JP7491667B2 - 角度選択照明に対するアーティファクト低減 - Google Patents
角度選択照明に対するアーティファクト低減 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7491667B2 JP7491667B2 JP2018557120A JP2018557120A JP7491667B2 JP 7491667 B2 JP7491667 B2 JP 7491667B2 JP 2018557120 A JP2018557120 A JP 2018557120A JP 2018557120 A JP2018557120 A JP 2018557120A JP 7491667 B2 JP7491667 B2 JP 7491667B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- image
- illumination
- artifact
- images
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims description 295
- 230000009467 reduction Effects 0.000 title claims description 77
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 260
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 90
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 64
- 238000003709 image segmentation Methods 0.000 claims description 16
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 14
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 13
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 8
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 claims 12
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 47
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 43
- 230000008859 change Effects 0.000 description 25
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 21
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 13
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 9
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 7
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 5
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 5
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 238000000799 fluorescence microscopy Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000004113 cell culture Methods 0.000 description 2
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/26—Stages; Adjusting means therefor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
- G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/50—Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/56—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N7/00—Television systems
- H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10056—Microscopic image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30004—Biomedical image processing
- G06T2207/30024—Cell structures in vitro; Tissue sections in vitro
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
図11の例では、補正画像563を得るために測定画像501と割り当てられた基準画像551とを組み合わせることが実行される。図11の例では、この組み合わせは、基準画像551を測定画像501から取り去ることによって実行される。図11の例における補正画像563は、さらにまた、アーティファクト121に対して、(図11に黒で示される)負のコントラストおよび(図11に白で示される)正のコントラストを有する。ここで、負のコントラストは測定画像501におけるアーティファクトの位置と関連付けられ、正のコントラストは基準画像551におけるアーティファクト121の位置と関連付けられる。物体125は、補正画像563において外郭が依然存在するが、これは、上述されるように、測定画像501と基準画像551との間にある物体125の位置変更が小さい場合があるからである。それに対応して、バックグラウンドにも同じことが当てはまる。しかしながら、物体125およびバックグラウンドの強度は大きく低減される。
100 光デバイス
101 検出器
102 試料保持器
103 演算器
105 位置変更
108 光軸
109 焦点面
111A 角度
111B 角度
120 汚れ
121 アーティファクト
122 アーティファクト
123 アーティファクト
125 物体
180 照明モジュール
181 キャリア
182 光源
185 結像光学ユニット
215 光場
217-2 光場の幅
217-1 光場の幅
300 フィルタ
451 角度
452 角度
501 測定画像
502 補正済み測定画像
566 補正画像
567 補正画像
601 結果画像
601A 結果画像
411~418 照明方向
421~423 照明方向
431~433 照明方向
441~443 照明方向
551~558 基準画像
565-1、565-2 補正画像
563、563-1、563-2 補正画像
564、564-1、564-2 補正画像
1001~1005 ステップ
1011~1015 ステップ
Claims (16)
- 光デバイス(100)の照明モジュール(180)を制御し、かつ複数の測定照明方向(111~114)から物体(125)を照明するための複数の光源(182)を含むことと、
前記物体(125)の測定画像(501、502)をキャプチャするために前記光デバイス(100)の検出器(101)を制御することであって、前記測定画像(501、502)は前記測定照明方向(111~114)に割り当てられる、制御することと、
