JPH01136645A - 磁気共鳴イメージング装置 - Google Patents
磁気共鳴イメージング装置Info
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- JPH01136645A JPH01136645A JP62295362A JP29536287A JPH01136645A JP H01136645 A JPH01136645 A JP H01136645A JP 62295362 A JP62295362 A JP 62295362A JP 29536287 A JP29536287 A JP 29536287A JP H01136645 A JPH01136645 A JP H01136645A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は磁気共鳴（ＭＲ：ｍａｇｎｅｔｉｃ ｒｅｓｏ
ｎａｎｃｅ）現象を用いて被検体のＭＲ像を得る磁気共
鳴イメージング装置に係り、特に静磁場の安定化を図っ
たものに関する。
ｎａｎｃｅ）現象を用いて被検体のＭＲ像を得る磁気共
鳴イメージング装置に係り、特に静磁場の安定化を図っ
たものに関する。
（従来の技術）
磁気共鳴イメージング装置（以下ＭＲＩ装置と称する）
は、被検体の所望部位に−様な静磁場を印加し、この静
磁場と直角方向にＲ［磁場を形成する送信コイルによっ
て、断層像を得る特定のスライス部分のみにＭＲ現象を
生じさせ、ざらにＲ［磁場の解除後に原子核から発生す
るＭＲ倍信号受信コイルによって検出するようにしたも
ので、Ｘ′軸方向（Ｘ軸からθ°回転した座標系）に対
して直線的な傾斜を持つ傾斜磁場を静磁場に作用させて
合成ＭＲ倍信号得、この信号に基づいてＭＲ像を形成す
ることができる。
は、被検体の所望部位に−様な静磁場を印加し、この静
磁場と直角方向にＲ［磁場を形成する送信コイルによっ
て、断層像を得る特定のスライス部分のみにＭＲ現象を
生じさせ、ざらにＲ［磁場の解除後に原子核から発生す
るＭＲ倍信号受信コイルによって検出するようにしたも
ので、Ｘ′軸方向（Ｘ軸からθ°回転した座標系）に対
して直線的な傾斜を持つ傾斜磁場を静磁場に作用させて
合成ＭＲ倍信号得、この信号に基づいてＭＲ像を形成す
ることができる。
ところで、このようなＭＲＩ装置においては静磁場の均
一性の範囲が広く、しかも高安定であることが要求され
る。例えば通常のプロトンイメージングにおいては２
ｐｐｍ／Ｈ程度の静磁場安定性で十分であるが、ケミカ
ルシフトイメージングにおいては０．１ ｐｐｍ／１１
の高安定性が要求される。超電導状態で静磁場を形成す
る超電導磁石装置の場合、定常時において０．１ ｐｐ
ｍ／Ｈの高安定化を比較的容易に得ることができるか、
静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更直後においては減
衰が大きいために０．１ ｐｐｍ／Ｈの安定性を得るの
が極めて困難となる。
一性の範囲が広く、しかも高安定であることが要求され
る。例えば通常のプロトンイメージングにおいては２
ｐｐｍ／Ｈ程度の静磁場安定性で十分であるが、ケミカ
ルシフトイメージングにおいては０．１ ｐｐｍ／１１
の高安定性が要求される。超電導状態で静磁場を形成す
る超電導磁石装置の場合、定常時において０．１ ｐｐ
ｍ／Ｈの高安定化を比較的容易に得ることができるか、
静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更直後においては減
衰が大きいために０．１ ｐｐｍ／Ｈの安定性を得るの
が極めて困難となる。
この静磁場強度の減衰は、常電導磁石装置の場合、コイ
ルへの供給電流を制御することで容易に補正することが
できるが、超電導磁石装置の場合、通常電源を切り離し
て使用するくこれを「永久モード」と称する）方式を採
っているため、補正不可能となる。
ルへの供給電流を制御することで容易に補正することが
できるが、超電導磁石装置の場合、通常電源を切り離し
て使用するくこれを「永久モード」と称する）方式を採
っているため、補正不可能となる。
（発明が解決しようとする問題点）
上述したように超電導磁石装置を適用した従来のＭＲＩ
装置においては、静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更
直後における静磁場の安定性に欠けるという問題点を生
じている。
装置においては、静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更
直後における静磁場の安定性に欠けるという問題点を生
じている。
そこで本発明は上記の欠点を除去するものでその目的と
するところは、超電導磁石装置の静磁場立ち上げ時及び
静磁場強度変更時における静磁場安定性の向上を図った
ＭＲＩ装置を提供することにある。
するところは、超電導磁石装置の静磁場立ち上げ時及び
静磁場強度変更時における静磁場安定性の向上を図った
ＭＲＩ装置を提供することにある。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
