JPH01220231A - トラッキングサーボのゲイン調整装置 - Google Patents
トラッキングサーボのゲイン調整装置Info
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- JPH01220231A JPH01220231A JP4621988A JP4621988A JPH01220231A JP H01220231 A JPH01220231 A JP H01220231A JP 4621988 A JP4621988 A JP 4621988A JP 4621988 A JP4621988 A JP 4621988A JP H01220231 A JPH01220231 A JP H01220231A
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 abstract description 7
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光ビームを用いてディスクに記録された情報を
再生する光学式ディスクプレーヤのトラッキングサーボ
のゲイン調整装置に関する。
再生する光学式ディスクプレーヤのトラッキングサーボ
のゲイン調整装置に関する。
従来の技術
光学式ピックアップの光ビームによって、ディスクの螺
旋状または同心円状のトラックからこれに記録された情
報信号を再生する光学式ディスクプレーヤにおいては、
情報信号を再生するためにディスクに入射する光ビーム
を上記トラックの中心に走査させ、かつディスク情報面
上に焦点が合うようにするためトラッキングサーボとフ
ォーカスサーボとが必要である。
旋状または同心円状のトラックからこれに記録された情
報信号を再生する光学式ディスクプレーヤにおいては、
情報信号を再生するためにディスクに入射する光ビーム
を上記トラックの中心に走査させ、かつディスク情報面
上に焦点が合うようにするためトラッキングサーボとフ
ォーカスサーボとが必要である。
トラッキングサーボはディスクに入射する光ビームのス
ポットのトラックに対するずれ、いわゆるトラッキング
エラーを検出してその出力であるトラッキングエラー信
号によって、光学式ピックアップのフォーカスレンズま
たは光学式ピックアップ全体をディスクの半径方向に動
かしてトラッキングエラーが零になるようにするための
ものである。
ポットのトラックに対するずれ、いわゆるトラッキング
エラーを検出してその出力であるトラッキングエラー信
号によって、光学式ピックアップのフォーカスレンズま
たは光学式ピックアップ全体をディスクの半径方向に動
かしてトラッキングエラーが零になるようにするための
ものである。
フォーカスサーボは、光ビームの焦点のディスクの記録
面に対するずれ、いわゆるフォーカスエラーを検出して
その出力であるフォーカスエラー信号によって光学式ピ
ックアップのフォーカスレンズをディスクの記録面と垂
直方向に動かしてフオーカスエラーが零になるようにす
るためのものである。
面に対するずれ、いわゆるフォーカスエラーを検出して
その出力であるフォーカスエラー信号によって光学式ピ
ックアップのフォーカスレンズをディスクの記録面と垂
直方向に動かしてフオーカスエラーが零になるようにす
るためのものである。
ところで上記トラッキングサーボのゲインの調整は、サ
ーボループに外から特定周波数の外乱を印加して行われ
る。第３図に従来のトラッキングサーボのゲイン調整法
の構成を示す。第３図において、１ｏは情報信号が記録
された光ディスク、１１は光学式ピックアップであシ光
ビーム１２を光ディスク１０に入射する。１３は光学式
ピックアップ１１の出力１１１を入力し、トラッキング
エラー信号を作るエラー信号生成回路である。
ーボループに外から特定周波数の外乱を印加して行われ
る。第３図に従来のトラッキングサーボのゲイン調整法
の構成を示す。第３図において、１ｏは情報信号が記録
された光ディスク、１１は光学式ピックアップであシ光
ビーム１２を光ディスク１０に入射する。１３は光学式
ピックアップ１１の出力１１１を入力し、トラッキング
エラー信号を作るエラー信号生成回路である。
１９はフリーケンシーレスポンスアナライザーでその内
部に外乱発振器２ｏとゲイン検出器２１を持っておシ、
外乱発振器２ｏから所望のゲイン交点周波数に相当する
正弦波状の外乱信号Ｓを加算器１８へ出力する。加算器
１８はエラー信号生成回路１３の出力Ｙと上記外乱信号
Ｓとを加算してその出力Ｘをトラッキングサーボのルー
プフィルタ１４へ出力する。ループフィルタ１４はサー
ボループの低域補償及び位相補償を行うためのものであ
る。ループフィルタ１４の出力１４１は、ゲイン検出器
２１の出力２１１でゲインが制御される可変利得増幅器
１６へ入力され、その出力１５１はアクチュエータ駆動
回路１６へ入力され電力増幅サレテ、その出力１６１に
よりフオーカスレンズまたは光学式ピックアップ全体を
動かすためのアクチュエータ１７を駆動する。２６はデ
