JPH01223586A

JPH01223586A - Ｉｃカードテスト方式

Info

Publication number: JPH01223586A
Application number: JP63050050A
Authority: JP
Inventors: Kazuhiko Omichi; 和彦大道; Toru Shinagawa; 品川　徹
Original assignee: Hitachi Maxell Ltd
Current assignee: Maxell Ltd
Priority date: 1988-03-03
Filing date: 1988-03-03
Publication date: 1989-09-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明は、ＩＣカードテスト方式に関し、詳しくはＩ
Ｃカードの内部にテストプログラムを残さないで済むよ
うなＩＣカードテスト方式の改良に関する。

［従来の技術］商品取引でのクレジット方式とか、現金の受は渡しを行
う銀行の支払／預金方式、病院とか社員食堂等における
各種の精算方式などがＩＣカードを用いる方式として実
用化されているが、このようなＩＣカードによる方式で
は、その不正使用が大きな問題となる。

ＩＣカードは、通常、内部にマイクロプロセッサとメモ
リ、そして外部装置との間でデータの授受を行うための
インタフェース等とを内蔵していて、例えば、外部装置
の１つであるホストコンピュータとか、ＩＣカードリー
ダΦライタに装着されて使用され、外部装置から発信さ
れたコマンド群をＩＣカードの内部制御プログラムが解
読し、メモリに記憶された動作プログラムに従って、そ
のメモリのアクセス、例えばデータの書込み、読出し及
び消去等を実行し、その結果をコマンドに対するレスポ
ンスとして外部記憶装置に返答するシーケンスに従って
外部装置との間でデータの授受を行う。

従来、このようなＩＣカードでは、カード発行以前にＩ
Ｃカードの動作を確認するためのテストを行う必要があ
る。そのための動作確認用のプログラム（以下動作テス
トプログラム）が各種の動作プログラムと同時にマイク
ロコンピュータ内部のマスクＲＯＭに書き込まれている
。

［解決しようとする課題］そこで、ＩＣカードを使用する時とか、その運用時にＩ
Ｃカード内部に動作テストプログラムが残されたままと
なっている。その結果、ＩＣカード内部のデータの読出
し、書込みがこの動作テストプログラムによって実行可
能となる。したがって、従来のＩＣカードは、その機密
性、信頼性に欠ける欠点がある。

また、使用時、運用時には必要としない動作テストプロ
グラムがマイクロコンピュータ内部の不揮発性メモリに
存在することから、一般の動作プログラムの格納領域が
それ以外の領域となり、その長さが規制されている。

この発明は、このような従来技術の欠点を解消するもの
であって、動作テストプログラムを残さないで済み、機
密性、信頼性に優れたＩＣカードを発行できるＩＣカー
ドテスト方式を提供することを目的とする。

［課題を解決するためのｆ段コこのような目的を達成するためのこの発明のＩＣカード
テスト方式における手段は、プロセッサと、このプロセ
ッサのプログラムを記憶する不揮発性メモリと、データ
等を記憶する、内部電源でバックアップされていない揮
発性メモリ若しくは揮発させることが可能なメモリとを
有し、外部装置との間でデータの授受を行うＩＣカード
において、外部装置から送出される情報のうちから動作
テストプログラムを格納することをボす格納情報を検出
する検出手段と、この検出手段が格納情報を検出したと
きにそれに応じて送出された動作テストプログラムの情
報を揮発性メモリ若しくは揮発させることが可能なメモ
リに格納するプログラム書込み手段と、外部装置から送
出される命令が動作テストプログラムを実行する命令で
あるときに動作テストプログラムを起動して実行するプ
ログラム実行手段とを備えるものである。

［作用］このように、外部装置から送信される情報に対して検出
手段によってＩＣカードの動作テストプログラムについ
てのものか否かを検出し、それが検出されると、動作テ
ストプログラムの情報がテストプログラム、絆込み手段
により揮発性メモリ若２しくは揮発させることが可能な
メモリ内へ書込まれて行く。そして、占込み終了後にそ
のプログラムがプログラム実行手段により実行されるの
で、ＩＣカードの動作テストを行うことができ、かつ動
作確認後には、ＩＣカードがテスト装置から排出される
と揮発性メモリでは、動作テストプログラムが消去され
、また、データを揮発させることが可能なメモリでは、
動作テストプログラムに関するデータを消去することが
できる。

その結果、ＩＣカードの使用時或いは運用時には、ＩＣ
カード内部に動作テストプログラムは存在せず、揮発性
メモリの空間若しくはデータを揮発させることが可能な
メモリの空間は、動作プログラムのワークエリアとして
利用できるようになる。したがって、機密性、信頼性に
優れたＩＣカードを発行することができる。

［実施例］以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。

第１図は、この発明の一実施例を示すＩＣカードの内部
構成を示すブロック図、第２図は、テスト動作時におけ
るＩＣカード内のメモリマツプをりくす説明図、第３図
は、そのテスト処理のフローチャートである。

