JP7446136B2 - Control system, control method, and substrate processing equipment - Google Patents
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Description
本開示は、制御システム、制御方法、及び基板処理装置に関する。 The present disclosure relates to a control system, a control method, and a substrate processing apparatus.
特許文献1には、半導体製造装置を操作制御する複数の端末のうち、排他要求を送信した一の端末のみの操作制御を半導体製造装置が受け付ける専有状態に設定するシステムが開示されている。特許文献1によると、操作者の操作上の混乱を低減できる。
本開示は、装置に対する操作を適切に行うことができる技術を提供する。 The present disclosure provides a technique that can appropriately perform operations on a device.
本開示の一態様による制御システムは、基板を処理する基板処理装置を制御する制御システムであって、前記基板処理装置と同じ場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第1端末、及び第2端末と、前記基板処理装置とは異なる場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第3端末と、前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする制御装置と、前記第2端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第1スイッチと、前記第1端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第2スイッチと、を有し、前記制御装置は、前記第1スイッチが前記第2スイッチよりも先に操作された場合、前記第1端末による前記基板処理装置に対する制御を有効とし、前記第2端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とし、前記第2スイッチが操作された場合、前記第1スイッチが先に操作されていることを示す情報をユーザに報知する。 A control system according to one aspect of the present disclosure is a control system that controls a substrate processing apparatus that processes a substrate, the control system being located at the same location as the substrate processing apparatus, and receiving control instructions for the substrate processing apparatus from a user. a third terminal that is located at a different location from the substrate processing apparatus and receives control instructions for the substrate processing apparatus from a user; and when an abnormality in the substrate processing apparatus is detected; a control device that disables control of the substrate processing apparatus by the third terminal; a first switch that disables control of the substrate processing apparatus by the second terminal and the third terminal; a second switch that disables control of the substrate processing apparatus by a third terminal, and when the first switch is operated before the second switch, the control device controls the first terminal. control of the substrate processing apparatus by the second terminal is enabled, control of the substrate processing apparatus by the second terminal is disabled, and when the second switch is operated, the first switch is operated first. Announce information to users .
本開示によれば、装置に対する操作を適切に行うことができる。 According to the present disclosure, it is possible to appropriately operate the device.
以下、本開示の実施形態について、添付の図面を参照しながら説明する。尚、本明細書及び図面において、実質的に同一の構成要素については、同一の符号を付することにより重複した説明を省く場合がある。 Embodiments of the present disclosure will be described below with reference to the accompanying drawings. Note that in this specification and the drawings, substantially the same constituent elements may be given the same reference numerals to omit redundant explanation.
<システム構成>
図1は、実施形態に係る制御システム1の構成例を示す図である。実施形態に係る制御システム1によれば、装置に対する操作を適切に行うことができる。以下では、制御システム1が、フラットパネルディスプレイ(Flat Panel Display:FPD)用の基板を処理する基板処理装置を制御する例について説明する。なお、開示の制御システム1は、各種の装置を制御できる。
<System configuration>
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a
図1において、制御システム1は、メイン端末10A(「第1端末」の一例。)、サブ端末10B(「第2端末」の一例。)、ハンディ端末10C(「第4端末」の一例。)、リモート端末10D(「第3端末」の一例。)、制御装置20、及び基板処理装置30を有する。なお、以下で、メイン端末10A、サブ端末10B、ハンディ端末10C、及びリモート端末10Dのそれぞれについて、区別する必要がない場合は、単に「端末10」とも称する。
In FIG. 1, the
また、制御システム1は、図示しない第1スイッチ40A、第2スイッチ40B、第3スイッチ40C(以下で、区別する必要がない場合は、単に「スイッチ40」とも称する)も有する。端末10と制御装置20、及び制御装置20とスイッチ40は、それぞれ、ネットワークNを介して接続されてもよい。なお、メイン端末10A、サブ端末10B、ハンディ端末10C、及びリモート端末10Dの数は、図1の例に限定されない。
The
端末10は、基板処理装置30を制御するための操作をユーザ(保守員、エンジニア等)から受け付ける装置である。端末10は、コンピュータを有してもよい。
The terminal 10 is a device that receives operations for controlling the
