JPH01109442A - スキャンパス制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はスキャンパス制御装置に関し、特にデータ処理
装置に用いられるスキャンパス制御装置に関する。

！！反１ 従来、この種のスキャンパス制御装置は、第２図に示す
ように、アドレスカウンタ４１と、書込みデータレジス
タ４２と、スキャンデータバッファ４３と、読出しデー
タレジスタ４４と、スキャン制御部４５とにより構成さ
れ、論理装置１と保守診断装置３とに夫々接続されてい
る。

論理装置１はスキャンパス１１〜１４と、これらスキャ
ンパス１１〜１４の出力の中から１つを選択する選択回
路１５とを含んで構成されている。

保守診断装置３は論理装置１のスキャンパス１１〜１４
からのスキャンデータの処理を行っている。

スキャンパス制御装置４のアドレスカウンタ４１はスキ
ャンデータバッファ４３に対してワードアドレスを指示
し、スキャンデータバッファ４３において書込みあるい
は読出しが行われる毎に歩進する機能を有している。

書込みデータレジスタ４２はスキャンデータバッファ４
３への書込みデータを一時的に保持し、保守診断装置３
から信号線１０４を介して送出されてくる１ワ一ド分の
データを保持する機能と、スキャンパス１１〜１４から
選択回路１５と信号線１０１とを介して送出されてくる
スキャンアウトデータを１ビツトづつシフトアウト類に
シフトしなから１ワ一ド分を保持する機能とを有してい
る。

この書込みデータレジスタ４２はパラレル入出力とシリ
アル入力とが可能なレジスタの一種である。

スキャンデータバッファ４３はスキャンパス１１〜１４
へのスキャンインデータとスキャンパス１１〜１４から
のスキャンアウトデータとを格納し、たとえば８ビツト
構成のワードを複数個保持できるＲＡＭ　（ランダムア
クセスメモリ）などによシ構成されている。

読出しデータレジスタ４４はスキャンデータバッファ４
３からの読出しデータを一時的に保持し、保守診断装置
３に対して信号線１０３を介してワード単位のデータを
送出するための機能と、信号線１０２を介してスキャン
インデータを１ビツトづつスキャンパス１１〜１４に送
出する機能とを有している。この読出しデータレジスタ
４４はパラレル入出力とシリアル出力とが可能なレジス
タの一種である。

スキャン制御部４５はスキャンイン動作とスキャンアウ
ト動作とにおいてスキャンパス制御装置４内の各部の制
御や、論理装置１のスキャンパス１１〜１４に対するシ
フトクロックの供給などを制御する。

上述のように構成されたシステムにおいてスキャンアウ
ト動作を行う場合には、まずアドレスカウンタ４１が初
期設定され、スキャン制御部４５からスキャンパス１１
に対してシフトクロックが供給される。

スキャンパス１１ではスキャン制御部４５からのシフト
クロックの供給毎に内容が１ビツトづつシフトされ、ス
キャンパス１１でのシフト動作によシ出力されたデータ
は選択回路１５で選択されて書込みデータレジスタ４２
にシリアルに入力される。

書込みデータレジスタ４２にスキャンパス１１からのス
キャンアウトデータが８ピット揃うと、書込みデータレ
ジスタ４２に保持されたスキャンアウトデータがアドレ
スカウンタ４１によシ指定されるスキャンデータバッフ
ァ４３のアドレスに対して書込まれる。この書込みデー
タレジスタ４２に保持されたスキャンアウトデータのス
キャンデータバッファ４３への書込みが終了すると、ア
ドレスカウンタ４１の値が歩進されて次のワードの書込
み処理に移る。

このスキャンパス１１に対するシフト動作と、書込みデ
ータレジスタ４２に８ビツト（１ワード）ノテータが揃
う毎になされるスキャンデータバッファ４３へのデータ
の書込み動作とが終了すると、スキャンデータバッファ
４３に格納されたスキャンパス１１からのスキャンアウ
トデータが読出しデータレジスタ４４と信号線１０３と
を介して保守診断装置３に１ワードづつ順次送出される
。

以上の一連の動作によシスキャンパス１１のスキャンア
ウト動作が終了し、同様にして、スキャンパス１２〜１
４の内容が順次スキャンアウトさし、論理装置１のスキ
ャンパス１１〜１４全ての内容がスキャンアウトされる
こととなる。

