JP7434150B2 - 磁性体検査装置および磁性体検査方法 - Google Patents
磁性体検査装置および磁性体検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7434150B2 JP7434150B2 JP2020519573A JP2020519573A JP7434150B2 JP 7434150 B2 JP7434150 B2 JP 7434150B2 JP 2020519573 A JP2020519573 A JP 2020519573A JP 2020519573 A JP2020519573 A JP 2020519573A JP 7434150 B2 JP7434150 B2 JP 7434150B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- magnetic
- detection
- steel wire
- wire rope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 91
- 239000000126 substance Substances 0.000 title claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 287
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 169
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 132
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 77
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 56
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 40
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 14
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 claims 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 262
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 262
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 28
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 18
- 230000005347 demagnetization Effects 0.000 description 8
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000004154 testing of material Methods 0.000 description 4
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009954 braiding Methods 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 2
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000010865 sewage Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- -1 utility poles Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
まず、図1~図9を参照して、第1実施形態による磁性体検査装置100の構成について説明する。第1実施形態では、移動型X線撮影装置(回診車)900に内蔵されているスチールワイヤロープWを検査するために磁性体検査装置100が用いられる例について説明する。
次に、図2~図4を参照して、第1実施形態における磁性体検査装置100の構成について説明する。
次に、図5を参照して、第1実施形態における磁界印加部1が、スチールワイヤロープWの磁化の大きさと向きとを整える構成について説明する。図5(A)は、磁性体検査装置100をZ方向から見た模式図である。図5(B)は、磁界印加部1(第1磁界印加部1a)付近を拡大した模式図である。
次に、図6~図9を参照して、第1実施形態における検知部2および電子回路部3がスチールワイヤロープWの状態を検査する構成について説明する。
ここで、磁界印加部1が設けられていないことを除いて同様に構成されている第1比較例による磁性体検査装置と比較しながら、磁性体検査装置100の磁界印加部1による磁化について説明する。なお、第1比較例と本実施形態との比較は、整磁を行うか否かの比較である。
次に、図10を参照して、第1実施形態による磁性体検査装置100がスチールワイヤロープWの検査を行う処理の流れについて説明する。
ここで、図11および図12を参照して、磁界印加部40(図11参照)の磁石41(図11参照)がスチールワイヤロープWの長軸方向に沿って1つ設けられている第2比較例による磁性体検査装置によるスチールワイヤロープWの整磁と、本実施形態における磁性体検査装置100の磁界印加部1によるスチールワイヤロープWの整磁とについて説明する。図11(A)は、本実施形態における磁界印加部1の磁石11の配置を示している。図11(A)に示す構成では、スチールワイヤロープWは、整磁領域15a、磁界を打ち消す領域14、整磁領域15b、検知部2の順に通過する。スチールワイヤロープWが磁石11から受ける磁界は、磁界を打ち消す領域14の前後で、X1方向からX2方向へ反転する。図11(B)は、第2比較例の磁界印加部40の磁石41の配置を示している。図11(B)に示す構成では、磁石41から放出される磁界の磁力線に沿って、スチールワイヤロープWが受ける磁界の向きはわずかに変化するものの、スチールワイヤロープWに沿う方向(X方向)の磁界の向きはおおむね変化しない。すなわち、図11(B)に示す構成では、磁石41の前後において、スチールワイヤロープWに印加する磁界の向きは反転しない。また、磁界を打ち消す領域14は存在しない。
