JPH01174954A - 熱分析装置 - Google Patents
熱分析装置Info
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- JPH01174954A JPH01174954A JP33249287A JP33249287A JPH01174954A JP H01174954 A JPH01174954 A JP H01174954A JP 33249287 A JP33249287 A JP 33249287A JP 33249287 A JP33249287 A JP 33249287A JP H01174954 A JPH01174954 A JP H01174954A
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 39
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000002076 thermal analysis method Methods 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 abstract 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000012905 input function Methods 0.000 description 2
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は材料の物性の温度依存性を測定する熱分析装置
に関するものである。
に関するものである。
本発明は、測定すべき試料の温度を正確に所望の温度関
数に従って変化させることを目的とするため、温度関数
発生器と温度変換器と温度電圧変換器と加熱炉と比較演
算回路と比例電力発生器と測定部とから構成され、前記
温度変換器において、前記加熱炉と前記測定部に置かれ
た試料の間の温度ずれを補正する温度変換を行うことに
より、上記の目的を達成させたものである。
数に従って変化させることを目的とするため、温度関数
発生器と温度変換器と温度電圧変換器と加熱炉と比較演
算回路と比例電力発生器と測定部とから構成され、前記
温度変換器において、前記加熱炉と前記測定部に置かれ
た試料の間の温度ずれを補正する温度変換を行うことに
より、上記の目的を達成させたものである。
従来、この種の発明に関しては、前記温度変換器をもた
ないものや、前記温度変換器をもたず加熱炉温度の代わ
りに試料温度を前記比較演算回路に入力して加熱炉に供
給する電力を制御するものである。
ないものや、前記温度変換器をもたず加熱炉温度の代わ
りに試料温度を前記比較演算回路に入力して加熱炉に供
給する電力を制御するものである。
上記従来技術においては、前者の場合、加熱炉温度が所
望の温度関数に一致するように制御することは比較的容
易であるが、その際、試料温度は加熱炉温度よりも常に
低く、しかも、そのずれ幅は温度に依存するため、試料
温度を所望の温度関数に一致させることは極めて難しい
という欠点があった。また、後者の場合は試料温度を制
御信号として加熱炉制御を行うため、試料温度は所望の
温度関数に比較的一致しやすいが、制御対象である加熱
炉の温度変化が、制御信号(試料温度)の変化として検
出されるまでに時間遅れが発生するため、制御が不安定
で乱れやすくなるという欠点があった。
望の温度関数に一致するように制御することは比較的容
易であるが、その際、試料温度は加熱炉温度よりも常に
低く、しかも、そのずれ幅は温度に依存するため、試料
温度を所望の温度関数に一致させることは極めて難しい
という欠点があった。また、後者の場合は試料温度を制
御信号として加熱炉制御を行うため、試料温度は所望の
温度関数に比較的一致しやすいが、制御対象である加熱
炉の温度変化が、制御信号(試料温度)の変化として検
出されるまでに時間遅れが発生するため、制御が不安定
で乱れやすくなるという欠点があった。
本発明は上記の欠点を無くするために開発されたもので
、その主たる構成要件は、温度関数発生器と温度変換器
と温度電圧変換器と加熱炉と比較演算回路と比例電圧発
生器と測定部とから成っている。
、その主たる構成要件は、温度関数発生器と温度変換器
と温度電圧変換器と加熱炉と比較演算回路と比例電圧発
生器と測定部とから成っている。
上記構成の作用は、先ず温度関数発生器に所望の関数形
を入力すると、温度変換器において加熱炉温度と試料温
度の差に相当する温度骨が該関数に上乗せされるように
関数形が修正変換される。
を入力すると、温度変換器において加熱炉温度と試料温
度の差に相当する温度骨が該関数に上乗せされるように
関数形が修正変換される。
加熱炉温度は修正された関数形により制御されるため、
最初入力された関数形より高めの温度に制御されるが、
この時、試料温度は加熱炉温度よりも温度勾配により低
くなり、結果的にほぼ所望の関数形に一致する。又、制
御対象である加熱炉の温度が直接制御信号となるため帰
還ループの時間遅れが小さく、制御は安定に行われる。
最初入力された関数形より高めの温度に制御されるが、
この時、試料温度は加熱炉温度よりも温度勾配により低
くなり、結果的にほぼ所望の関数形に一致する。又、制
御対象である加熱炉の温度が直接制御信号となるため帰
還ループの時間遅れが小さく、制御は安定に行われる。