このシステムにおいてスキャンイン動作を行う場合には
、まずアドレスカウンタ４１が初期設定された後に、保
守診断装置３からスキャンパス１１にスキャンイ／すべ
きデータが信号線１０４を介して１ワ一ド単位毎に書込
みデータレジスタ４２にセットされる。

この書込みデータレジスタ４２にセットされたスキャン
インデータはアドレスカウンタ４１によって指定される
スキャンデータバッファ４３のアドレスに対して書込ま
れ、アドレスカウンタ４１の値が歩進されて次のワード
の書込み処理に移る。

上述の動作によシスキャンパス１１にスキャン亡− インすべく１−夕が全てスキャンデータバッファ４３に
書込まれると、次にスキャンパス１１に対するシフトイ
／動作が実行される。

このスキャンパス１１に対するシフトイン動作の実行に
際して、アドレスカウンタ４１が初期膜５１１れ、スキ
ャンデータバッファ４３の内容が１ワードづつ読出され
て読出しデータレジスタ４４にセットされる。

読出しデータレジスタ４４にセットされたスキャンイン
データは信号線１０２を介して１ビツトづつ順次スキャ
ンパス１１の入力端に送出され、スキャン制御部４５か
らシフトクロックが供給される毎に１ビツトづつスキャ
ンパス１１にシフトされる。スキャンインデータがスキ
ャンパス１１に８ビツトシフトされる毎に、アドレスカ
ウンタ４１が歩進され、スキャンデータバッファ４３か
ら新たなスキャンインデータが読出されて読出しデータ
レジスタ４４にセットされる。

以上の一連の動作によりスキャンパス１１のスキャンイ
ン動作が終了し、同様にして、スキャンパス１２〜１４
に保守診断装置３からスキャンパス１嗜〜１４にスキャ
ンインすべきデータが順次スキャンインされ、論理装置
１のスキャンハス１１〜１４全てにスキャンインデー、
夕がスキャンインされることとなる。

このような従来のスキャンパス制御装置４では、複数の
スキャンパス１１〜１４に対スるスー＋−ｙンイン／ス
キャンアウト動作が１つづつ順番に行われているので、
このスキャン機能を使用する場合、たとえば装置障害時
のログアラ）　（ｌｏｇ　ｏｕｔ）などにおいては、ス
キャンイン／スキャンアウト動作に時間がかかるために
装置の障害復旧に長時間を要し、また、スキャンパス１
１〜１４を使用した装置診断にも多大な時間を要するた
め、装置の保守時間が長くなるという欠点がある。

発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去１べくな
されたもので、スキャン動作を高速化することができ、
装置の保守時間を短縮することができるスキャンパス制
御装置の提供を目的とする。

１里９！皇 本発明によるスキャンパス制御装置は、複数のスキャン
パスに対するスキャン動作を制御するスキャンパス制御
装置であって、前記スキャン動作のデータを格納する第
１および第２の格納手段を設け、前記第１の格納手段を
用いて前記スキャンパスのうちの１つに対して前記スキ
ャン動作を行つているときに、それと同時に外部装置に
おいて前記第２の格納手段を用いて他のスキャンパスの
前記スキャン動作のデータの書込みまたは読出しを行う
ようにしたことを特徴とする。

実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、本発明の一実施例によるスキャンパス
制御装置２は、アドレスカウンタ２０．２１と、書込み
データレジスタ２２．２３と、スキャンデータバッファ
２４．２５と、読出しデータレジスタ２６．２７と、選
択回路２８゜２９と、スキャン制御部３０とによシ構成
され、論理装置１と保守診断装置３とに夫々接続されて
いる。

論理装置１はスキャンパス１１〜１４と、コレらスキャ
ンパス１１〜１４の出力の中から１つを選択する選択回
路１５とを含んで構成されている。

保守診断装置３は論理装置１のスキャンパス１１〜１４
におけるスキャンデータの処理を行っている。

スキャンパス制御装置２のアドレスカウンタ２０．２１
はスキャンデータバッファ２４．２５に対してワードア
ドレスを指示し、スキャンデータバッファ２４．２５に
おいて書込みあるいは読出しが行われるごとに歩進する
機能を有している。

