JPH01135275A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPH01135275A JPH01135275A JP62293285A JP29328587A JPH01135275A JP H01135275 A JPH01135275 A JP H01135275A JP 62293285 A JP62293285 A JP 62293285A JP 29328587 A JP29328587 A JP 29328587A JP H01135275 A JPH01135275 A JP H01135275A
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- transistors
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Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、低照度被写体の撮影時においても固定パタ
ーンノイズの少ない出力信号が得られるようにした固体
撮像装置に関する。
ーンノイズの少ない出力信号が得られるようにした固体
撮像装置に関する。
従来、固体撮像装置としてはMOSトランジス夕を使用
したもの、あるいはCCD、BBD等の電荷結合デバイ
スを使用したものが一般的である。
したもの、あるいはCCD、BBD等の電荷結合デバイ
スを使用したものが一般的である。
しかしMOS)ランジスタを使用したものは、出力信号
が微弱であり、SN比が悪く、光感度も低いという欠点
があり、またCCD、BBD等を用いたものは電荷転送
時に電荷の損失があり、製造も困難である等の欠点があ
るものである。
が微弱であり、SN比が悪く、光感度も低いという欠点
があり、またCCD、BBD等を用いたものは電荷転送
時に電荷の損失があり、製造も困難である等の欠点があ
るものである。
これらの欠点を解決するものとして、各画素に静電誘導
トランジスタ(Static Induction T
ransistor。
トランジスタ(Static Induction T
ransistor。
以下SITと略称する)を用いた固体撮像装置が提案さ
れている。この中の一つとして、特願昭61−2773
46号には第5図に示すような構成のものが提案されて
いる。すなわち、図において、10−11.10−12
.・・・・・10−14.10−21.10−22.・
・・・・・10−24.・・・・・10−44は、画素
を構成するSITであり、この構成例ではこれらのSI
Tを説明の便宜上4行4列にマトリックス状に縦横に配
列した例を示している。縦に配列されたSITの各ソー
スは垂直信号線114.11−2.・・・・・11−4
に共通に接続され、また横に配列されたSITのゲート
はキャパシタを介して行ライン12−1.12−2.・
・・・・12−4にそれぞれ接続されている。そして垂
直信号線11−1゜11−2.・・・・・11−4はサ
ンプル用M OS F E T20−L20−2.・・
・・・20−4のドレイン−ソース通路を経て、ドライ
ブ用MOS F ETlB−L 1B−2,・・・・・
18−4のゲートにそれぞれ接続され、またサンプル用
MO5F E T2O−1,20−2,・・・・・20
−4の各ゲートには共通にサンプルホールドパルスφ8
.を印加するように構成されている。またドライブ用M
OS F ETlB−1,18−2,・・・・18−4
のドレインは基板電源VDDに共通に接続され、それら
のソースは水平選択スイッチを構成するスイッチ用M
OS F E T13−Li2−2.・・・・・13−
4を介してビデオライン14に接続されている。スイッ
チ用M OS F E T13−1.13−2゜・・・
・13−4の各ゲートは水平走査回路15に接続され、
水平走査パルスφSl+ φ、2.・・・・・φs4
が印加されるようになっている。またビデオライン14
には負荷抵抗RL及びリセット用MO3FET19が並
列に接続されており、リセット用MO5FET19のゲ
ートにはビデオラインリセットパルスφRVが印加され
るようになっている。
れている。この中の一つとして、特願昭61−2773
46号には第5図に示すような構成のものが提案されて
いる。すなわち、図において、10−11.10−12
.・・・・・10−14.10−21.10−22.・
・・・・・10−24.・・・・・10−44は、画素
を構成するSITであり、この構成例ではこれらのSI
Tを説明の便宜上4行4列にマトリックス状に縦横に配
列した例を示している。縦に配列されたSITの各ソー
スは垂直信号線114.11−2.・・・・・11−4
に共通に接続され、また横に配列されたSITのゲート
はキャパシタを介して行ライン12−1.12−2.・
・・・・12−4にそれぞれ接続されている。そして垂
直信号線11−1゜11−2.・・・・・11−4はサ
ンプル用M OS F E T20−L20−2.・・
・・・20−4のドレイン−ソース通路を経て、ドライ
ブ用MOS F ETlB−L 1B−2,・・・・・
18−4のゲートにそれぞれ接続され、またサンプル用
MO5F E T2O−1,20−2,・・・・・20
−4の各ゲートには共通にサンプルホールドパルスφ8
.を印加するように構成されている。またドライブ用M
OS F ETlB−1,18−2,・・・・18−4
のドレインは基板電源VDDに共通に接続され、それら
のソースは水平選択スイッチを構成するスイッチ用M
OS F E T13−Li2−2.・・・・・13−
4を介してビデオライン14に接続されている。スイッ
チ用M OS F E T13−1.13−2゜・・・
・13−4の各ゲートは水平走査回路15に接続され、
水平走査パルスφSl+ φ、2.・・・・・φs4
が印加されるようになっている。またビデオライン14
には負荷抵抗RL及びリセット用MO3FET19が並
列に接続されており、リセット用MO5FET19のゲ
ートにはビデオラインリセットパルスφRVが印加され
るようになっている。
一方、行ライン12−L 12−2.・・・・・12−
4は垂直走査回路16に接続され、垂直走査パルスφ6
1.φG2+・・・・φG4が印加されるようになって
いる。更に垂直信号線11−1.11−2.・・・・・
11−4の前記サンプル用M OS F E T2O−
1,20−2,・・・・・20−4に接続する側とは反
対側の端部は、それぞれ垂直信号線リセット用M OS
F E T21−1.21−2.・0.・・21−4
を介して接地され、これらの垂直信号線リセット用MO
3FETの各ゲートには、共通に画素SITの垂直信号
線リセットパルスφ麗が印加されるようになっている。
4は垂直走査回路16に接続され、垂直走査パルスφ6
1.φG2+・・・・φG4が印加されるようになって
いる。更に垂直信号線11−1.11−2.・・・・・
11−4の前記サンプル用M OS F E T2O−
1,20−2,・・・・・20−4に接続する側とは反
対側の端部は、それぞれ垂直信号線リセット用M OS
F E T21−1.21−2.・0.・・21−4
を介して接地され、これらの垂直信号線リセット用MO
3FETの各ゲートには、共通に画素SITの垂直信号
線リセットパルスφ麗が印加されるようになっている。
なお画素を構成する各SITのドレインはドレイン電源
V。に共通に接続されている。
V。に共通に接続されている。
次にこの構成例の動作を説明すると、まず垂直信号線リ
セットパルスφ、により垂直信号線リセット用M OS
F E T21−1.21−2.・・・・・21−4
がターンオンし、垂直走査パルスφG+(i=1.2.