従って、測定すべき試料の温度を正確に所望の温度関数
に従って変化させるという目的を達成する。
に従って変化させるという目的を達成する。
以下、本発明を一実施例に示した図面に基づき詳細に説
明すると、図中1は温度関数発生器であり、温度関数発
生器1には温度変換器2が接続され、温度変換器2には
温度電圧変換器3が接続されている。4は加熱炉で、加
熱炉4と前記温度電圧変換器3とは比較演算回路5に接
続され、比較演算回路5は比例電力発生器6に接続され
、比例電力発生器6は前記加熱炉4に接続されている。
明すると、図中1は温度関数発生器であり、温度関数発
生器1には温度変換器2が接続され、温度変換器2には
温度電圧変換器3が接続されている。4は加熱炉で、加
熱炉4と前記温度電圧変換器3とは比較演算回路5に接
続され、比較演算回路5は比例電力発生器6に接続され
、比例電力発生器6は前記加熱炉4に接続されている。
さらに、加熱炉4には測定すべき試料(図示せず)の温
度および物性値を計測する測定部7が接続されている。
度および物性値を計測する測定部7が接続されている。
先ず、温度関数発生器1に所望の関数形を入力すると、
温度変換器2では加熱炉4の温度と測定部7に置かれた
前記試料の温度との差を該関数に上乗せする形で関数形
が修正される。修正された温度関数は温度変換器2から
温度電圧変換器3に送られ温度関数から使用する温度検
出器の温度電圧特性に合わせた電圧関数へと変換される
。前記加熱炉4の中に配置された温度検出器(図示せず
)による温度検出信号と該電圧関数とは、比較演算回路
5に送られ信号差に対し比例積分微分制御演算を施され
た後、演算信号が比例電力発生器6に送られ、該演算信
号に比例した電力が、比例電力発生器6から加熱炉4に
供給され加熱炉4の温度制御が行われる。さらに加熱炉
4から測定部7に置かれた前記試料には伝導、対流ある
いは輻射による熱の伝達が生じ、測定部7では該試料の
温度および物性値測定信号を出力している。
温度変換器2では加熱炉4の温度と測定部7に置かれた
前記試料の温度との差を該関数に上乗せする形で関数形
が修正される。修正された温度関数は温度変換器2から
温度電圧変換器3に送られ温度関数から使用する温度検
出器の温度電圧特性に合わせた電圧関数へと変換される
。前記加熱炉4の中に配置された温度検出器(図示せず
)による温度検出信号と該電圧関数とは、比較演算回路
5に送られ信号差に対し比例積分微分制御演算を施され
た後、演算信号が比例電力発生器6に送られ、該演算信
号に比例した電力が、比例電力発生器6から加熱炉4に
供給され加熱炉4の温度制御が行われる。さらに加熱炉
4から測定部7に置かれた前記試料には伝導、対流ある
いは輻射による熱の伝達が生じ、測定部7では該試料の
温度および物性値測定信号を出力している。
温度変換器2における温度変換についてさらに詳しく説
明すると、先ず、加熱炉4を各温度で一定温度保持させ
るように温度関数発生器1に関数形を与え、この時の加
熱炉温度と試料温度との関係を、 加熱炉温度=f(試料温度) となるように多項式近似しておく。温度変換器2の働き
は、入力値に対して上記変換rを施して出力することに
ある。
明すると、先ず、加熱炉4を各温度で一定温度保持させ
るように温度関数発生器1に関数形を与え、この時の加
熱炉温度と試料温度との関係を、 加熱炉温度=f(試料温度) となるように多項式近似しておく。温度変換器2の働き
は、入力値に対して上記変換rを施して出力することに
ある。
こうして、前記温度関数発生器1に入力された関数は、
温度変換器2により加熱炉と試料の温度ずれを見込む形
で高めに修正され、最終的に試料温度は最初に入力され
た関数形にほぼ一致し、目的を達する。
温度変換器2により加熱炉と試料の温度ずれを見込む形
で高めに修正され、最終的に試料温度は最初に入力され
た関数形にほぼ一致し、目的を達する。
なお、温度関数発生器1.温度変換器2.温度電圧変換
器3および比較演算回路5は、アナログ回路でも、デジ
タル回路でも構成することができるが、この選択が本発
明の内容を制限するものでないのは勿論のことである。
器3および比較演算回路5は、アナログ回路でも、デジ
タル回路でも構成することができるが、この選択が本発
明の内容を制限するものでないのは勿論のことである。
以上のように本発明によれば、温度関数発生器と温度電
圧変換器との間に温度変換器を設は制御対象である加熱
炉の温度と試料温度とのずれを常に補正するようにした
から、試料温度を所望の温度関数に従って変化させるこ
とができ、しかも測定者は、加熱炉温度と試料温度の間
のずれを意識する必要がない。さらに、制御対象である
加熱炉の温度を直接制御信号として利用するため、制御
帰還ループの時間遅れが小さく常に安定した制御が行わ
れるという効果を有する。
圧変換器との間に温度変換器を設は制御対象である加熱
炉の温度と試料温度とのずれを常に補正するようにした
から、試料温度を所望の温度関数に従って変化させるこ
とができ、しかも測定者は、加熱炉温度と試料温度の間
のずれを意識する必要がない。さらに、制御対象である
加熱炉の温度を直接制御信号として利用するため、制御
帰還ループの時間遅れが小さく常に安定した制御が行わ
れるという効果を有する。
図面は本発明の実施例を示すブロック図である。
1・・・温度関数発生器
2・・・温度変換器
3・・・温度電圧変換器
4・・・加熱炉
5・・・比較演算回路
6・・・比例電力発生器
7・・・測定部
以上