書込みデータレジスタ２２．２３はスキャンデータバッ
ファ２４．２５への書込みデータを一時的に保持し、保
守診断装置３から信号線１０４を介して送出されてぐる
１ワ一ド分のデータを保持する機能と、スキャンパス１
１〜１４から選択回路１５と信号線１０１とを介して送
出されてくるスキャンアウトデータを１ビツトづつシフ
トアウト類にシフトしなから１ワ一ド分を保持する機能
とを有している。この書込みデータレジスタ２２゜２３
はパラレル人出方とシリアル入力とが可能なレジスタの
一種である。

スキャンデータバッファ２４．２５はスキャンパス１１
〜１４へのスキャンインデータトスキャンパス１１〜１
４からのスキャンアウトデータとを格納し、たとえば８
ビツト構成のワードを複数個保持できるＲＡＭなどによ
シ構成されている。

読出しデータレジスタ２６．２７はスキャンデータバッ
ファ２４．２５からの読出しデータを一時的に保持し、
保守診断装置３に対して選択回路２８と信号線１０３と
を介してワード単位のデータを送出するための機能と、
選択回路２９と信号線１０２とを介してスキャンインデ
ータを１ビツトづつスキャンパス１１〜１４に送出する
機能とを有している。この読出しデータレジスタ２６゜
２７はパラレル入出力とシリアル出力とが可能なレジス
タの一種である。

選択回路２８は読出しデータレジスタ２６．２７からの
パラレル出力のうち一方を選択し、そのパラレル出力を
信号線１０３を介して保守診断装置３に送出する。

選択回路２９は読出しデータレジスタ２６．２７からの
シリアル出力のうち一方を選択し、そのシリアル出力を
スキャンインデータとして信号線１０４を介してスキャ
ンパス１１〜１４夫々に出力する。

スキャン制御部３０はスキャンイン動作とスキャンアウ
ト動作とにおいてスキャンノくス制御装置２内の各部の
制御や、論理装置１のスキャンノくス１１〜１４に対す
るシフトクロックの供給などを制御する。

上述のように構成されたシステムにおいてスキャンアウ
ト動作を行う場合には、まずアドレスカウンタ２０が初
期設定され、スキャン制御部３０からスキャンパスｌｌ
に対してシフトクロックが供給される。

スキャンパス１１ではスキャン制御部３０からのシフト
クロックの供給毎に内容が１ビツトづつシフトされ、ス
キャンパス１１でのシフト動作によシ出力されたデータ
は選択回路１５で選択されて書込みデータレジスタ２２
にシリアルに入力される。

書込みデータレジスタ２２にスキャンパス１１からのス
キャンアウトデータが８ビット揃うと、書込みデータレ
ジスタ２２に保持されたスキャンアウトデータがアドレ
スカウンタ２０によシ指定されるスキャンデータバッフ
ァ２４のアドレスに対して書込まれる。この書込みデー
タレジスタ２２に保持されたスキャンアウトデータのス
キャンデータバッファ２４への書込みが終了すると、ア
ドレスカウンタ２０の値が歩進されて次のワードの書込
み処理に移る。

このスキャンパス１１に対するシフト動作と、書込みデ
ータレジスタ２２に８ビツト（１ワード）のデータが揃
う毎になされるスキャンデータバッファ２４へのデータ
の書込み動作とが終了すると、スキャンデータバッファ
２４に格納されたスキャンパス１１からのスキャンアウ
トデータが読出しデータレジスタ２６と選択回路２８と
信号線１０３とを介して保守診断装置３に１ワードづつ
順次送出される。

このスキャンパス１１のスキャンアウトデータを保守診
断装置３がスキャンデータバッファ２４から読出してい
る間に１スキヤンパス１２に対するスキャンアウト動作
が行われる。

すなわち、アドレスカウンタ２１が初期設定され、スキ
ャン制御部３０からスキャンノ（ス１２に対してシフト
クロックが供給される。

スキャンパス１２ではスキャン制御部３０からのシフト
クロックの供給毎に内容が１ピツトツつシフトされ、ス
キャンパス１２でのシフト動作によシ出力されたデータ
は選択回路１５で選択されて書込みデータレジスタ２３
にシリアルに入力される。