・・・・・・・)がリセントレベルv13となると、そ
の行うイン12−iにつながる画素SITのゲート−ソ
ースで構成されるダイオードは順バイアスとなり、ゲー
ト電位はそのダイオードの順方向闇値電圧φ8となり、
ソース電位はGNDレベルとなる。また、φ68.φ、
がターンオフすると、画素SITのゲートは逆バイアス
状態となり、光積分を開始する。
セットパルスφ、により垂直信号線リセット用M OS
F E T21−1.21−2.・・・・・21−4
がターンオンし、垂直走査パルスφG+(i=1.2.
・・・・・・・)がリセントレベルv13となると、そ
の行うイン12−iにつながる画素SITのゲート−ソ
ースで構成されるダイオードは順バイアスとなり、ゲー
ト電位はそのダイオードの順方向闇値電圧φ8となり、
ソース電位はGNDレベルとなる。また、φ68.φ、
がターンオフすると、画素SITのゲートは逆バイアス
状態となり、光積分を開始する。
所定の積分時間経過後φG!=VIIDとすると、i番
目の行ラインの画素SITのゲートは読み出し状態にバ
イアスされる。
目の行ラインの画素SITのゲートは読み出し状態にバ
イアスされる。
この状態で、サンプル用M OS F E T2O4,
20=2.・・・・・20−4のゲートに印加するサン
プルホールドパルスφ3.IをHighレベルにすると
、i番目の行ラインの画素SITのソース電位は一斉に
サンプル用M OS F E T2O−1,20−2,
・・・・・20−4を介してドライブ用MOS F E
TlB−1,18−2,・・・・・18−4のゲートに
伝達され、サンプルホールドパルスφ8HをLowレベ
ルとした後もドライブ用MO3FET18〜1.18−
2.・・・・・18−4のゲート容量に保持される。
20=2.・・・・・20−4のゲートに印加するサン
プルホールドパルスφ3.IをHighレベルにすると
、i番目の行ラインの画素SITのソース電位は一斉に
サンプル用M OS F E T2O−1,20−2,
・・・・・20−4を介してドライブ用MOS F E
TlB−1,18−2,・・・・・18−4のゲートに
伝達され、サンプルホールドパルスφ8HをLowレベ
ルとした後もドライブ用MO3FET18〜1.18−
2.・・・・・18−4のゲート容量に保持される。
その後、垂直走査パルスφGiをLowレベルとする。
なお、φG!−Vllllとするタイミングは、サンプ
ルホールドパルスφ3MをHighレベルにしたあとで
もよい。また垂直信号線リセットパルスφ8はサンプル
ホールドパルスφ311がターンオフした後ターンオン
し、次のラインの垂直走査パルスφG11lがVRDと
なる直前にターンオフするようにし、φ、。
ルホールドパルスφ3MをHighレベルにしたあとで
もよい。また垂直信号線リセットパルスφ8はサンプル
ホールドパルスφ311がターンオフした後ターンオン
し、次のラインの垂直走査パルスφG11lがVRDと
なる直前にターンオフするようにし、φ、。
(i=1.2.・・、、、4)はφ8と同じタイミング
もしくはφ8がHighレベルの期間中にリセットレベ
ル■。とする。
もしくはφ8がHighレベルの期間中にリセットレベ
ル■。とする。
そしてドライブ用M OS F E T18−iのゲー
ト容量にホールドされた電圧信号は、サンプルホールド
パルスφSHがLowレベルの期間に、水平走査パルス
φs、(j=1.2.・・・・・4)でスイッチ用MO
3F E T13−jをオンすることにより順次読み出
され、出力電圧V S I Gが得られるようになって
いる。
ト容量にホールドされた電圧信号は、サンプルホールド
パルスφSHがLowレベルの期間に、水平走査パルス
φs、(j=1.2.・・・・・4)でスイッチ用MO
3F E T13−jをオンすることにより順次読み出
され、出力電圧V S I Gが得られるようになって
いる。
ところで先に提案した固体撮像装置は、次のような2つ
の欠点を有することが判明した。すなわち第1は、ゲー
トパルスφ。をリードレベルにした後、サンプル用トラ
ンジスタ20−1.20−2.・・・・・20−4のO
N、OFFによって、それぞれの垂直信号線の電位をド
ライブ用トランジスタ1B−1,18−2゜・・・・1
8−4のゲート容量に保持する際、前記サンプル用トラ
ンジスタのゲートに印加されるサンプルホールドパルス
φSHのフィードスルーが前記ドライブ用トランジスタ
のゲート容量に現れ、保持電荷の一部が失われることで
ある。すなわち、サンプルホールドパルスφ、Hのレベ
ルがLowとなり、上記サンプル用トランジスタがOF
Fするとき、そのゲート・ドレイン及びゲート・ソース
寄生容量の充放電電流が流れる。前記トランジスタの画
素SITの垂直信号線114.11−2.・・・・・1
1−4につながる方の端子に流れる前記充放電電流は、
信号読み出し特性に影響することはないが、他方ドライ
ブ用トランジスタのゲートに流れる充放電電流は、保持
電荷から供給されるため、その一部が失われることにな
る。上記電荷損失量はサンプル用MO3FETがOFF
した後、立ち下がるパルスの振幅と寄生容量によって決
まり、前記振幅は保持電圧に依存する。
の欠点を有することが判明した。すなわち第1は、ゲー
トパルスφ。をリードレベルにした後、サンプル用トラ
ンジスタ20−1.20−2.・・・・・20−4のO
N、OFFによって、それぞれの垂直信号線の電位をド
ライブ用トランジスタ1B−1,18−2゜・・・・1
8−4のゲート容量に保持する際、前記サンプル用トラ
ンジスタのゲートに印加されるサンプルホールドパルス
φSHのフィードスルーが前記ドライブ用トランジスタ
のゲート容量に現れ、保持電荷の一部が失われることで
ある。すなわち、サンプルホールドパルスφ、Hのレベ
ルがLowとなり、上記サンプル用トランジスタがOF
Fするとき、そのゲート・ドレイン及びゲート・ソース
寄生容量の充放電電流が流れる。前記トランジスタの画
素SITの垂直信号線114.11−2.・・・・・1
1−4につながる方の端子に流れる前記充放電電流は、
信号読み出し特性に影響することはないが、他方ドライ
ブ用トランジスタのゲートに流れる充放電電流は、保持
電荷から供給されるため、その一部が失われることにな
る。上記電荷損失量はサンプル用MO3FETがOFF
した後、立ち下がるパルスの振幅と寄生容量によって決
まり、前記振幅は保持電圧に依存する。
また、この電荷損失量は、前記サンプル用トランジスタ
の寄生容量のばらつきによって、変動することが考えら