ィスク１ｏをのせて回転させるためのターンテーブルで
ある。
部に外乱発振器２ｏとゲイン検出器２１を持っておシ、
外乱発振器２ｏから所望のゲイン交点周波数に相当する
正弦波状の外乱信号Ｓを加算器１８へ出力する。加算器
１８はエラー信号生成回路１３の出力Ｙと上記外乱信号
Ｓとを加算してその出力Ｘをトラッキングサーボのルー
プフィルタ１４へ出力する。ループフィルタ１４はサー
ボループの低域補償及び位相補償を行うためのものであ
る。ループフィルタ１４の出力１４１は、ゲイン検出器
２１の出力２１１でゲインが制御される可変利得増幅器
１６へ入力され、その出力１５１はアクチュエータ駆動
回路１６へ入力され電力増幅サレテ、その出力１６１に
よりフオーカスレンズまたは光学式ピックアップ全体を
動かすためのアクチュエータ１７を駆動する。２６はデ
ィスク１ｏをのせて回転させるためのターンテーブルで
ある。
以上のように構成されたトラッキングサーボのゲイン調
整装置のうち、加算器１８とフリーケンシーレスポンス
アナライザー１９を除く部分は、従来の光学式ディスク
プレーヤそのものであるから説明を省略する。光学式デ
ィスクプレーヤのトラッキングサーボについては、多く
の文献で述べられている（例えば、「コンパクトディス
ク読本」１３３ページ〜１３８ページ、オーム社、１９
８２年）。ここでは、フリーケンシーレスポンスアナラ
イザーを用いた従来のトラッキングサーボのゲイン調整
法について説明する。
整装置のうち、加算器１８とフリーケンシーレスポンス
アナライザー１９を除く部分は、従来の光学式ディスク
プレーヤそのものであるから説明を省略する。光学式デ
ィスクプレーヤのトラッキングサーボについては、多く
の文献で述べられている（例えば、「コンパクトディス
ク読本」１３３ページ〜１３８ページ、オーム社、１９
８２年）。ここでは、フリーケンシーレスポンスアナラ
イザーを用いた従来のトラッキングサーボのゲイン調整
法について説明する。
第３図の外乱発振器２ｏの出力外乱信号Ｓに着目すると
、加算器１８を介してトラッキングサーボループに印加
され、ループを一巡して加算器１８の入力へ戻ってくる
。従って、加算器１８の出力Ｘと入力であるＹとの比を
とれば、上記外乱信号Ｓの周波数におけるトラッキング
サーボループのゲインであることは明白である。
、加算器１８を介してトラッキングサーボループに印加
され、ループを一巡して加算器１８の入力へ戻ってくる
。従って、加算器１８の出力Ｘと入力であるＹとの比を
とれば、上記外乱信号Ｓの周波数におけるトラッキング
サーボループのゲインであることは明白である。
ここでフリーケンシーレスポンスアナライザー１９につ
いて第３図、第４図を使って説明する。
いて第３図、第４図を使って説明する。
第４図において、２ｏは上記外乱発振器である。
加算器１８の入力ＹはＹ人カ増幅器２２へ、出力ＸはＸ
入力増幅器２３へ接続される。Ｙ人カ増幅器２２及びＸ
入力増幅器２３の出力はマイクロコンピュータ２４でフ
ーリエ変換され、各々出方される。この各々の出方の比
を比較器２６で求めれば、上記外乱信号Ｓの周波数にお
けるトラッキングサーボループのゲインが求められる（
例えば、エヌエフ回路設計ブロック（株） ＭＯＤＥＬ
Ｓ −５７２０、Ｓ−６７３ｏ ＦＲＫＱＵＥＮ
ＣＹＲＥＳＰＯＮＳｇ ＡＮＡＬＹＺＥＲ取扱説明書
１−５ベージ）。そして比較器２６の出力２１１にょシ
可変利得増幅器１６を制御してトラッキングサーボルー
プのゲイン調整を行う。
入力増幅器２３へ接続される。Ｙ人カ増幅器２２及びＸ
入力増幅器２３の出力はマイクロコンピュータ２４でフ
ーリエ変換され、各々出方される。この各々の出方の比
を比較器２６で求めれば、上記外乱信号Ｓの周波数にお
けるトラッキングサーボループのゲインが求められる（
例えば、エヌエフ回路設計ブロック（株） ＭＯＤＥＬ
Ｓ −５７２０、Ｓ−６７３ｏ ＦＲＫＱＵＥＮ
ＣＹＲＥＳＰＯＮＳｇ ＡＮＡＬＹＺＥＲ取扱説明書
１−５ベージ）。そして比較器２６の出力２１１にょシ
可変利得増幅器１６を制御してトラッキングサーボルー
プのゲイン調整を行う。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記のような構成では外乱発振器の出力
レベルを適切に設定しないとトラッキングサーボループ
のゲインを正しく調整できない。その理由は、コンパク
トディスク（ＣＤ）のような光学式ディスクではディス
クによる光学的バラツキが大きく、さらに光学式プレー
ヤのピックアップそのものの光学的バラツキもあるため
、外乱信号のレベル（すなわち、電圧値）を一定にして
も、フォーカスレンズの振れ景または光学式ピックアッ
プ全体の振れ量（すなわち、実際にレンズが動く物理寸
法）か異なる。このため、外乱信号のレベルが大き過ぎ
るとサーボが不安定になシ最悪の場合サーボがはずれた
シする。また、外乱信号のレベルカ小す過キルト、フリ
ーケンシーレスポンスアナライザーへの入力信号である
Ｘ、Ｙのレベルが小さくなって測定系のＳ／Ｎが悪くな
シ、正しい調整ができなくなるという問題点を有してい
た。