本発明は、超電導状態で静磁場を形成する超電導磁′ｃ
ｉ装置を有し該静磁場中に配置された被検体の磁気共鳴
像を得る磁気共鳴イメージング装置において、静磁場強
度を補正する静磁場補正コイルと、前記超電導磁石装置
における静磁場強度減衰パターンの逆特性磁場を形成し
得る電流を前記静磁場補正コイルに供給する静磁場補正
電源とを有するものである。
ｉ装置を有し該静磁場中に配置された被検体の磁気共鳴
像を得る磁気共鳴イメージング装置において、静磁場強
度を補正する静磁場補正コイルと、前記超電導磁石装置
における静磁場強度減衰パターンの逆特性磁場を形成し
得る電流を前記静磁場補正コイルに供給する静磁場補正
電源とを有するものである。
（作 用）
本発明では、前記超電導磁石装置にあける静磁場強度減
衰パターンの逆特性磁場を形成し得る電流を前記静磁場
補正コイルに供給することで静磁場強度の補正を行い、
この強度補正により静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変
更直後における静磁場安定性の向上を図っている。
衰パターンの逆特性磁場を形成し得る電流を前記静磁場
補正コイルに供給することで静磁場強度の補正を行い、
この強度補正により静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変
更直後における静磁場安定性の向上を図っている。
（実施例）
以下、本発明を実施例ににり具体的に説明する。
第１図は本発明に係るＭＲＩ装置の一実施例を示してい
る。
る。
同図において高周波発振器６は、システムコントローラ
５の制御下で高周波（ＲＦ）信号を発生するもので、こ
の高周波発振器６の発振出力は、後段に配置されたゲー
ト回路７及び電力増幅器８を介してＲ［送信コイル１６
に供給されるようになっている。Ｒ［受信コイル１５は
被検体からのＭＲ倍信号検出するもので、このＲＦ受信
コイル１５により検出されたＭＲ倍信号プリアンプ１４
を介して位相検波回路１３に取り込まれ、ここで位相検
波されるようになっている。そしてこの位相検波出力は
、後段に配置された波形メモリ１２を介してデータ処理
計算機２に取り込まれるようになっている。このデータ
処理計算機２は機能的に静磁場補正制御手段３と画像再
構成手段４とを有する。
５の制御下で高周波（ＲＦ）信号を発生するもので、こ
の高周波発振器６の発振出力は、後段に配置されたゲー
ト回路７及び電力増幅器８を介してＲ［送信コイル１６
に供給されるようになっている。Ｒ［受信コイル１５は
被検体からのＭＲ倍信号検出するもので、このＲＦ受信
コイル１５により検出されたＭＲ倍信号プリアンプ１４
を介して位相検波回路１３に取り込まれ、ここで位相検
波されるようになっている。そしてこの位相検波出力は
、後段に配置された波形メモリ１２を介してデータ処理
計算機２に取り込まれるようになっている。このデータ
処理計算機２は機能的に静磁場補正制御手段３と画像再
構成手段４とを有する。
静磁場補正制御手段３は、静磁場強度の変動に応じて静
磁場補正コイル１９のベース電流（コイル電流中のベー
ス成分）を制御することで静磁場強度の補正制御を行う
ものである。静磁場強度は＝ ５− 例えばＭＲ倍信号フーリエ変換しそのピークを検出する
方法によって求めることができる。静磁場補正制御手段
３は、上記の方法によって求めた静磁場強度に対してＭ
Ｒ周波数ｆＯかどの程度ずれているかを把握し、このず
れを修正すべく静磁場補正電源１１を介して静磁場補正
コイル１９のベース電流を制御する。
磁場補正コイル１９のベース電流（コイル電流中のベー
ス成分）を制御することで静磁場強度の補正制御を行う
ものである。静磁場強度は＝ ５− 例えばＭＲ倍信号フーリエ変換しそのピークを検出する
方法によって求めることができる。静磁場補正制御手段
３は、上記の方法によって求めた静磁場強度に対してＭ
Ｒ周波数ｆＯかどの程度ずれているかを把握し、このず
れを修正すべく静磁場補正電源１１を介して静磁場補正
コイル１９のベース電流を制御する。
また、画像再構成手段４は、波形メモリ１２より送出さ
れたＭＲ情報よりＭＲ像を再構成するもので、再構成Ｍ
Ｒ像は表示装置１に送出され、ここで可視化されるよう
になっている。
れたＭＲ情報よりＭＲ像を再構成するもので、再構成Ｍ
Ｒ像は表示装置１に送出され、ここで可視化されるよう
になっている。
更に、傾斜磁場コイル１７は静磁場に重畳される傾斜磁
場を発生するもので、スライス方向傾斜磁場Ｇｓ発生用
、エンコード方向傾斜磁場ＧＥ発生用、読み出し方向傾
斜磁場ＧＲ発生用の３種類のコイルを有して成る。傾斜
磁場電源９はこの傾斜磁場コイル１７に電流を供給する
もので、システムコントローラ５の制御下にある。
場を発生するもので、スライス方向傾斜磁場Ｇｓ発生用
、エンコード方向傾斜磁場ＧＥ発生用、読み出し方向傾
斜磁場ＧＲ発生用の３種類のコイルを有して成る。傾斜
磁場電源９はこの傾斜磁場コイル１７に電流を供給する
もので、システムコントローラ５の制御下にある。
超電導磁石装置１８は超電導状態で静磁場を発生するも