れる。以上に述べたサンプルホールドパルスφSHのフ
ィードスルーの影響ハ、出力信号に固定パターンノイズ
となって現れ、特に保持電荷量が少ない低照度被写体を
撮像したとき顕著となる。
の寄生容量のばらつきによって、変動することが考えら
れる。以上に述べたサンプルホールドパルスφSHのフ
ィードスルーの影響ハ、出力信号に固定パターンノイズ
となって現れ、特に保持電荷量が少ない低照度被写体を
撮像したとき顕著となる。
第2の欠点は、ドライブ用トランジスタ1B−1゜18
−2.・・・・・18−4及び水平選択用トランジスタ
13−1゜13−2.・・・・・13−4及び負荷抵抗
RLで構成する読み出し回路の特性に関する。第6図(
8)は、画素SITの垂直信号線1本につながる読み出
し回路を、同図■)は、φSH及びφSがHighレベ
ルのときのその静特性を示しており、■アはドライブ用
トランジスタ1B−1,18−2,・・・・・18−4
の閾値電圧、V、は垂直信号線の電位を表している。第
6図田)より、入力電圧VINが■アに近い部分で出力
特性が下に凸な部分があり、VINがおよそ(Vt+1
.5V)をこえると、出力特性は入力電圧VINに対し
て直線的になることがわかる。実際に前記固体揚傷素子
が動作するとき、前述のφ、Hのフィードスルーによる
保持電荷の損失を考えないとすると、V、、−v3とな
り、その最小値VSMIN及び最大値V 5IIAXは
、後述の0式から次のようになる。
−2.・・・・・18−4及び水平選択用トランジスタ
13−1゜13−2.・・・・・13−4及び負荷抵抗
RLで構成する読み出し回路の特性に関する。第6図(
8)は、画素SITの垂直信号線1本につながる読み出
し回路を、同図■)は、φSH及びφSがHighレベ
ルのときのその静特性を示しており、■アはドライブ用
トランジスタ1B−1,18−2,・・・・・18−4
の閾値電圧、V、は垂直信号線の電位を表している。第
6図田)より、入力電圧VINが■アに近い部分で出力
特性が下に凸な部分があり、VINがおよそ(Vt+1
.5V)をこえると、出力特性は入力電圧VINに対し
て直線的になることがわかる。実際に前記固体揚傷素子
が動作するとき、前述のφ、Hのフィードスルーによる
保持電荷の損失を考えないとすると、V、、−v3とな
り、その最小値VSMIN及び最大値V 5IIAXは
、後述の0式から次のようになる。
Cc
VSMIN””φm + (VRD
V’s) VPCG+CJ ・・・・・・■ G VSlIA)l=φm 十□ VID VpCG+C
J ・・・・・・■ 出力信号V、、、が入射光量に対して直線的に増加する
には、すなわちγを1とするには、VSMIN〉Vt
+1.5Vとなるように■。及びVR3を選ばなければ
ならない。
V’s) VPCG+CJ ・・・・・・■ G VSlIA)l=φm 十□ VID VpCG+C
J ・・・・・・■ 出力信号V、、、が入射光量に対して直線的に増加する
には、すなわちγを1とするには、VSMIN〉Vt
+1.5Vとなるように■。及びVR3を選ばなければ
ならない。
ここで−船釣な測定値、φm =0. T V、 Cc
/(CG+CJ)=0.5.VP−0,3V、Vア=
0.5 Vを0式に代入し、V3MIN= VT +
1.5 Vとなるようなり0とVt+3の関係を求めて
みると、VRD=VIS+3.2V ・
・・・・・■となる。■式に上記値を代入すると、 Vsxax=1.7 +〇、 5 X v’s
・−・−・・■となり、■□=3Vとすると、V、
□x−3,2Vと計算される。
/(CG+CJ)=0.5.VP−0,3V、Vア=
0.5 Vを0式に代入し、V3MIN= VT +
1.5 Vとなるようなり0とVt+3の関係を求めて
みると、VRD=VIS+3.2V ・
・・・・・■となる。■式に上記値を代入すると、 Vsxax=1.7 +〇、 5 X v’s
・−・−・・■となり、■□=3Vとすると、V、
□x−3,2Vと計算される。
ところでリセット直後のゲート電位は、このバイアス条
件のとき、 G φ8−□・V++s−0,8V・・・・・・■C,+C
。
件のとき、 G φ8−□・V++s−0,8V・・・・・・■C,+C
。
であるが、画素5ITO中に、ゲート・ソース逆バイア
ス電圧が、最大4.OVとなるものが存在する可能性が
ある。この値は画素SITのゲート・ソース接合耐圧二
6■に近いため、両端子間にリーク電流が流れ、ゲート
に蓄積された光電荷が破壊される可能性があるので好ま
しいバイアス設定でない。前記画素内置大逆バイアス電
圧を小さくする方法にリセソトレベルV+tSを小さく
することが考えられるが、リセット時のゲート・ソース
間ダイオードのg1低下を招きリセット不完全となるた
め、限界がある。また高感度化に伴いC6の縮小化を考
えると、CG/(CG+CJ)の値は更に小さくなり、
その結果■。及びVIISを大きく設定しなければなら
ないことになる。このような理由で、現状では■、の電
圧範囲は、第6図田)に示すAの範囲のようになり、低
照度域までγを1に保つことは困難である。
ス電圧が、最大4.OVとなるものが存在する可能性が
ある。この値は画素SITのゲート・ソース接合耐圧二
6■に近いため、両端子間にリーク電流が流れ、ゲート
に蓄積された光電荷が破壊される可能性があるので好ま
しいバイアス設定でない。前記画素内置大逆バイアス電
圧を小さくする方法にリセソトレベルV+tSを小さく
することが考えられるが、リセット時のゲート・ソース
間ダイオードのg1低下を招きリセット不完全となるた
め、限界がある。また高感度化に伴いC6の縮小化を考
えると、CG/(CG+CJ)の値は更に小さくなり、
その結果■。及びVIISを大きく設定しなければなら
ないことになる。このような理由で、現状では■、の電
圧範囲は、第6図田)に示すAの範囲のようになり、低
照度域までγを1に保つことは困難である。
本発明は、上記2つの欠点を解決し、低照度撮像におい
ても、固定パターンノイズが少なく、且つ入射光量に対
して直線性のよい出力を得ることのできる固体撮像装置
を提供することを目的とするものである。
ても、固定パターンノイズが少なく、且つ入射光量に対
して直線性のよい出力を得ることのできる固体撮像装置
を提供することを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕上記問題点を
解決するため、本発明は、複数の行ライン及び複数の垂
直信号線間にマトリックス状に配列され、ゲート電極を