レベルを適切に設定しないとトラッキングサーボループ
のゲインを正しく調整できない。その理由は、コンパク
トディスク（ＣＤ）のような光学式ディスクではディス
クによる光学的バラツキが大きく、さらに光学式プレー
ヤのピックアップそのものの光学的バラツキもあるため
、外乱信号のレベル（すなわち、電圧値）を一定にして
も、フォーカスレンズの振れ景または光学式ピックアッ
プ全体の振れ量（すなわち、実際にレンズが動く物理寸
法）か異なる。このため、外乱信号のレベルが大き過ぎ
るとサーボが不安定になシ最悪の場合サーボがはずれた
シする。また、外乱信号のレベルカ小す過キルト、フリ
ーケンシーレスポンスアナライザーへの入力信号である
Ｘ、Ｙのレベルが小さくなって測定系のＳ／Ｎが悪くな
シ、正しい調整ができなくなるという問題点を有してい
た。
本発明は上記問題点に鑑み、ディスクやピックアップの
光学的バラツキによらず安定したゲイン調整のできる光
学式ディスクプレーヤのトラッキングサーボのゲイン調
整装置を提供するものである。
光学的バラツキによらず安定したゲイン調整のできる光
学式ディスクプレーヤのトラッキングサーボのゲイン調
整装置を提供するものである。
課題を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明のトラッキングサー
ボのゲイン調整装置は、トラッキングサーボループがオ
ープン状態でのトラッキングエラー信号を検出する手段
と、このトラッキングエラー信号のレベルにより印加す
る外乱のレベルを制御する手段とを備えたものである。
ボのゲイン調整装置は、トラッキングサーボループがオ
ープン状態でのトラッキングエラー信号を検出する手段
と、このトラッキングエラー信号のレベルにより印加す
る外乱のレベルを制御する手段とを備えたものである。
作用
本発明は上記した構成によってトラッキングサーボルー
プに印加する外乱のレベルを適切に設定して、ディスク
やピックアップの光学的バラツキによらず正しいゲイン
調整ができる。
プに印加する外乱のレベルを適切に設定して、ディスク
やピックアップの光学的バラツキによらず正しいゲイン
調整ができる。
実施例
以下本発明の一実施例のトラッキングサーボのゲイン調
整装置について、図面を参照しながら説明する。第１図
は本発明の実施例におけるトラッキングサーボのゲイン
調整装置の構成を示すものである。第１図において、３
ｏはエラー信号生成回路１３の出力Ｙのレベルを検出す
るエラー信号レベル検出器である。この出力３０１によ
って外乱発振器２０の出力外乱信号Ｓのレベルを制御す
る。３１は発振器で、その出力３１１はスイッチ３２を
介して、アクチュエータ駆動回路１６に入力される。そ
の他の構成は従来と同様である。
整装置について、図面を参照しながら説明する。第１図
は本発明の実施例におけるトラッキングサーボのゲイン
調整装置の構成を示すものである。第１図において、３
ｏはエラー信号生成回路１３の出力Ｙのレベルを検出す
るエラー信号レベル検出器である。この出力３０１によ
って外乱発振器２０の出力外乱信号Ｓのレベルを制御す
る。３１は発振器で、その出力３１１はスイッチ３２を
介して、アクチュエータ駆動回路１６に入力される。そ
の他の構成は従来と同様である。
以上のように構成されたトラッキングサーボのゲイン調
整法について、以下第１図及び第２図を用いてその動作
を説明する。
整法について、以下第１図及び第２図を用いてその動作
を説明する。
まずスイッチ３２をＡ側に接続して発振器３１の出力３
１１によりアクチュエータ１７を駆動しフォーカスレン
ズまたは光学式ピックアップ全体をトラッキング方向（
ディスクの半径方向）に動かす。ターンテーブル２ｅに
よりディスク１ｏを回転するとエラー信号生成回路１３
の出力Ｙは光ビームがディスクの記録面上で情報が記録
されたトラックを横切るたびに８字カーブを連続的に描
き、第２図のようになる（この８字カーブのピーク値は
デイヌクやピックアップの光学的バラツキが電圧値Ｅ
（ｖ）として反映されるが、光学的距離は一定である。
１１によりアクチュエータ１７を駆動しフォーカスレン
ズまたは光学式ピックアップ全体をトラッキング方向（
ディスクの半径方向）に動かす。ターンテーブル２ｅに
よりディスク１ｏを回転するとエラー信号生成回路１３
の出力Ｙは光ビームがディスクの記録面上で情報が記録
されたトラックを横切るたびに８字カーブを連続的に描
き、第２図のようになる（この８字カーブのピーク値は
デイヌクやピックアップの光学的バラツキが電圧値Ｅ
（ｖ）として反映されるが、光学的距離は一定である。
例えば、第２図では０．７６μｍ ）。
この８字カーブのピーク値をエラー信号レベル検出器３
０により検出する。エラー信号レベル検出器としてはい
わゆるピークホールド回路を用いる。
０により検出する。エラー信号レベル検出器としてはい
わゆるピークホールド回路を用いる。
そしてこの出力３０１（Ｅ（ｖ））に対し、Ｅ１５（７
）ピーク値を持つ出力Ｓになるように外乱発振器２０を
制御する。これにより、トラッキングサーボループに印
