JPH01156683A - 電子回路パッケージ自己診断方式 - Google Patents
電子回路パッケージ自己診断方式Info
- Publication number
- JPH01156683A JPH01156683A JP62317963A JP31796387A JPH01156683A JP H01156683 A JPH01156683 A JP H01156683A JP 62317963 A JP62317963 A JP 62317963A JP 31796387 A JP31796387 A JP 31796387A JP H01156683 A JPH01156683 A JP H01156683A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- diagnosis
- data
- circuit
- section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子回路パッケージ自己診断方式に関する。
従来、この種の診断方式においては、制御回路及びメモ
リを含む制御パッケージが他の被制御パッケージを実際
に機能動作させ、動作結果を読み取り、予め用意した期
待値との比較をプログラムを実行して行なっている。
リを含む制御パッケージが他の被制御パッケージを実際
に機能動作させ、動作結果を読み取り、予め用意した期
待値との比較をプログラムを実行して行なっている。
上述した従来の診断方式においては、被制御パッケージ
すなわち被診断パッケージに対し実際の機能動作を行な
わせるため、機能が複数パッケージに及んでいる場合、
被疑パッケージが複数枚になる。また、制御パッケージ
と被制御パッケージとの間のインターフェース部が障害
になったとき、いずれのパッケージが障害であるがの選
定ができない。さらに、制御パッケージ自体の診断がで
きない。また、制御パッケージのプログラム実行の不可
能な障害が発生したとき、被制御パッケージの診断がで
きない。
すなわち被診断パッケージに対し実際の機能動作を行な
わせるため、機能が複数パッケージに及んでいる場合、
被疑パッケージが複数枚になる。また、制御パッケージ
と被制御パッケージとの間のインターフェース部が障害
になったとき、いずれのパッケージが障害であるがの選
定ができない。さらに、制御パッケージ自体の診断がで
きない。また、制御パッケージのプログラム実行の不可
能な障害が発生したとき、被制御パッケージの診断がで
きない。
本発明の電子回路パッケージ自己診断方式は電子装置を
構成する複数の電子回路パッケージのそれぞれに、パッ
ケージ外部からの診断実行指示の検出とパッケージ外部
への診断結果の報告とを行なう外部インターフェース部
と、パッケージ内の診断対象回路への入力データと前記
診断対象回路からの出力の期待値データとを保持するデ
ータ部と、前記診断対象回路にデータを入力する入力部
と、前記診断対象回路からの出力データと期待値データ
とを比較する比較部と、前記診断対象回路の入出力を他
のパッケージと前記入力部及び前記比較部とのいずれに
接続するかを切換える切換部と、診断の終了及び前記比
較部の比較結果を検出する診断結果検出部と、前記各部
の動作を制御する制御部とを設けた構成である。
構成する複数の電子回路パッケージのそれぞれに、パッ
ケージ外部からの診断実行指示の検出とパッケージ外部
への診断結果の報告とを行なう外部インターフェース部
と、パッケージ内の診断対象回路への入力データと前記
診断対象回路からの出力の期待値データとを保持するデ
ータ部と、前記診断対象回路にデータを入力する入力部
と、前記診断対象回路からの出力データと期待値データ
とを比較する比較部と、前記診断対象回路の入出力を他
のパッケージと前記入力部及び前記比較部とのいずれに
接続するかを切換える切換部と、診断の終了及び前記比
較部の比較結果を検出する診断結果検出部と、前記各部
の動作を制御する制御部とを設けた構成である。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
一実施例を示す第1図を参照すると、診断指示キー1は
パッケージ外部からパッケージに対し自己診断を指示す
るキーである。表示部2,3はそれぞれ診断結果の良、
不良を表示する。外部インターフェース部4は診断指示
キー1からの診断指示の検出及び表示部2.3に診断結
果の表示を指示する。診断対象回路5はパッケージ内の
診断対象となる回路であり、通常は電子装置の所定の機
能を司どる。データ部6は診断対象回i5を診断するた
めの入力データ及び出力データの期待値データを保持す
る。入力信号7は他パッケージからの入力信号である。
パッケージ外部からパッケージに対し自己診断を指示す
るキーである。表示部2,3はそれぞれ診断結果の良、
不良を表示する。外部インターフェース部4は診断指示
キー1からの診断指示の検出及び表示部2.3に診断結
果の表示を指示する。診断対象回路5はパッケージ内の
診断対象となる回路であり、通常は電子装置の所定の機
能を司どる。データ部6は診断対象回i5を診断するた
めの入力データ及び出力データの期待値データを保持す
る。入力信号7は他パッケージからの入力信号である。
出力信号8は他パッケージへの出力信号である。受信部
っけ入力信号7を受信する。送信部10は出力信号8を
送信する。入力部11はデータ部6の入力データを読み
取り診断対象回路5へ入力する。比較部12はデータ部
6の期待値データと診断対象回路5の出力データとの比
較チエツクを行なう。切換部13は診断対象回路5への
入力を受信部9及び入力部11のいずれに接続するか切
換える。切換部14は診断対象回路5の出力を送信部1
0及び比較部12のいずれに接続するか切換える。診断
結果検出部15は最終の入力データの検出及び比較部1
2における比較結果の不一致を検出する。制御部16は
各部の動作を制御する。
っけ入力信号7を受信する。送信部10は出力信号8を
送信する。入力部11はデータ部6の入力データを読み
取り診断対象回路5へ入力する。比較部12はデータ部
6の期待値データと診断対象回路5の出力データとの比
較チエツクを行なう。切換部13は診断対象回路5への
入力を受信部9及び入力部11のいずれに接続するか切
換える。切換部14は診断対象回路5の出力を送信部1
0及び比較部12のいずれに接続するか切換える。診断
結果検出部15は最終の入力データの検出及び比較部1
2における比較結果の不一致を検出する。制御部16は
各部の動作を制御する。
通常の動作時、すなわち診断を実行していない場合、診
断対象回路5は受信部9及び送信部10を介して他パッ
