JPH01246855A - 半導体装置 - Google Patents
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- JPH01246855A JPH01246855A JP7562488A JP7562488A JPH01246855A JP H01246855 A JPH01246855 A JP H01246855A JP 7562488 A JP7562488 A JP 7562488A JP 7562488 A JP7562488 A JP 7562488A JP H01246855 A JPH01246855 A JP H01246855A
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Landscapes
- Sealing Material Composition (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Epoxy Resins (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、高温雰囲気下および低温雰囲気中において
も優れた信頬性を保持する半導体装置に関するものであ
る。
も優れた信頬性を保持する半導体装置に関するものであ
る。
トランジスタ、IC,LSI等の半導体素子は、−aに
エポキシ樹脂組成物を用いて封止され半導体装置化され
ている。上記エポキシ樹脂は、その電気特性、耐湿性、
接着性等が良好であることから、半導体装置の封止に用
いられており良好な成績を収めている。しかしながら、
近年、自動車等の各種の屋外使用機器においても半導体
装置が大量に使用されるにしたがって、今まで以上の耐
熱性、耐冷熱サイクル性、特に従来では問題にならなか
った高温および低温双方での保存信顛性が、多くの半導
体装置に要求されるようになってきた。例えば、自動車
搭載用IC等では、作動中の温度が125°Cになるこ
ともあり、作動中の発熱温度も考慮すれば150°Cを
超える場合も予想される。また、寒冷地においては、−
20°C程度まで温度が低下することも稀ではない。
エポキシ樹脂組成物を用いて封止され半導体装置化され
ている。上記エポキシ樹脂は、その電気特性、耐湿性、
接着性等が良好であることから、半導体装置の封止に用
いられており良好な成績を収めている。しかしながら、
近年、自動車等の各種の屋外使用機器においても半導体
装置が大量に使用されるにしたがって、今まで以上の耐
熱性、耐冷熱サイクル性、特に従来では問題にならなか
った高温および低温双方での保存信顛性が、多くの半導
体装置に要求されるようになってきた。例えば、自動車
搭載用IC等では、作動中の温度が125°Cになるこ
ともあり、作動中の発熱温度も考慮すれば150°Cを
超える場合も予想される。また、寒冷地においては、−
20°C程度まで温度が低下することも稀ではない。
[発明が解決しようとする問題点]
このような要求に対し、耐熱性という点においては、従
来から、エポキシ樹脂およびフェノール樹脂の架橋密度
を高めることによりエポキシ樹脂の難燃性を高めて耐熱
性の向上を図っている。しかしながら、この方法を用い
ると、エポキシ(M脂の線膨張係数が大きくなり、その
結果、低応力性の特性を劣化させてしまう。これに対し
、低応力性を付与すれば高温での保存信顧性が低下する
という相矛盾した問題が生じる。
来から、エポキシ樹脂およびフェノール樹脂の架橋密度
を高めることによりエポキシ樹脂の難燃性を高めて耐熱
性の向上を図っている。しかしながら、この方法を用い
ると、エポキシ(M脂の線膨張係数が大きくなり、その
結果、低応力性の特性を劣化させてしまう。これに対し
、低応力性を付与すれば高温での保存信顧性が低下する
という相矛盾した問題が生じる。
この発明は、このような事情に鑑みなされたもので、高
温雰囲気下での安定性と耐冷熱サイクル特性を同時に満
足する優れた半導体装置の提供をその目的とする。
温雰囲気下での安定性と耐冷熱サイクル特性を同時に満
足する優れた半導体装置の提供をその目的とする。
上記の目的を達成するため、この発明の半導体装置は、
下記の一般式(1)で表されるエポキシ樹脂および下記
の一般式(II)で表されるフェノール樹脂の少なくと
も一方を含有するエポキシ樹脂組成物を用いて半導体素
子を封止するという構成をとる。
下記の一般式(1)で表されるエポキシ樹脂および下記
の一般式(II)で表されるフェノール樹脂の少なくと
も一方を含有するエポキシ樹脂組成物を用いて半導体素
子を封止するという構成をとる。
〔作用]
すなわち、本発明者らは、高温雰囲気下での保存安定性
および低温時での低応力性(線膨張係数の低下)を実現
するするため、一連の研究を重ねた。その結果、上記一
般式(1)で表される特殊なエポキシ樹脂および上記一
般式(II)で表される特殊なフェノール樹脂の少なく
とも一方を用いると、得られるエポキシ樹脂組成物のガ
ラス転移温度が大幅に上昇すると同時に線膨張率が低減
する現象が観察された。したがって、このエポキシ樹脂
組成物を用いると、高温時の安定性と低温時の低応力性
を同時に満足することを見出しこの発明に到達した。
および低温時での低応力性(線膨張係数の低下)を実現
するするため、一連の研究を重ねた。その結果、上記一
般式(1)で表される特殊なエポキシ樹脂および上記一
般式(II)で表される特殊なフェノール樹脂の少なく
とも一方を用いると、得られるエポキシ樹脂組成物のガ
ラス転移温度が大幅に上昇すると同時に線膨張率が低減
する現象が観察された。したがって、このエポキシ樹脂
組成物を用いると、高温時の安定性と低温時の低応力性
を同時に満足することを見出しこの発明に到達した。
この発明の半導体装置に用いるエポキシ樹脂組成物は、
前記一般式(1)で表される特殊なエポキシ樹脂と、前
記一般式(II)で表される特殊なフェノール樹脂とを
用いて得られるものであり、通常、粉末状もしくはそれ
を打錠したタブレット状になっている。
前記一般式(1)で表される特殊なエポキシ樹脂と、前
記一般式(II)で表される特殊なフェノール樹脂とを
用いて得られるものであり、通常、粉末状もしくはそれ
を打錠したタブレット状になっている。
上記前記一般式(I)で表される特殊なエポキシ樹脂は
、−分子中に複数のグリシジルエーテルが含まれた構造
のもので、このような分子構造にすることにより、架橋
点が増え、架橋密度の高い構造物が得られるようになる
。このようなエポキシ樹脂は、フェノールとレゾルシン
、カラコナールまたはハイドロキーシンとをホルマリン
による重合を行い、さらにエピクロロヒドリンによるエ
ポキシ化により得られるものである。゛なお、上記特殊
なエポキシ樹脂のみでエポキシ樹脂主剤成分を構成して
もよいし、それ以外の通常用いられる一エポキシ樹脂と
併用するようにしてもよい。通常用いられるエポキシ樹
脂としては、タレゾールノボラックフェノール型、フェ
ノールノボラック型やビスフェノールA型等の各種のエ
ポキシ樹脂があげられる。クレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂としては、通常、エポキシ当量190〜220
゜軟化点50〜100°Cのものが一般に用いられる。
、−分子中に複数のグリシジルエーテルが含まれた構造
のもので、このような分子構造にすることにより、架橋
点が増え、架橋密度の高い構造物が得られるようになる
。このようなエポキシ樹脂は、フェノールとレゾルシン
、カラコナールまたはハイドロキーシンとをホルマリン
による重合を行い、さらにエピクロロヒドリンによるエ
ポキシ化により得られるものである。゛なお、上記特殊
なエポキシ樹脂のみでエポキシ樹脂主剤成分を構成して
もよいし、それ以外の通常用いられる一エポキシ樹脂と
併用するようにしてもよい。通常用いられるエポキシ樹
脂としては、タレゾールノボラックフェノール型、フェ
ノールノボラック型やビスフェノールA型等の各種のエ
ポキシ樹脂があげられる。クレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂としては、通常、エポキシ当量190〜220
゜軟化点50〜100°Cのものが一般に用いられる。
上記前記一般式(II)で表される特殊なフェノール樹
脂は、−分子中に複数のフェノールが含まれた構造のも
のであり、このような分子構造によって架橋点が増加し
、それによって架橋密度の高い三次元構造体が得られる
ようになる。このようなフェノール樹脂は、フェノール
とレゾルシン。
脂は、−分子中に複数のフェノールが含まれた構造のも
のであり、このような分子構造によって架橋点が増加し
、それによって架橋密度の高い三次元構造体が得られる
ようになる。このようなフェノール樹脂は、フェノール
とレゾルシン。
カラコナールまたはハイドロキシンとをホルマリンによ
る重合を行うことにより得られるものである。上記特殊
なフェノール樹脂は、それ自体でフェノール樹脂硬化剤
成分を構成してもよいし、通常用いられているその他の
フェノール樹脂と併用しても差し支えはない。その他の
フェノール樹脂としては、フェノールノボラック、クレ
