JP7509134B2 - 接触端子、検査治具、および検査装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の例示的な実施形態に係る検査装置の全体構成を示す概略図である。なお、図1において、軸方向一方X1側は下方、軸方向他方X2側は上方に相当する。
次に、接触端子2の構成について、より詳細に説明する。図2は、接触端子2を筒状体20、第1導体21、および第2導体22に分解して示す側面図である。図3は、接触端子2を筒状体20、第1導体21、および第2導体22に分解して示す上面図である。
次に、第1導体21または第2導体22を筒状体20に固定するためのスナップフィット構造について具体的に説明する。
次に、第1変形例に係る接触端子について説明する。図18は、第1変形例に係る接触端子における第1導体21V1と第2導体22V1との接触構成を要部的に示す図である。図18は、不図示の筒状体のばね部が自然状態での図である。
また、筒状体20の軸方向一方X1側における切欠き201A,201B1,201B2,201Cの位置は、筒状体20の軸方向他方X2側における各切欠きに対して中心軸J周りに180°離れた位置よりずらした位置としてもよい。この場合の一例を図23に示す。図23は、第1接触部212Bと第2接触部222Bとが接触する箇所における軸方向視での断面図である。なお、図23には、第1端部側切欠き201Aに対応する筒状体20の軸方向他方側端部20Bでの第2端部側切欠き203Aを示す。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明の趣旨の範囲内であれば、実施形態は種々の変形が可能である。
2、2X・・・接触端子
20、20V2、200・・・筒状体
201、2001・・・第1胴部
201A・・・第1端部側切欠き
201B1・・・第1周方向切欠き
201B2・・・第2周方向切欠き
201C・・・第1中心側切欠き
202、2002・・・第1ばね部
203、2003・・・第2胴部
203A・・・第2端部側切欠き
203B1、203B2・・・周方向切欠き
204、2004・・・第2ばね部
205、2005・・・第3胴部
21、21V1、21V2、210・・・第1導体
211、2101・・・第1突出部
211A、2101A・・・棒状本体部
211B、2101B・・・鍔部
212、2102・・・第1挿入部
212A・・・スナップフィット部
212A1・・・第1傾斜部
212A2・・・第1端部側リブ
212A3・・・第1中心側リブ
212A4・・・頂部リブ
212B・・・第1接触部
212B1・・・第1平面
2102A・・・棒状本体部
2102B・・・圧入部
22、220・・・第2導体
221、2201・・・第2突出部
221A・・・棒状本体部
221B・・・鍔部
222、2202・・・第2挿入部
222A・・・スナップフィット部
222A1・・・第2端部側リブ
222B・・・第2接触部
222B1・・・第2平面
2202A・・・棒状本体部
2202B・・・圧入部
3・・・支持部材
31・・・上側支持体
31A・・・支持孔
32・・・中間支持体
32A・・・支持孔
33・・・下側支持体
33A・・・支持孔
4・・・ピッチ変換ユニット
41・・・第1電極
5・・・接続プレート
10・・・検査治具
15・・・検査処理部
25・・・検査装置
30・・・検査対象
301・・・検査点
T2・・・第2傾斜部
W1・・・第1壁面部
W2・・・第2壁面部
R1・・・アール部
G1・・・ガイド部
S・・・切欠き
J・・・中心軸
CP1、CP11、CP12・・・摺動接点
X1・・・軸方向一方側
X2・・・軸方向他方側
Y1・・・軸垂直方向一方側
Y2・・・軸垂直方向他方側
Claims (10)
- 接触端子の軸方向に延びる筒状体と、
導電性を有する棒状の第1導体および第2導体と、
を備え、
前記第1導体は、
前記筒状体より前記軸方向一方側に突出する第1突出部と、
前記筒状体の外周より内部に配置されて前記筒状体の前記軸方向一方側端部に固定される第1挿入部と、
を有し、
前記第2導体は、前記筒状体の外周より内部に配置されて前記筒状体の前記軸方向他方側端部に固定される第2挿入部を有し、
前記筒状体は、前記筒状体の周面に沿う螺旋状に構成される第1ばね部及び第2ばね部を有し、前記第1ばね部と第2ばね部とを連結する胴部を有し、
前記第1挿入部は、前記軸方向に沿う第1平面を有する第1接触部を有し、
前記第2挿入部は、前記軸方向に沿う第2平面を有する第2接触部を有し、
前記第1平面と前記第2平面とは接触し、
前記筒状体は、前記筒状体における前記軸方向一方側端部の周面に前記軸方向に沿って設けられる第1端部側切欠きと、前記筒状体における前記軸方向他方側端部の周面に前記軸方向に沿って設けられる第2端部側切欠きと、のうち少なくとも一方を有し、
前記第1端部側切欠きが設けられる場合、前記第1挿入部は、前記第1端部側切欠きの周方向端面間に配置される第1端部側リブを有し、
前記第2端部側切欠きが設けられる場合、前記第2挿入部は、前記第2端部側切欠きの周方向端面間に配置される第2端部側リブを有し、
前記第1挿入部は、前記胴部の内面に接触し、
前記第2挿入部は、前記胴部の内面に接触する、接触端子。 - 前記第1接触部の前記軸方向他方側端部には、前記第1平面と前記第2平面との接触位置から前記軸方向他方側へ向かうに従って前記第2平面から離れる第1面取り部または第1アール部が設けられ、
前記第2接触部の前記軸方向一方側端部には、前記第1平面と前記第2平面との接触位置から前記軸方向一方側へ向かうに従って前記第1平面から離れる第2面取り部または第2アール部が設けられる、請求項1に記載の接触端子。 - 前記第1平面と前記第2平面とが接触する面において、前記第1接触部の前記軸方向視の断面と、前記第2接触部の前記軸方向視の断面とは略同一の形状である、請求項1または請求項2に記載の接触端子。
- 前記第1接触部および前記第2接触部は、前記軸方向に垂直な方向を積層方向とする積層構成を有する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の接触端子。
- 前記第1平面および前記第2平面は、前記積層方向に対して垂直な平面である、請求項4に記載の接触端子。
- 前記第1平面および前記第2平面は、前記積層方向に沿う平面である、請求項4に記載の接触端子。
- 前記軸方向視において、第1平面は、第2平面に対して傾いて配置される、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の接触端子。
- 前記第1平面と前記第2平面は、前記第1ばね部の自然状態において、接触する、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の接触端子。
- 複数の請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の接触端子と、
前記複数の接触端子を支持する支持部材と、
を備える検査治具。 - 請求項9に記載の検査治具と、
前記接触端子を検査対象に設けられた検査点に接触させることにより得られる電気信号に基づき、前記検査対象の検査を行う検査処理部と、
を備える検査装置。
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