行ラインに、一方の主電極を垂直信号線にそれぞれ接続
した複数の静電導電トランジスタと、前記複数の垂直信
号線の各々にサンプル用トランジスタを介して接続した
ドライブ用MO5)ランジスタと、前記静電誘トランジ
スタに蓄積された信号を、所定の読み出し期間中に行ラ
イン毎に一斉に読み出して前記サンプル用トランジスタ
を介して前記ドライブ用MOSトランジスタにホールド
し、そのホールドされた信号を水平選択スイッチ用トラ
ンジスタを介して水平走査期間内で順次読み出す駆動手
段と、前記ドライブ用MO3)ランジスタのゲートに付
加した固定容量とで固体撮像装置を構成するものである
。
解決するため、本発明は、複数の行ライン及び複数の垂
直信号線間にマトリックス状に配列され、ゲート電極を
行ラインに、一方の主電極を垂直信号線にそれぞれ接続
した複数の静電導電トランジスタと、前記複数の垂直信
号線の各々にサンプル用トランジスタを介して接続した
ドライブ用MO5)ランジスタと、前記静電誘トランジ
スタに蓄積された信号を、所定の読み出し期間中に行ラ
イン毎に一斉に読み出して前記サンプル用トランジスタ
を介して前記ドライブ用MOSトランジスタにホールド
し、そのホールドされた信号を水平選択スイッチ用トラ
ンジスタを介して水平走査期間内で順次読み出す駆動手
段と、前記ドライブ用MO3)ランジスタのゲートに付
加した固定容量とで固体撮像装置を構成するものである
。
このように構成することにより、ドライブ用MOSトラ
ンジスタのゲートに保持される電荷量は大となるため、
サンプルホールドパルスのフィードスルーによる電荷損
失の影響をあまり受けず、したがって低照度被写体撮像
時においても固定パターンノイズの少ない出力信号が得
られる。
ンジスタのゲートに保持される電荷量は大となるため、
サンプルホールドパルスのフィードスルーによる電荷損
失の影響をあまり受けず、したがって低照度被写体撮像
時においても固定パターンノイズの少ない出力信号が得
られる。
また固定容量に印加するバイアスパルスを読み出し回路
の入出力特性の直線性の良い入力端子に選ぶことにより
、低照度撮像時においても、入射光量対出力信号電圧の
直線性を確保することができる。
の入出力特性の直線性の良い入力端子に選ぶことにより
、低照度撮像時においても、入射光量対出力信号電圧の
直線性を確保することができる。
以下実施例について説明する。まず第1図に基づいて本
発明の基本構成について説明する。なお、第1図におい
て、第5図に示した先に提案した固体撮像装置と同一部
材には、同一符号を付して示している。
発明の基本構成について説明する。なお、第1図におい
て、第5図に示した先に提案した固体撮像装置と同一部
材には、同一符号を付して示している。
本発明は、第1図に示すように、ドライブ用トランジス
タ18−1.18−2.・・・・・18−4のゲートに
、サンプル用トランジスタ2o’−1,20−2,・・
・・・20−4のゲートと前記トランジスタ1B−1,
18−2,・・・・・18−4のゲートのあいだにある
寄生容量C8に比して充分に大きな容量値CBをもつ固
定容量22−1.22−2゜・・・・22−4の一端を
接続し、前記固定容量の他端を共通に接続して、これに
バイアスパルスφ、を印加するように構成するものであ
る。なおバイアスパルスφ、は、φ。がリードレベルv
anのときはGNDレヘレベなり、サンプル用トランジ
スタ20−1.20−2.・・・・・20−4がOFF
した後、水平走査が始まる前に、バイアスパルス ルスとする。
タ18−1.18−2.・・・・・18−4のゲートに
、サンプル用トランジスタ2o’−1,20−2,・・
・・・20−4のゲートと前記トランジスタ1B−1,
18−2,・・・・・18−4のゲートのあいだにある
寄生容量C8に比して充分に大きな容量値CBをもつ固
定容量22−1.22−2゜・・・・22−4の一端を
接続し、前記固定容量の他端を共通に接続して、これに
バイアスパルスφ、を印加するように構成するものであ
る。なおバイアスパルスφ、は、φ。がリードレベルv
anのときはGNDレヘレベなり、サンプル用トランジ
スタ20−1.20−2.・・・・・20−4がOFF
した後、水平走査が始まる前に、バイアスパルス ルスとする。
このように構成することにより、サンプル用トランジス
タ20−1.20=2.・・・・・20−4がOFFす
ることで、ドライブ用トランジスタ1B−’L 18−
2.・・・・・18−4のゲートに保持される電荷量は
、(V、・CB)と大きいため、サンプルホールドパル
スφ、Hのフィードスルーによる電荷損失の影響をあま
り受けない。また前記固定容量22−L 22−2.・
・・・・22−4の他端をサンプル用トランジスタがO
FFした後、水平走査が始まる前に■。たけバイアスす
ることにより、信号読み出し時のドライブ用トランジス
タのゲート電位は(VC+VS)となる。■、を読み出
し回路の入出力特性の直線性の良い入力電圧に選べば、
低照度撮像においても入射光量対出力信号電圧の直線性
が確保される。
タ20−1.20=2.・・・・・20−4がOFFす
ることで、ドライブ用トランジスタ1B−’L 18−
2.・・・・・18−4のゲートに保持される電荷量は
、(V、・CB)と大きいため、サンプルホールドパル
スφ、Hのフィードスルーによる電荷損失の影響をあま
り受けない。また前記固定容量22−L 22−2.・
・・・・22−4の他端をサンプル用トランジスタがO
FFした後、水平走査が始まる前に■。たけバイアスす
ることにより、信号読み出し時のドライブ用トランジス
タのゲート電位は(VC+VS)となる。■、を読み出
し回路の入出力特性の直線性の良い入力電圧に選べば、
低照度撮像においても入射光量対出力信号電圧の直線性
が確保される。
第2図(8)、(B)は垂直信号線1列に着目したとき
の本発明の読み出し回路及びその入出力特性である。同
図[Blにおいて、VINの領域Aはφ、が常時GND
レベルのときのその電圧範囲、Bはサンプル用トランジ
スタがOFFした後、■、レベルとなるときのその電圧
範囲である。
の本発明の読み出し回路及びその入出力特性である。同
図[Blにおいて、VINの領域Aはφ、が常時GND
レベルのときのその電圧範囲、Bはサンプル用トランジ
スタがOFFした後、■、レベルとなるときのその電圧
範囲である。
第3図は、本発明の具体的な実施例を示す回路構成図で
ある。図において、10−11.10−12.・・・・
・10−14.10−21.10−22.・・・・・・