ゾールノボラック等があげられる。これらのノボラック
樹脂は、軟化点が50〜120°C2水酸基当量が90
〜120のものを用いることが望ましい。
る重合を行うことにより得られるものである。上記特殊
なフェノール樹脂は、それ自体でフェノール樹脂硬化剤
成分を構成してもよいし、通常用いられているその他の
フェノール樹脂と併用しても差し支えはない。その他の
フェノール樹脂としては、フェノールノボラック、クレ
ゾールノボラック等があげられる。これらのノボラック
樹脂は、軟化点が50〜120°C2水酸基当量が90
〜120のものを用いることが望ましい。
そして、上記一般式(I)で表される特殊なエポキシ樹
脂および一般式(II)で表される特殊なフェノール樹
脂のフェノール部分に、tert−ブチル基、メチル基
等のアルキル基を付加したアルキル化フェノールノボラ
ック、またはそのエポキシ化物を用いることもできる。
脂および一般式(II)で表される特殊なフェノール樹
脂のフェノール部分に、tert−ブチル基、メチル基
等のアルキル基を付加したアルキル化フェノールノボラ
ック、またはそのエポキシ化物を用いることもできる。
なお、上記一般式(1)および上記一般式(■)のRの
位置は、オルト位、メタ位、パラ位のいずれであっても
効果としてかわらない。また、撥水性向上のためにベン
ゼン環の′:c −H部分のHをCH,、C2H5,C
3H,等のアルキル基に置換したものを併用することも
可能である。
位置は、オルト位、メタ位、パラ位のいずれであっても
効果としてかわらない。また、撥水性向上のためにベン
ゼン環の′:c −H部分のHをCH,、C2H5,C
3H,等のアルキル基に置換したものを併用することも
可能である。
上記のような一畦式(I)で表されるエポキシ樹脂およ
び一般式(II)で表されるフェノール樹脂は片方また
は双方が、下記の一般式(II[)RRR で表されるオルガノシロキサンと反応しているものを用
いることが好ましい。このようなエポキシ樹脂あるいは
フェノール樹脂なシ、)シは、双方の変性樹脂を用いる
ことによって、耐クラック性、耐ヒートサイクル性が向
上する。この場合、上記オルガノシロキサンの使用量は
、エポキシ樹脂組成物中の有機成分総量(エポキシ樹脂
およびフェノール樹脂)に対して、オルガノシロキサン
が2〜25%になるよう設定することが好適であり、よ
り好適なのは5〜15%である。すなわち、上記オルガ
ノシロキサンの含有量が2%を下回ると、充分な低応力
効果がみられなくなり、逆に25%を上回ると、樹脂強
度の低下現象がみられるからである。
び一般式(II)で表されるフェノール樹脂は片方また
は双方が、下記の一般式(II[)RRR で表されるオルガノシロキサンと反応しているものを用
いることが好ましい。このようなエポキシ樹脂あるいは
フェノール樹脂なシ、)シは、双方の変性樹脂を用いる
ことによって、耐クラック性、耐ヒートサイクル性が向
上する。この場合、上記オルガノシロキサンの使用量は
、エポキシ樹脂組成物中の有機成分総量(エポキシ樹脂
およびフェノール樹脂)に対して、オルガノシロキサン
が2〜25%になるよう設定することが好適であり、よ
り好適なのは5〜15%である。すなわち、上記オルガ
ノシロキサンの含有量が2%を下回ると、充分な低応力
効果がみられなくなり、逆に25%を上回ると、樹脂強
度の低下現象がみられるからである。
上記一般式(I)で表される特殊なエポキシ樹脂を含む
エポキシ樹脂と上記一般式(II)で表される特殊なフ
ェノール樹脂を含むフェノール樹脂との相互の使用割合
は、エポキシ樹脂のエポキシ当量と、フェノール樹脂の
水酸基当量との関係から適宜に選択されるが、エポキシ
基に対するフェノール性水酸基の当量比が、0.9〜1
.1の範囲内になるよう設定することが好ましい。すな
わち、当量比が上記範囲を外れると、エポキシ樹脂組成
物の硬化物が劣る傾向がみられるようになるからである
。
エポキシ樹脂と上記一般式(II)で表される特殊なフ
ェノール樹脂を含むフェノール樹脂との相互の使用割合
は、エポキシ樹脂のエポキシ当量と、フェノール樹脂の
水酸基当量との関係から適宜に選択されるが、エポキシ
基に対するフェノール性水酸基の当量比が、0.9〜1
.1の範囲内になるよう設定することが好ましい。すな
わち、当量比が上記範囲を外れると、エポキシ樹脂組成
物の硬化物が劣る傾向がみられるようになるからである
。
この発明に用いら箸るエポキシ樹脂組成物には、上記成
分以外にも、必要に応じて従来より用いられているその
他の添加剤が含有される。
分以外にも、必要に応じて従来より用いられているその
他の添加剤が含有される。
上記その他の添加剤としては、例えば無機質充填剤、硬
化促進剤、離型剤1着色剤、シランカップリング剤等が
あげられる。
化促進剤、離型剤1着色剤、シランカップリング剤等が
あげられる。
上記無機質充填剤としては、特に制限するものではなく
、一般に用いられている石英ガラス粉末、タルク、シリ
カ粉末およびアルミナ粉末等があげられる。
、一般に用いられている石英ガラス粉末、タルク、シリ
カ粉末およびアルミナ粉末等があげられる。
上記硬化促進剤としては、トリエタノールアミン、テト
ラメチルヘキサンジアミン、トリエチレンジアミン、ジ
メチルアニリン、ジメチルアミノエタノール、ジエチル
アミノエタノール、2,4.6−(ジメチルアミノメチ
ル)フェノール、NN l−ジメチルピペラジン、ピリ
ジン、ピコリン、1.8−ジアザ−ビシクロ(5,4,
O)ウンデセン−7、ベンジルジメチルアミン、2−(
ジメチルアミノ)メチルフェノール等の三級アミン、ド
デシルトリメチルアンモニウムアイオダイド、セチルト
リメチルアンモニウムクロライド。
ラメチルヘキサンジアミン、トリエチレンジアミン、ジ
メチルアニリン、ジメチルアミノエタノール、ジエチル
アミノエタノール、2,4.6−(ジメチルアミノメチ
ル)フェノール、NN l−ジメチルピペラジン、ピリ
ジン、ピコリン、1.8−ジアザ−ビシクロ(5,4,
O)ウンデセン−7、ベンジルジメチルアミン、2−(
ジメチルアミノ)メチルフェノール等の三級アミン、ド
デシルトリメチルアンモニウムアイオダイド、セチルト
リメチルアンモニウムクロライド。
ベンジルジメチルテトラブチルアンモニウムクロライド
、ステアリルトリメチルアンモニウムクロライド等の四
級アンモニウム塩、2−メチルイミダゾール、2−ウン
デシルイミダゾール、2−エヂルイミダゾール、■−ベ
ンジル−2−メチルイミダゾール、l−シアノエチル−
2−ウンデシルイミダゾール等のイミダゾール類および
テトラフェニルボロン、テトラフェニルボレート、N−
メチルモルホリンテトラフェニルボレート等のホウ素化
合物等があげられる。これらの化合物は単独でもしくは
併せて使用される。
、ステアリルトリメチルアンモニウムクロライド等の四
級アンモニウム塩、2−メチルイミダゾール、2−ウン
デシルイミダゾール、2−エヂルイミダゾール、■−ベ
ンジル−2−メチルイミダゾール、l−シアノエチル−
2−ウンデシルイミダゾール等のイミダゾール類および
テトラフェニルボロン、テトラフェニルボレート、N−
メチルモルホリンテトラフェニルボレート等のホウ素化
合物等があげられる。これらの化合物は単独でもしくは
併せて使用される。
上記離型剤としては、従来公知のステアリン酸、パルミ
チン酸等の長鎖のカルボン酸、ステアリン酸亜鉛、ステ
アリン酸カルシウム等の長鎖カルボン酸の金属塩、カル
ナバワックス、モンタンワックス等のワックス類を用い
ることができる。
チン酸等の長鎖のカルボン酸、ステアリン酸亜鉛、ステ
アリン酸カルシウム等の長鎖カルボン酸の金属塩、カル
ナバワックス、モンタンワックス等のワックス類を用い
ることができる。
この発明に用いるエポキシ樹脂組成物は、例えばつぎの
ようにして製造することができる。すなわち、上記の原
料ならびに上記その他の添加剤を適宜配合し、このm合
物をミキシングロール機等の混練機に掛は加熱状態で溶
融混合し、これを室温に冷却したのち公知の手段により
粉砕し、必要に応じて打錠するという一連の工程により
、目的とするエポキシ樹脂組成物を得ることができる。
ようにして製造することができる。すなわち、上記の原
料ならびに上記その他の添加剤を適宜配合し、このm合
物をミキシングロール機等の混練機に掛は加熱状態で溶
融混合し、これを室温に冷却したのち公知の手段により
粉砕し、必要に応じて打錠するという一連の工程により
、目的とするエポキシ樹脂組成物を得ることができる。
なお、上記エポキシ樹脂組成物の製造において、前記一
般式(1)および前記一般式(II)で示される特殊な
エポキシ樹脂と特殊なフェノール樹脂は、その合計量が
、エポキシ樹脂組成物中の全有機成分に対して20%以
上になるように設定することが好適である。
般式(1)および前記一般式(II)で示される特殊な
エポキシ樹脂と特殊なフェノール樹脂は、その合計量が
、エポキシ樹脂組成物中の全有機成分に対して20%以
上になるように設定することが好適である。
このようなエポキシ樹脂組成物を用いての半導体素子の
封止は、特に制限するものではなく、通常のトランスフ
ァー成形等の公知のモールド方法により行うことができ
る。
封止は、特に制限するものではなく、通常のトランスフ
ァー成形等の公知のモールド方法により行うことができ
る。
このようにして得られる半導体装置は、高温雰囲気下で
の信頼性および耐冷熱サイクル特性に優れた安定性を示
している。
の信頼性および耐冷熱サイクル特性に優れた安定性を示
している。
以上のように、この発明の半導体装置は、上記のような
特殊なエポキシ樹脂およびフェノール樹脂を含有する特
殊なエポキシ樹脂組成物を用いて半導体素子が封止され
ているため、高温雰囲気中における長時間安定性および
耐冷熱サイクル特性において優れた信頼性を有している
。
特殊なエポキシ樹脂およびフェノール樹脂を含有する特
殊なエポキシ樹脂組成物を用いて半導体素子が封止され
ているため、高温雰囲気中における長時間安定性および
耐冷熱サイクル特性において優れた信頼性を有している
。
つぎに、実施例について比較例と併せて説明する。
〔実施例1〜7、比較例1〜4〕
まず、実施例および比較例で使用した原料は下記の通り
である。
である。
くエポキシ樹脂〉 ′
A−1=一般式(1)成分
(R;HloCIIzCll CIIz=971.
n=4 )\0′ A−4=クレゾー′ルツボラツク型 (n=5) A−5:クレゾールノボラツク型 (n−4テ くフェノール樹脂〉 B−1ニ一般式(II)成分 (R;H10H=9/1.n−3) B−2ニ一般式(II)成分 (R; H10H=6/4.n=5) B−3ニ一般式(n)成分 (R;H10H=8/2.n=4) B−4:フェノールノボラック (n=3) B−5:フェノールノボラック (n=4) なお、nはGPCポリスチレン換算データの重量平均分
子量より計算した。
n=4 )\0′ A−4=クレゾー′ルツボラツク型 (n=5) A−5:クレゾールノボラツク型 (n−4テ くフェノール樹脂〉 B−1ニ一般式(II)成分 (R;H10H=9/1.n−3) B−2ニ一般式(II)成分 (R; H10H=6/4.n=5) B−3ニ一般式(n)成分 (R;H10H=8/2.n=4) B−4:フェノールノボラック (n=3) B−5:フェノールノボラック (n=4) なお、nはGPCポリスチレン換算データの重量平均分
子量より計算した。
上記の原料を、後記の第1表に示す割合で配合した。そ
して、上記樹脂原料以外に、無機質充填剤として溶融性
Sin、を配合原料全体の70%、5bzO:+を全体
の2%、カーボンを全体の0゜3%、カルナバワックス
を全体の0.5%に設定し配合した。また硬化促進剤と
して2−メチルイミダゾールを1ρhhの割合で配合し
た。そして、上記成分原料をミキシングロール機で混練
して冷却後粉砕し目的とする粉末状のエポキシ樹脂組成
物を得た。
して、上記樹脂原料以外に、無機質充填剤として溶融性
Sin、を配合原料全体の70%、5bzO:+を全体
の2%、カーボンを全体の0゜3%、カルナバワックス
を全体の0.5%に設定し配合した。また硬化促進剤と
して2−メチルイミダゾールを1ρhhの割合で配合し
た。そして、上記成分原料をミキシングロール機で混練
して冷却後粉砕し目的とする粉末状のエポキシ樹脂組成
物を得た。
(以下余白)
つぎに、上記のようにして得られた粉末状エポキシ樹脂
組成物の硬化物のガラス転移温度(Tg)および線膨張
係数(α1.α2)を調べ後記の第2表に示した。なお
、線膨張係数はTMA (理学電機社製)にて測定した
。また、上記エポキシ樹脂組成物を用い、半導体素子を
樹脂封止して、半導体装置を組み立て、−65°C15
分〜150°C15分の300回の温度サイクルテスト
(以下「TCTテスト」と略す)を行い、その結果を第
2表に併せて示した。
組成物の硬化物のガラス転移温度(Tg)および線膨張
係数(α1.α2)を調べ後記の第2表に示した。なお
、線膨張係数はTMA (理学電機社製)にて測定した
。また、上記エポキシ樹脂組成物を用い、半導体素子を
樹脂封止して、半導体装置を組み立て、−65°C15
分〜150°C15分の300回の温度サイクルテスト
(以下「TCTテスト」と略す)を行い、その結果を第
2表に併せて示した。
(以下余白)
第2表の結果から、実施例品は比較例品に比べ線膨張係
数はあまり差はないがガラス転移温度が高く、またTC
Tテストの結果から低応力性に優れており、高温状態お
よび低温状態に放置したときの素子の信顛性が裔いこと
がわかる。
数はあまり差はないがガラス転移温度が高く、またTC
Tテストの結果から低応力性に優れており、高温状態お
よび低温状態に放置したときの素子の信顛性が裔いこと
がわかる。
特許出願人 日東電気工業株式会社
代理人 弁理士 西 藤 征 彦
Claims (1)
- (1)下記の一般式( I )で表されるエポキシ樹脂お
よび下記の一般式(II)で表されるフェノール樹脂の少
なくとも一方を含有するエポキシ樹脂組成物を用いて半
導体素子を封止してなる半導体装置。 ▲数式、化学式、表等があります▼ 〔式( I )中、RはHまたはOCH_2CH−CH_
2であり、1分子中のR部分における▲数式、化学式、
表等があります▼比 =9/1〜5/5である。また、n=0〜10である。 〕 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(II) 〔式(II)中、RはHまたはOHであり、1分子中のR
部分におけるH/OH比=9/1〜5/5である。また
、n=0〜10である。〕(2)上記一般式( I )で
表されるエポキシ樹脂および上記一般式(II)で表され
るフェノール樹脂の少なくとも一方が、下記の一般式(
III)▲数式、化学式、表等があります▼・・・(III) 式(III)中、Rは1価の有機基であり、相 互に同じであつても異なつていてもよい。ただし、1分
子中において、上記Rのうちの少なくとも2個はアミノ
基置換有機基、エポキシ基置換有機基、水酸基置換有機
基、ビニル基置換有機基、メルカプト基置換有機基およ
びカルボキシル基置換有機基からなる群から選択された
基である。mは0〜500の整数である。 で表されるオルガノポリシロキサンと反応しているもの
である請求項(1)記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7562488A JP2574376B2 (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7562488A JP2574376B2 (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01246855A true JPH01246855A (ja) | 1989-10-02 |
JP2574376B2 JP2574376B2 (ja) | 1997-01-22 |
Family
ID=13581563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7562488A Expired - Fee Related JP2574376B2 (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2574376B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0234625A (ja) * | 1988-07-25 | 1990-02-05 | Toshiba Chem Corp | 封止用樹脂組成物 |
JP2008115382A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-05-22 | Hitachi Chem Co Ltd | 封止用エポキシ樹脂組成物及び電子部品装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103945788B (zh) * | 2011-11-21 | 2017-05-24 | W和H牙科产品比莫斯有限公司 | 用于医疗工具尤其是牙科或外科工具的驱动装置 |
-
1988
- 1988-03-28 JP JP7562488A patent/JP2574376B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0234625A (ja) * | 1988-07-25 | 1990-02-05 | Toshiba Chem Corp | 封止用樹脂組成物 |
JP2008115382A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-05-22 | Hitachi Chem Co Ltd | 封止用エポキシ樹脂組成物及び電子部品装置 |
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---|---|
JP2574376B2 (ja) | 1997-01-22 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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