それぞれの測定画像(501、502)に対して、デフォーカスされるように配置された汚れ(120)による、各前記測定画像(501、502)におけるアーティファクト(121~123)を低減するアーティファクト低減処理を、演算器(103)により実行することと、
前記測定画像(501、502)全てに対する前記アーティファクト低減処理を実行後、位相コントラストを有する結果画像(601)を得るために前記測定画像(501、502)を組み合わせることと、を含む、方法。 - それぞれの測定画像(501、502)に対して、少なくとも1つの割り当てられた基準照明方向(411~413、421~423、431~433)から前記物体(125)を照明するために前記照明モジュール(180)を駆動することと、
それぞれの基準照明方向(411~413、421~423、431~433)に対して、前記物体(125)の基準画像(551~558)をキャプチャするために前記検出器(101)を駆動することと、
前記アーティファクト低減処理を実行する時、それぞれの測定画像(501、502)に対して、前記アーティファクト(121~123)を指示している少なくとも1つの補正画像(563、563-1、563-2、564、564-1、564-2、565-1、565-2、566、567)を得るために前記少なくとも1つの割り当てられた基準画像(551~558)と各前記測定画像(501、502)を組み合わせることと、をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記アーティファクト低減処理を実行する時、それぞれの補正画像(563、563-1、563-2、564、564-1、564-2、565-1、565-2、566、567)に対して、前記補正画像(563、563-1、563-2、564、564-1、564-2、565-1、565-2、566、567)において隔離されたアーティファクト領域を得るために強度閾値に基づいて画像セグメンテーションを適用することであって、前記アーティファクト領域は前記アーティファクト(121~123)を含むものであることと、
前記アーティファクト低減処理を実行する時、それぞれの測定画像(501、502)に対して、前記アーティファクト領域に基づいて前記アーティファクトを除去することと、をさらに含む、請求項2に記載の方法。 - 前記汚れ(120)は散乱体および吸収体を含み、前記照明モジュール(180)は、それぞれの測定画像(501、502)に対して少なくとも2つの割り当てられた基準照明方向(411~413、421~423、431~433)から前記物体(125)を照明するために駆動され、前記方法はさらに、前記アーティファクト低減処理を実行する時、それぞれの補正画像(563、563-1、563-2、564、564-1、564-2、565-1、565-2、566、567)に対して、さらなる補正画像(563、563-1、563-2、564、564-1、564-2、565-1、565-2、566、567)の前記アーティファクト領域に基づいて各前記アーティファクト領域を補正することを含む、請求項3に記載の方法。
- それぞれの測定画像(501、502)に対して、基準照明方向(411~413、421~423、431~433)の割り当てられたシーケンス(499)から前記物体(125)を照明するために前記照明モジュール(180)を駆動することと、それぞれの基準照明方向(411~413、421~423、431~433)に対して、前記物体(125)の基準画像(551~558)をキャプチャするために前記検出器(101)を駆動することと、前記アーティファクト低減処理を実行する時、それぞれの測定画像(501、502)に対して、割り当てられた前記基準画像(551~558)における前記基準照明方向(411~413、421~423、431~433)の対応する前記シーケンス(499)に応じて前記アーティファクトの移動を特定することと、をさらに含み、各前記アーティファクト低減処理は前記アーティファクトのそれぞれ特定される前記移動に基づく、請求項1に記載の方法。
- 前記アーティファクト低減処理を実行する時、それぞれの測定画像(501、502)に対して、各前記測定画像(501、502)と、前記アーティファクトの特定される前記移動に基づいて前記割り当てられた基準画像(551~558)のうちの少なくとも1つと組み合わせることをさらに含む、請求項5に記載の方法。
- 選択された測定画像(501、502)に割り当てられる少なくとも1つの前記測定照明方向(111~114)は、他の前記測定照明方向(111~114)と第1の平均角度をなし、前記選択された測定画像(501、502)に割り当てられる前記少なくとも1つの測定照明方向(111~114)は、割り当てられる前記少なくとも1つの基準照明方向(411~413、421~423、431~433)と第2の平均角度をなし、前記第2の平均角度は前記第1の平均角度より小さい、請求項2から6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記選択された測定画像(501、502)に割り当てられる前記少なくとも1つの測定照明方向(111~114)、および割り当てられた前記少なくとも1つの基準測定方向(411~413、421~423、431~433)は、前記照明モジュール(180)の最も近くの隣り合う光源(182)に対応する、請求項2から7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基準照明方向(411~413、421~423、431~433)は、前記測定照明方向(111~114)と少なくとも部分的に異なっている、請求項2から8のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光デバイス(100)の試料保持器(102)を制御することであって、前記試料保持器(102)は、前記物体(125)をフォーカスするために、前記光デバイス(100)のビーム経路において前記物体(125)を固定するように構成される、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記アーティファクト低減処理は、それぞれの測定画像(501、502)に対して複数回および反復的に実行される、請求項1から10のいずれか一項に記載の方法。
- 前記アーティファクト低減処理を実行することはリアルタイムで行われる、請求項1から11のいずれか一項に記載の方法。
- 光デバイス(100)であって、
前記光デバイス(100)のビーム経路において物体(125)を固定するように構成される試料保持器(102)と、
複数の光源(182)を備え、かつ前記光源(182)を動作させることによって複数の照明方向から前記物体(125)を照明するように構成される照明モジュール(180)と、
前記光デバイス(100)の前記ビーム経路に配置される検出器(101)と、
複数の測定照明方向(111~114)から物体(125)を照明するために前記照明モジュール(180)を制御するように構成される演算器(103)と、を備え、
前記演算器(103)は、前記物体(125)の測定画像(501、502)をキャプチャするために前記検出器(101)を制御するようにさらに構成され、前記測定画像(501、502)は前記測定照明方向(111~114)に割り当てられ、前記演算器(103)はさらに、それぞれの測定画像(501、502)に対して、デフォーカスされるように配置された汚れ(120)による、各前記測定画像(501、502)におけるアーティファクト(121~123)を低減するアーティファクト低減処理を実行するように構成され、前記演算器(103)は、前記測定画像(501、502)全てに対する前記アーティファクト低減を実行後、位相コントラストを有する結果画像(601)を得るために前記測定画像(501、502)を組み合わせるようにさらに構成される、光デバイス(100)。 - 前記光デバイス(100)は、請求項1から12のいずれか一項に記載の方法を実行するように構成される、請求項13に記載の光デバイス(100)。
