JPH0210241A - 光フィイバ線路の試験方法 - Google Patents
光フィイバ線路の試験方法Info
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- JPH0210241A JPH0210241A JP63161995A JP16199588A JPH0210241A JP H0210241 A JPH0210241 A JP H0210241A JP 63161995 A JP63161995 A JP 63161995A JP 16199588 A JP16199588 A JP 16199588A JP H0210241 A JPH0210241 A JP H0210241A
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Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば交換局と加入者との間に付設される光フ
ァイバ線路の試験方法に関するものである。
ァイバ線路の試験方法に関するものである。
(従来の技術〕
従来のこの種の試験方法としては、光ファイバ線路の両
端にそれぞれ設けられている発光素子及び受光素子によ
って両端間で行われる光通信の信号の切れ口に、上記光
ファイバ線路が正常であるか否かを検出するための試験
信号を上記両端間で送受し、受信した光の強さ(パワー
)に基づき試験を行う手法が知られている(例えば、N
TT研究実月1化報告第34巻第7号(1985)P。
端にそれぞれ設けられている発光素子及び受光素子によ
って両端間で行われる光通信の信号の切れ口に、上記光
ファイバ線路が正常であるか否かを検出するための試験
信号を上記両端間で送受し、受信した光の強さ(パワー
)に基づき試験を行う手法が知られている(例えば、N
TT研究実月1化報告第34巻第7号(1985)P。
1089〜1098永瀬ら“加入者線光伝送方式保守試
験システム°)。また、先ファイバ線路の送受系を一時
切離し、先パルス試験機を用いて試験を行う方法も検討
されている。
験システム°)。また、先ファイバ線路の送受系を一時
切離し、先パルス試験機を用いて試験を行う方法も検討
されている。
しかしながら、上記試験方法のうち前者の方法によると
、通信路に障害があることは検出できても、ファイバ線
路のどの部分で障害が発生したかを検出することができ
ないという問題点があった。
、通信路に障害があることは検出できても、ファイバ線
路のどの部分で障害が発生したかを検出することができ
ないという問題点があった。
また、後者の方法によると本来の通信を止めねばならな
いほか、光ファイバ線路を光パルス試験機に接続するた
めの光スィッチが必要となり、しかもこの光スィッチが
故障すると通信が行えなくなるため高精度なものが要求
されるが、このようなものは実現されていないという問
題点が発生していた。
いほか、光ファイバ線路を光パルス試験機に接続するた
めの光スィッチが必要となり、しかもこの光スィッチが
故障すると通信が行えなくなるため高精度なものが要求
されるが、このようなものは実現されていないという問
題点が発生していた。
そこで本発明は、本来の通信を止める必要がなく、また
、特別な高精度の部品がなくても実現でき、更に、光フ
ァイバ線路のどの部分で障害が発生したか検出を行うこ
との可能な光ファイバ線路の試験方法をu tttする
ことを目的とする。
、特別な高精度の部品がなくても実現でき、更に、光フ
ァイバ線路のどの部分で障害が発生したか検出を行うこ
との可能な光ファイバ線路の試験方法をu tttする
ことを目的とする。
本発明に係る光ファイバ線路の試験方法は、双方向で光
送受信が行われる光ファイバ線路の所定箇所に光の分岐
及び合流を行う分岐合流手段を設け、この分岐合流手段
を介して取込んだ光のレベルに基づいて通信中か否かを
監視し、通信中でないことが検出されている場合には前
記分岐合流手段を介して光信号を送信し、このときに得
られる光のレベルに基づき前記光ファイバ線路の試験を
行うことを特徴とする。
送受信が行われる光ファイバ線路の所定箇所に光の分岐
及び合流を行う分岐合流手段を設け、この分岐合流手段
を介して取込んだ光のレベルに基づいて通信中か否かを
監視し、通信中でないことが検出されている場合には前