ので、超電導体より形成された静磁場コイルと、このコ
イルを冷却する冷却手段とを有して成る。静磁場コイル
の冷却は液体ヘリウムや液体窒素等により行われる。
ので、超電導体より形成された静磁場コイルと、このコ
イルを冷却する冷却手段とを有して成る。静磁場コイル
の冷却は液体ヘリウムや液体窒素等により行われる。
また、減衰パターン発生手段２０は、超電導磁石装置１
８により形成される静磁場の減衰パターンを発生するも
ので、測定により求められた当該減衰パターン情報を予
め記憶するメモリ等をこの減衰パターン発生手段２０と
して適用することができる。しかしてこの減衰パターン
発生回路２０からの減衰パターン情報は静磁場補正電源
１１に取り込まれ、この情報に基づいて静磁場補正電源
１１は、当該減衰パターンの逆特性磁場を形成し得る電
流を静磁場補正コイル１９に供給するようになっている
。ここで、静磁場補正電源１１から静磁場補正コイル１
９に供給される電流のベース成分か、前記静磁場補正制
御手段３によって制御されるのは上述の通りである。
８により形成される静磁場の減衰パターンを発生するも
ので、測定により求められた当該減衰パターン情報を予
め記憶するメモリ等をこの減衰パターン発生手段２０と
して適用することができる。しかしてこの減衰パターン
発生回路２０からの減衰パターン情報は静磁場補正電源
１１に取り込まれ、この情報に基づいて静磁場補正電源
１１は、当該減衰パターンの逆特性磁場を形成し得る電
流を静磁場補正コイル１９に供給するようになっている
。ここで、静磁場補正電源１１から静磁場補正コイル１
９に供給される電流のベース成分か、前記静磁場補正制
御手段３によって制御されるのは上述の通りである。
第２図は超電導磁石装置１８と静磁場補正コイル１９と
の配置関係を示している。
の配置関係を示している。
超電導磁石装＠１８は略円筒状に形成され、これに静磁
場補正コイル１９が内接されている。この静磁場補正コ
イル１９は、４個のループコイル１９ａ、１９ｂ、１９
ｃ、１９ｄを静磁場方向に配置しそれらを直列接続して
成る。これは、静磁場強度を高均一性の状態で変更する
には２個のループコイル（ヘルムホルツコイル）では不
十分であり、少なくとも４個以上配置すべきだからであ
る。また、２１で示すのは搬影孔であり、この眼影孔２
１内に形成された静磁場Ｈａ中に被検体が配置されるこ
とになる。尚、説明の便宜上省略しているが、傾斜磁場
コイル１７．ＲＦ送信コイル１６及びＲＦ受信コイル１
５は静磁場補正コイル１９と共にモールドされ、又は静
磁場補正コイル１９とは別にモールドされて該コイル１
９の内側に配置されている。
場補正コイル１９が内接されている。この静磁場補正コ
イル１９は、４個のループコイル１９ａ、１９ｂ、１９
ｃ、１９ｄを静磁場方向に配置しそれらを直列接続して
成る。これは、静磁場強度を高均一性の状態で変更する
には２個のループコイル（ヘルムホルツコイル）では不
十分であり、少なくとも４個以上配置すべきだからであ
る。また、２１で示すのは搬影孔であり、この眼影孔２
１内に形成された静磁場Ｈａ中に被検体が配置されるこ
とになる。尚、説明の便宜上省略しているが、傾斜磁場
コイル１７．ＲＦ送信コイル１６及びＲＦ受信コイル１
５は静磁場補正コイル１９と共にモールドされ、又は静
磁場補正コイル１９とは別にモールドされて該コイル１
９の内側に配置されている。
次に、上記のように構成された実施例装置の作用につい
て説明する。
て説明する。
静磁場電源１０より超電導磁石装置１８に電流が供給さ
れ、その後、該電源１０が切り離されて超電導磁石装置
１８は永久モートとなる。データ収集は、システムコン
１〜ローラ５の制御下で行われる。すなわち、ＭＲ像再
構成用のデータ収集のための所定パルスシーケンスでＲ
Ｆ送信コイル１６よりＲＦパルスが送信され、傾斜磁場
コイル１７により形成された傾斜磁場が静磁場に重畳さ
れる。被検体よりのＭＲ倍信号ＲＦ受信コイル１５によ
り検出され、それがプリアンプ１４を介して位相検波回
路１３に取り込まれ、ここで位相検波される。位相検波
出力は波形メモリ１２を介して画像再構成手段４に取り
込まれ、ここでＭＲ像が再構成され、それが表示装置１
に表示される。
れ、その後、該電源１０が切り離されて超電導磁石装置
１８は永久モートとなる。データ収集は、システムコン
１〜ローラ５の制御下で行われる。すなわち、ＭＲ像再
構成用のデータ収集のための所定パルスシーケンスでＲ
Ｆ送信コイル１６よりＲＦパルスが送信され、傾斜磁場
コイル１７により形成された傾斜磁場が静磁場に重畳さ
れる。被検体よりのＭＲ倍信号ＲＦ受信コイル１５によ
り検出され、それがプリアンプ１４を介して位相検波回
路１３に取り込まれ、ここで位相検波される。位相検波
出力は波形メモリ１２を介して画像再構成手段４に取り
込まれ、ここでＭＲ像が再構成され、それが表示装置１
に表示される。
次に、静磁場強度補正について説明する。
ここで、超電導磁石装置１８により形成される静磁場強
度（Ｈａ）が、第３図２２で示すように減衰するものと
した場合、この減衰パターン情報が減衰パターン発生手
段２０１；り静磁場補正電源１１に送出される。しかし