書込みデータレジスタ２３にスキャンノ（ス１２からの
スキャンアウトデータが８ピット揃うと、書込みデータ
レジスタ２３に保持されたスキャンアウトデータがアド
レスカウンタ２１によシ指定されるスキャンデータバッ
ファ２５のアドレスに対して書込まれる。この書込みデ
ータレジスタ２３に保持されたスキャンアウトデータの
スキャンデー／バッファ２５への書込みが終了すると、
アドレスカウンタ２１の値が歩進されて次のワードの書
込み処理に移る。

このスキャンパス１２に対するシフト動作と、書込みデ
ータレジスタ２３に８ピツ）（１７−）’）のデータが
揃う毎になされるスキャンデータバッファ２５へのデー
タの書込み動作とが終了すると、スキャンデータバッフ
ァ２５に格納されたスキャンパス１２からのスキャンア
ウトデータが読出しデータレジスタ２７と選択回路２８
と信号線１０３とを介して保守診断装置３に１ワードづ
つ順次送出される。

以後、上述の動作と同様にして、スキャンパス１２のス
キャンアウトデータが保守診断装置３によりスキャンデ
ータバッファ２５から読出されている間に、スキャンデ
ータバッファ２４にスキャンパス１３からのスキャンア
ウトデータが書込まれ、スキャンパス１３のスキャンア
ウトデータが保守診断装置３によシスキャンデータバッ
ファ２４から読出されている間に、スキャンデータバッ
ファ２５にスキャンパス１４からのスキャンアウトデー
タが書込まれ、このスキャンデータバッファ２５に書込
まれたスキャンパス１４からのスキャンアウトデータが
保守診断装置３によシ読出されて、論理装置１のスキャ
ンパス１１〜１４全てに対するスキャンアウト動作が順
次行われ、論理装置１のスキャンパス１１〜１４全ての
内容がスキャンアウトされることとなる。

また、このシステムにおいてスキャンイン動作を行う場
合には、まずアドレスカウンタ２０が初期設定された後
に、保守診断装置３からスキャンパス１１にスキャンイ
ンすべきデータが信号線１０４を介して１ワ一ド単位毎
に書込みデータレジスタ２２にセットされる。

この書込みデータレジスタ２２にセットされたスキャン
インデータはアドレスカウンタ２０によって指定される
スキャンデータバッファ２４のアドレスに対して書込ま
れ、アドレスカウンタ２０の値が歩進されて次のワード
の書込み処理に移る。

上述の動作によシスキャンパス１１にスキャンインすべ
きデータが全てスキャンデータバッファ２４に書込まれ
ると、次にスキャンパス１１に対するシフトイン動作が
実行される。

このスキャンパス１１に対するシフトイン動作の実行に
際して、アドレスカウンタ２０が初期設定され、スキャ
ンデータバッファ２４の内容が１ワードづつ読出されて
読出しデータレジスタ２６にセットされる。

読出しデータレジスタ２６にセットされたスキャンイン
データは選択回路２９と信号線１０２とを介して１ビツ
トづつ順次スキャンパス１１の入力端に送出され、スキ
ャン制御部３ｏからシフトクロックが供給される毎に１
ピツトづつスキャンパス１１にシフトされる。スキャン
インデータがスキャンパス１１に８ビツトシフトされる
毎に、アドレスカウンタ２ｏが歩進され、スキャンデー
タバッファ２４から新たなスキャンインデータカ読出さ
れて読出しデータレジスタ２６にセットされる。

以上の一連の動作によシスキャンパス１１のスキャンイ
ン動作が完了する。このスキャンパス１１にスキャンデ
ータバッファ２４を介して保守診断装置３からのスキャ
ンインデータが書込まれている間に、スキャンパス１２
にスキャンインすべきデータが保守診断装置３からスキ
ャンデータバッファ２５に書込まれる。

すなわち、アドレスカウンタ２１が初期設定された後に
、保守診断装置３からスキャンパス１２にスキャンイン
すべきデータが信号線１０４を介して１ワ一ド単位毎に
書込みデータレジスタ２３にセットされる。

この書込みデータレジスタ２３にセットされたスキャン
インデータはアドレスカウンタ２１によって指定される
スキャンデータバッファ２５のアドレスに対して書込ま
れ、アドレスカウンタ２１の値が歩進されて次のワード
の書込み処理に移る。