記分岐合流手段を介して光信号を送信し、このときに得
られる光のレベルに基づき前記光ファイバ線路の試験を
行うことを特徴とする。
本発明に係る光ファイバ線路の試験方法は、以上の通り
に構成されるので、分岐合流手段を介して分岐されてく
る光信号をモニタすることにより通信中か否かの監視が
なされて、通信が行われていないときに上記分岐合流手
段を介して試験用の光信号を送信して光ファイバ線路の
所定部分の断線等の試験が行われることになる。
に構成されるので、分岐合流手段を介して分岐されてく
る光信号をモニタすることにより通信中か否かの監視が
なされて、通信が行われていないときに上記分岐合流手
段を介して試験用の光信号を送信して光ファイバ線路の
所定部分の断線等の試験が行われることになる。
上記の通信中か否かの監視の場合には、光ファイバ線路
の一端から送信された光は直接に分岐合流手段を介して
得られ、光ファイバ線路の他端から送信された光は後方
散乱光等となって分岐合流手段を介して得られ、いずれ
の光かはレベルにより検出でき、かつ、試験用に発した
光も後方散乱光等となって分岐合流手段を介して得られ
、この得られる光のレベルで断線伝送損失増加等を検出
できる。
の一端から送信された光は直接に分岐合流手段を介して
得られ、光ファイバ線路の他端から送信された光は後方
散乱光等となって分岐合流手段を介して得られ、いずれ
の光かはレベルにより検出でき、かつ、試験用に発した
光も後方散乱光等となって分岐合流手段を介して得られ
、この得られる光のレベルで断線伝送損失増加等を検出
できる。
以下、添付図面の第1図乃至第4図を参照して本発明の
詳細な説明する。
詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る光ファイバ線路の試験
方法が適用される光通信システムのブロック図である。
方法が適用される光通信システムのブロック図である。
同図において、符号1は発光素子及び受光素子を含む送
受信装置を示しており、交換局に設けられる。符号2は
発光素子及び受光素子を含む送受信装置を示しており、
加入者端末として設けられる。送受信装置1,2間は光
ファイバ線路3によって接続される。光ファイバ線路3
の交換局に近い所要部には分岐合流手段である分岐合流
器4が設けられる。
受信装置を示しており、交換局に設けられる。符号2は
発光素子及び受光素子を含む送受信装置を示しており、
加入者端末として設けられる。送受信装置1,2間は光
ファイバ線路3によって接続される。光ファイバ線路3
の交換局に近い所要部には分岐合流手段である分岐合流
器4が設けられる。
ここで、分岐合流器4について説明する。光ファイバは
折れ曲げられるとこの折れ曲った部分から外方へ光を放
射し、また、光を入射するようになるから、この折曲を
用いてもよいが、損失が大きいので、2本の光ファイバ
を密着させたときに生じるクロストークを利用する。つ
まり、2本の先ファイバを密告させた状態で密告部分に
熱を加えて長手方向にわずかに引き、2本の光ファイバ
を融むさせてそれぞれのコアが近接した状態のものを得
る。このようにして得られた分岐合流器4を介した光フ
ァイバ3Aにパルス試験機5を接続する。
折れ曲げられるとこの折れ曲った部分から外方へ光を放
射し、また、光を入射するようになるから、この折曲を
用いてもよいが、損失が大きいので、2本の光ファイバ
を密着させたときに生じるクロストークを利用する。つ
まり、2本の先ファイバを密告させた状態で密告部分に
熱を加えて長手方向にわずかに引き、2本の光ファイバ
を融むさせてそれぞれのコアが近接した状態のものを得
る。このようにして得られた分岐合流器4を介した光フ
ァイバ3Aにパルス試験機5を接続する。
第2図にパルス試験″W5の構成を示す。51はパルス
発生器であり、この出力信号がレーザダイオード52に
与えられ、ここからのレーザ光は方向性結合W53へ導
びかれる。方向性結合器53へ与えられた光信号(試験
用)は光ファイバ3Aへ送出される。一方、方向性結合
器53を介して光ファイバ3Aから到来する光はアバラ
ンシェフォトダイオード54で受光され、電気信号とさ
れて増幅器55で増幅され平均化回路56へ導びかれる
。平均化回路で平均化された光のレベル信号は表示器5
7へ送られ、これに基づく表示がなされる。
発生器であり、この出力信号がレーザダイオード52に