10−24.・・・・・10−44は、画素を構成する
SITであり、この構成例ではこれらのSITを説明の
便宜上4行4列にマトリックス状に縦横に配列した例を
示している。縦に配置5 列されたSITの各ソースは垂直信号線11−1.11
−2.・・・・・11−4に共通に接続され、また横に
配列されたSITのゲートはキャパシタを介して行ライ
ン12−L 12−2.・・・・・12−4にそれぞれ
接続されている。そして垂直信号線11−1.11−2
.・・・・・11−4はサンプル用M OS F E
T20−L 20−2.・・・・・20〜4のドレイン
−ソース通路を経て、ドライブ用MO3FET1B−L
18−2.・・・・・18−4のゲートにそれぞれ接
続され、またサンプル用M OS F E T2O−1
,20−2゜・・・・20−4の各ゲートには共通にサ
ンプルホールドパルスφ、Hを印加するように構成され
ている。
ある。図において、10−11.10−12.・・・・
・10−14.10−21.10−22.・・・・・・
10−24.・・・・・10−44は、画素を構成する
SITであり、この構成例ではこれらのSITを説明の
便宜上4行4列にマトリックス状に縦横に配列した例を
示している。縦に配置5 列されたSITの各ソースは垂直信号線11−1.11
−2.・・・・・11−4に共通に接続され、また横に
配列されたSITのゲートはキャパシタを介して行ライ
ン12−L 12−2.・・・・・12−4にそれぞれ
接続されている。そして垂直信号線11−1.11−2
.・・・・・11−4はサンプル用M OS F E
T20−L 20−2.・・・・・20〜4のドレイン
−ソース通路を経て、ドライブ用MO3FET1B−L
18−2.・・・・・18−4のゲートにそれぞれ接
続され、またサンプル用M OS F E T2O−1
,20−2゜・・・・20−4の各ゲートには共通にサ
ンプルホールドパルスφ、Hを印加するように構成され
ている。
ドライブ用MOS F ET18−1.18−2.・・
・・・18−4のゲートには、前記サンプル用MOS
F ETのゲートと前記ドライブ用MO3FETのゲー
トとの間にある寄生容量に比べて充分に大きな容量値C
BをもつMOSキャパシタ23−1.23−2.・・・
・・23−4の電導体側電極がそれぞれ接続され、その
半導体側電極は共通に接続されて、バイアスパルスφ。
・・・18−4のゲートには、前記サンプル用MOS
F ETのゲートと前記ドライブ用MO3FETのゲー
トとの間にある寄生容量に比べて充分に大きな容量値C
BをもつMOSキャパシタ23−1.23−2.・・・
・・23−4の電導体側電極がそれぞれ接続され、その
半導体側電極は共通に接続されて、バイアスパルスφ。
が印加されるように構成されている。
またドライブ用M OS F E T18−1.18−
2.・・・・・18−4のドレインは基板電源VDDに
共通に接続され、それらのソースは水平選択スイッチを
構成するスイッチ用M OS F E T13−L 1
3−2.・・・・・13−4を介してビデオライン14
に接続されている。スイッチ用M OS F E T1
3−L 13−2.・・・・13−4の各ゲートは水平
走査回路15に接続され、水平走査パルスφSI。
2.・・・・・18−4のドレインは基板電源VDDに
共通に接続され、それらのソースは水平選択スイッチを
構成するスイッチ用M OS F E T13−L 1
3−2.・・・・・13−4を介してビデオライン14
に接続されている。スイッチ用M OS F E T1
3−L 13−2.・・・・13−4の各ゲートは水平
走査回路15に接続され、水平走査パルスφSI。
φ8□、・・・・・φ、4が印加されるようになってい
る。
る。
またビデオライン14には負荷抵抗R5及びリセット用
MO3FET19が並列に接続されており、リセット用
MO3FET19のゲートにはビデオラインリセットパ
ルスφRVが印加されるようになっている。
MO3FET19が並列に接続されており、リセット用
MO3FET19のゲートにはビデオラインリセットパ
ルスφRVが印加されるようになっている。
一方、行ライン12−1.12−2.・・・・・12−
4は垂直走査回路16に接続され、垂直走査パルスφ。
4は垂直走査回路16に接続され、垂直走査パルスφ。
1.φ、2゜・・・・φ、4が印加されるようになって
いる。更に垂直信号線11−1.11−2.・・・・・
11−4の前記サンプル用M OS F E T2O−
1,20−2,・・・・・20−4に接続する側とは反
対側の端部は、それぞれ垂直信号線リセット用M OS
F E T21−1.21−2.・・・・・21−4
を介して接地され、これらの垂直信号線リセット用MO
3FETの各ゲートには、共通に画素SITの垂直信号
線リセットパルスφ7が印加されるようになっている。
いる。更に垂直信号線11−1.11−2.・・・・・
11−4の前記サンプル用M OS F E T2O−
1,20−2,・・・・・20−4に接続する側とは反
対側の端部は、それぞれ垂直信号線リセット用M OS
F E T21−1.21−2.・・・・・21−4
を介して接地され、これらの垂直信号線リセット用MO
3FETの各ゲートには、共通に画素SITの垂直信号
線リセットパルスφ7が印加されるようになっている。
なお画素を構成する各SITのドレインはドレイン電源
■、に共通に接続されている。
■、に共通に接続されている。
次にこの実施例の動作を、第4図に示す駆動パルス、出
力信号VslG波形、ゲート電位及びソース電位のタイ
ミングチャートを参照しながら説明する。まず垂直信号
線リセットパルスφ、により垂直信号線リセット用M
OS F E T21−L 21−2゜・・・・21−
4がターンオンし、垂直走査パルスφ6.(i=1.2
,18106.、)がリセットレベルVR3となると、
その行ライン12−iにつながる画素SITのゲート−
ソースで構成されるダイオードは順バイアスとなり、ゲ
ート電位はそのダイオードの順方向闇値電圧φ8となり
、ソース電位はGNDレベルとなる。垂直走査パルスφ
6□かリセットレベルvmsからGNDレベルに戻ると
、画素SITのゲc −ト電位は、φお+□・VII3となり光C,十C。
力信号VslG波形、ゲート電位及びソース電位のタイ
ミングチャートを参照しながら説明する。まず垂直信号
線リセットパルスφ、により垂直信号線リセット用M
OS F E T21−L 21−2゜・・・・21−
4がターンオンし、垂直走査パルスφ6.(i=1.2