てこの静磁場補正電源１１より当該減衰パターンの逆特
性磁場（同図２３参照）を形成し得る電流が静磁場補正
コイル１９に供給される。これにより、静磁場強度が補
正され、同図２４で示すように安定な静磁場を形成する
ことかできる。
度（Ｈａ）が、第３図２２で示すように減衰するものと
した場合、この減衰パターン情報が減衰パターン発生手
段２０１；り静磁場補正電源１１に送出される。しかし
てこの静磁場補正電源１１より当該減衰パターンの逆特
性磁場（同図２３参照）を形成し得る電流が静磁場補正
コイル１９に供給される。これにより、静磁場強度が補
正され、同図２４で示すように安定な静磁場を形成する
ことかできる。
ところで、上記のように静磁場減衰パターンの逆特性磁
場を形成することにより静磁場立ち上げ時及び静磁場強
度変更直後の静磁場安定性の向上を図ることができるが
、基準のＭＲ周波数ｆｏに対応する静磁場強度との間に
ずれを生ずる場合がある。かかる場合には次のＪ：うに
して静磁場補正コイル１９のベース電源を制御するとよ
い。
場を形成することにより静磁場立ち上げ時及び静磁場強
度変更直後の静磁場安定性の向上を図ることができるが
、基準のＭＲ周波数ｆｏに対応する静磁場強度との間に
ずれを生ずる場合がある。かかる場合には次のＪ：うに
して静磁場補正コイル１９のベース電源を制御するとよ
い。
先ず、システムコン１〜ローラ５の制御下で被検体より
のＭＲ倍信号検出する。そして静磁場補正制御手段３に
おいてＭＲ倍信号フーリエ変換し、ピーク検出により静
磁場強度を求める。そしてこの静磁場強度に対して基準
ＭＲ周波数ｆＯがどの程度ずれているかを求め、このず
れを修正するように静磁場補正電源１１を介して静磁場
補正コイル１９のベース電流を制御する。このようにし
て静磁場強度を補正する（磁場ロック）。
のＭＲ倍信号検出する。そして静磁場補正制御手段３に
おいてＭＲ倍信号フーリエ変換し、ピーク検出により静
磁場強度を求める。そしてこの静磁場強度に対して基準
ＭＲ周波数ｆＯがどの程度ずれているかを求め、このず
れを修正するように静磁場補正電源１１を介して静磁場
補正コイル１９のベース電流を制御する。このようにし
て静磁場強度を補正する（磁場ロック）。
この磁場ロックのタイミングは、必要とされる静磁場安
定性が得られるように静磁場強度の減衰量を勘案して適
宜に決定できるが、撮影時間が長い場合には、第４図に
示すように撮影時間（データ収集時間）を一定時間毎に
分割して非撮影期間（ＯＦＦ＞を設け、この期間内に上
記の磁場ロックモードを挿入するとよい。第５図は静磁
場補正コイル１９のベース電流変化と静磁場強度変化と
の関係を示している。同図において、ＨＯは静磁場強度
、Ｉｓは静磁場補正コイル１９のベース電流である。静
磁場強度補正をしない場合に同図２７で示すように静磁
場強度が大きく減衰するのに対して、静磁場減衰パター
ンの逆特性磁場を形成することにより同図２５で示すよ
うに静磁場強度を補正することができ、更に、静磁場補
正制御手段３の制御下で静磁場補正コイル１９のベース
電流をも制御（磁場ロック）することにより同図２６で
示すように基準Ｈｏ （基準ＭＲ周波数ｆＯに対応す
る静磁場強度）近傍での高安定化を達成し得る。
定性が得られるように静磁場強度の減衰量を勘案して適
宜に決定できるが、撮影時間が長い場合には、第４図に
示すように撮影時間（データ収集時間）を一定時間毎に
分割して非撮影期間（ＯＦＦ＞を設け、この期間内に上
記の磁場ロックモードを挿入するとよい。第５図は静磁
場補正コイル１９のベース電流変化と静磁場強度変化と
の関係を示している。同図において、ＨＯは静磁場強度
、Ｉｓは静磁場補正コイル１９のベース電流である。静
磁場強度補正をしない場合に同図２７で示すように静磁
場強度が大きく減衰するのに対して、静磁場減衰パター
ンの逆特性磁場を形成することにより同図２５で示すよ
うに静磁場強度を補正することができ、更に、静磁場補
正制御手段３の制御下で静磁場補正コイル１９のベース
電流をも制御（磁場ロック）することにより同図２６で
示すように基準Ｈｏ （基準ＭＲ周波数ｆＯに対応す
る静磁場強度）近傍での高安定化を達成し得る。
尚、ベース電流Ｉｅは、第５図２８で示すように静磁場
立ち上げ時若しくは静磁場強度変更直後においで負側に
し、装置の定常状態時に零となるように設定するのが好
ましい。このように設定することで静磁場補正コイル１
９への供給電源を最少限に抑えることができるからであ
る。
立ち上げ時若しくは静磁場強度変更直後においで負側に
し、装置の定常状態時に零となるように設定するのが好
ましい。このように設定することで静磁場補正コイル１
９への供給電源を最少限に抑えることができるからであ
る。
このように本実施例装置においては、超電導磁石装置１
８における静磁場強度減衰パターンの逆特性磁場を形成
し得る電流を静磁場補正コイル１９に供給することによ
り、静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更直後における
静磁場安定性の向上を図ることかでき、更に静磁場強度
の変動に応じて静磁場コイル１９のベース電流をも制御