出願人 セイコー電子工業株式会社
Claims (2)
- (1)温度関数発生器と、前記温度関数発生器に接続さ
れた温度変換器と、前記温度変換器に接続された温度電
圧変換器と、温度検出器を備え分析すべき試料の温度を
変化させる加熱炉と、前記温度電圧変換器および前記加
熱炉に接続され両者の信号値を比較する比較演算回路と
、前記比較演算回路に接続され入力値に比例した電力を
前記加熱炉に供給する比例電力発生器と、前記加熱炉に
接続され分析すべき試料の温度および物性値を計測する
測定部とを備え、前記温度変換器は前記加熱炉の温度と
前記試料の温度の間のずれをオフセットとして加える変
換を行うことを特徴とする熱分析装置。 - (2)前記加熱炉と試料の間の温度ずれは、加熱炉を各
温度で一定温度保持することにより、あらかじめ設定し
、温度変換器を動作させることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の熱分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62332492A JP2651495B2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | 熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62332492A JP2651495B2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | 熱分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01174954A true JPH01174954A (ja) | 1989-07-11 |
JP2651495B2 JP2651495B2 (ja) | 1997-09-10 |
Family
ID=18255548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62332492A Expired - Lifetime JP2651495B2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | 熱分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2651495B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007322364A (ja) * | 2006-06-05 | 2007-12-13 | Sii Nanotechnology Inc | 熱分析装置 |
CN107014859A (zh) * | 2009-02-03 | 2017-08-04 | 梅特勒-托莱多有限公司 | 热分析仪 |
CN109031942A (zh) * | 2018-07-31 | 2018-12-18 | 清华大学 | 一种利用传递函数修正量热仪量热过程延迟环节的方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55141059U (ja) * | 1979-03-30 | 1980-10-08 | ||
JPS61110713A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Toshiba Corp | 焼鈍炉の温度制御方式 |
-
1987
- 1987-12-29 JP JP62332492A patent/JP2651495B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55141059U (ja) * | 1979-03-30 | 1980-10-08 | ||
JPS61110713A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Toshiba Corp | 焼鈍炉の温度制御方式 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007322364A (ja) * | 2006-06-05 | 2007-12-13 | Sii Nanotechnology Inc | 熱分析装置 |
US7781703B2 (en) | 2006-06-05 | 2010-08-24 | Sii Nanotechnology Inc. | Thermal analyzer |
DE102007021323B4 (de) * | 2006-06-05 | 2013-10-17 | Sii Nano Technology Inc. | Thermoanalysevorrichtung |
CN107014859A (zh) * | 2009-02-03 | 2017-08-04 | 梅特勒-托莱多有限公司 | 热分析仪 |
CN109031942A (zh) * | 2018-07-31 | 2018-12-18 | 清华大学 | 一种利用传递函数修正量热仪量热过程延迟环节的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2651495B2 (ja) | 1997-09-10 |
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