,18106.、)がリセットレベルVR3となると、
その行ライン12−iにつながる画素SITのゲート−
ソースで構成されるダイオードは順バイアスとなり、ゲ
ート電位はそのダイオードの順方向闇値電圧φ8となり
、ソース電位はGNDレベルとなる。垂直走査パルスφ
6□かリセットレベルvmsからGNDレベルに戻ると
、画素SITのゲc −ト電位は、φお+□・VII3となり光C,十C。
電荷の蓄積を開始する。
所定の時間積分後、垂直信号線リセット用MO3F E
T21−1.21〜2.・・・・・21−4がオフし
、垂直走査パルスφ0.が読み出しレベル■。になると
、画素SITのゲート電位は、 Cc Vc+j=φg + (VIID V1
13)C,十C。
T21−1.21〜2.・・・・・21−4がオフし
、垂直走査パルスφ0.が読み出しレベル■。になると
、画素SITのゲート電位は、 Cc Vc+j=φg + (VIID V1
13)C,十C。
CG+CJ
となる。ここでΔQは積分時間に画素SITのゲートに
蓄積された光電荷である。このとき、画素SITは垂直
信号線の寄生容量C3を、(VC−vp)の電位にまで
充電する。
蓄積された光電荷である。このとき、画素SITは垂直
信号線の寄生容量C3を、(VC−vp)の電位にまで
充電する。
ピンチオフ電圧■、は、■、〈φ、の関係にあるから、
SITのゲート・ソース間ダイオードはφ。
SITのゲート・ソース間ダイオードはφ。
を越えることがない。したがってSITのソースにはゲ
ート電位に対応した電位■、が現れる。
ート電位に対応した電位■、が現れる。
Cc
■3息j=φB +(V++o VR3)CG+CJ
Cc、+CJ
この状態で、サンプル用M OS F E T20−L
20−2.・・・・・20−4のゲートに印加するサ
ンプルホールドパルスφ、HをHighレベルにすると
、i番目の行ラインの画素SITのソース電位は一斉に
サンプル用M OS F E T20−L 20−2.
・・・・・20−4を介してドライブ用M OS F
ET18−118−2.・・・・・18−4のゲートに
伝達され、サンプルホールドパルスφ311をLowレ
ベルとした後も主としてMOSキャパシタ23−L 2
3−2.・・・・・23−4に保持される。
20−2.・・・・・20−4のゲートに印加するサ
ンプルホールドパルスφ、HをHighレベルにすると
、i番目の行ラインの画素SITのソース電位は一斉に
サンプル用M OS F E T20−L 20−2.
・・・・・20−4を介してドライブ用M OS F
ET18−118−2.・・・・・18−4のゲートに
伝達され、サンプルホールドパルスφ311をLowレ
ベルとした後も主としてMOSキャパシタ23−L 2
3−2.・・・・・23−4に保持される。
なお、前記MOSキャパシタに印加するバイアスパルス
φ、は、垂直走査パルスφ6.が読み出しレベル■。と
なる直前にGNDレベルとなり、少なくともサンプルホ
ールドパルスφ8、がLo−レベルとなり、サンプル用
トランジスタ20−1.20−2゜・・・・20−4が
オフするまでGNDレベルとなっている。
φ、は、垂直走査パルスφ6.が読み出しレベル■。と
なる直前にGNDレベルとなり、少なくともサンプルホ
ールドパルスφ8、がLo−レベルとなり、サンプル用
トランジスタ20−1.20−2゜・・・・20−4が
オフするまでGNDレベルとなっている。
その後、垂直走査パルスφG1をLowレベルとする。
なお、φ6、−VIIDとするタイミングは、サンプル
ホールドパルスφ8.をHighレベルにしたあとでも
よい。また垂直信号線リセットパルスφ、はサンプルホ
ールドパルスφ、Hがターンオフした後ターンオンし、
次のラインの垂直走査パルスφ。8.。
ホールドパルスφ8.をHighレベルにしたあとでも
よい。また垂直信号線リセットパルスφ、はサンプルホ
ールドパルスφ、Hがターンオフした後ターンオンし、
次のラインの垂直走査パルスφ。8.。
が■。となる直前にターンオフするようにし、φGi(
i=1.2.・・・・・4)はφ8と同じタイミングも
しくはφえがHighレベルの期間中にリセットレベル
V、lsとする。
i=1.2.・・・・・4)はφ8と同じタイミングも
しくはφえがHighレベルの期間中にリセットレベル
V、lsとする。
MOSキャパシタ23−1.23−2.・・・・・23
−4にホールドされた電荷■、・C8は前述したように
充分に大きいので、サンプルホールドパルスφ8Mが立
ち下がるときのクロックフィードスルーの影響を受けな
い。したがって保持されている電圧はVsJのままであ
る。サンプル用MO3FETがOFFした後、水平走査
が始まる前に、バイアスパルスφ。
−4にホールドされた電荷■、・C8は前述したように
充分に大きいので、サンプルホールドパルスφ8Mが立
ち下がるときのクロックフィードスルーの影響を受けな
い。したがって保持されている電圧はVsJのままであ
る。サンプル用MO3FETがOFFした後、水平走査
が始まる前に、バイアスパルスφ。
を■。レベルにすると、ドライブ用MO3FE’T1B
−1,18−2,・・・・・18−4のゲート電位は、
(V317+Vc)となる。この状態で水平走査パルス
φ、Jでスイッチ用MOS F F、T13−jをON
することにより、行ライン12−jとつながる画素SI
Tの信号をビデオライン14に順次読み出す。
−1,18−2,・・・・・18−4のゲート電位は、
(V317+Vc)となる。この状態で水平走査パルス
φ、Jでスイッチ用MOS F F、T13−jをON
することにより、行ライン12−jとつながる画素SI
Tの信号をビデオライン14に順次読み出す。
ここで■。は、ドライブ用M OS F E 718−
Lスイッチ用MOS F ET13−j及び負荷抵抗R
Lで構成されるソースフォロワ回路の利得aが常に一定
となるレベルに選ぶ。このとき出力電圧V S I G
i jは、 VS+。t= = a (Vstj+Vc)G =a(φm + (V++o V++s
)C,+C。
Lスイッチ用MOS F ET13−j及び負荷抵抗R
Lで構成されるソースフォロワ回路の利得aが常に一定
となるレベルに選ぶ。このとき出力電圧V S I G
i jは、 VS+。t= = a (Vstj+Vc)G =a(φm + (V++o V++s
)C,+C。
C,+C。
・・・・・・■
となる。
バイアスパルスφCは次の行ラインのゲートパルスφ。
1++がリードレベルになる前にGNDレベルとなるよ
うにする。
うにする。