また、端末10は、コンピュータを有しなくてもよい。この場合、端末10は、制御装置20から受信した表示画面の情報を表示するモニタまたはタッチパネルディスプレイを有してもよい。また、端末10は、ユーザからの操作を受け付けるキーボードとマウス、またはタッチパネルディスプレイを有してもよい。
Further, the terminal 10 does not need to have a computer. In this case, the terminal 10 may have a monitor or a touch panel display that displays the information on the display screen received from the
(メイン端末10Aについて)
メイン端末10A、及びサブ端末10Bは、例えば、基板処理装置30と同じ場所(現場、ローカル)に設置(配置)されてもよい。この場合、基板処理装置30と同じ場所として、例えば、メイン端末10A、及びサブ端末10Bは、例えば、基板処理装置30が設置される工場等の施設内に設定されてもよい。また、基板処理装置30と同じ場所として、メイン端末10A、及びサブ端末10Bは、例えば、基板処理装置30が設置されるクリーンルーム内に設定されてもよい。
(About main terminal 10A)
The
メイン端末10Aは、例えば、制御装置20の付近に設置されてもよい。メイン端末10Aは、コンピュータを有さず、キーボードとマウス、及びタッチパネルディスプレイを有してもよい。この場合、メイン端末10Aのキーボードとマウスは、USB(Universal Serial Bus)ケーブルにより制御装置20と接続されてもよい。また、メイン端末10Aのタッチパネルディスプレイは、例えば、DVI(Digital Visual Interface)ケーブル、またはアナログRGBコンポーネント映像信号を伝送するVGAケーブル等のディスプレイケーブルにより制御装置20から受信した表示画面の情報を表示し、ユーザから入力された情報をRS-232Cケーブルにより制御装置20に伝送してもよい。
The
(サブ端末10Bについて)
サブ端末10Bは、例えば、当該施設内でメイン端末10Aとは離れた場所に設置されてもよい。サブ端末10Bは、コンピュータを有さず、タッチパネルディスプレイを有してもよい。この場合、サブ端末10Bのタッチパネルディスプレイと制御装置20とは、例えば、アナログRGBコンポーネント映像信号を伝送するVGAケーブルと、ユーザから入力された情報(入力信号)を伝送するRS-232Cケーブル、当該映像信号及び当該入力信号をIPネットワークに伝送する装置、及びLAN(Local Area Network)等により接続されてもよい。
(About sub-terminal 10B)
For example, the sub-terminal 10B may be installed at a location away from the
(ハンディ端末10Cについて)
ハンディ端末10Cは、例えば、基板処理装置30が設置される工場等の施設内で利用可能な可搬型の端末でもよい。ハンディ端末10Cは、例えば、LANケーブル、PLC(Power Line Communications)用ケーブル、及びRS-232Cケーブル等のケーブル(有線)により基板処理装置30に接続され、基板処理装置30を介して制御装置20と通信を行う。なお、ハンディ端末10Cは、無線LAN、BLE(Bluetooth(登録商標) Low Energy)及びNFC(Near field communication)等の近距離無線通信により、基板処理装置30に接続され、基板処理装置30を介して制御装置20と通信を行うようにしてもよい。
(About handy terminal 10C)
The
(リモート端末10Dについて)
リモート端末10Dは、例えば、基板処理装置30とは異なる場所(リモート)に設置されてもよい。この場合、基板処理装置30とは異なる場所として、例えば、リモート端末10Dは、例えば、基板処理装置30が設置される工場等の施設外に設定されてもよい。この場合、リモート端末10Dは、例えば、ユーザのオフィス等に設置されてもよい。リモート端末10Dは、例えば、ノートPC(Personal Computer)等の情報処理装置でもよい。この場合、リモート端末10Dと制御装置20とは、例えば、アナログRGBコンポーネント映像信号を伝送するVGAケーブルと、キーボードとマウスによりユーザから入力された情報(入力信号)を伝送するUSBケーブル、当該映像信号及び当該入力信号をIPネットワークに伝送する装置、及びLAN(Local Area Network)等により接続されてもよい。
(About remote terminal 10D)
The
(スイッチ40について)
第1スイッチ40Aは、サブ端末10B及びリモート端末10Dによる基板処理装置30に対する制御を無効とするためのスイッチである。第1スイッチ40Aがオンに設定されている場合、メイン端末10Aのみから基板処理装置30を制御できるようになる。なお、第1スイッチ40Aがオンに設定されている場合であっても、ハンディ端末10Cが基板処理装置30に接続されている場合は、メイン端末10Aによる基板処理装置30の少なくとも一部に対する制御が無効となり、ハンディ端末10Cからのみ基板処理装置30の当該少なくとも一部を制御できる。また、第1スイッチ40Aがオフに設定されると、第2スイッチ40B若しくは第3スイッチ40Cをオンにすることにより、サブ端末10B若しくはリモート端末10Dによる基板処理装置30に対する制御を有効とすることができる。
(About switch 40)
The first switch 40A is a switch for disabling control of the
第1スイッチ40Aは、例えば、メイン端末10Aの付近に設置されてもよい。第1スイッチ40Aは、ユーザにより押下されてオンに設定された場合、その旨を示す信号(メイン切替信号)を制御装置20に送信する。制御装置20の切替部24は、当該信号を受信すると、サブ端末10B、及びリモート端末10Dからの入力を無効とする。なお、第1スイッチ40Aは、メイン端末10A等の表示画面に表示されるボタン等でもよい。ただし、安全上の観点からは、表示画面に表示されるソフトウェアで制御されるボタンではなく、ハード的なスイッチの方が望ましい。この場合、メイン端末10Aは、当該ボタン等がユーザにオンに設定されると、その旨を示す情報と、メイン端末10Aの識別情報とを制御装置20に送信してもよい。
The first switch 40A may be installed near the
第2スイッチ40Bは、メイン端末10A及びリモート端末10Dによる基板処理装置30に対する制御を無効とするためのスイッチである。第2スイッチ40Bがオンに設定されている場合、サブ端末10Bのみから基板処理装置30を制御できるようになる。なお、第2スイッチ40Bがオンに設定されている場合であっても、ハンディ端末10Cが基板処理装置30に接続されている場合は、サブ端末10Bによる基板処理装置30の少なくとも一部に対する制御が無効となり、ハンディ端末10Cからのみ基板処理装置30の当該少なくとも一部を制御できる。また、第2スイッチ40Bがオフに設定されると、第1スイッチ40A若しくは第3スイッチ40Cをオンにすることにより、メイン端末10A若しくはリモート端末10Dによる基板処理装置30に対する制御を有効とすることができる。
The second switch 40B is a switch for disabling control of the
第2スイッチ40Bは、例えば、サブ端末10Bの付近に設置されてもよい。第2スイッチ40Bは、ユーザによりオンに設定された場合、その旨を示す信号(サブ切替信号)を制御装置20に送信する。制御装置20の切替部24は、当該信号を受信すると、メイン端末10A、及びリモート端末10Dからの入力を無効とする。なお、第2スイッチ40Bは、サブ端末10B等の表示画面に表示されるボタン等でもよい。ただし、安全上の観点からは、表示画面に表示されるソフトウェアで制御されるボタンではなく、ハード的なスイッチの方が望ましい。この場合、サブ端末10Bは、当該ボタン等がユーザにオンに設定されると、その旨を示す情報と、サブ端末10Bの識別情報とを制御装置20に送信してもよい。
The second switch 40B may be installed near the sub-terminal 10B, for example. When the second switch 40B is turned on by the user, it transmits a signal (sub switching signal) indicating this to the