- 前記照明モジュール(180)は、前記光源(182)がマトリックス構造で取り付けられたキャリア(181)を備える、請求項13または14に記載の光デバイス(100)。
- 前記光源(182)は、以下の群:ハロゲン光源、発光ダイオード、固体発光ダイオード、レーザダイオード、および有機発光ダイオードの中から選択される、請求項13から15のいずれか一項に記載の光デバイス(100)。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102016108079.9A DE102016108079A1 (de) | 2016-05-02 | 2016-05-02 | Artefaktreduktion bei der winkelselektiven beleuchtung |
DE102016108079.9 | 2016-05-02 | ||
PCT/EP2017/059949 WO2017191011A2 (de) | 2016-05-02 | 2017-04-26 | Artefaktreduktion bei der winkelselektiven beleuchtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019515348A JP2019515348A (ja) | 2019-06-06 |
JP7491667B2 true JP7491667B2 (ja) | 2024-05-28 |
Family
ID=58632995
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018557120A Active JP7491667B2 (ja) | 2016-05-02 | 2017-04-26 | 角度選択照明に対するアーティファクト低減 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10838184B2 (ja) |
EP (1) | EP3452858B1 (ja) |
JP (1) | JP7491667B2 (ja) |
CN (1) | CN109416464B (ja) |
DE (1) | DE102016108079A1 (ja) |
WO (1) | WO2017191011A2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017125799A1 (de) * | 2017-11-06 | 2019-05-09 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Reduktion von Bildstörungen in Bildern |
WO2019207568A1 (en) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | ContinUse Biometrics Ltd. | System and method for monitoring a sample |
DE102018127754A1 (de) | 2018-11-07 | 2020-05-07 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren einer Objektoberfläche, insbesondere zum Inspizieren der Oberfläche eines Pulverbettes mit einer Vielzahl von Pulverpartikeln |
DE102019100419A1 (de) * | 2019-01-09 | 2020-07-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Winkelvariable Beleuchtung zur Phasenkontrast-Bildgebung mit Absorptionsfilter |
DE102019134987B4 (de) | 2019-12-18 | 2022-05-25 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur additiven Herstellung eines Werkstücks |
DE102019009301B4 (de) | 2019-12-18 | 2023-10-26 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur additiven Herstellung eines Werkstücks |
DE102022130975A1 (de) | 2022-11-23 | 2024-05-23 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lokalisierung von verschmutzungen in mikroskopiesystemen |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006215544A (ja) | 2005-01-07 | 2006-08-17 | Olympus Corp | 負屈折を示す媒質及び光学系 |
JP2014182210A (ja) | 2013-03-18 | 2014-09-29 | Kyocera Optec Co Ltd | レンズアレイユニットおよびレンズアレイユニット製造方法 |
JP2015001406A (ja) | 2013-06-13 | 2015-01-05 | 富士通株式会社 | 表面検査方法、表面検査装置、および表面検査プログラム |
WO2015098242A1 (ja) | 2013-12-27 | 2015-07-02 | オリンパス株式会社 | 標本観察装置および標本観察方法 |
WO2016067508A1 (ja) | 2014-10-27 | 2016-05-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 画像形成システム、画像形成方法、撮像素子、およびプログラム |
JP2017533450A (ja) | 2014-09-17 | 2017-11-09 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 被写体の3次元画像を生成する装置と方法 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE9406545U1 (de) * | 1994-04-20 | 1994-11-03 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften eV, 14195 Berlin | Kontrastvorrichtung für Mikroskopie |
US20020106134A1 (en) * | 2000-09-22 | 2002-08-08 | Dundon Thomas A. | Multiple-orientation image defect detection and correction |