(第1実施形態の効果)
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
次に、図2および図13を参照して、第2実施形態による磁性体検査装置200(図2参照)の構成について説明する。第2実施形態による磁性体検査装置200は、第1実施形態とは異なり、励振コイル21に供給される励振電流が時間変化しない直流電流である。
第2実施形態では、上記のように、検知部202は、スチールワイヤロープWを検知部2に対してX方向に略一定となる定速度で相対移動させることにより検知部202の検知位置におけるスチールワイヤロープWのX方向の磁界の変化を検知するように構成されている。これにより、スチールワイヤロープWの検知部202に磁界を検知される部分が相対移動に伴って変化するので、傷等のある部分とない部分との比較により、容易に傷等を検知することができる。また、定速度で相対移動させることによって、傷等のない位置では検知信号が略一定となり、傷等のある位置では異なる検知信号が出力されるため、スチールワイヤロープWの傷等の状態の判定が容易となる。
次に、図2、図14および図15を参照して、参考例による磁性体検査装置300(図3参照)の構成について説明する。参考例による磁性体検査装置300は、第1実施形態とは異なり、スチールワイヤロープWの磁界を検知する磁気センサ素子23が設けられている。
参考例では、上記のように、磁界印加部1によりX方向に磁界が印加された後のスチールワイヤロープWに対して、磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープWの磁界に基づく検知信号を出力する検知部202を設ける。これによっても、磁化の大きさおよび方向のバラツキが低減した状態で検知が行われるため、スチールワイヤロープWの状態(傷等の有無)の判定を容易に行うことができる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
1a 第1磁界印加部
1b 第2磁界印加部
2、202、203 検知部
3、302、303 電子回路部(判定部)
14y ヨーク部(磁界印加部)
21、21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g、21h、210 励振コイル
22、22a、22b、22c、22d、22e、22f、22g、22h、22i、22j、22k、220、221 検知コイル
100、200、300 磁性体検査装置
900 移動型X線撮影装置(X線撮影装置)
901 据え置き型X線照射装置(X線撮影装置)
902 スタンド型X線照射装置(X線撮影装置)
903 スタンド型X線検出装置(X線撮影装置)
E1、E11、E12 X線照射部
E2、E23 X線検出部
M 所定の回数
Pf、Pf1、Pf2 磁極面
Th 所定の閾値
Th1 所定の第1閾値
Th2 所定の第2閾値
X方向 磁性体の延びる方向、長尺材の延びる方向、長尺材が延びる方向
W スチールワイヤロープ(磁性体、長尺材、ワイヤ)
Claims (16)
- 検査対象であり長尺材からなる磁性体に対して予め磁界を印加し前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整える磁界印加部と、
前記磁界印加部により磁界が印加された後に、前記磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部とを備え、
前記磁界印加部は、前記磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含み、
前記磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石は、前記磁性体に対して互いに磁界を打ち消す領域を生じさせるとともに、前記磁界を打ち消す領域の前後に、前記磁性体に磁界を印加して前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整える整磁領域を生じさせるように構成され、
前記検知部は、前記磁性体を中心として前記磁性体を取り囲み、前記磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられ、一方の前記整磁領域、前記磁界を打ち消す領域、他方の前記整磁領域を順に通過した後の前記磁性体について前記検知信号を発生する検知コイルを含む、磁性体検査装置。 - 前記磁界印加部は、前記整磁領域において、前記磁界を打ち消す領域を挟んで、前記磁性体に印加する磁界の向きを反転させるように構成されている、請求項1に記載の磁性体検査装置。
- 前記磁石は、前記磁性体を挟むように1対設けられており、
1対の前記磁石は、主として、前記長尺材に対して、前記長尺材の延びる方向に沿う向きに磁界を印加するように構成されている、請求項1に記載の磁性体検査装置。 - 1対の前記磁石は、それぞれの前記磁石の一方の同極の磁極面同士は対向せずに、他方の同極の磁極面同士が対向するように配置されている、請求項3に記載の磁性体検査装置。
- 前記磁界印加部は、前記検知部に対して前記長尺材が延びる方向に所定距離離間した位置に設けられている、請求項2に記載の磁性体検査装置。
- 前記検知コイルは、前記磁性体の延びる方向の磁界の変化を検知して前記検知信号を発生する、請求項2に記載の磁性体検査装置。
- 前記検知コイルは、差動コイルを含むとともに、前記磁性体の延びる方向の磁界により前記差動コイルに含まれる2つのコイル部分により発生する各々の前記検知信号を出力するように構成されている、請求項6に記載の磁性体検査装置。
- 前記検知部により出力された前記検知信号に基づいて、前記磁性体の状態の判定を行う判定部をさらに備え、
前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号が1つまたは複数の所定の閾値を超えた場合に、前記検知信号が前記1つまたは複数の所定の閾値を超えたことを示す1つまたは複数の閾値信号を外部に出力するように構成されている、請求項1に記載の磁性体検査装置。 - 前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号が前記1つまたは複数の所定の閾値を超えた回数を各々カウントするとともに、カウントされた各々の回数が所定の回数を超えた場合に、カウントされた回数が前記所定の回数を超えたことを示す信号を外部に出力するように構成されている、請求項8に記載の磁性体検査装置。
- 前記検知部は、前記磁性体の磁化の状態を励振するための励振コイルをさらに含むとともに、前記励振コイルに流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振された前記磁性体の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成されている、請求項1に記載の磁性体検査装置。
- 前記磁界印加部によって前記磁性体に印加される磁界は、前記励振コイルが前記磁性体の磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きい、請求項10に記載の磁性体検査装置。
- 前記検知部は、前記磁性体を前記検知部に対して前記磁性体の延びる方向に相対移動させることにより前記検知部の検知位置における前記磁性体の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成されている、請求項1に記載の磁性体検査装置。
- 前記磁性体は、被検体に対して相対的に移動可能となるようにX線撮影装置に設けられる、前記被検体にX線を照射するX線照射部または前記被検体を透過したX線を検出するX線検出部の少なくともいずれか一方を移動させるためのワイヤを含み、
前記検知部は、前記ワイヤの延びる方向の磁界を検知するように構成されている、請求項1に記載の磁性体検査装置。 - 前記磁界印加部は、前記磁性体の延びる方向において、前記検知部の一方側に設けられた第1磁界印加部と、他方側に設けられた第2磁界印加部とを含み、
前記第1磁界印加部と前記第2磁界印加部とは、前記磁性体が延びる方向において、各々が個別に設けられている、請求項1に記載の磁性体検査装置。 - 検査対象であり長尺材からなる磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含む磁界印加部によって、前記磁性体に対して予め磁界を印加し前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整えるステップと、
磁界を印加した後に、前記磁性体の磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知した前記磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するステップとを備え、
前記磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石は、前記磁性体に対して互いに磁界を打ち消す領域を生じさせるとともに、前記磁界を打ち消す領域の前後に、前記磁性体に磁界を印加して前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整える整磁領域を生じさせるように構成され、
前記検知信号を出力するステップにおいて、前記磁性体を中心として前記磁性体を取り囲み、前記磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられた検知コイルによって発生する、一方の前記整磁領域、前記磁界を打ち消す領域、他方の前記整磁領域を順に通過した後の前記磁性体についての前記検知信号を出力する、磁性体検査方法。 - 前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整えるステップにおいて、前記磁界印加部に含まれるとともに、前記磁界印加部により磁界が印加された前記磁性体の磁界または磁界の変化に基づく前記検知信号を出力する検知部に対して、前記磁性体が延びる方向における一方側と他方側とにおいて、各々が個別に設けられた第1磁界印加部と、第2磁界印加部とによって、前記磁性体に対して磁界が印加される、請求項15に記載の磁性体検査方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018093812 | 2018-05-15 | ||
JP2018093812 | 2018-05-15 | ||
PCT/JP2019/018273 WO2019220953A1 (ja) | 2018-05-15 | 2019-05-07 | 磁性体検査装置および磁性体検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019220953A1 JPWO2019220953A1 (ja) | 2021-04-22 |
JP7434150B2 true JP7434150B2 (ja) | 2024-02-20 |
Family
ID=68540253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020519573A Active JP7434150B2 (ja) | 2018-05-15 | 2019-05-07 | 磁性体検査装置および磁性体検査方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11391697B2 (ja) |
EP (1) | EP3795992A4 (ja) |
JP (1) | JP7434150B2 (ja) |
CN (1) | CN112119301B (ja) |
WO (1) | WO2019220953A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11674927B2 (en) * | 2020-01-28 | 2023-06-13 | Tex Riken Co., Ltd. | Eddy current flaw detection apparatus |
US11493574B2 (en) * | 2020-08-17 | 2022-11-08 | Shimadzu Corporation | Magnetic material inspection device |