第3スイッチ40Cは、メイン端末10A及びサブ端末10Bによる基板処理装置30に対する制御を無効とするためのスイッチである。また、ハンディ端末10Cが基板処理装置30に接続されていても、第3スイッチ40Cはハンディ端末10Cによる基板処理装置30に対する制御を無効とする。第3スイッチ40Cがオンに設定されている場合、リモート端末10Dのみから基板処理装置30を制御できるようになる。また、第3スイッチ40Cがオフに設定されると、第1スイッチ40A若しくは第2スイッチ40Bをオンにすることにより、メイン端末10A若しくはサブ端末10Bによる基板処理装置30に対する制御を有効とすることができる。
The third switch 40C is a switch for disabling control of the
第3スイッチ40Cは、例えば、基板処理装置30が設置される工場等の施設内に設置されてもよい。これにより、現場での操作により、基板処理装置30を制御可能な端末10をリモート端末10Dに切り替えることができる。この場合、第3スイッチ40Cは、例えば、メイン端末10Aの付近に設置されてもよい。この場合、第3スイッチ40Cは、メイン端末10Aの筐体上に設けられていてもよい。第3スイッチ40Cは、ユーザによりオンに設定された場合、その旨を示す信号を制御装置20に送信する。なお、第3スイッチ40Cは、メイン端末10A等の表示画面に表示されるボタン等でもよい。ただし、安全上の観点からは、表示画面に表示されるソフトウェアで制御されるボタンではなく、ハード的なスイッチの方が望ましい。この場合、メイン端末10Aは、当該ボタン等がユーザにオンに設定されると、その旨を示す情報と、メイン端末10Aの識別情報とを制御装置20に送信してもよい。
The third switch 40C may be installed, for example, in a facility such as a factory where the
なお、複数のスイッチ40に対してオンに設定する操作(例えば、押下等)がされた場合、制御装置20は、当該複数のスイッチ40のうち、先にオンに設定する操作がされたスイッチ40のみをオンに設定し、他方のスイッチ40は強制的にオフに設定してもよい。また、制御装置20は、強制的にオフに設定されているスイッチ40が操作された場合、他のスイッチ40が先に操作されていることを示す情報をユーザに報知してもよい。この場合、例えば、第1スイッチ40Aが先に押下されてオンに設定された後、第2スイッチ40Bが押下された場合、第1スイッチ40Aが先に操作されていることがユーザに報知される。
Note that when a plurality of switches 40 are operated to be turned on (for example, pressed), the
この場合、制御装置20は、例えば、第2スイッチ40Bがオンに設定された場合は第2スイッチ40Bに対応付けられているランプを緑色に点灯させてもよい。そして、第1スイッチ40Aが先にオンに操作されたために第2スイッチ40Bが強制的にオフに設定されている場合であり、基板処理装置30に異常が発生していない場合には、第2スイッチ40Bが押下されると、第2スイッチ40Bに対応付けられているランプを所定期間、黄色に点灯させてもよい。
In this case, the
また、第1スイッチ40Aが先にオンに操作されたために第2スイッチ40Bが強制的にオフに設定されている場合であり、基板処理装置30に異常が発生している場合には、第2スイッチ40Bが押下されると、第2スイッチ40Bに対応付けられているランプを所定期間、黄色で点滅(一定周期での点灯と無点灯との繰り返し)をさせてもよい。これにより、例えば、ユーザは、第2スイッチ40Bの押下が無効とされている理由を把握することができる。
Furthermore, if the second switch 40B is forcibly set to off because the first switch 40A is turned on first, and an abnormality has occurred in the
なお、第3スイッチ40Cを、ローカルの端末、即ちメイン端末10Aとサブ端末10Bのいずれかの端末による制御と、リモートの端末、即ちリモート端末10Dによる制御とを切り替えるローカル/リモート切り替えスイッチとして構成してもよく、第1スイッチ40Aと第2スイッチ40Bを統合してメイン端末10Aによる制御とサブ端末10Bによる制御とを切り替えるメイン/サブ切り替えスイッチとして構成してもよい。この場合、ローカル/リモート切り替えスイッチは、オンの設定とオフの設定との選択ではなく、ローカル端末による制御とリモート端末による制御との選択を行い、メイン/サブ切り替えスイッチについても同様に、メイン端末10Aによる制御とサブ端末10Bによる制御との選択を行う。ローカル/リモート切り替えスイッチによりローカル端末を選択した場合、メイン/サブ切り替えスイッチにより選択されているメイン端末10A若しくはサブ端末10Bによる制御が行われることになる。
Note that the third switch 40C is configured as a local/remote changeover switch that switches between control by a local terminal, that is, either the
(制御装置20について)
制御装置20は、端末10から受信した情報(信号)に基づいて、基板処理装置30を制御する。また、基板処理装置30の各種センサにより測定された情報等を、各端末10に表示させる。これにより、基板処理装置30のユーザは、基板に対する処理状況、及び基板処理装置30の各部の異常の有無等、基板処理装置30の各種の状態を、リモート端末10Dによりオフィス等からも監視できる。
(About the control device 20)
The
制御装置20は、基板処理装置30に異常が発生した場合、基板処理装置30に対する制御を行うことができる端末10を、ローカルに設置されている端末10(メイン端末10A、サブ端末10B、及びハンディ端末10Cのいずれか)のみに制限する。これにより、ユーザは、基板処理装置30が正常に動作している場合は、現場、及びオフィス等から、基板処理装置30の監視、及び操作を行うことができる。そして、ユーザは、基板処理装置30に異常が発生している場合は、基板処理装置30に対する操作は現場からのみに制限し、基板処理装置30の監視は、現場、及びオフィス等から行うことができる。そのため、例えば、現場で復旧作業を行っているユーザが、リモートからの他のユーザの操作により混乱させられること等を低減できる。また、現場の状況を確認せずにリモートから操作されることを防止できる。
When an abnormality occurs in the
また、制御装置20は、メイン端末10A、サブ端末10B、及びリモート端末10Dに対して、同一の表示画面を表示させてもよい。この場合、制御装置20は、メイン端末10A、サブ端末10B、及びリモート端末10Dに対して、同一の映像信号を送信してもよい。
Further, the
また、制御装置20は、ハンディ端末10Cに対し、ハンディ端末10Cによる操作が可能な各機器を制御するための表示画面、及び各種センサにより測定された当該各機器に関する情報を通知するための表示画面を表示させてもよい。
The
(基板処理装置30について)
基板処理装置30は、FPD用の基板に対し、各種の処理を行う装置である。なお、FPDには、例えば、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display: LCD)、エレクトロルミネセンス(Electro Luminescence: EL)、プラズマディスプレイパネル(Plasma Display Panel;PDP)等が含まれてもよい。なお、FPDは、例えば、テレビ、モニタ、スマートフォン、及びタブレット端末に用いられてもよい。なお、FPD用の基板の材料としては、ガラス、または合成樹脂等が用いられてもよい。
(About the substrate processing apparatus 30)
The