加する外乱のレベルをディスクやピックアップの光学的
バラツキによらず０．１５μｍにすることができる。
）ピーク値を持つ出力Ｓになるように外乱発振器２０を
制御する。これにより、トラッキングサーボループに印
加する外乱のレベルをディスクやピックアップの光学的
バラツキによらず０．１５μｍにすることができる。
次にスイッチ３２をＢ側に接続することにより、トラッ
キングサーボループを閉・じトラッキング引き込みを行
う。トラッキング引き込み動作の方法はいろいろあるが
公知であるので説明は省略する。
キングサーボループを閉・じトラッキング引き込みを行
う。トラッキング引き込み動作の方法はいろいろあるが
公知であるので説明は省略する。
次に、外乱発振器２ｏの出力レベルをに１５にしたまま
従来と同じ方法でゲイン調整を行う。
従来と同じ方法でゲイン調整を行う。
以上のように本実施例によれば、スイッチ３２をＡ側に
接続してトラッキングサーボループがオープン状態での
トラッキングエラー信号のレベルをエラー信号レベル検
出器３ｏにより検出し、その出力Ｅにより外乱発振器２
ｏの出力をＥ１５に設定することで、ディスクやピック
アップの光学的バラツキによらず外乱レベルを０．１６
μｍにすることができ、０．１６μｍはトラッキングサ
ーボのＤレンジである０、７６μｍよシ充分小さくサー
ボもはずれることなく、また測定系のＳ／Ｎも充分であ
るためフリーケンシーレスポンスアナライザを用いて正
しいゲイン調整ができる。
接続してトラッキングサーボループがオープン状態での
トラッキングエラー信号のレベルをエラー信号レベル検
出器３ｏにより検出し、その出力Ｅにより外乱発振器２
ｏの出力をＥ１５に設定することで、ディスクやピック
アップの光学的バラツキによらず外乱レベルを０．１６
μｍにすることができ、０．１６μｍはトラッキングサ
ーボのＤレンジである０、７６μｍよシ充分小さくサー
ボもはずれることなく、また測定系のＳ／Ｎも充分であ
るためフリーケンシーレスポンスアナライザを用いて正
しいゲイン調整ができる。
なお、本実施例ではエラー信号レベル検出器３０はピー
クホールド回路としたが、エラー信号生成回路１３の出
力ＹをＡ／Ｄ（アナログ・デジタル）変換してそのｐθ
ｔ）ｇ ｔｏ ｐｅａｋ 値を求めこの値により外乱
発振器２ｏの出力レベルを制御してもよい。また、現実
的にはディスクの偏心を零にできないので発振器３１は
必要ない場合もある。
クホールド回路としたが、エラー信号生成回路１３の出
力ＹをＡ／Ｄ（アナログ・デジタル）変換してそのｐθ
ｔ）ｇ ｔｏ ｐｅａｋ 値を求めこの値により外乱
発振器２ｏの出力レベルを制御してもよい。また、現実
的にはディスクの偏心を零にできないので発振器３１は
必要ない場合もある。
発明の効果
以上のように本発明は、トラッキングサーボループがオ
ープン状態でのトラッキングサーボエラー信号のレベル
を検出する手段と、このトラッキングエラー信号のレベ
ルにより印加する外乱のレベルを制御する手段とを設け
ることで、光学式ディスクやピックアップの光学的バラ
ツキによらずに安定したトラッキングサーボのゲイン調
整ができる。
ープン状態でのトラッキングサーボエラー信号のレベル
を検出する手段と、このトラッキングエラー信号のレベ
ルにより印加する外乱のレベルを制御する手段とを設け
ることで、光学式ディスクやピックアップの光学的バラ
ツキによらずに安定したトラッキングサーボのゲイン調
整ができる。
第１図は本発明の一実施例におけるトラッキングサーボ
のゲイン調整装置の構成を示すブロック図、第２図はト
ラッキングエラー信号の８字カーブを説明するための波
形図、第３図は従来のトラッキングサーボのゲイン調整
装置のブロック図、第４図はフリーケンシーレスポンス
アナライザを説明するだめのブロック図である。 １０・・・・・・光学式ディスク、１１・・・・・・光
学式ピックアップ、１３・・・・・・エラー信号生成回
路、１４・・・・・・ループフィルタ、１５・・・・・
・可変利得増幅器、１６・・・・・・アクチュエータ駆
動回路、１７・川・・アクチュエータ、１８・・・・・
・加算器、１９・・・・・・フリーケンシーレスポンス
アナライザ、２０・・・・・・外乱発振器、２１・・・
・・・ゲイン検出器、２６・川・・ターンテーブル、３
０・・・・・・エラー信号レベル検出器、３１・・・・
・・発振器。
のゲイン調整装置の構成を示すブロック図、第２図はト
ラッキングエラー信号の８字カーブを説明するための波
形図、第３図は従来のトラッキングサーボのゲイン調整
装置のブロック図、第４図はフリーケンシーレスポンス
アナライザを説明するだめのブロック図である。 １０・・・・・・光学式ディスク、１１・・・・・・光
学式ピックアップ、１３・・・・・・エラー信号生成回
路、１４・・・・・・ループフィルタ、１５・・・・・
・可変利得増幅器、１６・・・・・・アクチュエータ駆
動回路、１７・川・・アクチュエータ、１８・・・・・
・加算器、１９・・・・・・フリーケンシーレスポンス
アナライザ、２０・・・・・・外乱発振器、２１・・・
