JP7470150B2 - リアルタイムビデオ伸び計 - Google Patents
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Description
1.高速のデータ入力、データ処理及びデータ出力。
2.マイクロプロセッサ又はPCシステムの副次的影響なしでの、リアルタイムの決定的動作のためのハードウェア(FPGA)ベースのアルゴリズム実装。
3.多数のハードウェア部品が共に統合されるのではなく、単一の基板。
4.カメラ、処理システム及び出力デバイスの大幅なコスト低減。これは、非常に高い特異性を依然として達成しながら、価格順応性を提供する。
5.スタンドアロンビデオデバイスが、伸び又は歪みを直接出力し、多くの既存のシステムにおいて用いられ得る。
6.スタンドアロン機能に起因する使用の容易性。これは標準的なクリップ式の伸び計と類似している。
7.デバイスは、閉ループ制御に用いることができるレートでデータを提供することができる。
8.データレートが増大したことにより、デバイスを高速用途で用いることができる。例えば、これは、正弦波形で実行される動的システムに関してデータを収集し制御を実行するのに用いることができる。
上述の実施形態は下記のようにも記載され得るが下記には限定されない。
[構成1]
試験試料における伸び/歪みを測定するための伸び計であって、
応力を生じる負荷をかけられる試験試料の画像データを生成するための撮像デバイスと、
マイクロプロセッサ及びロジックデバイスを含む計算デバイスであって、前記ロジックデバイスが試験試料の画像データを受信し、試験試料における標的の移動を判断し、前記判断された標的の移動から伸び/歪みを求め、前記マイクロプロセッサ、前記ロジックデバイス、及び、前記マイクロプロセッサと前記ロジックデバイス間の通信パスが同一の回路基板上にある、計算デバイスと、
前記求められた伸び/歪みをリアルタイムで出力するための出力デバイスと、
を備える、伸び計。
[構成2]
トリガー又は同期信号を受信して動作又はタイムスタンプの付与を開始するための入力を更に含む、構成1に記載の伸び計。
[構成3]
伸び/歪みが2つの直交する方向において求められる、構成1に記載の伸び計。
[構成4]
伸び/歪みが軸方向及び横方向において求められる、構成1に記載の伸び計。
[構成5]
定密度空気管を更に備え、該定密度空気管を通じて前記撮像デバイスが前記試験試料を見る、構成1に記載の伸び計。
[構成6]
前記定密度空気管は、少なくとも1つのファンを備えることによって仮想空気管を作成する、構成5に記載の伸び計。
[構成7]
前記定密度空気管の前記少なくとも1つのファンは、前記同一の回路基板によって少なくとも部分的に制御される、構成6に記載の伸び計。
[構成8]
イーサネット(登録商標)接続を更に含む、構成1に記載の伸び計。
[構成9]
前記試験試料を照明するための照明デバイスを更に備える、構成1に記載の伸び計。
[構成10]
前記照明デバイスは偏光を発する、構成1に記載の伸び計。
[構成11]
応力を生じる負荷をかけられた試験試料の画像を受信するための補助カメラリンクコネクタ入力を更に含む、請求項1に記載の伸び計。
Claims (11)
- 試験試料における伸び/歪みを測定するための伸び計であって、
材料試験機によって応力を生じる負荷をかけられる試験試料の画像データを、前記材料試験機から入力されるトリガー又は同期信号に同期して生成するための撮像デバイスと、
マイクロプロセッサ及びロジックデバイスを含む計算デバイスであって、前記ロジックデバイスが試験試料の画像データを受信し、試験試料における標的の移動を判断し、前記判断された標的の移動から伸び/歪みを求め、前記撮像デバイス、前記マイクロプロセッサ、前記ロジックデバイス、前記撮像デバイスと前記ロジックデバイス間の通信パス、及び、前記マイクロプロセッサと前記ロジックデバイス間の通信パスが同一の回路基板上にある、前記材料試験機を有するシステムにプラグイン可能な、計算デバイスと、
前記求められた伸び/歪みを前記材料試験機にリアルタイムで出力するための出力デバイスと、
を備える、伸び計。 - 前記トリガー又は同期信号を受信して動作又はタイムスタンプの付与を開始するための入力を更に含む、請求項1に記載の伸び計。
- 伸び/歪みが2つの直交する方向において求められる、請求項1に記載の伸び計。
- 伸び/歪みが軸方向及び横方向において求められる、請求項1に記載の伸び計。
- 定密度空気管を更に備え、該定密度空気管を通じて前記撮像デバイスが前記試験試料を見る、請求項1に記載の伸び計。
- 前記定密度空気管は、少なくとも1つのファンを備えることによって仮想空気管を作成する、請求項5に記載の伸び計。
- 前記定密度空気管の前記少なくとも1つのファンは、前記同一の回路基板によって少なくとも部分的に制御される、請求項6に記載の伸び計。
- イーサネット(登録商標)接続を更に含む、請求項1に記載の伸び計。
- 前記試験試料を照明するための照明デバイスを更に備える、請求項1に記載の伸び計。
- 前記照明デバイスは偏光を発する、請求項9に記載の伸び計。
- 応力を生じる負荷をかけられた試験試料の画像を受信するための補助カメラリンクコネクタ入力を更に含む、請求項1に記載の伸び計。
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