JP2002189174A (ja) * | 2000-12-20 | 2002-07-05 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡用照明装置 |
US20040070990A1 (en) * | 2002-10-01 | 2004-04-15 | Witold Szypszak | LED illuminator and method of manufacture |
US7643088B2 (en) * | 2004-12-01 | 2010-01-05 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Artifact reduction in a digital video |
DE102006027836B4 (de) * | 2006-06-16 | 2020-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop mit Autofokuseinrichtung |
KR101396146B1 (ko) * | 2006-10-05 | 2014-05-19 | 코닌클리케 필립스 엔.브이. | 샘플의 표면을 관찰하기 위한 장치 및 방법 |
DE102007047466A1 (de) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren und Anordnung zur optischen Erfassung einer beleuchteten Probe |
CN101178476B (zh) * | 2007-12-03 | 2010-06-09 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种高分辨显微三维成像装置 |
JP5210091B2 (ja) * | 2008-08-29 | 2013-06-12 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及びその制御方法、撮像装置、プログラム |
JP5394887B2 (ja) * | 2009-10-29 | 2014-01-22 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置および顕微鏡観察方法 |
EP2339534A1 (en) * | 2009-11-18 | 2011-06-29 | Panasonic Corporation | Specular reflection compensation |
DE102011077290A1 (de) * | 2011-06-09 | 2012-12-13 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Messverfahren und Messvorrichtung zur Ermittlung von Transmissions- und/oder Reflektionseigenschaften |
US9230308B2 (en) * | 2011-06-30 | 2016-01-05 | Weyerhaeuser Nr Company | Method and apparatus for removing artifacts from aerial images |
JP6005660B2 (ja) * | 2011-12-22 | 2016-10-12 | パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社 | 観察システム、観察システムの制御方法及びプログラム |
DE102013003900A1 (de) * | 2012-03-28 | 2013-10-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop |
DE102014101219A1 (de) * | 2014-01-31 | 2015-08-06 | Carl Zeiss Ag | Beleuchtungseinrichtung zur Fourier-Ptychographie |
DE102014109687B4 (de) * | 2014-07-10 | 2020-03-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Positionsbestimmung eines Objekts im Strahlengang einer optischen Vorrichtung |
DE102014110575B4 (de) * | 2014-07-25 | 2017-10-12 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum optischen Untersuchen und/oder Manipulieren einer mikroskopischen Probe |
DE102014112242A1 (de) | 2014-08-26 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Ag | Phasenkontrast-Bildgebung |
DE102014112666A1 (de) * | 2014-08-29 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Ag | Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Bildaufnahme |
US9883082B2 (en) * | 2014-10-30 | 2018-01-30 | Lattice Semiconductor Corporation | Timing based corrector for video |
-
2016
- 2016-05-02 DE DE102016108079.9A patent/DE102016108079A1/de active Pending
-
2017
- 2017-04-26 JP JP2018557120A patent/JP7491667B2/ja active Active
- 2017-04-26 US US16/098,055 patent/US10838184B2/en active Active
- 2017-04-26 CN CN201780041423.XA patent/CN109416464B/zh active Active
- 2017-04-26 WO PCT/EP2017/059949 patent/WO2017191011A2/de unknown
- 2017-04-26 EP EP17719596.3A patent/EP3452858B1/de active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006215544A (ja) | 2005-01-07 | 2006-08-17 | Olympus Corp | 負屈折を示す媒質及び光学系 |
JP2014182210A (ja) | 2013-03-18 | 2014-09-29 | Kyocera Optec Co Ltd | レンズアレイユニットおよびレンズアレイユニット製造方法 |
JP2015001406A (ja) | 2013-06-13 | 2015-01-05 | 富士通株式会社 | 表面検査方法、表面検査装置、および表面検査プログラム |
WO2015098242A1 (ja) | 2013-12-27 | 2015-07-02 | オリンパス株式会社 | 標本観察装置および標本観察方法 |
JP2017533450A (ja) | 2014-09-17 | 2017-11-09 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 被写体の3次元画像を生成する装置と方法 |
WO2016067508A1 (ja) | 2014-10-27 | 2016-05-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 画像形成システム、画像形成方法、撮像素子、およびプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102016108079A1 (de) | 2017-11-02 |
CN109416464A (zh) | 2019-03-01 |
WO2017191011A2 (de) | 2017-11-09 |
EP3452858B1 (de) | 2022-08-10 |
US20190155012A1 (en) | 2019-05-23 |
WO2017191011A3 (de) | 2017-12-28 |
CN109416464B (zh) | 2021-11-16 |
US10838184B2 (en) | 2020-11-17 |
EP3452858A2 (de) | 2019-03-13 |
JP2019515348A (ja) | 2019-06-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7491667B2 (ja) | 角度選択照明に対するアーティファクト低減 | |
US10944896B2 (en) | Single-frame autofocusing using multi-LED illumination | |
US7283253B2 (en) | Multi-axis integration system and method | |
JP5015955B2 (ja) | 自動顕微鏡の自動焦点調節法及びシステム | |
JP5354254B2 (ja) | 形状測定装置及び方法、並びにプログラム | |
AU2016233588A1 (en) | Correcting for aberrations in incoherent imaging system using fourier ptychographic techniques | |
JP6503221B2 (ja) | 3次元情報取得装置、及び、3次元情報取得方法 | |
WO2011080670A1 (en) | Sensor for microscopy. | |
US20170031151A1 (en) | Scanning Imaging For Encoded PSF Identification and Light Field Imaging | |
JP6708667B2 (ja) | ビーム整形及び光シート顕微鏡検査のためのアセンブリ及び方法 | |
AU2018352821B2 (en) | Image reconstruction method, device and microscopic imaging device | |
JP2021067697A (ja) | ウエハ検査システム及び装置 | |
US10976533B2 (en) | Tiling light sheet selective plane illumination microscopy using discontinuous light sheets | |
JP4905356B2 (ja) | ライン走査型共焦点顕微鏡装置 | |
US20220114738A1 (en) | Method of and microscope comprising a device for detecting movements of a sample with respect to an objective | |
CN111656163A (zh) | 用于在荧光显微成像期间扩展景深的方法和装置 | |
US11256078B2 (en) | Continuous scanning for localization microscopy | |
Woo et al. | High-throughput high-dynamic range imaging by spatiotemporally structured illumination | |
GB2550202A (en) | Sample imaging and image deblurring | |
JP2023078801A (ja) | 顕微鏡システム、及び、顕微鏡制御装置 | |
JP2021173656A (ja) | 画像計測システム、画像計測方法、画像計測プログラムおよび記録媒体 | |
WO2003079664A2 (en) | Multi-axis integration system and method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200424 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210309 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210310 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210609 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210805 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210902 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220215 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20220510 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20220714 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220721 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20221101 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230228 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20230228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20230302 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20230322 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20230328 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20230526 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240516 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7491667 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |