structure of an embodiment of the present invention. This embodiment is based on the system configuration shown in FIG. 5, and shows its hardware configuration.

第２図において、第５図のシステム構成の制御系を示す
第６図に明示されていない構成要素として（但し、０系
のみを示す。）、多糸で実行される命令の実行において
通常、アドレス生成等にも用いられる演算回路３００、
並びにゲート回路３２０、３４０、が示されている。In FIG. 2, as components not clearly shown in FIG. 6 showing the control system of the system configuration of FIG. 5 (however, only the 0 system is shown), there are usually Arithmetic circuit 300, which is also used for address generation, etc.
Also shown are gate circuits 320, 340.

第３図は主記憶装置１０゜に他のプログラムと共にプロ
グラムされる診断命令を示し、命令コードＯＰ及びアド
レス生成部（ａ、パート）を含む。FIG. 3 shows diagnostic instructions programmed into the main memory 10° together with other programs, and includes an instruction code OP and an address generation section (a, part).

又、制御記憶装置２４ｏの中には、他のマイクロプログ
ラムと共に、診断マイクロプログラム及び診断処理用マ
イクロプログラムが格納されている。その診断マイクロ
プログラムはハード的割込み禁止機能をも含んで成る。Further, in the control storage device 24o, a diagnostic microprogram and a diagnostic processing microprogram are stored together with other microprograms. The diagnostic microprogram also includes a hard interrupt disabling function.

診断処理用マイクロプログラムはゲート回路３２０、３
４０のゲート制ｊｌＨのためのものである。The microprogram for diagnostic processing is the gate circuit 320, 3
It is for 40 gated jlHs.

この構成に成るシステムの動作を以下に説明する。The operation of the system having this configuration will be explained below.

説明の便宜上、０系が現用系として動作している途中に
おいて、０系制御回路１６゜の制御の下にＯ系主記憶装
置１０゜から読み出されて来て命令レジスタ（ＰＲＩＲ
）２６０にセットされた命令が、例えば１系の主記憶装
置診断命令であるとすると（第４図の８１）、その命令
コードは、制御記憶装置２４゜から診断命令処理用マイ
クロプログラムを読み出すためのアドレスを発生するよ
う、ＣＭアドレス生成回路２２０へ入力され、そのアド
レス生成部は演算回路３００へ入力される。For convenience of explanation, while the 0 system is operating as the active system, the instruction register (PRIR) is read from the O system main memory 10° under the control of the 0 system control circuit 16°.
) 260 is, for example, a system 1 main memory diagnosis instruction (81 in FIG. 4), the instruction code is used to read a diagnostic instruction processing microprogram from the control memory 24°. The address is input to the CM address generation circuit 220 to generate an address, and the address generation section is input to the arithmetic circuit 300.

演算回路３００からのアドレス生成データａ２は内部バ
ス１８゜を介してゲート回路３２０へ供給される。Address generation data a2 from the arithmetic circuit 300 is supplied to the gate circuit 320 via the internal bus 18°.

そのゲート回路３２０は制御記憶装置２４゜からＣＭ命
令レジスタ（ＣＭＩＲ）２８゜へ読み出された診断命令
処理用マイクロプログラムのマイクロ命令から発生され
るゲート信号によってバス１８０上のアドレス生成デー
タをシフトレジスタ２００のデータ部（ＳＦＲＤ）２１
゜へ入力される（第４図の３２）。データ部（ＳＦＲＤ
）２１。のアドレス生成データはＣＭ命令レジスタ２８
０へその後に読み出されたマイクロ命令から発生される
ゲート信号によってゲート回路３４０を介してＣＭアド
レス生成回路２２０へ入力される（第４図の３３）。The gate circuit 320 shifts the address generation data on the bus 180 into a register by a gate signal generated from a microinstruction of a diagnostic instruction processing microprogram read from the control storage device 24° to a CM instruction register (CMIR) 28°. 200 data section (SFRD) 21
(32 in Fig. 4). Data section (SFRD
)21. The address generation data is stored in the CM instruction register 28.
A gate signal generated from the microinstruction read out thereafter is input to the CM address generation circuit 220 via the gate circuit 340 (33 in FIG. 4).

ＣＭアドレス生成回路２２０へ入力されたアドレス生成
データａ２は命令レジスタ２６０にセットされた診断命
令対応の診断マイクロプログラムを読み出すためのアド
レス生成に供される。ＣＭアドレス生成回路２４゜から
順次生成される当該診断マイクロプログラムのためのマ
イクロ命令読出しアドレスによって、制御記憶装置２４
゜からマイクロ命令が順次に読み出され、その各々のマ
イクロ命令は読み出された順にＣＭ命令レジスタ２８、
にセットされ、診断が行なわれる（第４図の３４）。そ
の診断のため、ＣＭ命令レジスタ２８ｏにセットされる
マイクロ命令のうち、ハード的割込み禁止を生ぜしめる
ためのマイクロ命令によって、診断対象構成要素（上記
段剥では、主記憶装置）の診断において発生されるハー
ド的割込みがかからないように、対応各回路へ割込み禁
止信号が供給される。The address generation data a2 input to the CM address generation circuit 220 is used to generate an address for reading the diagnostic microprogram corresponding to the diagnostic instruction set in the instruction register 260. The control storage device 24 is controlled by the microinstruction read address for the diagnostic microprogram that is sequentially generated from the CM address generation circuit 24°.
Microinstructions are sequentially read out from ゜, and each microinstruction is stored in the CM instruction register 28,
is set, and diagnosis is performed (34 in FIG. 4). For this diagnosis, among the microinstructions set in the CM instruction register 28o, a microinstruction for disabling hardware interrupts is generated during diagnosis of the component to be diagnosed (in the above-mentioned section, the main memory). An interrupt disabling signal is supplied to each corresponding circuit to prevent hardware interrupts from occurring.

ＣＭ命令レジスタ２８にセットされるそれ以外のマイク
ロ命令は、従来公知方式で、命令レジスタ２６０にセッ
トされた診断命令で指定されるシステム内構成要素、前
記段剥の下では１系の主記憶装置１０．に対する一連の
診断を行なうための制御信号を発生するのに用いられる
。その診断によって探知された障害箇所、障害内容は、
前記診断命令の後で主記憶装置１０゜から読み出されて
来る診断データ収集用の命令による参照に供すべく、適
宜の格納域、例えば汎用レジスタに一時格納される。Other microinstructions set in the CM instruction register 28 are stored in the system components specified by the diagnostic instruction set in the instruction register 260, and in the 1st system main memory under the above-mentioned step separation, in a conventionally known manner. 10. It is used to generate control signals for performing a series of diagnostics. The fault location and fault details detected by the diagnosis are as follows:
The data is temporarily stored in an appropriate storage area, for example, a general-purpose register, for reference by a diagnostic data collection command read from the main memory 10° after the diagnostic command.

上述のように、主記憶装置１０１の診断は現用系から、
システムダウンなしに直接に行なうことができる。従っ
て、待機系を介することによって、その診断のために費
やされる時間（例えば、その診断依願及びその結果を受
け取るために必要な命令の実行時間）が診断時間に加算
されることはなくなるから、診断時間の短縮化が図れる
。As mentioned above, diagnosis of the main storage device 101 starts from the active system.
This can be done directly without system down. Therefore, by going through the standby system, the time spent for the diagnosis (for example, the execution time of the instructions necessary to request the diagnosis and receive the results) will not be added to the diagnosis time, so the diagnosis Time can be shortened.

他の診断対象構成要素、例えば入出力装置の制御のため
のチャネル制御装置（第５図のＣＨＣ，。Other components to be diagnosed, such as a channel control device (CHC in FIG. 5) for controlling input/output devices.