JP7405046B2 (ja) | 2020-09-10 | 2023-12-26 | 株式会社島津製作所 | 磁性体検査装置および磁性体整磁装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2733088B2 (ja) | 1989-03-30 | 1998-03-30 | 石川島建機株式会社 | 鋼索の磁気探傷装置 |
JP2000351575A (ja) | 1999-06-08 | 2000-12-19 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | ワイヤロープ断線検出装置 |
JP2005248405A (ja) | 2004-03-08 | 2005-09-15 | Hitachi Ltd | ワイヤロープ及びこれを用いた昇降装置 |
JP2012103177A (ja) | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | ワイヤロープ探傷装置 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5321356A (en) | 1992-05-26 | 1994-06-14 | Ndt Technologies, Inc. | Magnetic inspection device for elongated objects and inspection method |
JP2556957Y2 (ja) * | 1993-04-13 | 1997-12-08 | 東京製綱株式会社 | ワイヤロープの損傷検出器 |
JP4177921B2 (ja) | 1998-07-09 | 2008-11-05 | 株式会社日立メディコ | 移動形x線装置 |
RU2204129C2 (ru) | 1999-12-17 | 2003-05-10 | Общество с ограниченной ответственностью "Интрон Плюс" | Способ неразрушающего контроля площади поперечного сечения и обнаружения локальных дефектов протяженных ферромагнитных объектов и устройство для его осуществления |
JP2001214456A (ja) * | 2000-02-01 | 2001-08-07 | Ishiyama:Kk | 型枠形成方法 |
JP2003035738A (ja) * | 2001-07-19 | 2003-02-07 | Omron Corp | 部品実装基板の検査方法および部品実装基板用の検査装置 |
JP3888427B2 (ja) * | 2001-10-30 | 2007-03-07 | 学校法人日本大学 | 変位センサ |
JP3719421B2 (ja) | 2002-04-09 | 2005-11-24 | ダイワスチール株式会社 | 有節長尺材の渦流探傷方法 |
JP4066716B2 (ja) * | 2002-05-28 | 2008-03-26 | アイシン精機株式会社 | 位置検出センサ |
JP4432476B2 (ja) * | 2003-12-02 | 2010-03-17 | 株式会社Ihi | ワイヤロープ断線検出装置 |
JP4698174B2 (ja) | 2004-06-29 | 2011-06-08 | 東京電力株式会社 | 鋼管内面劣化検知方法およびその装置 |
DE102005010489B4 (de) * | 2005-03-04 | 2007-02-01 | Siemens Ag | Spulensystem zur berührungsfreien magnetischen Navigation eines magnetischen Körpers in einem in einem Arbeitsraum befindlichen Patienten |
JP2007191027A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Bridgestone Corp | インホイールモータシステム |
JP5219650B2 (ja) | 2008-06-26 | 2013-06-26 | 東京製綱株式会社 | ワイヤロープ損傷検出器 |
US9103798B2 (en) * | 2011-12-07 | 2015-08-11 | Ndt Technologies, Inc. | Magnetic inspection device and method |
JPWO2014016978A1 (ja) | 2012-07-27 | 2016-07-07 | 東京製綱株式会社 | 損傷検出装置 |
JP6289732B2 (ja) * | 2015-03-11 | 2018-03-07 | 三菱電機株式会社 | ロープ損傷診断検査装置およびロープ損傷診断検査方法 |
DE102015013022A1 (de) * | 2015-10-09 | 2017-04-13 | Micronas Gmbh | Magnetfeldmessvorrichtung |
JP6791270B2 (ja) | 2017-01-26 | 2020-11-25 | 株式会社島津製作所 | 磁性体の検査装置および磁性体の検査方法 |
JP6805986B2 (ja) | 2017-07-10 | 2020-12-23 | 株式会社島津製作所 | 磁性体の検査装置 |
-
2019
- 2019-05-07 WO PCT/JP2019/018273 patent/WO2019220953A1/ja unknown
- 2019-05-07 JP JP2020519573A patent/JP7434150B2/ja active Active
- 2019-05-07 EP EP19802500.9A patent/EP3795992A4/en active Pending
- 2019-05-07 US US17/055,070 patent/US11391697B2/en active Active
- 2019-05-07 CN CN201980032544.7A patent/CN112119301B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2733088B2 (ja) | 1989-03-30 | 1998-03-30 | 石川島建機株式会社 | 鋼索の磁気探傷装置 |
JP2000351575A (ja) | 1999-06-08 | 2000-12-19 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | ワイヤロープ断線検出装置 |
JP2005248405A (ja) | 2004-03-08 | 2005-09-15 | Hitachi Ltd | ワイヤロープ及びこれを用いた昇降装置 |
JP2012103177A (ja) | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | ワイヤロープ探傷装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
守谷敏之,他1名,全磁束法によるワイヤロープ・鋼構造物の健全性診断,メインテナンス,1998年,No.219,pp.65-69 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112119301B (zh) | 2024-04-26 |
EP3795992A1 (en) | 2021-03-24 |
US11391697B2 (en) | 2022-07-19 |
US20210215639A1 (en) | 2021-07-15 |
CN112119301A (zh) | 2020-12-22 |
EP3795992A4 (en) | 2022-02-23 |
WO2019220953A1 (ja) | 2019-11-21 |
JPWO2019220953A1 (ja) | 2021-04-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2018138850A1 (ja) | 磁性体の検査装置および磁性体の検査方法 | |
US11485609B2 (en) | Magnetic body inspection device | |
JP7434150B2 (ja) | 磁性体検査装置および磁性体検査方法 | |
JP7119788B2 (ja) | 磁性体の検査装置 | |
WO2019150539A1 (ja) | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 | |
WO2015194629A1 (ja) | 非破壊検査装置 | |
KR20180030537A (ko) | 결함 측정 방법, 결함 측정 장치 및 검사 프로브 | |
JP3734822B1 (ja) | 非破壊検査方法 | |
WO1992014145A1 (fr) | Procede d'inspection magnetique et dispositif prevu a cet effet | |
JP2010048552A (ja) | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 | |
JP2010014659A (ja) | ワイヤーロープの探傷装置 | |
JP7027927B2 (ja) | 磁性体検査装置 | |
KR102267712B1 (ko) | 와이어로프 결함 검사장치 | |
JP7405046B2 (ja) | 磁性体検査装置および磁性体整磁装置 | |
JP2013185951A (ja) | 電磁気探傷用プローブ | |
JP2020038072A (ja) | 磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法 | |
JP2016197085A (ja) | 磁気探傷方法 | |
JP2016065813A (ja) | 磁気センサアレイ校正方法および磁気センサアレイ校正装置 | |
JP2020134345A (ja) | ワイヤロープの検査方法および検査システム | |
JP2013185952A (ja) | 電磁気探傷用プローブ | |
JP2016008846A (ja) | 棒状磁性体の検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201020 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201020 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220114 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220517 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220714 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20221101 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230201 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20230201 |
|
C11 | Written invitation by the commissioner to file amendments |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C11 Effective date: 20230214 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20230315 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20230322 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20230512 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240207 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7434150 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |