JPH01109284A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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JPH01109284A
JPH01109284A JP26746587A JP26746587A JPH01109284A JP H01109284 A JPH01109284 A JP H01109284A JP 26746587 A JP26746587 A JP 26746587A JP 26746587 A JP26746587 A JP 26746587A JP H01109284 A JPH01109284 A JP H01109284A
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JP
Japan
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light
distance
lens
measurement
reflected light
Prior art date
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Pending
Application number
JP26746587A
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English (en)
Inventor
Tateaki Tanaka
建明 田中
Yoshiichi Morishita
森下 芳一
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は距離測定装置に関し、更に詳しくは走行ロボッ
トの視覚センサとして用いられる光学式の距離測定装置
に関するものである。
(ロ)従来の技術 従来この種の装置としては、例えば、(1)雑誌「セン
サ技術J 1983年5月号pat〜33と、(2)雑
誌「センサ技術J 19g4年7月号p69〜72とに
開示されたものが知られている。すなわち、両者とも三
角側jl法を用いて距離測定をおこなうものである。
前者は、第4図に示すように、受光素子の受光面をレン
ズの光軸に対して傾けて設置したものであり、後者は、
第5図に示すように、受光面をレンズの焦点距離位置に
、かつ光軸に垂直に設置したものである。以下、この三
角測量法の基本原理を第4図を用いて説明する。
第4図において、光源より発射されたペンシルビームl
は測定対象物2に当たって乱反射する。
その反射光3を集光レンズ4(以下、レンズと略記する
)で集光し、受光素子5の受光面上に結像させる。この
時、測定対象物2までの距離に応じて受光面上を結像点
Pが移動するため、この位置を測定することにより距離
りを計算することができる。受光素子としては一般にC
CD (chargecoupled device)
リニアイメージセンサまたは半導***置検出素子(po
sition 5ensible detector;
以下、PSDと略記する)が用いられる。そして、レン
ズ4の焦点距離をf1受光素子5の受光面の長さをSと
し、最短測定距離La1n及び最長測定距#iL++a
xに設定した場合に、それぞれ受光面の両端で結像する
ように受光素子5を配置する。そしてペンシルビーム1
とレンズ4の光軸との角度をθとし、受光面の一端から
結像点Pまでの距離をtとすると、測定範囲内の任意の
測定距離りはより計算することができる。
この時、受光素子5の受光面はレンズ4の光軸に対し角
度ψ傾け、かつその延長線が、ペンシルビームlと、レ
ンズ4の中点を通りレンズ4の光軸に垂直な線aとの交
点0を通るように設置する。
この交点0が距離りの始点であり、始点から、ペンシル
ビーム1とレンズ4の光軸との交点までの距離をLoと
すると なる角度に設定する。ここで、Aは、レンズ位置におけ
る光軸とペンシルビームとの距離である。
この方法による距離測定は超音波距離測定に比較し、 ■ビームの広がりがなく、細部の測定が可能である。
■二次以上の多重反射の影響がほとんどなく誤測定が少
ない等の点で優れており、走行ロボットの物体形状を認
識するための視覚センサとして有効な方法である。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 しかしながら前者の装置では、受光素子5の受光面をレ
ンズ4の光軸に対して式(2)に示す角度ψだけ傾けて
設置する必要があり、測定距離範囲内のどの距離でも像
点と受光面が一致する反面、■受光素子取付部分の加工
が困難でコストアップになる。
■受光素子の取付けおよびその調整が難しく測定に誤差
が出る。
等の欠点がある。
一方後者の装置では、像点距離が焦点距離fよりも長く
受光面と像点が異なる位置にあるため、像がぼけるとい
う問題がある。すなわち、本測定方式は乱反射光を集光
するため、光源誌・らの出射光量に対し、受光面での受
光光量は第6図に示すように、単位面積当′りの受光光
量Psが遠距離になるほど極端に少なくなる。すなわち
、像がぼけると光量不足となり、このため測定可能距離
を短くする必要があったり、測定精度が低下するおそれ
がある。
この対策として出射光量を増大させるようにすれば、装
置が大型化したり、光源としてレーザ光を使用する場合
は特に出力を増大する必要があるため危険を招くおそれ
がある。
本発明は受光素子の取付は部の加工及び調整を容易にで
き、かつ測定距離を増長できる距離測定装置を提供する
ことを目的の一つとするものである。
(ニ)問題点を解決するための手段 本発明は、距離測定対象物に向ってペンシルビームを出
射する光源と、上記ペンシルビームの反射光を集光する
集光レンズと、集光される反射光を受光する受光素子と
を有し、この受光素子から出力される受光面上での光照
射位置検出信号にもとづいて上記距離測定対象物までの
距離を測定する距離測定装置において、上記受光f子が
、その受光面を上記集光レンズの光軸に対して垂直に、
かつレンズ中心より最長測定距離の像点距離の位置に配
設してなる距離測定装置である。
すなわち、本発明は、受光素子の受光面をレンズの光軸
に垂直に配設し、かつ受光面を測定距離範囲の最長測定
距離における像点位置に配置する構成としたものである
この8明における受光素子としてはPSDやCODイメ
ージセンサ、特にCCDリニアイメージセンサなどが挙
げられる。
この発明における光源としては、半導体レーザあるいは
ガスレーザが挙げられ、発光ダイオードも適用可能であ
る。
(ホ)作用 この構成において、光源より発射されたペンシルビーム
は距離測定対象物に当り乱反射する。そして、この反射
光を集光レンズで集光すると、最も光量の少ない最長測
定距離においては受光素子の受光面と像点が一致するこ
とから、受光面には集光された光エネルギーが集中し、
これにより受光素子は十分な出力を発生できる。また、
最短測定距離に近づくにしたがい受光面上の像のぼけが
大きくなっても、受光面上に集光された光エネルギーの
増加により受光素子から十分な出力を発生できて距離が
測定されうる。
(へ)実施例 以下本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。なお
、これによって本発明は限定されることはない。
第1図において、1は出力20mW(ミリ・ワット)の
光源6より発射された211径のペンシルビームで、こ
れは距離測定対象物2に当り、乱反射する。4は集光レ
ンズであり、距離測定対象物2に当って乱反射した反射
光3を集光して受光素子5に照射する。
この受光素子5は例えばPSDであり、この受光面は、
最長測定距離L a+axの測定対象物2aからの反射
光3aの像点用@Kmaxの位置で、かつレンズ4の光
軸に垂直に配設されるとともに、結像した反射光が受光
素子5の受光面の一端に照射されるように配設されてい
る。同時に、受光素子5は、最短測定距離La1nでの
反射光3bのレンズ4により集光された光が受光素子5
の受光面の他端にすべて照射されるように配設されてお
り、この時、受光素子5上に照射される反射光の微径φ
は、第3図に示すように、最大となる。2bおよび3b
はそれぞれLsinの測定対象物およびこの対象物から
の反射光、また、レンズ4の有効径をΦ、距離りにおけ
る像点距離をKとする。
以上の如き構成において、測定範囲内の任意の測定距離
りの反射光3の受光素子5の受光面上の微径φは、 射)光量Pinは、光源6の照射光量をP ouL反射
対象物2の反射率ηとし、反射までの光の減衰がなく、
かつ位置用に乱反射すると考えた場合、となる。
従ってレンズ4で集光された光が受光素子5の受光面上
に均一に照射されると仮定すると、受光素子5の受光面
が受ける単位面積当りの受光光量Psは Ps =  午   ・(5) となる。
このようにして受光素子5から出力される受光面での光
照射位置検出信号にもとづいて距離りが測定される。
ここで、η= 1.L+sin=OJ(m)、Lmax
= l (m)、Φ=20(as)、P out=1(
W)、ペンシルビームlの径を2JIJIとした場合の
φ、Pin、P+の計算例を第3図に示す。これらを、
第6図に示す従来例のものと比べると、微径φが全体的
に小さくなっていることが分かり、また、単位面積当り
の受光光量Psが遠距離では大きな値で、しかも単調に
増加しているとともに、近距離でも従来より大きな値を
示していることが分かる。
(ト)発明の効果 以上の如く本発明によれば、受光素子の受光面を、レン
ズ光軸に垂直に、かつレンズ中心より最長測定距離の像
点距離の位置に配設したので、遠距離での単位面積当り
の受光素子への照射光量を増加することができ、従って
簡単な構成で測定範囲を拡大することができる効果があ
る。また、光源の出力アップを必要としないので、コス
トアップや危険を招くおそれはないなど多大の利点を有
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成説明図、第2図は
上記実施例の要部構成説明図、第3図は上記実施例の測
定距離に対する受光面の微径、受光面全面の受ける受光
光量および単位面積当りの受光光量をそれぞれ示す特性
図、第4図および第5図はそれぞれ従来例を示す構成説
明図、第6図は第5図における第3図相当図である。 1・・・・・・ペンシルビーム、 2.2a、2b・・・・・・距離測定対象物、3.3a
、3b・・・・・・反射光、 4・・・・・・集光レンズ、5・・・・・・受光素子、
6・・・・・・光源、   LIIlax・・・・・・
最長測定距離、L・・・・・・測定距離、 K a+a
x・・・・・・像点距離。 第1図 第2図 第3図 託ail(m) 嫡5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、距離測定対象物に向ってペンシルビームを出射する
    光源と、上記ペンシルビームの反射光を集光する集光レ
    ンズと、集光される反射光を受光する受光素子とを有し
    、この受光素子から出力される受光面上での光照射位置
    検出信号にもとづいて上記距離測定対象物までの距離を
    測定する距離測定装置において、上記受光素子が、その
    受光面を上記集光レンズの光軸に対して垂直に、かつレ
    ンズ中心より最長測定距離の像点距離の位置に配設して
    なる距離測定装置。
JP26746587A 1987-10-21 1987-10-21 距離測定装置 Pending JPH01109284A (ja)

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JP26746587A JPH01109284A (ja) 1987-10-21 1987-10-21 距離測定装置

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JP26746587A JPH01109284A (ja) 1987-10-21 1987-10-21 距離測定装置

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