与えられ、ここからのレーザ光は方向性結合W53へ導
びかれる。方向性結合器53へ与えられた光信号(試験
用)は光ファイバ3Aへ送出される。一方、方向性結合
器53を介して光ファイバ3Aから到来する光はアバラ
ンシェフォトダイオード54で受光され、電気信号とさ
れて増幅器55で増幅され平均化回路56へ導びかれる
。平均化回路で平均化された光のレベル信号は表示器5
7へ送られ、これに基づく表示がなされる。
また、増幅器55の出力信号は図示しない比較手段に導
かれ送受信装置1.2間で通信が行われているか否かの
検出に用いられ、その結果に基づいてパルス発生器51
によるパルスの発生が制御される。具体的には、光ファ
イバ線路3による伝送損失が20dB程度であるとする
と、分岐合流′rA4により到来する光信号としては、
送受信装置2から送信されて直接到来するものと、送受
信装置1から送信され光ファイバ線路3の所定位置で後
方散乱を生じて後方散乱光として到来するものと、レー
ザーダイオード52から射出され光ファイバ線路3の所
定位置で後方散乱を生じて後方散乱光として到来するも
のとがあるから、第3図に示されるように送受信装置1
から送出される場合にOdB であると、−20dB
に分岐合流器■
14で10%分岐されるときの
10dBを加え一30dB で受信でき、送受信装置
2から送出さ■ れて後方散乱光となったものでは一40dB に■ 10dBの減衰を加えて一50dB となる。通信中
の場合には一50dB 以上となるはずであ■ るから、試験用の光信号による後方散乱光によるものを
一50dB よりマージンを見込んだだけ腸 小さくなるようにパルス発生器51、レーザダイオード
52の駆動系等の設定を行っておく。そして、通信中の
判定レベルを第3図に示すように一55dB 程度と
魁ておき、これより大きなレベ■ ルが所定時間検出されたとき前述の比較手段によりパル
ス発生器51によるパルス発生を止め、光の送信が停止
されるようにする。
かれ送受信装置1.2間で通信が行われているか否かの
検出に用いられ、その結果に基づいてパルス発生器51
によるパルスの発生が制御される。具体的には、光ファ
イバ線路3による伝送損失が20dB程度であるとする
と、分岐合流′rA4により到来する光信号としては、
送受信装置2から送信されて直接到来するものと、送受
信装置1から送信され光ファイバ線路3の所定位置で後
方散乱を生じて後方散乱光として到来するものと、レー
ザーダイオード52から射出され光ファイバ線路3の所
定位置で後方散乱を生じて後方散乱光として到来するも
のとがあるから、第3図に示されるように送受信装置1
から送出される場合にOdB であると、−20dB
に分岐合流器■
14で10%分岐されるときの
10dBを加え一30dB で受信でき、送受信装置
2から送出さ■ れて後方散乱光となったものでは一40dB に■ 10dBの減衰を加えて一50dB となる。通信中
の場合には一50dB 以上となるはずであ■ るから、試験用の光信号による後方散乱光によるものを
一50dB よりマージンを見込んだだけ腸 小さくなるようにパルス発生器51、レーザダイオード
52の駆動系等の設定を行っておく。そして、通信中の
判定レベルを第3図に示すように一55dB 程度と
魁ておき、これより大きなレベ■ ルが所定時間検出されたとき前述の比較手段によりパル
ス発生器51によるパルス発生を止め、光の送信が停止
されるようにする。
第1図のような構成の試験系は、交換局と加入者との間
の光ファイバ線路毎に設けられるのであるが、光パルス
試験機5は取外し可能となっており、各通信系の試験を
次々に行ってゆくように用いられる。このとき、光パル
ス試験機5が取外された(取付けられていても同じであ
るが)系では分岐合流器4で10%の分岐が生じるが、
出力レベルを十分大きくして通信に障害が生じないよう
に送受信装置1.2を設定しておくようにする。
の光ファイバ線路毎に設けられるのであるが、光パルス
試験機5は取外し可能となっており、各通信系の試験を
次々に行ってゆくように用いられる。このとき、光パル
ス試験機5が取外された(取付けられていても同じであ
るが)系では分岐合流器4で10%の分岐が生じるが、
出力レベルを十分大きくして通信に障害が生じないよう
に送受信装置1.2を設定しておくようにする。
このような通信システムでは、光ファイバ線路3の試験
は次のようにして行われる。
は次のようにして行われる。
光ファイバ3Aに光パルス試験機5を接続し、動作を開
始させる。すると、方向性結合器53、アバランシェフ
ォトダイオード54、増幅器55%平均化回路56によ
る動作がなされ、光通信中か否かの監視が行われる。つ
まり、平均化回路56で得られる平均化レベルが一30
dB であれば■ 送受信装置2による送信が行われているのであり、−5
0dB であれば送受信装置1による送信が行われ後
方散乱光が得られているのである。この状態では判定レ
ベル(第3図)を越えることから、ルス発生器51によ
るパルス発生は行われない。
始させる。すると、方向性結合器53、アバランシェフ
ォトダイオード54、増幅器55%平均化回路56によ
る動作がなされ、光通信中か否かの監視が行われる。つ
まり、平均化回路56で得られる平均化レベルが一30
dB であれば■ 送受信装置2による送信が行われているのであり、−5
0dB であれば送受信装置1による送信が行われ後
方散乱光が得られているのである。この状態では判定レ
ベル(第3図)を越えることから、ルス発生器51によ
るパルス発生は行われない。
一方、受信した光による平均化レベルが判定レベルより
下った状態が所定時間続くと、通信が行われていないと
判定され、比較手段がパルス発生器51によるパルス発
生を許可する。レーザダイオード52より出力されたレ
ーザ光は方向性結合器53、光ファイバ3Aへ送出され
光ファイバ線路3において生じる後方散乱光として、あ
るいは、コネクタ等で発生するフレネル反射光として戻
ってくる。これを方向性結合器53、アバランシェフォ
トダイオード54、増幅器55、平均化回路56、表示
器57で検出し、光ファイバ線路3の異常(損失増加、
断線等)を試験する。ここで用いられる損失の測定手法
は、レーザダイオード52から発生される光パルスに対
応する反射光の時間変化に基づくも、の等の公知の手法
が用いられ、測定精度の向上のため複数回のハ1定結果
の平均値(平均化回路56による)が使用されて、光フ
ァイバ線路3の長平方向の損失分布が求められる。
下った状態が所定時間続くと、通信が行われていないと
判定され、比較手段がパルス発生器51によるパルス発
生を許可する。レーザダイオード52より出力されたレ
ーザ光は方向性結合器53、光ファイバ3Aへ送出され
光ファイバ線路3において生じる後方散乱光として、あ
るいは、コネクタ等で発生するフレネル反射光として戻
ってくる。これを方向性結合器53、アバランシェフォ
トダイオード54、増幅器55、平均化回路56、表示
器57で検出し、光ファイバ線路3の異常(損失増加、
断線等)を試験する。ここで用いられる損失の測定手法
は、レーザダイオード52から発生される光パルスに対
応する反射光の時間変化に基づくも、の等の公知の手法
が用いられ、測定精度の向上のため複数回のハ1定結果
の平均値(平均化回路56による)が使用されて、光フ
ァイバ線路3の長平方向の損失分布が求められる。
このような試験が行われている間にも、増幅器55の出
力を用いて比較手段は得られている信号のレベルが所定
時間以上判定レベル(上記例では一55dB )を越
えぬか否か検出している。そ■ して、得られている信号のレベルが所定時間以上判定レ
ベルを越える場合には、通信中と判定してパルス発生器
51によるパルス発生を止め、光信号の送信を停止して
通信の妨げとならぬようにし、損失測定等を止める。
力を用いて比較手段は得られている信号のレベルが所定
時間以上判定レベル(上記例では一55dB )を越
えぬか否か検出している。そ■ して、得られている信号のレベルが所定時間以上判定レ
ベルを越える場合には、通信中と判定してパルス発生器
51によるパルス発生を止め、光信号の送信を停止して
通信の妨げとならぬようにし、損失測定等を止める。
第4図に上記の光ファイバ線路の試験方法の実験系シス
テムが示されている。レーザダイオード101として1
.3μmの波長のレーザ光を発するものを用い、分岐合
流器102として分岐が50%のものを用いた。光ファ
イバ103は単一モードファイバ(カットオフ波長1.
2μm。
テムが示されている。レーザダイオード101として1
.3μmの波長のレーザ光を発するものを用い、分岐合
流器102として分岐が50%のものを用いた。光ファ
イバ103は単一モードファイバ(カットオフ波長1.