・・・ゲイン検出器、２６・川・・ターンテーブル、３
０・・・・・・エラー信号レベル検出器、３１・・・・
・・発振器。
Claims (1)
- 光学式ディスクプレーヤのトラッキングサーボループに
、特定周波数の外乱を印加してその開ループゲインを調
整するゲイン調整装置であって、前記トラッキングサー
ボループがオープン状態でのトラッキングエラー信号の
レベルを検出する手段と、このトラッキングエラー信号
のレベルにより印加する外乱のレベルを制御する手段と
を備えたことを特徴とするトラッキングサーボのゲイン
調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63046219A JP2718052B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | トラッキングサーボのゲイン調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63046219A JP2718052B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | トラッキングサーボのゲイン調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01220231A true JPH01220231A (ja) | 1989-09-01 |
| JP2718052B2 JP2718052B2 (ja) | 1998-02-25 |
Family
ID=12740995
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63046219A Expired - Lifetime JP2718052B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | トラッキングサーボのゲイン調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2718052B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05217187A (ja) * | 1992-02-06 | 1993-08-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サーボループ特性調整装置 |
| US8937854B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-01-20 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264442A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Olympus Optical Co Ltd | ル−プゲイン測定装置 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP63046219A patent/JP2718052B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264442A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Olympus Optical Co Ltd | ル−プゲイン測定装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05217187A (ja) * | 1992-02-06 | 1993-08-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サーボループ特性調整装置 |
| US8937854B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-01-20 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9105281B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-08-11 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9245569B1 (en) | 2001-01-25 | 2016-01-26 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9514777B2 (en) | 2001-01-25 | 2016-12-06 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2718052B2 (ja) | 1998-02-25 |
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