ケージと接続され、電子装置の所定の機柿を果す。診断
開始時、診断指示キー1をオンすると、外部インターフ
ェース部4は診断開始指示を検出して制御部16に伝達
する。制御部16は外部インターフェース部4からの診
断開始指示を検出すると、切換部13及び切換部14に
対して切換え指示を送出し、診断対象回路5の入力を受
信部9から入力部11に、かつ出力を送信部10から比
較部12に切換える。その後、制御部16は入力部11
及び比較部12を起動し、データ部6のデータにより診
断対象回路5の診断が行なわれる。診断結果検出部15
は最終診断データの検出あるいは比較部12でのデータ
の不一致を検出すると、制御部16に検出結果を伝達す
る。
断対象回路5は受信部9及び送信部10を介して他パッ
ケージと接続され、電子装置の所定の機柿を果す。診断
開始時、診断指示キー1をオンすると、外部インターフ
ェース部4は診断開始指示を検出して制御部16に伝達
する。制御部16は外部インターフェース部4からの診
断開始指示を検出すると、切換部13及び切換部14に
対して切換え指示を送出し、診断対象回路5の入力を受
信部9から入力部11に、かつ出力を送信部10から比
較部12に切換える。その後、制御部16は入力部11
及び比較部12を起動し、データ部6のデータにより診
断対象回路5の診断が行なわれる。診断結果検出部15
は最終診断データの検出あるいは比較部12でのデータ
の不一致を検出すると、制御部16に検出結果を伝達す
る。
制御部16はその検出結果を外部インターフェース部4
に伝達し、外部インターフェース部4は正常時に表示部
2の点灯、また異常時に表示部3の点灯を行なう。
に伝達し、外部インターフェース部4は正常時に表示部
2の点灯、また異常時に表示部3の点灯を行なう。
第2図は上述のように構成されるパッケージを複数個有
する電子装置の一例を示す。同図において、電子装置2
1は複数個のパッケージ22,23.24を備える。こ
れらのパッケージ22,23.24は信号線25.26
.27によりそれぞれ接続されている。
する電子装置の一例を示す。同図において、電子装置2
1は複数個のパッケージ22,23.24を備える。こ
れらのパッケージ22,23.24は信号線25.26
.27によりそれぞれ接続されている。
以上説明したように本発明によれば、電子回路パッケー
ジ単位で自己診断することにより、障害パッケージの選
定が確実に行なえる。また、他のパッケージの有無及び
障害に拘りなく、独立して診断を行なえる。
ジ単位で自己診断することにより、障害パッケージの選
定が確実に行なえる。また、他のパッケージの有無及び
障害に拘りなく、独立して診断を行なえる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示す図である。
1・・・診断指示キー、2.3・・・表示部、4・・・
外部インターフェース部、5・・・診断対重回路、6・
・・データ部、7・・・入力信号、8・・・出力信号、
9・・・受信部、11・・・入力部、12・・・比較部
、13.14・・・切換部、15・・・診断結果検出部
、16・・・制御部、21・・・電子装置、22,23
.24・・・パッケージ。 代理人 弁理士 内 原 音 第1 図
外部インターフェース部、5・・・診断対重回路、6・
・・データ部、7・・・入力信号、8・・・出力信号、
9・・・受信部、11・・・入力部、12・・・比較部
、13.14・・・切換部、15・・・診断結果検出部
、16・・・制御部、21・・・電子装置、22,23
.24・・・パッケージ。 代理人 弁理士 内 原 音 第1 図
Claims (1)
- 電子装置を構成する複数の電子回路パッケージのそれぞ
れに、パッケージ外部からの診断実行指示の検出とパッ
ケージ外部への診断結果の報告とを行なう外部インター
フェース部と、パッケージ内の診断対象回路への入力デ
ータと前記診断対象回路からの出力の期待値データとを
保持するデータ部と、前記診断対象回路にデータを入力
する入力部と、前記診断対象回路からの出力データと期
待値データとを比較する比較部と、前記診断対象回路の
入出力を他のパッケージと前記入力部及び前記比較部と
のいずれに接続するかを切換える切換部と、診断の終了
及び前記比較部の比較結果を検出する診断結果検出部と
、前記各部の動作を制御する制御部とを設けたことを特
徴とする電子回路パッケージ自己診断方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62317963A JPH01156683A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 電子回路パッケージ自己診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62317963A JPH01156683A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 電子回路パッケージ自己診断方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01156683A true JPH01156683A (ja) | 1989-06-20 |
Family
ID=18093947
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62317963A Pending JPH01156683A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 電子回路パッケージ自己診断方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01156683A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03215764A (ja) * | 1990-01-19 | 1991-09-20 | Matsushita Electron Corp | 半導体集積回路 |
-
1987
- 1987-12-15 JP JP62317963A patent/JPH01156683A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03215764A (ja) * | 1990-01-19 | 1991-09-20 | Matsushita Electron Corp | 半導体集積回路 |
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