ＣＨＣ，）についても、同様であるから、システムのオ
ンライン診断における待機系診断に要する診断時間を大
幅に短縮することができる。又、上記主記憶装置の診断
例では、上記診断において待機系主記憶装置１０゜の０
系インタフエイスの診断も同時に為される。このように
、待機系を介しての診断方式においては、必然的に必要
となる系切換えなしに待機系の現用系インクフェイスの
診断を為し得るから、この点からも診断の高速化を助長
することができる。この後者の効果は、又診断精度の向
上となる。The same applies to CHC,), so the diagnosis time required for standby diagnosis in online diagnosis of the system can be significantly shortened. In addition, in the example of diagnosis of the main memory device described above, in the above diagnosis, the standby main memory device 10° is 0.
The system interface is also diagnosed at the same time. In this way, in the diagnosis method using the standby system, it is possible to diagnose the active system ink face of the standby system without switching the system, which is inevitably necessary, and this also helps speed up the diagnosis. can do. This latter effect also improves diagnostic accuracy.

従って、待機系診断が現用系処理に与える悪影響を更に
緩和することができる。Therefore, it is possible to further alleviate the adverse effects that standby system diagnosis has on active system processing.

なお、上記実施例は、二重化ディジタル交換システムに
ついての例であったが、他の類似形式の二重化システム
の中でも同様に実施し得る。Although the above embodiment is an example of a duplex digital switching system, it can be similarly implemented in other duplex systems of similar type.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたところから明らかなように本発明によれば、
現用系から待機系診断対象構成要素の診断に際して、そ
の診断対象構成要素から発生するハード的割込み禁止処
理を行なっているから、現用系から直接待機系診断対象
構成要素の診断を行なってもシステムダウンを生ぜしめ
てしまうことなしに待機系診断対象構成要素の診断を現
用系から直接行なうことができる。その際に、待機系の
現用系インクフェイスの診断も同時に行なうことができ
る。これは系切替えを行なうことなしに待機系の現用系
インタフェイスの診断を行なうことになるので、現用系
から待機系直接診断と相俟って診断の高速化となる。こ
の高速化と同時に、診断精度の向上が図れ、これらは又
、待機系°診断によって現用系処理に与えられる悪影響
の緩和に更に寄与する。As is clear from the above description, according to the present invention,
When diagnosing a component to be diagnosed in the standby system from the active system, hardware interrupts generated from the component to be diagnosed are disabled, so even if the component to be diagnosed in the standby system is directly diagnosed from the active system, the system will not go down. Diagnosis of the components to be diagnosed on the standby system can be directly performed from the active system without causing problems. At this time, diagnosis of the standby and active ink faces can be performed at the same time. Since this diagnoses the active system interface of the standby system without performing system switching, in combination with the direct diagnosis from the active system to the standby system, the speed of diagnosis is increased. Simultaneously with this increase in speed, the accuracy of diagnosis can be improved, which further contributes to alleviating the negative impact that standby system diagnosis has on active system processing.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第１図は本発明の原理ブロック図、 第２図は本発明実施例の要部構成を示すための図、第３
図は診断命令のフォーマットを示す図、第４図は処理フ
ローを示す図、 第５図は二重化ディジタル交換機の交換制御部の構成図
、 第６図は第５図二重化構成における制御系を示す図であ
る。 第１図及び第２図において、 １１０、！１１　はメモリ（主記憶装置１０゜、１０゜
２０、．２０ ２２ｏ、２２０ ２６０、２６０ ３００２３００ ３２０、３２ はシフトレジスタ、 はＣＭアドレス生成回路、 は命令レジスタ、 は演算回路、 ３４ｏ、３４．はゲート回路である。 法肩ト日月のか県ブ０ヅク図 第 図 各発明充ち例１印精へ一亦υ・の刈Δ 第 図 絆這１命〆ミの　フ！−でヅＬ 第 図 Ｒ４７θ− 第 図 第 図　二重イ乙楕へ＋；ｈ＋７ｓ＄づ作ｒｔ第 図Figure 1 is a block diagram of the principle of the present invention, Figure 2 is a diagram showing the main configuration of an embodiment of the present invention, and Figure 3 is a diagram showing the main part configuration of an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a diagram showing the format of the diagnostic command, Figure 4 is a diagram showing the processing flow, Figure 5 is a diagram showing the configuration of the switching control section of the duplex digital exchange, and Figure 6 is a diagram showing the control system in the duplex configuration shown in Figure 5. It is. In Figures 1 and 2, 110,! 11 is memory (main memory 10°, 10°20, .20 22o, 220 260, 260 3002300 320, 32 is shift register, is CM address generation circuit, is instruction register, is arithmetic circuit, 34o, 34. is gate It is a circuit. Figure R47θ - Diagram Diagram Double A oto ellipse +;