基板処理装置30は、例えば、基板に対し、エッチング処理や、CVD(Chemical Vapor Deposition)法を用いた成膜処理等を行い、薄膜トランジスター(Thin Film Transistor:TFT)等を基板上に形成してもよい。この場合、基板処理装置30は、例えば、基板Gの上に、ゲート電極やゲート絶縁膜、半導体層などをパターニングしながら順次積層していくことにより、TFTを形成してもよい。なお、基板処理装置30は、空気清浄度が確保されたクリーンルーム内に設置されてもよい。
The
<ハードウェア構成>
《制御装置20》
図2Aは、実施形態に係る制御装置20のハードウェア構成例を示す図である。なお、端末10がコンピュータを有する場合は、当該コンピュータのハードウェア構成は、図2Aの制御装置20のハードウェア構成と同様でもよい。
<Hardware configuration>
<<
FIG. 2A is a diagram showing an example of the hardware configuration of the
図2Aの制御装置20は、それぞれバスBで相互に接続されているドライブ装置200、補助記憶装置202、メモリ装置203、CPU204、及びインタフェース装置205等を有する。
The
制御装置20での処理を実現するプログラムは、記録媒体201によって提供されてもよい。この場合、プログラムを記録した記録媒体201がドライブ装置200にセットされると、プログラムが記録媒体201からドライブ装置200を介して補助記憶装置202にインストールされる。プログラムのインストールは必ずしも記録媒体201より行う必要はなく、ネットワークを介して他のコンピュータよりダウンロードするようにしてもよい。補助記憶装置202は、インストールされたプログラムを格納すると共に、必要なファイルやデータ等を格納する。
A program that implements processing in the
メモリ装置203は、プログラムの起動指示があった場合に、補助記憶装置202からプログラムを読み出して格納する。CPU204は、メモリ装置203に格納されたプログラムに従って制御装置20に係る機能を実現する。インタフェース装置205は、ネットワークに接続するためのインタフェースとして用いられる。
The
なお、記録媒体201の一例としては、CD-ROM、DVDディスク、又はUSBメモリ等の可搬型の記録媒体が挙げられる。また、補助記憶装置202の一例としては、HDD(Hard Disk Drive)又はフラッシュメモリ等が挙げられる。記録媒体201及び補助記憶装置202のいずれについても、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に相当する。
Note that an example of the
《基板処理装置30》
図2Bは、実施形態に係る基板処理装置30の一例を示す図である。実施形態に係る基板処理装置30は、基板毎に各種の処理を行うプロセスモジュール(プロセスチャンバー、処理室)が複数結合されているクラスタツールでもよい。図2Bの例では、基板処理装置30は、複数のプロセスチャンバーを有するマルチチャンバー型である。
<<
FIG. 2B is a diagram showing an example of the
図2Bの例では、基板処理装置30は、各チャンバーとして、トランスファーモジュール(搬送チャンバー)31、ロードロックモジュール(ロードロックチャンバー)32、プロセスモジュール33A、プロセスモジュール33B、プロセスモジュール33C(以下で、区別する必要がない場合は、単に「プロセスモジュール33」と称する)を有している。(一例として、これらのチャンバーのうち、いずれかを第1チャンバーとし、他のいずれかを第2チャンバーと称することもできる。)
In the example of FIG. 2B, the
ロードロックモジュール32、及び各プロセスモジュール33は、それぞれ、ゲートバルブを介してトランスファーモジュール31に接続されている。
The
ロードロックモジュール32は、トランスファーモジュール31に基板を供給する装置である。ロードロックモジュール32は、例えば、二段に積層され、各層において、基板を保持するラック、及び基板の位置調節を行うポジショナー等が設けられてもよい。また、ロードロックモジュール32は、常圧と真空との間で内部の圧力を切り替えることができるように構成されており、載置された多数の基板Gを搬送するキャリア(搬送装置)との間で基板の受け渡しを行ってもよい。この場合、ロードロックモジュール32が真空に制御された後、同様に真空に制御されているトランスファーモジュール31との間のゲートバルブが開かれ、ロードロックモジュール32からトランスファーモジュール31に対して基板が供給されてもよい。
The
トランスファーモジュール31は、各プロセスモジュール33に基板を供給する装置である。トランスファーモジュール31には、例えば、回転可能であって、かつ、各プロセスモジュール33側へスライド可能な搬送機構311(アーム、ロボット)が搭載されてもよい。当該搬送機構は、ロードロックモジュール32から供給された基板を、所望のプロセスモジュール33に供給する。
The
プロセスモジュール33は、基板に対して各種の処理を行う装置である。プロセスモジュール33は、例えば、プラズマを発生させて、ハロゲン系のエッチングガス(例えば、塩素系のエッチングガス)を適用したドライエッチング処理を行ってもよい。 The process module 33 is a device that performs various processes on the substrate. For example, the process module 33 may generate plasma and perform a dry etching process using a halogen-based etching gas (for example, a chlorine-based etching gas).
トランスファーモジュール31は、各プロセスモジュール33により、例えば、CVD(Chemical Vaper Deposition)処理、及びPVD(Physical Vaper Deposition)処理等の成膜処理と、エッチング処理とをシーケンシャルに実行させてもよい。この場合、トランスファーモジュール31は、例えば、まず、プロセスモジュール33Aへ基板を供給し、当該基板に対して第1処理を実行させてもよい。そして、トランスファーモジュール31は、プロセスモジュール33Bへ当該基板を供給し、当該基板に対して第2処理を実行させてもよい。そして、トランスファーモジュール31は、プロセスモジュール33Cへ当該基板を供給し、当該基板に対して第3処理を実行させてもよい。
The
また、図2Bに示すように、プロセスモジュール33A、プロセスモジュール33B、プロセスモジュール33C、及びロードロックモジュール32の外部(外側)には、それぞれ、ハンディ端末10Cを接続するためのポート301A(「第1ポート」の一例。)、ポート301B(「第2ポート」の一例。)、ポート301C、及びポート301D(以下で、区別する必要がない場合は、単に「ポート301」と称する)が設けられている。各ポート301は、例えば、LAN等により、制御装置20と接続されている。なお、第1のポート及び第2のポートの例はこれに限られず、いずれのポート301が第1のポートとなり、第2のポートとなってもよい。また、トランスファーモジュール31にもハンディ端末10Cを接続するためのポートを設けてもよい。
Further, as shown in FIG. 2B, a
<機能構成>
図3を参照し、実施形態に係る制御装置20の機能構成について説明する。図3は、実施形態に係る制御装置20の機能構成の一例を示す図である。
<Functional configuration>
With reference to FIG. 3, the functional configuration of the
制御装置20は、異常検知部21、異常時切替部22、受付部23、切替部24、及び制御部25を有する。これら各部は、制御装置20にインストールされた1以上のプログラムと、制御装置20のCPU204等のハードウェアとの協働により実現されてもよい。また、これら各部は、一又は複数の回路によって実現することも可能である。ここで、当該回路は、例えば、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、DSP(digital signal processor)、FPGA(field programmable gate array)、及びリレーで構成される回路等により実現されてもよい。また、例えば、これら各部のうちの一部(例えば、制御部25)は、制御装置20にインストールされた1以上のプログラムと、制御装置20のCPU204等のハードウェアとの協働により実現され、他部(例えば、異常検知部21、異常時切替部22、受付部23、及び切替部24)は、ASIC等の回路により実現されてもよい。
The
異常検知部21は、基板処理装置30の各種のセンサにより測定された情報等に基づき、基板処理装置30における各種の異常を検知する。
The abnormality detection unit 21 detects various abnormalities in the
異常時切替部22は、異常検知部21により異常が検知された場合に、基板処理装置30に対する制御を行うことができる端末10を、ローカルに設置されている端末10(メイン端末10A、サブ端末10B、及びハンディ端末10Cのいずれか)のみに制限する。
The
受付部23は、スイッチ40のオン、及びオフ等の操作をユーザから受け付ける。
The
切替部24は、受付部23により受け付けたユーザの操作に応答して、ユーザから指定された端末10のみから基板処理装置30を制御できるようする。
The switching
制御部25は、基板処理装置30の各種のセンサにより測定された情報等に基づく表示画面を、端末10に表示させる。また、制御部25は、異常時切替部22、または切替部24により決定された端末10からの指示に従い、基板処理装置30の各部を制御する。
The
<処理>
図4から図5Bを参照し、実施形態に係る制御システム1の処理の一例について説明する。図4は、実施形態に係る制御システム1の処理の一例を示すシーケンス図である。図5Aは、実施形態に係るメイン端末10A、サブ端末10B、及びリモート端末10Dの表示画面の一例について説明する図である。図5Bは、実施形態に係るハンディ端末10Cの表示画面の一例について説明する図である。
<Processing>
An example of the processing of the
ステップS1において、制御装置20の切替部24は、ユーザの指示に従い、リモート端末10Dからの操作のみを有効(入力可能)とする。ここで、制御装置20は、例えば、ユーザにより、第1スイッチ40A、及び第2スイッチ40Bがオフに設定されており、第3スイッチ40Cがオンに設定された場合、リモート端末10Dからの操作のみを有効としてもよい。これにより、リモート端末10Dのみから基板処理装置30を制御できる。そのため、例えば、それぞれ異なる場所にいる複数のユーザが、各端末10から同時に基板処理装置30を制御することにより混乱が生じることを低減できる。
In step S1, the switching
制御装置20は、図5Aのような表示画面501を、メイン端末10A、サブ端末10B、及びリモート端末10Dに表示させてもよい。図5Aの例では、表示画面501には、基板処理装置30の各部を制御するボタン502Aから502D等が表示されている。リモート端末10Dからの操作のみが有効とされている場合、制御装置20は、リモート端末10Dでボタン502Aから502D等が操作された場合にのみ、押下されたボタンに応じた制御を基板処理装置30に実行させる。
The
リモート端末10Dからの操作のみが有効とされている場合に、メイン端末10A、及びサブ端末10Bのいずれかからリモート端末10Dでボタン502Aから502D等が操作された場合、制御装置20は、当該操作を無効にする。
When only operations from the
続いて、制御装置20の異常検知部21は、基板処理装置30の異常を検知する(ステップS2)。ここで、制御装置20の異常検知部21は、基板処理装置30の各種のセンサにより測定された情報等に基づき、基板処理装置30における各種の異常を検知する。制御装置20の異常検知部21は、例えば、プロセスモジュール33内の真空状態を保持するポンプの故障を検知してもよい。また、制御装置20の異常検知部21は、例えば、トランスファーモジュール31内の搬送機構311の動作中に、トランスファーモジュール31内に進入するためのドアが開状態であることを検知してもよい。
Subsequently, the abnormality detection unit 21 of the
制御装置20の異常検知部21は、異常を検知した場合、基板処理装置30の各駆動部を停止させてもよい。また、制御装置20の異常検知部21は、異常を検知した場合、基板処理装置30の各駆動部のうち、異常が発生した箇所に関する各駆動部のみを停止させてもよい。
The abnormality detection unit 21 of the
また、制御装置20の制御部25は、異常検知部21により異常が検知された場合、警報(アラーム)の表示画面及び音をメイン端末10A、サブ端末10B、及びリモート端末10Dに報知させてもよい。これにより、ユーザは、オフィス等から現場に移動し、基板処理装置30の復旧を行うことができる。なお、当該警報には、異常検知部21により検知された異常の内容を示す情報が含まれてもよい。
Furthermore, when an abnormality is detected by the abnormality detection unit 21, the
続いて、制御装置20の異常時切替部22は、リモート端末10Dからの入力を無効(不可)とし(ステップS3)、ローカルの端末10(メイン端末10A、サブ端末10B、及びハンディ端末10Cのいずれか)からの操作のみを有効とする(ステップS4)。これにより、例えば、基板処理装置30に異常が発生している際に、オフィス等の遠隔からの操作により基板処理装置30が動作させられることにより復旧作業が阻害されることを低減できる。
Subsequently, the
ここで、制御装置20は、基板処理装置30の異常が検知されている間は、第3スイッチ40Cを強制的にオフに設定することで第3スイッチ40Cに対する操作を無効とし、ユーザにより第3スイッチ40Cをオンに設定できないように制御してもよい。これにより、例えば、第1スイッチ40Aがユーザによりオンに設定された場合は、メイン端末10Aのみから基板処理装置30を制御できるようになる。また、第2スイッチ40Bがユーザによりオンに設定された場合は、サブ端末10Bのみから基板処理装置30を制御できるようになる。
Here, while an abnormality in the
ここで、制御装置20は、例えば、ローカルの端末10による基板処理装置30に対する制御の結果を示す情報をリモート端末10Dにも表示させてもよい。これにより、ユーザは、リモート端末10Dから基板処理装置30を操作できない場合であっても、メイン端末10A、及びサブ端末10Bのいずれかによる操作結果をリモート端末10Dから監視することができる。この場合、制御装置20は、例えば、リモート端末10Dに対して、メイン端末10A、及びサブ端末10Bと同一の表示画面を表示させることにより、ローカルの端末10による操作結果をリモート端末10Dに表示させてもよい。また、ハンディ端末10Cによる操作結果をリモート端末10Dから監視できるようにしてもよい。
Here, the
続いて、基板処理装置30は、ハンディ端末10Cと接続される(ステップS5)。ここで、基板処理装置30のポート301に、ハンディ端末10Cと接続されているケーブルが接続される。
Subsequently, the
なお、ユーザは、例えば、プロセスモジュール33内を目視しながら操作を行えない位置にメイン端末10A、及びサブ端末10B設置されている場合、ハンディ端末10Cをもってプロセスモジュール33の付近に移動する。そして、ユーザは、ハンディ端末10Cを、プロセスモジュール33の外側に設けられているポート301に接続する。
Note that, for example, if the
続いて、基板処理装置30は、ハンディ端末10Cと接続したことの通知(接続通知)を制御装置20に送信する(ステップS6)。ここで、ハンディ端末10Cが接続された基板処理装置30のポート301は、当該ポート301の識別情報(ポートID)と、ハンディ端末10Cと接続した旨を示す情報とを含む接続通知を制御装置20に送信してもよい。
Subsequently, the