することにより、基準ＭＲ周波数ｆＯに対応する静磁場
強度近傍での高安定化を図ることができる。
８における静磁場強度減衰パターンの逆特性磁場を形成
し得る電流を静磁場補正コイル１９に供給することによ
り、静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更直後における
静磁場安定性の向上を図ることかでき、更に静磁場強度
の変動に応じて静磁場コイル１９のベース電流をも制御
することにより、基準ＭＲ周波数ｆＯに対応する静磁場
強度近傍での高安定化を図ることができる。
以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、種々の変形実施か
可能となる。
記実施例に限定されるものではなく、種々の変形実施か
可能となる。
［発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、超電導＠石装置の
静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更直後における静磁
場安定性の向上を図ったＭＲＩ装・置を提供することが
できる。
静磁場立ち上げ時及び静磁場強度変更直後における静磁
場安定性の向上を図ったＭＲＩ装・置を提供することが
できる。
第１図は本発明に係るＭＲＩ装置の一実施例を示すブロ
ック図、第２図は本実施例装置の主要部構成説明図、第
３図乃至第５図はそれぞれ本実施例装置の作用を説明す
るだめの特性図及びタイミング図である。 ３・・・静磁場補正制御手段、 １１・・・静磁場補正電源、 １８・・・超電導磁石装置、 １９・・・静磁場補正コイル。
ック図、第２図は本実施例装置の主要部構成説明図、第
３図乃至第５図はそれぞれ本実施例装置の作用を説明す
るだめの特性図及びタイミング図である。 ３・・・静磁場補正制御手段、 １１・・・静磁場補正電源、 １８・・・超電導磁石装置、 １９・・・静磁場補正コイル。
Claims (1)
- 超電導状態で静磁場を形成する超電導磁石装置を有し該
静磁場中に配置された被検体の磁気共鳴像を得る磁気共
鳴イメージング装置において、静磁場強度を補正する静
磁場補正コイルと、前記超電導磁石装置における静磁場
強度減衰パターンの逆特性磁場を形成し得る電流を前記
静磁場補正コイルに供給する静磁場補正電源とを有する
ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295362A JPH01136645A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| US07/274,577 US4899110A (en) | 1987-11-25 | 1988-11-22 | Magnetic resonance imaging apparatus with stabilized magnetic field |
| DE3839715A DE3839715C2 (de) | 1987-11-25 | 1988-11-24 | Magnetresonanz-Abbildungsgerät |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295362A JPH01136645A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136645A true JPH01136645A (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=17819638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62295362A Pending JPH01136645A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4899110A (ja) |
| JP (1) | JPH01136645A (ja) |
| DE (1) | DE3839715C2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5465012A (en) * | 1992-12-30 | 1995-11-07 | Dunnam; Curt | Active feedback system for suppression of alternating magnetic fields |
| JP3992694B2 (ja) * | 2004-05-24 | 2007-10-17 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｍｒｉ装置 |
| WO2011002098A1 (ja) | 2009-07-03 | 2011-01-06 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | 超伝導磁石用シミング装置 |