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] （１）各系（０系、１系）毎にメモリ（１１＿０、１１
＿１）、命令レジスタ（２６＿０、２６＿１）、制御記
憶装置のための読出しアドレスを生成するＣＭアドレス
生成回路（２２＿０、２２＿１）、命令実行のためのア
ドレス生成等に用いられる演算回路（３０＿０、３０＿
１）、他系とのコマンド受渡しのためのシフトレジスタ
（２０＿０、２０＿１）及びゲート回路（３２＿０、３
４＿０、３２＿１、３４＿１）を含む二重化システムに
おいて、 各メモリ（１１＿０、１１＿１）毎に格納された前記二
重化システムのためのプログラム内にプログラムされた
他系診断対象構成要素のための診断命令と、 前記各制御記憶装置毎に格納された診断命令処理用マイ
クロプログラム及びハード的割込み禁止を含む診断マイ
クロプログラムとを設け、 系が現用系として動作するとき、当該系の命令レジスタ
（２６＿０又は２６＿１）に、セットされた前記診断命
令の命令コードに応答した当該系のＣＭアドレス生成回
路（２２＿０又は２２＿１）によって当該系の制御記憶
装置から読み出される前記診断命令処理用マイクロプロ
グラムの実行により前記診断命令のアドレス生成部を受
け取る当該系の演算回路（３０＿０又は３０＿１）のア
ドレス生成データを前記ゲート回路（３２＿０又は３２
＿１）を介して当該系のシフトレジスタ（２０＿０又は
２１＿１）へ入力させた後、ゲート回路（３４＿０又は
３４＿１）を介して当該系のＣＭアドレス生成回路（２
２＿０又は２２＿１）へ入力せしめて前記診断マイクロ
プログラムを起動し、診断対象構成要素の診断で発生さ
れるハード的割込みを禁止しつつその診断を実行するこ
とを特徴とする二重化システム診断方式。(1) Memory (11_0, 11
_1), instruction registers (26_0, 26_1), CM address generation circuits (22_0, 22_1) that generate read addresses for the control storage device, arithmetic circuits (30_0, 30_1) used to generate addresses for executing instructions, etc.
1), shift registers (20_0, 20_1) and gate circuits (32_0, 3) for exchanging commands with other systems.
4_0, 32_1, 34_1), a diagnostic command for a component to be diagnosed in another system programmed in a program for the duplex system stored in each memory (11_0, 11_1); A diagnostic instruction processing microprogram and a diagnostic microprogram including hardware interrupt prohibition are provided for each control storage device, and when the system operates as the active system, the instruction register (26_0 or 26_1) of the system is The address of the diagnostic instruction is generated by executing the diagnostic instruction processing microprogram read from the control storage device of the system by the CM address generation circuit (22_0 or 22_1) of the system in response to the instruction code of the diagnostic instruction that has been set. The address generation data of the arithmetic circuit (30_0 or 30_1) of the system that receives the part is sent to the gate circuit (32_0 or 32_0).
_1) to the shift register (20_0 or 21_1) of the system, and then input it to the CM address generation circuit (20_0 or 21_1) of the system through the gate circuit (34_0 or 34_1).
2_0 or 22_1) to start the diagnostic microprogram and execute the diagnosis while prohibiting hardware interrupts generated during the diagnosis of the component to be diagnosed.