続いて、制御装置20の切替部24は、基板処理装置30の各部のうち、ハンディ端末10Cが接続されているポート301に応じた各部について、ハンディ端末10Cからの操作のみを有効とする(ステップS7)。これにより、例えば、プロセスモジュール33の付近で復旧作業を行っているユーザが、プロセスモジュール33から離れた位置からの他のユーザの操作により混乱させられること等を低減できる。また、これにより、ユーザは、例えば、プロセスモジュール33内を目視しながらハンディ端末10Cからプロセスモジュール33内の各部と、プロセスモジュール33に関連するトランスファーモジュール31内の各部等とを操作することができる。そのため、ユーザは、例えば、プロセスモジュール33内におけるポンプの故障状況、及びトランスファーモジュール31内における進入ドアの開状態を目視で確認しながら操作することができる。
Next, the switching
ここで、制御装置20は、例えば、プロセスモジュール33Aの外側に設けられているポート301Aにハンディ端末10Cが接続された場合、制御装置20は、例えば、プロセスモジュール33A、及びトランスファーモジュール31内の各部について、ハンディ端末10Cからの操作のみを有効としてもよい。なお、ポート301Aにハンディ端末10Cが接続された場合、制御装置20は、例えば、ロードロックモジュール32内の各部についても、ハンディ端末10Cからの操作のみを有効としてもよい。プロセスモジュール33B、プロセスモジュール33C等についても同様である。
Here, for example, when the
また、制御装置20は、例えば、ロードロックモジュール32の外側に設けられているポート301Dにハンディ端末10Cが接続された場合、制御装置20は、例えば、ロードロックモジュール32、及びトランスファーモジュール31内の各部について、ハンディ端末10Cからの操作のみを有効としてもよい。
Further, when the
ここで、制御装置20は、図5Bのような表示画面511を、ハンディ端末10Cに表示させてもよい。図5Bの例では、表示画面511には、基板処理装置30の各部のうち、ハンディ端末10Cが接続されているポート301に応じた各部を制御するボタン512Aから512F等が表示されている。図5Bにおいて網掛けで示されているボタン512Eに対応するモジュールと、ボタン512Fに対応するモジュールとは操作不能であることを示す。例えば、図5Bのボタン512Dに対応する「P/C-1」がプロセスモジュール33Aであるとした場合、図5Bはプロセスモジュール33Aのポート301Aにハンディ端末10Cが接続された状態を示し、「P/C-1」は制御可能であるが他のプロセスモジュールである「P/C-2」及び「P/C-3」は制御できないことを意味する。ここで、「P/C-1」に対応するボタン512Dを押下することにより、「P/C-1」の各部を制御する下位のメニュー画面に移行し、「P/C-1」に関する各種操作が可能となる。
Here, the
また、制御装置20は、ハンディ端末10Cが接続されているポート301を示す情報をメイン端末10A、サブ端末10B、及びリモート端末10Dに表示させてもよい。また、制御装置20は、ハンディ端末10Cからの操作のみが有効とされている基板処理装置30の各部であって、基板処理装置30の各部のうち、ハンディ端末10Cが接続されているポート301に応じた各部を示す情報を、メイン端末10A、サブ端末10B、及びリモート端末10Dに表示させてもよい。これにより、ユーザは、ハンディ端末10Cが接続されている部位、及びメイン端末10A等から操作できない各部について、ハンディ端末10C以外の各端末10から把握することができる。
Further, the
続いて、制御装置20の切替部24は、基板処理装置30の各部のうち、ハンディ端末10Cが接続されたポート301に応じた各部以外の各部、例えば、図5Bにおいては、ボタンが網掛けされた「P/C-2」及び「P/C-3」について、メイン端末10A及びサブ端末10Bのいずれかからの操作のみを有効とする(ステップS8)。
Subsequently, the switching
(ハンディ端末10Cが切断された場合について)
なお、ハンディ端末10Cが切断された場合、制御装置20の切替部24は、各端末10からの制御について、ハンディ端末10Cが接続される前の状態に戻す。この場合、ハンディ端末10Cのケーブルがポート301から抜かれる等によりハンディ端末10Cと基板処理装置30との接続が解除(切断)された場合、当該ポート301、ハンディ端末10Cと切断したことの通知(切断通知)を制御装置20に送信する。ここで、当該切断通知には、当該ポート301の識別情報(ポートID)と、ハンディ端末10Cと切断した旨を示す情報とが含まれてもよい。そして、制御装置20は、当該ポート301に応じた各部についても、ローカルの端末10であるメイン端末10A及びサブ端末10Bのいずれかからの操作のみを有効とする。
(In case the
Note that when the
(基板処理装置30が復旧した場合について)
なお、基板処理装置30が復旧した場合、各端末10からの制御について、異常が発生するよりも前の状態に戻せるようにしてもよい。この場合、異常検知部21により異常が検知されなくなった場合、制御装置20の異常時切替部22は、第3スイッチ40Cを強制的にオフに設定する機能を停止(解除)してもよい。これにより、基板処理装置30が復旧した場合、ユーザにより第1スイッチ40A、及び第2スイッチ40Bがオフに設定され、第3スイッチ40Cがオンに設定されると、リモート端末10Dからの操作のみを有効(入力可能)とすることができる。
(About the case where the
Note that when the
また、異常検知部21により異常が検知されなくなった場合、制御装置20は、第3スイッチ40Cを強制的にオフに設定する機能を停止するとともに、第3スイッチ40Cに対応付けられている報知装置(例えば、回転灯)を動作させる等により、第3スイッチ40Cをオンに設定可能(操作が有効)となったことをユーザに報知してもよい。そして、制御装置20は、第3スイッチ40Cがユーザによりオンに設定された場合、当該報知装置の動作を停止させてもよい。これにより、例えば、復旧後に第3スイッチ40Cをオンに設定することをユーザが失念したまま現場のクリーンルームから出てしまうことを低減できる。この場合、当該報知装置は、例えば、メイン端末10Aの筐体上に設けられていてもよい。
Further, when the abnormality is no longer detected by the abnormality detection unit 21, the
<変形例>
端末10、及び制御装置20の各機能部は、例えば1以上のコンピュータにより提供されるクラウドコンピューティングにより実現されていてもよい。また、端末10、制御装置20、及び基板処理装置30のうちの複数の装置を一体の装置としてもよい。この場合、例えば、制御装置20と基板処理装置30とは、一体の装置として構成されてもよい。また、例えば、メイン端末10Aまたはサブ端末10B(以下で、「メイン端末10A等」とも称する。)と制御装置20とは、一体の装置として構成されてもよい。また、例えば、メイン端末10A等と制御装置20と基板処理装置30とは、一体の装置として構成されてもよい。
<Modified example>
Each functional unit of the terminal 10 and the
また、端末10、制御装置20、及び基板処理装置30の各装置を複数の装置により実現してもよい。この場合、例えば、制御装置20の各機能部のうち、異常検知部21、及び異常時切替部22を、他の機能部とは別体の装置としてもよい。
Moreover, each device of the terminal 10, the
上記実施形態に挙げた構成等に対し、その他の構成要素が組み合わされるなどした他の実施形態であってもよく、また、本開示はここで示した構成に何等限定されるものではない。この点に関しては、本開示の趣旨を逸脱しない範囲で変更することが可能であり、その応用形態に応じて適切に定めることができる。 There may be other embodiments in which other components are combined with the configurations listed in the above embodiments, and the present disclosure is not limited to the configurations shown here. In this regard, changes can be made without departing from the spirit of the present disclosure, and can be determined appropriately depending on the application form.