垂直走査回路16によって以上の動作を、順次各行ライ
ン12−1.12−2.・・・・・12−4について行
い、1フレ一ム分の出力信号を得るようにすれば、画素
に入射する光量が少なく、ドライブ用MO3FET18
−1.18−2.・・・・・18−4のゲートにホール
ドされる電圧が小さい場合においても、固定パターンノ
イズが少なく、且つ光量対出力電圧の直線性の良い出力
信号を得ることができる。
ン12−1.12−2.・・・・・12−4について行
い、1フレ一ム分の出力信号を得るようにすれば、画素
に入射する光量が少なく、ドライブ用MO3FET18
−1.18−2.・・・・・18−4のゲートにホール
ドされる電圧が小さい場合においても、固定パターンノ
イズが少なく、且つ光量対出力電圧の直線性の良い出力
信号を得ることができる。
上記実施例は、2次元のエリアセンサに本発明を適用し
たものを示したが、第3図に示したイメージセンサの1
行ラインで構成するラインセンサにも本発明を適用する
ことができ、その場合も同様な作用効果が得られる。
たものを示したが、第3図に示したイメージセンサの1
行ラインで構成するラインセンサにも本発明を適用する
ことができ、その場合も同様な作用効果が得られる。
以上実施例に基づいて説明したように、本発明によれば
、ドライブ用MO3)ランジスタのゲートに固定容量を
付加したので、サンプルホールドパルスのフィードスル
ーによる電荷損失の影響が少なくなり、低照度被写体撮
像時においても固定パターンノイズの少ない出力信号が
得られる。また固定容量に印加するバイアスパルスを読
み出し回路の入出力特性の直線性の良い入力電圧に選ぶ
ことにより、低照度撮像時においても入射光量対出力信
号電圧の直線性を確保することが可能となる。
、ドライブ用MO3)ランジスタのゲートに固定容量を
付加したので、サンプルホールドパルスのフィードスル
ーによる電荷損失の影響が少なくなり、低照度被写体撮
像時においても固定パターンノイズの少ない出力信号が
得られる。また固定容量に印加するバイアスパルスを読
み出し回路の入出力特性の直線性の良い入力電圧に選ぶ
ことにより、低照度撮像時においても入射光量対出力信
号電圧の直線性を確保することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の基本構成を示す回路構成図、第2図
(A)、(Blは、第1図の垂直信号線1列に着目した
ときの読み出し回路及びその入出力特性を示す図、第3
図は、本発明の実施例を示す回路構成図、第4図は、動
作を説明するための信号波形図、第5図は、先に提案し
た固体撮像装置を示す回路構成図、第6図W、(B)は
、第5図に示した装置の垂直信号線1列に着目したとき
の読み出し回路及びその入出力特性を示す図である。 図において、10−11.・・・・・・は画素SIT、
11−1゜・・・・・・は垂直信号線、12−1.・・
・・・は行ライン、13−1.・・・・・はスイッチ用
MOS F ET、 18−1.・・・・・はドライブ
用MOS F ET、 20−1.・・・・・はサンプ
ル用MOSFET、214.・・・・・は垂直信号線リ
セット用MOS F ET、 23−1.・・・・・は
MOSキャパシタを示す。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社Φ ψ 噸− 〉 工 ψ 任 σ φ 〉 手続補正書 昭和63年 1月11日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 1、事件の表示 昭和62年 特 許 願 第293285号2、発明の
名称 固 体 撮 像 装 置3、補正をする者 代表者 下山敏部 4、代理人 6、補正により増加する発明の数 な し7、補正の
対象 明細書の特許請求の範囲の欄、及び発明の詳細な説明の
欄 、べF;六今、8、補
正の内容 (1) 特許請求の範囲を別紙のとおり補正する。 (2)明細書第2頁16行に「撮影時」とあるのを、「
撮像時」と補正する。 (3)同第3頁4行にrSN比」とあるのを、rS/N
比」と補正する。 (4) 同第10頁16行に「VSMAX=1.7
+0.5 X VII!−・−・−・■」トアルノを、
rVsxax=2.0 +0.5 X V++s”・。 ■」と補正する。 (5)同第10頁17行にr V s□X=3.2VJ
とあるのを、r V 5nAx = 3.5 V Jと
補正する。 (6)同第11頁5行に[最大4.OVJとあるのを、
「最大4.3V (=VSMAX (0,8V))
Jと補正する。 (7)同第12頁11〜12行に「静電導電」とあるの
を、「静電誘導」と補正する。 (8)同第12頁14行に「静電誘」とあるのを、「静
電誘導」と補正する。 G (9) 同第18頁18行に[φ8+□・V*sJと
あCG+CJ Cr。 以上 2、特許請求の範囲 +l) 複数の行ライン及び複数の垂直信号線間にマ
トリックス状に配列され、ゲート電極を行ラインに、一
方の主電極を垂直信号線にそれぞれ接続した複数の静電
n1トランジスタと、前記複数の垂直信号線の各々にサ
ンプル用トランジスタを介して接続したドライブ用MO
3)ランジスタと、前記静電H専トランジスタに蓄積さ
れた信号を、所定の読み出し期間中に行ライン毎に一斉
に読み出して前記サンプル用トランジスタを介して前記
ドライブ用MO3)ランジスタにホールドし、そのホー
ルドされた信号を水平選択スイッチ用トランジスタを介
して水平走査期間内で順次読み出す駆動手段と、前記ド
ライブ用MOSトランジスタのゲートに付加した固定容
量とを備えていることを特徴とする固体撮像装置。 (2)前記固定容量の他端を共通に接続し、静電誘導ト
ランジスタへのゲートパルスが読み出しレベルとなると
きLowレベルとなり、サンプル用トランジスタが0F
FL、た後、水平走査が始まる前にHighレベルとな
るバイアスパルスを印加するように構成したことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置。 (3)前記バイアスパルスのHighレベルを、ドライ
ブ用MOSFET、水平選択スイッチ用トランジスタ及
び負荷抵抗で構成する読み出し回路の入出力特性のリニ
アリティーが良い入力電圧に選定することを特徴とする
特許請求の範囲第2項記載の固体撮像装置。
(A)、(Blは、第1図の垂直信号線1列に着目した
ときの読み出し回路及びその入出力特性を示す図、第3
図は、本発明の実施例を示す回路構成図、第4図は、動