第１図において、ｌＯは、ＩＣカードリーダ・ライタ（
又はホストコンピュータ）に装着されて、ＩＣカードリ
ーダーライタとの間でデータの授受を行うＩＣカードで
あって、８は、その情報処理品（マイクロプロセッサ、
ＭＰＵ）である。そして、このＭＰＵ８の制御プログラ
ムとか基本的処理プログラムや動作プログラムがＲＯＭ
　（マスクＲＯＭ、ＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭを含む）４
に記憶されている。

通常の動作においては、ＭＰＵ８がＲＯＭ４に記憶され
たプログラムに従って、所定の処理を実行し、揮発性メ
モリであるＲＡＭ５に外部装置から転送されたデータと
か、読出しデータ、結果データ等が一時的に記憶されて
、ＩＣカードリーダ・ライタ等の外部装置との間でデー
タの授受が行われる。なお、この場合、内部電源はなく
、ＲＡＭ５等の電源は外部装置から供給される。したが
って、ＲＡＭ５は内部電源でバックアップされていない
。

ＭＰＵ８は、その機能ブロックとして、ここでは、識別
手段２、演算処理部３、テストプログラム、楼込み手段
６、そしてテストプログラム実行手段７とにより構成さ
れている。なお、これら構成要素の一部或いは全部は、
ハードウェアとして回路により実現されても、また、Ｒ
ＡＭ５或いはＲＯＭ４に記憶された対応する各処理プロ
グラムを実行することで実現されてもよい。さらにこれ
らは、ハードウェアとソフトウェアとの組合せで実現さ
れてもよい。

そこで、以下は、この発明の特徴である前記の構成とそ
の動作を中心にして第３図の処理の流れに従って説明す
る。

入出力装置１は、外部装置とのインタフェースであって
、第３図のステップ■において、入出力装置１がテスト
装置（ここでは、ＩＣカード１０がＩＣＣカードリーダ
シライタ対応するテスト装置に装着されているものとす
る）から送信されたデータブロックを受信し、それを識
別手段２に送出する。データブロックには、自己が処理
するモード（処理の種別）を識別するモード識別情報部
分があって、次のステップ■において、識別手段２によ
りそれが識別される。すなわち、データブロック中の自
己のモードを表すモード識別情報がデコードされ、又は
その一致が検出されることで動作テストプログラムを書
込むのか、動作テストプログラムを実行するのか、一般
の処理プログラムを実行するのかが識別される。なお、
ここでのデータブロックの伝送フォーマットとしては、
例えば、その最初に開始コード、次にコマンドコード又
はレスポンスコード、その次にモード識別情報、そして
送信データ、最後に終了コード等が配列されてなるもの
であって、テスト装Ｍ　（ＩＣカードリーダ・ライタ）
側からの送信データブロックには、第２番目の位置にコ
マンドコードが挿入され、ＩＣカード２側からの応答は
、第２番目にレスポンスコードが挿入される。

さて、前記の識別においてテスト装置（ＩＣカードリー
ダ・ライタ）側から送出されるデータブロックのモード
識別情報が動作テストプログラムの格納を示すものであ
ると判別されると、識別手段２によりテストプログラム
書込み手段６が起動される。そこで、ステップ■に４（
すように、テストプログラム書込み手段６は、テスト装
置側から送出されたデータブロックにあるデータを識別
手段２を介して受は入れ、そのデータを第２図に示すＲ
ＡＭ５内に割り当てられたアドレス空間のうちの動作テ
ストプログラム領域５１へ順次書込んで行く書込み処理
を実行する。

一方、前記ステップ■の判定において、モード識別情報
に示される内容が動作テストプログラムに対するもので
ないと判定された場合には、ステップ■ａへと移行して
、あらかじめ指定された動作プログラムを実行して処理
を終了する。なお、この場合の動作プログラムは、識別
手段２により識別した結果に対応した処理の動作プログ
ラムが指定されるものであってもよい。

動作テストプログラムの書込みが終了すると、ステップ
■にて、テスト装置から送出された動作テストプログラ
ム起動命令が識別手段２から演算処理部３に手渡され、
演算処理部３がそれをデコードし、テストプログラム実
行手段７を起動する。

そこで、テストプログラム実行手段７によりＲＡＭ５に
書込まれている動作テストプログラムが実行される。そ
して、テスト装置からの命令に従ってＲＡＭ５及びＲＯ
Ｍ４　（ＥＥＰＲＯＭのとき、又はその一部がＥＥＰＲ
ＯＭのとき）へのデータ書込み、読出し、消去、外部へ
のデータ送信などのＩＣカードの送受信・メモリアクセ
ス等についてのＩＣカードｌＯの基本動作の確認処理が
行われる。

このような１つの動作確認のテスト項目が終了すると、
ステップ■で動作確認が終ｒしたかをテストプログラム
実行手段７が判定し、動作確認が終了していないときに
は、ステップ■へと戻り、テスト装置側からの命令を受
けて次のテスト動作について動作確認処理がなされる。

そしてこのような処理が繰り返される。

このようにして、その動作が確認されたＩＣカードは、
その後、テスト装置から排出される。テスト装置からＩ
Ｃカード１０が排出されるとＩＣカード１０は、バック
アップ電源を持っていないのでＲＡＭ５内の動作テスト
プログラムがそのとき同時に消去される。