2μm。
MFDIOμm、伝送損失0.35dB/km)で、2
0に■をボビン104に巻いて用い、分岐合流器102
と融着接続しである。分岐合流器4の分岐したボート1
05にはパワーメータ(最少検出感度−80dBm)1
06を接続した。光ファイバ103の一端及び分岐合流
器102のファイバが接続されていない一端をマツチン
グオイル(屈折率n−1,46)107に浸した場合(
フレネル反射が抑制される。)と、浸さなかった場合と
の測定結果を下表に示す。
0に■をボビン104に巻いて用い、分岐合流器102
と融着接続しである。分岐合流器4の分岐したボート1
05にはパワーメータ(最少検出感度−80dBm)1
06を接続した。光ファイバ103の一端及び分岐合流
器102のファイバが接続されていない一端をマツチン
グオイル(屈折率n−1,46)107に浸した場合(
フレネル反射が抑制される。)と、浸さなかった場合と
の測定結果を下表に示す。
表
上記の測定時のレーザダイオード101の出力は、分岐
合流器102のボート108で観測(光ファイバ103
を切断して観胛1)シたところ、11.63dBmであ
った。上記の表から明らかな如く、光入射を行った場合
(パワー出力有)と光入射を行わなかった場合(パワー
出力無)とで最小でも約20dB、sの差があり、光入
射が行われているか否か、つまり、通信中であるか否か
の検出が可能であることがわかった。光ファイバ103
の一端をマツチングオイル107に浸さなければ、フレ
ネル反射の影響で検出出力が−33、27d B+gと
大きくなることから、通信系にフレネル反射があるシス
テムでは更に通信中であるか否かの検出が容品になるこ
とがわかる。また、マツチングオイル107に浸される
側からレーザダイオード101を用いて光入射を行った
ときに21.73dB−とになったことから、パワーメ
ータ106に到来する光のパワーは最低で59、 70
d Bmとなり、ボート105に−59,70dB−
以下に検出の閾値を持つ受光素子を設けることで通信中
か否かを検出可能である。また、実験系の特性からボー
ト109にパワーメータ106を接続しても同様の結果
が得られるものと予想される。
合流器102のボート108で観測(光ファイバ103
を切断して観胛1)シたところ、11.63dBmであ
った。上記の表から明らかな如く、光入射を行った場合
(パワー出力有)と光入射を行わなかった場合(パワー
出力無)とで最小でも約20dB、sの差があり、光入
射が行われているか否か、つまり、通信中であるか否か
の検出が可能であることがわかった。光ファイバ103
の一端をマツチングオイル107に浸さなければ、フレ
ネル反射の影響で検出出力が−33、27d B+gと
大きくなることから、通信系にフレネル反射があるシス
テムでは更に通信中であるか否かの検出が容品になるこ
とがわかる。また、マツチングオイル107に浸される
側からレーザダイオード101を用いて光入射を行った
ときに21.73dB−とになったことから、パワーメ
ータ106に到来する光のパワーは最低で59、 70
d Bmとなり、ボート105に−59,70dB−
以下に検出の閾値を持つ受光素子を設けることで通信中
か否かを検出可能である。また、実験系の特性からボー
ト109にパワーメータ106を接続しても同様の結果
が得られるものと予想される。
本発明は上記の実施例に限定されるものではなく、種々
の変形が可能である。
の変形が可能である。
例えば、分岐合流手段としては実施例に示した分岐合流
器だけでなく、多層膜フィルタを用いるような分波合波
器等を用いることができる。この分波合波器はフィルタ
の透過率を異なる波長について0%と100%に近づく
ように設計されるが、実際には0%と100%とに分波
することはできず分岐器(合流器)の機能を持つからで
ある。また、分岐合流器の設置位置は検出すべき障害の
位置に応じてシステム毎に変更可能であるが、実施例の
ように局交換機側に設けられるようにすると、パルス試
験機を用いて次々に試験でき便利である。
器だけでなく、多層膜フィルタを用いるような分波合波
器等を用いることができる。この分波合波器はフィルタ
の透過率を異なる波長について0%と100%に近づく
ように設計されるが、実際には0%と100%とに分波
することはできず分岐器(合流器)の機能を持つからで
ある。また、分岐合流器の設置位置は検出すべき障害の
位置に応じてシステム毎に変更可能であるが、実施例の
ように局交換機側に設けられるようにすると、パルス試
験機を用いて次々に試験でき便利である。
更に、通信中でないと判定した場合の試験用の光信号の
送信指示、損失等の測定中に通信開始を検出した場合の
上記光信号の送信中止指示等は保守員等が入力してもよ
い。
送信指示、損失等の測定中に通信開始を検出した場合の
上記光信号の送信中止指示等は保守員等が入力してもよ
い。
以上、詳細に説明したように本発明によれば、分岐合流
手段により光ファイバ線路における通信状態をモニタし
、通信中でない場合に試験用の光を発して試験を行うた
め、通信を止める必要がなく、特別に高精度な光スィッ
チ等を必要としない。
手段により光ファイバ線路における通信状態をモニタし
、通信中でない場合に試験用の光を発して試験を行うた
め、通信を止める必要がなく、特別に高精度な光スィッ
チ等を必要としない。
また、光ファイバ線路のいずれかの端から到来する光か
によってレベルが異なり、かつ、試験用の光が後方散乱
等で戻ってくるため、これらによりどの部分が障害かを
検出可能となる。
によってレベルが異なり、かつ、試験用の光が後方散乱
等で戻ってくるため、これらによりどの部分が障害かを
検出可能となる。
第1図は、本発明の一実施例に係る光ファイバ線路の試
験方法が適用される通信システムの構成図、第2図は、
第1図の要部構成図、第3図は、本発明により通信中か
否かの判定を行う場合の各レベルの一例を示す図、第4
図は、本発明の実験系システムの構成図である。 1.2・・・送受信装置、3・・・光ファイバ線路、3
A、103・・・光ファイバ、4,102・・・分岐合
流器、5・・・パルス試験機、51・・・パルス発生器
、52.101・・・レーザダイオード、53・・・方
向性結合器、54・・・アバランシェフォトダイオード
、55・・・増幅器、56・・・平均化回路、57.・
・表示器、106・・・パワーメータ、107・・・マ
ツチングオイル。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代理人弁理士 長谷用 芳 樹Bm 実験系の構成 第 4 図