| DE102021203257A1 (de) * | 2021-03-31 | 2022-10-06 | Siemens Healthcare Gmbh | Magnetresonanztomograph und Verfahren zum Betrieb eines Magnetresonanztomographen mit beschränkter Bandbreite |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS60259940A (ja) * | 1984-06-06 | 1985-12-23 | Hitachi Ltd | Ｎｍｒイメ−ジング装置の磁界発生装置 |
| JPS6190045A (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-08 | Toshiba Corp | Ｍｒｉ装置 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH520930A (de) * | 1970-03-12 | 1972-03-31 | Spectrospin Ag | Vorrichtung zur Stabilisierung des Magnetfeldes eines Kernresonanzgerätes |
| US4284950A (en) * | 1978-08-05 | 1981-08-18 | E M I Limited | Imaging systems |
| US4623844A (en) * | 1983-07-18 | 1986-11-18 | Albert Macovski | NMR inhomogeneity compensation system |
| JPS60189905A (ja) * | 1984-03-09 | 1985-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | 高均一磁界発生装置 |
| JPS60222044A (ja) * | 1984-04-20 | 1985-11-06 | 横河電機株式会社 | 核磁気共鳴による診断方法および装置 |
| US4523166A (en) * | 1984-10-19 | 1985-06-11 | General Electric Company | Optimal field inhomogeneity correction coil operation for NMR magnets |
| DE3511303A1 (de) * | 1985-03-28 | 1986-10-02 | Spectrospin AG, Fällanden, Zürich | Verfahren und vorrichtung zum homogenisieren des feldes einer magnetspule |
| US4761614A (en) * | 1987-04-27 | 1988-08-02 | Phospho-Energetics, Inc. | Device and method for automatic shimming of NMR instrument |
| US4724412A (en) * | 1987-08-03 | 1988-02-09 | General Electric Company | Method of determining coil arrangement of an actively shielded magnetic resonance magnet |
| US4812797A (en) * | 1988-03-22 | 1989-03-14 | General Electric Company | Compensation coil for temporal drift of a superconducting magnet |
-
1987
- 1987-11-25 JP JP62295362A patent/JPH01136645A/ja active Pending
-
1988
- 1988-11-22 US US07/274,577 patent/US4899110A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-24 DE DE3839715A patent/DE3839715C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60259940A (ja) * | 1984-06-06 | 1985-12-23 | Hitachi Ltd | Ｎｍｒイメ−ジング装置の磁界発生装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3839715A1 (de) | 1989-07-13 |
| DE3839715C2 (de) | 1994-03-17 |
| US4899110A (en) | 1990-02-06 |
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