このことによりカード製造者等によるＩＣカード動作確
認時のみ、ＩＣカード内に動作テストプログラムが存在
し、それ以外では存在しないことになり、このことから
、ＩＣカード使用時或いは運用時に、カード内に残って
いる動作テストプログラムを利用してのＩＣカード内の
データの読出し、書込みなどの不正使用が防１１−され
る。

なお、前記の場合、識別手段２、演算処理部３、テスト
プログラム書込み手段６、そしてテストプログラム実行
手段７のそれぞれの構成要素の一部或いは全品がＲＡＭ
５にプログラムとして記憶される場合には、前記処理に
先Ｘ７．うて、ＲＯＭ４の処理プログラムに従ってＲＡ
Ｍ５にこれら機能に対応するプログラムが格納されるこ
とになる。

第２図にその動作確認時のＩＣカード内のメモリマツプ
を示す。外部から人力された動作テストプログラムは、
ＲＡＭ５内の特定の割り当てられた領域５１に８込まれ
、実行されるが、動作確認後の使用時或いは運用時には
、この領域５１のＲＡＭ空間は、動作プログラムのワー
クエリアとして利用される。

ここで、５２は、動作テストプログラムの動作確認を行
うために残されたワーク領域であり、５３．５４は、Ｒ
ＯＭ４に割り当てられたアドレス空間におけるデータ領
域及び動作プログラムの格納領域である。

以上説明してきたが、実施例では、揮発性メモリとして
ＲＡＭを用いているが、揮発可能なＥＥＰＲＯＭを用い
てもよいことはも元ろんである。

なお、ＥＥＰＲＯＭを用いる場合には、動作テストプロ
グラムを書き込んだ領域の内容を後から消す処理をする
ことになる。

また、実施例では、データブロックにモード識別情報を
おき、モード識別手段により動作テストプログラムの格
納か否かの識別をしているが、これは、単に、伝送され
た情報からそれを検出できる手段であればよく、モード
識別を行う手段によることに限定されるものではない。

実施例では、データブロックにコマンドとデータとを挿
入して伝送している形式のものを挙げているが、これは
、コマンドとデータとが独立に伝送されるものであって
もよいことはもちろんである。

［発明の効果コ以上説明したように、この発明では、外部装置から送信
される情報に対して検出手段によってＩＣカードの動作
テストプログラムについてのものか否かを検出し、それ
が検出されると、動作テストプログラムの情報がテスト
プログラム書込み手段により揮発性メモリ若しくは揮発
させることが可能なメモリ内へ書込まれて行く。そして
、書込み終Ｔ後にそのプログラムがプログラム実行手段
により実行されるので、ＩＣカードの動作テストを行う
ことができ、かつ動作確認後には、ＩＣカードがテスト
装置から排出されると揮発性メモリでは、動作テストプ
ログラムが消去され、また、データを揮発させることが
可能なメモリでは、動作テストプログラムに関するデー
タを消去することができる。

その結果、ＩＣカードの使用時或いは運用時には、ＩＣ
カード内内部動作テストプログラムは存在せず、揮発性
メモリの空間若しくはデータを揮発させることが可能な
メモリの空間は、動作プログラムのワークエリアとして
利用できるようになる。したがって、機密性、信頼性に
優れたＩＣカードを発行することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の−・実施例を示すＩＣカードの内
部構成を示すブロック図、第２図は、テスト動作時にお
けるＩＣカード内のメモリマツプを示す説明図、第３図
は、そのテスト処理のフローチャートである。１・・・入出力装置、２・・・識別手段、３・・・処理
装置、４・・・ＲＯＭ１５・・・ＲＡＭ１Ｂ・・・テス
トプログラム書込み手段、７・・・テストプログラム実
行手段、８・・・情報処理部、ｌＯ・・・ＩＣカード。特許出願人　＋１．ｒｌマクセル株式会社代理人　　　
弁理士　梶　山　拮　是

Claims

【特許請求の範囲】

（１）プロセッサと、このプロセッサのプログラムを記
憶する不揮発性メモリと、データ等を記憶する、内部電
源でバックアップされていない揮発性メモリ若しくは揮
発させることが可能なメモリとを有し、外部装置との間
でデータの授受を行うＩＣカードにおいて、前記外部装
置から送出される情報のうちから動作確認のための処理
プログラムを格納することを示す格納情報を検出する検
出手段と、この検出手段が前記格納情報を検出したとき
にそれに応じて送出された前記処理プログラムの情報を
前記揮発性メモリ若しくは前記揮発させることが可能な
メモリに格納するプログラム書込み手段と、前記外部装
置から送出される命令が前記処理プログラムを実行する
命令であるときに前記処理プログラムを起動して実行す
るプログラム実行手段とを備えることを特徴とするＩＣ
カードテスト方式。
（２）データを揮発させることが可能なメモリはＥＥＰ
ＲＯＭであり、動作確認後にその記憶内容が消去される
ことを特徴とする請求項１記載のＩＣカードテスト方式
。