上述の動作によりスキャンパス１２にスキャンインすべ
きデータが全てスキャンデータバッファ２５に書込まれ
ると、次にスキャンパス１２に対するシフトイン動作が
実行される。

このスキャンパス１２に対するシフトイン動作の実行に
際して、アドレスカウンタ２１が初期設定すれ、スキャ
ンデータバッファ２５の内容が１ワードづつ読出されて
読出しデータレジスタ２７にセットされる。

読出しデータレジスタ２７にセットされたスキャンイン
データは選択回路２９と信号線１０２とを介して１ビツ
トづつ順次スキャンパス１２の入力端に送出され、スキ
ャン制御部３０からシフトクロックが供給される毎に１
ビツトづつスキャンパス１２にシフトされる。スキャン
インデータがスキャンパス１２に８ビツトシフトされる
毎に、アドレスカウンタ２１が歩進され、スキャンデー
タバッファ２５から新たなスキャンインデータが読出さ
れて読出しデータレジスタ２７にセットされる。

以上の一連の動作によシスキャンパス１２のスキャンイ
ン動作が終了する。このスキャンパス１２にスキャンデ
ータバッファ２５を介して保守診断装置３からのスキャ
ンインデータが書込まれている間に、スキャンパス１３
にスキャンインすべきデータが保守診断装置３からスキ
ャンデータバッファ２４に書込まれる。

以後、上述の動作と同様にして、スキャンパス１３にス
キャンデータバッファ２４を介して保守診断装置３から
のスキャンインデータが書込まれている間に、スキャン
パス１４にスキャンインすべきデータが保守診断装置３
からスキャンデータバッファ２５に書込まれ、このスキ
ャンデータバッファ２５に書込まれたスキャンインデー
タがスキャンパス１４に書込まれて、論理装置１のスキ
ャンパス１１〜１４全てに対するスキャンイン動作が順
次行われ、論理装置１のスキャンパス１１〜１４全てに
保守診断装置３からのデータがスキャンインされること
となる。

このようにス￥ヤンデータパツファ２４を用いてスキャ
ンパス１１〜１４に対するスキャンイン／スキャンアウ
ト動作を行っているときに、と・れと同時に、保守診断
装置３からスキャンデータバッファ２５に次のスキャン
パスへのスキャンインデータをセットしたシ、あるいは
スキャンデータバッファ２４を用いて現在性われている
スキャンアウト動作の前に行われたスキャンアウト動作
によシスキャンアウトされてスキャンデータバッファ２
５に格納されているスキャンアウトデータな保守診断装
置３によシ読出す番ようにすることによって、スキャン
イン／スキャンアウト動作を高速に行うことができる。

また、このスキャンイン／スキャンアウト動作の高速化
によシ装置の保守時間を短縮することができる。

発明の詳細 な説明したように本発明によれば、複数のスキャンパス
に対するスキャン動作のデータを格納する格納手段を複
数設け、格納手段のうちの１つを用いてスキャンパスの
うちの１つに対してスキャン動作を行っているときに１
同時に外部装置において他の格納手段を用いて他のスキ
ャンパスに対するスキャン動作のデータの書込みまたは
読出しを行うようにすることによって、スキャン動作を
高速化することができ、装置の保守時間を短縮すること
ができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は従来例の構成を示すブロック図である。 主要部分の符号の説明 １・・・論理装置　　　２・・・スキャンパス制御装置
３・・・保守診断装置　１１〜１４・・・スキャンパス
２０．２１・・・アドレスカウンタ ２２．２３・・・書込みデータレジスタ２４．２５・・
・スキャンデータバッファ２６．２７・・・読出しデー
タレジスタ２８．２９・・・選択回路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 複数のスキャンパスに対するスキャン動作を制御するス
   キャンパス制御装置であつて、前記スキャン動作のデー
   タを格納する第１および第２の格納手段を設け、前記第
   １の格納手段を用いて前記スキャンパスのうちの１つに
   対して前記スキャン動作を行つているときに、それと同
   時に外部装置において前記第２の格納手段を用いて他の
   スキャンパスの前記スキャン動作のデータの書込みまた
   は読出しを行うようにしたことを特徴とするスキャンパ
   ス制御装置。