験方法が適用される通信システムの構成図、第2図は、
第1図の要部構成図、第3図は、本発明により通信中か
否かの判定を行う場合の各レベルの一例を示す図、第4
図は、本発明の実験系システムの構成図である。 1.2・・・送受信装置、3・・・光ファイバ線路、3
A、103・・・光ファイバ、4,102・・・分岐合
流器、5・・・パルス試験機、51・・・パルス発生器
、52.101・・・レーザダイオード、53・・・方
向性結合器、54・・・アバランシェフォトダイオード
、55・・・増幅器、56・・・平均化回路、57.・
・表示器、106・・・パワーメータ、107・・・マ
ツチングオイル。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代理人弁理士 長谷用 芳 樹Bm 実験系の構成 第 4 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、双方向で光送受信が行われる光ファイバ線路の所定
箇所に光の分岐及び合流を行う分岐合流手段を設け、こ
の分岐合流手段を介して取込んだ光のレベルに基づいて
通信中か否かを監視し、通信中でないことが検出されて
いる場合には前記分岐合流手段を介して光信号を送信し
、このときに得られる光のレベルに基づき前記光ファイ
バ線路の試験を行うことを特徴とする光ファイバ線路の
試験方法。 2、前記分岐合流手段を介して光信号を送信して行う試
験中にも前記通信中か否かの監視を継続し、通信中であ
ることが検出されると、前記光信号を送信して行う試験
を止めることを特徴とする請求項1記載の光ファイバ線
路の試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63161995A JP2677290B2 (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光フィイバ線路の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63161995A JP2677290B2 (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光フィイバ線路の試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0210241A true JPH0210241A (ja) | 1990-01-16 |
JP2677290B2 JP2677290B2 (ja) | 1997-11-17 |
Family
ID=15746036
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63161995A Expired - Fee Related JP2677290B2 (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光フィイバ線路の試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2677290B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008304289A (ja) * | 2007-06-07 | 2008-12-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス測定器 |
JP2009085684A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yokogawa Electric Corp | 光パルス試験器 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS575447A (en) * | 1980-06-13 | 1982-01-12 | Toshiba Corp | Failure detecting system |
JPS58123247A (ja) * | 1982-01-18 | 1983-07-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光伝送システムの回線監視装置 |
JPS6361132A (ja) * | 1986-09-01 | 1988-03-17 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単一モ−ド光試験回路 |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP63161995A patent/JP2677290B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS575447A (en) * | 1980-06-13 | 1982-01-12 | Toshiba Corp | Failure detecting system |
JPS58123247A (ja) * | 1982-01-18 | 1983-07-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光伝送システムの回線監視装置 |
JPS6361132A (ja) * | 1986-09-01 | 1988-03-17 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単一モ−ド光試験回路 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008304289A (ja) * | 2007-06-07 | 2008-12-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス測定器 |
JP2009085684A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yokogawa Electric Corp | 光パルス試験器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2677290B2 (ja) | 1997-11-17 |
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