作を説明するための信号波形図、第5図は、先に提案し
た固体撮像装置を示す回路構成図、第6図W、(B)は
、第5図に示した装置の垂直信号線1列に着目したとき
の読み出し回路及びその入出力特性を示す図である。 図において、10−11.・・・・・・は画素SIT、
11−1゜・・・・・・は垂直信号線、12−1.・・
・・・は行ライン、13−1.・・・・・はスイッチ用
MOS F ET、 18−1.・・・・・はドライブ
用MOS F ET、 20−1.・・・・・はサンプ
ル用MOSFET、214.・・・・・は垂直信号線リ
セット用MOS F ET、 23−1.・・・・・は
MOSキャパシタを示す。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社Φ ψ 噸− 〉 工 ψ 任 σ φ 〉 手続補正書 昭和63年 1月11日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 1、事件の表示 昭和62年 特 許 願 第293285号2、発明の
名称 固 体 撮 像 装 置3、補正をする者 代表者 下山敏部 4、代理人 6、補正により増加する発明の数 な し7、補正の
対象 明細書の特許請求の範囲の欄、及び発明の詳細な説明の
欄 、べF;六今、8、補
正の内容 (1) 特許請求の範囲を別紙のとおり補正する。 (2)明細書第2頁16行に「撮影時」とあるのを、「
撮像時」と補正する。 (3)同第3頁4行にrSN比」とあるのを、rS/N
比」と補正する。 (4) 同第10頁16行に「VSMAX=1.7
+0.5 X VII!−・−・−・■」トアルノを、
rVsxax=2.0 +0.5 X V++s”・。 ■」と補正する。 (5)同第10頁17行にr V s□X=3.2VJ
とあるのを、r V 5nAx = 3.5 V Jと
補正する。 (6)同第11頁5行に[最大4.OVJとあるのを、
「最大4.3V (=VSMAX (0,8V))
Jと補正する。 (7)同第12頁11〜12行に「静電導電」とあるの
を、「静電誘導」と補正する。 (8)同第12頁14行に「静電誘」とあるのを、「静
電誘導」と補正する。 G (9) 同第18頁18行に[φ8+□・V*sJと
あCG+CJ Cr。 以上 2、特許請求の範囲 +l) 複数の行ライン及び複数の垂直信号線間にマ
トリックス状に配列され、ゲート電極を行ラインに、一
方の主電極を垂直信号線にそれぞれ接続した複数の静電
n1トランジスタと、前記複数の垂直信号線の各々にサ
ンプル用トランジスタを介して接続したドライブ用MO
3)ランジスタと、前記静電H専トランジスタに蓄積さ
れた信号を、所定の読み出し期間中に行ライン毎に一斉
に読み出して前記サンプル用トランジスタを介して前記
ドライブ用MO3)ランジスタにホールドし、そのホー
ルドされた信号を水平選択スイッチ用トランジスタを介
して水平走査期間内で順次読み出す駆動手段と、前記ド
ライブ用MOSトランジスタのゲートに付加した固定容
量とを備えていることを特徴とする固体撮像装置。 (2)前記固定容量の他端を共通に接続し、静電誘導ト
ランジスタへのゲートパルスが読み出しレベルとなると
きLowレベルとなり、サンプル用トランジスタが0F
FL、た後、水平走査が始まる前にHighレベルとな
るバイアスパルスを印加するように構成したことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置。 (3)前記バイアスパルスのHighレベルを、ドライ
ブ用MOSFET、水平選択スイッチ用トランジスタ及
び負荷抵抗で構成する読み出し回路の入出力特性のリニ
アリティーが良い入力電圧に選定することを特徴とする
特許請求の範囲第2項記載の固体撮像装置。
Claims (3)
- (1)複数の行ライン及び複数の垂直信号線間にマトリ
ックス状に配列され、ゲート電極を行ラインに、一方の
主電極を垂直信号線にそれぞれ接続した複数の静電導電
トランジスタと、前記複数の垂直信号線の各々にサンプ
ル用トランジスタを介して接続したドライブ用MOSト
ランジスタと、前記静電誘トランジスタに蓄積された信
号を、所定の読み出し期間中に行ライン毎に一斉に読み
出して前記サンプル用トランジスタを介して前記ドライ
ブ用MOSトランジスタにホールドし、そのホールドさ
れた信号を水平選択スイッチ用トランジスタを介して水
平走査期間内で順次読み出す駆動手段と、前記ドライブ
用MOSトランジスタのゲートに付加した固定容量とを
備えていることを特徴とする固体撮像装置。 - (2)前記固定容量の他端を共通に接続し、静電誘導ト
ランジスタへのゲートパルスが読み出しレベルとなると
きLowレベルとなり、サンプル用トランジスタがOF
Fした後、水平走査が始まる前にHighレベルとなる
バイアスパルスを印加するように構成したことを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置。 - (3)前記バイアスパルスのHighレベルを、ドライ
ブ用MOSFET、水平選択スイッチ用トランジスタ及
び負荷抵抗で構成する読み出し回路の入出力特性のリニ
アリティーが良い入力電圧に選定することを特徴とする
特許請求の範囲第2項記載の固体撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62293285A JPH01135275A (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62293285A JPH01135275A (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01135275A true JPH01135275A (ja) | 1989-05-26 |
Family
ID=17792853
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62293285A Pending JPH01135275A (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01135275A (ja) |
-
1987
- 1987-11-20 JP JP62293285A patent/JPH01135275A/ja active Pending
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