1 制御システム
10A メイン端末
10B サブ端末
10C ハンディ端末
10D リモート端末
20 制御装置
21 異常検知部
22 異常時切替部
23 受付部
24 切替部
25 制御部
30 基板処理装置
31 トランスファーモジュール
32 ロードロックモジュール
33A プロセスモジュール
33B プロセスモジュール
33C プロセスモジュール
40A 第1スイッチ
40B 第2スイッチ
40C 第3スイッチ
301A ポート
301B ポート
301C ポート
301D ポート
1
Claims (9)
前記基板処理装置と同じ場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第1端末、及び第2端末と、
前記基板処理装置とは異なる場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第3端末と、
前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする制御装置と、
前記第2端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第1スイッチと、
前記第1端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第2スイッチと、を有し、
前記制御装置は、
前記第1スイッチが前記第2スイッチよりも先に操作された場合、前記第1端末による前記基板処理装置に対する制御を有効とし、前記第2端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とし、前記第2スイッチが操作された場合、前記第1スイッチが先に操作されていることを示す情報をユーザに報知する、
制御システム。 A control system for controlling a substrate processing apparatus that processes a substrate, the control system comprising:
a first terminal and a second terminal that are arranged at the same location as the substrate processing apparatus and receive instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user;
a third terminal located at a different location from the substrate processing apparatus, and receiving instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user;
a control device that disables control of the substrate processing apparatus by the third terminal when an abnormality of the substrate processing apparatus is detected;
a first switch that disables control of the substrate processing apparatus by the second terminal and the third terminal;
a second switch that disables control of the substrate processing apparatus by the first terminal and the third terminal ;
The control device includes:
When the first switch is operated before the second switch, the control of the substrate processing apparatus by the first terminal is enabled, the control of the substrate processing apparatus by the second terminal is disabled, and the control of the substrate processing apparatus by the first terminal is disabled. When two switches are operated, the user is notified of information indicating that the first switch is operated first;
control system.
前記基板処理装置と同じ場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第1端末、及び第2端末と、
前記基板処理装置とは異なる場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第3端末と、
前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする制御装置と、
前記第1端末及び前記第2端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第3スイッチと、
前記第3スイッチに対応付けられた報知装置と、を有し、
前記制御装置は、
前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第3スイッチの操作を無効とし、
前記基板処理装置の異常が復旧された場合、前記第3スイッチの操作が有効となったことを前記報知装置によりユーザに報知する、
制御システム。 A control system for controlling a substrate processing apparatus that processes a substrate, the control system comprising:
a first terminal and a second terminal that are arranged at the same location as the substrate processing apparatus and receive instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user;
a third terminal located at a different location from the substrate processing apparatus, and receiving instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user;
a control device that disables control of the substrate processing apparatus by the third terminal when an abnormality of the substrate processing apparatus is detected;
a third switch that disables control of the substrate processing apparatus by the first terminal and the second terminal;
and a notification device associated with the third switch ,
The control device includes:
If an abnormality in the substrate processing apparatus is detected, disabling the operation of the third switch,
When the abnormality in the substrate processing apparatus is recovered, the notification device notifies the user that the operation of the third switch has become effective;
control system.
前記基板処理装置の異常が復旧された場合、前記第3スイッチの操作が有効となったことを前記報知装置によりユーザに報知し、前記第3スイッチがユーザに操作された場合、前記報知装置による報知を停止する、
請求項2に記載の制御システム。 The control device includes:
When the abnormality in the substrate processing apparatus is recovered, the notification device notifies the user that the operation of the third switch has become effective, and when the third switch is operated by the user, the notification device notifies the user that the third switch is activated. stop notification,
The control system according to claim 2 .
前記基板処理装置と同じ場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第1端末、及び第2端末と、
前記基板処理装置とは異なる場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第3端末と、
前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする制御装置と、
前記基板処理装置に有線及び近距離無線の少なくとも一方により接続され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第4端末と、を有し、
前記制御装置は、
前記基板処理装置に含まれる第1チャンバーの外側に設けられた第1ポートに前記第4端末が接続された場合、前記基板処理装置の各部のうち、前記第1ポートに応じた各部に対し、前記第4端末による制御のみを有効とし、前記第1ポートに応じた各部以外の各部に対し、前記第1端末若しくは前記第2端末のいずれかによる制御のみを有効とし、
前記基板処理装置に含まれる第2チャンバーの外側に設けられた第2ポートに前記第4端末が接続された場合、前記基板処理装置の各部のうち、前記第2ポートに応じた各部に対し、前記第4端末による制御のみを有効とし、前記第2ポートに応じた各部以外の各部に対し、前記第1端末若しくは前記第2端末のいずれかによる制御のみを有効とする、
制御システム。 A control system for controlling a substrate processing apparatus that processes a substrate, the control system comprising:
a first terminal and a second terminal that are arranged at the same location as the substrate processing apparatus and receive instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user;
a third terminal located at a different location from the substrate processing apparatus, and receiving instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user;
a control device that disables control of the substrate processing apparatus by the third terminal when an abnormality of the substrate processing apparatus is detected;
a fourth terminal connected to the substrate processing apparatus by at least one of a wired and short-range wireless connection, and receiving instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user ;
The control device includes:
When the fourth terminal is connected to a first port provided outside a first chamber included in the substrate processing apparatus, for each part of the substrate processing apparatus corresponding to the first port, Only the control by the fourth terminal is valid, and the control by either the first terminal or the second terminal is valid for each unit other than each unit corresponding to the first port,
When the fourth terminal is connected to a second port provided outside a second chamber included in the substrate processing apparatus, for each part of the substrate processing apparatus corresponding to the second port, Validating only the control by the fourth terminal, and validating only the control by either the first terminal or the second terminal for each unit other than each unit corresponding to the second port;
control system.
前記第1ポートに前記第4端末が接続された場合、前記基板処理装置の各部のうち、前記第4端末による制御のみが有効とされている、前記第1ポートに応じた各部を示す情報を、前記第1端末、前記第2端末、及び前記第3端末に表示させる、
請求項4に記載の制御システム。 The control device includes:
When the fourth terminal is connected to the first port, information indicating which parts of the substrate processing apparatus are controlled only by the fourth terminal according to the first port is provided. , displayed on the first terminal, the second terminal, and the third terminal,
The control system according to claim 4 .
前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第1端末、及び前記第2端末のいずれか一方による前記基板処理装置に対する制御を有効とする、
請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の制御システム。 The control device includes:
When an abnormality in the substrate processing apparatus is detected, enabling control of the substrate processing apparatus by either the first terminal or the second terminal;
A control system according to any one of claims 1 to 5 .
前記第1端末、及び前記第2端末の少なくとも一方による前記基板処理装置に対する制御の結果を示す情報を前記第3端末に表示させる、
請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の制御システム。 The control device includes:
displaying information indicating a result of control of the substrate processing apparatus by at least one of the first terminal and the second terminal on the third terminal;
A control system according to any one of claims 1 to 6 .
前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とし、
前記第2端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第1スイッチが前記第1端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第2スイッチよりも先に操作された場合、前記第1端末による前記基板処理装置に対する制御を有効とし、前記第2端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とし、前記第2スイッチが操作された場合、前記第1スイッチが先に操作されていることを示す情報をユーザに報知する、
制御方法。 A first terminal and a second terminal are arranged at the same location as a substrate processing apparatus that processes the substrate and receive control instructions for the substrate processing apparatus from a user, and a second terminal is arranged at a different location from the substrate processing apparatus and A control system that controls the substrate processing apparatus based on information input from either a third terminal that receives instructions for controlling the processing apparatus from a user,
If an abnormality in the substrate processing apparatus is detected, disabling control of the substrate processing apparatus by the third terminal ;
A first switch that disables control of the substrate processing apparatus by the second terminal and the third terminal is placed before a second switch that disables control of the substrate processing apparatus by the first terminal and the third terminal. When the second switch is operated, the control of the substrate processing apparatus by the first terminal is enabled, and the control of the substrate processing apparatus by the second terminal is disabled, and when the second switch is operated, the first switch Notify the user of information indicating that is being operated first;
Control method.
前記基板処理装置と同じ場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第1端末、及び第2端末と、前記基板処理装置とは異なる場所に配置され、前記基板処理装置に対する制御の指示をユーザから受け付ける第3端末とのいずれかから入力された情報に基づいて、前記基板処理装置の各部を制御し、
前記基板処理装置の異常が検知された場合、前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とし、
前記第2端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第1スイッチが前記第1端末及び前記第3端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とする第2スイッチよりも先に操作された場合、前記第1端末による前記基板処理装置に対する制御を有効とし、前記第2端末による前記基板処理装置に対する制御を無効とし、前記第2スイッチが操作された場合、前記第1スイッチが先に操作されていることを示す情報をユーザに報知する、
基板処理装置。
A substrate processing apparatus that processes a substrate,
A first terminal and a second terminal are arranged at the same location as the substrate processing apparatus and receive instructions for controlling the substrate processing apparatus from a user; controlling each part of the substrate processing apparatus based on information input from either a third terminal that receives control instructions from a user;
If an abnormality in the substrate processing apparatus is detected, disabling control of the substrate processing apparatus by the third terminal ;
A first switch that disables control of the substrate processing apparatus by the second terminal and the third terminal is placed before a second switch that disables control of the substrate processing apparatus by the first terminal and the third terminal. When the second switch is operated, the control of the substrate processing apparatus by the first terminal is enabled, and the control of the substrate processing apparatus by the second terminal is disabled, and when the second switch is operated, the first switch Notify the user of information indicating that is being operated first;
Substrate processing equipment.
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---|---|---|---|---|
JP2009260251A (en) | 2008-03-18 | 2009-11-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate processing apparatus, and substrate processing system |
JP2010165831A (en) | 2009-01-15 | 2010-07-29 | Canon Inc | Device-manufacturing apparatus, control method of the device-manufacturing apparatus, and device-manufacturing method |
JP2020004866A (en) | 2018-06-28 | 2020-01-09 | 株式会社Screenホールディングス | Maintenance device and maintenance method of substrate processing apparatus |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4886125B2 (en) | 2001-07-24 | 2012-02-29 | キヤノン株式会社 | Semiconductor manufacturing apparatus and control method thereof |
JP2003036111A (en) | 2001-07-25 | 2003-02-07 | Canon Inc | Semiconductor manufacturing system, control method for semiconductor manufacturing equipment, and manufacturing method for semiconductor device |
JP2004047837A (en) * | 2002-07-12 | 2004-02-12 | Tokyo Electron Ltd | Method for adding program for board processing device and board processing system |
JP2013001053A (en) | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Seiko Epson Corp | Printing apparatus, and its control method |
JP2014010745A (en) | 2012-07-02 | 2014-01-20 | Disco Abrasive Syst Ltd | Processing device |
JP6263235B2 (en) | 2016-06-30 | 2018-01-17 | 東京エレクトロン株式会社 | Operation restriction device, operation restriction method, and computer program |
JP2018087931A (en) | 2016-11-29 | 2018-06-07 | キヤノン株式会社 | Processing device, processing system, and article production method |
CN114040267A (en) * | 2017-07-14 | 2022-02-11 | 大金工业株式会社 | Control system and information processing apparatus |
JP6625098B2 (en) * | 2017-07-20 | 2019-12-25 | 株式会社Kokusai Electric | Substrate processing system, semiconductor device manufacturing method and program |
JP6934407B2 (en) * | 2017-11-27 | 2021-09-15 | 株式会社ディスコ | Processing equipment |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009260251A (en) | 2008-03-18 | 2009-11-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate processing apparatus, and substrate processing system |
JP2010165831A (en) | 2009-01-15 | 2010-07-29 | Canon Inc | Device-manufacturing apparatus, control method of the device-manufacturing apparatus, and device-manufacturing method |
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