JP7402060B2 - tire - Google Patents

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JP7402060B2 JP2020004565A JP2020004565A JP7402060B2 JP 7402060 B2 JP7402060 B2 JP 7402060B2 JP 2020004565 A JP2020004565 A JP 2020004565A JP 2020004565 A JP2020004565 A JP 2020004565A JP 7402060 B2 JP7402060 B2 JP 7402060B2
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    • B60C19/00Tyre parts or constructions not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L5/00Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes

Description

本発明は、センサを備えたタイヤに関する。 The present invention relates to a tire equipped with a sensor.

自動車等のタイヤの空気圧は気温で変化し、タイヤが暖まった状態では膨張して空気圧が高くなり、下がったときには逆に低くなるため、リアルタイムでの空気圧の測定は困難である。又、タイヤの空気圧は一般に空気圧ゲージを使用した測定となるため、時間を要したり手間のかかる作業となり問題となる。 The air pressure in automobile tires changes depending on the temperature; when the tire is warm, it expands and the air pressure increases, and when it drops, it decreases, so it is difficult to measure the air pressure in real time. Furthermore, tire air pressure is generally measured using an air pressure gauge, which is a time-consuming and labor-intensive process, which poses a problem.

走行中でも空気圧がチェックできる空気圧センサ付きバルブ等も知られているが、バルブの配置された特定箇所の圧力のみの検出となるため、タイヤ全体にかかる圧力分布を把握することは困難である。 There are also valves equipped with air pressure sensors that allow you to check the air pressure even while driving, but this only detects the pressure at a specific location where the valve is located, making it difficult to understand the pressure distribution across the entire tire.

自動車等のタイヤは、コーナーでスピードを出し過ぎた場合や、空気圧不良等の異常がある場合に片減りが発生する。タイヤが片減りを起こしたまま走行すると、タイヤがバースト(破裂)するおそれや、ハンドルがとられて事故を起こすおそれがあり大変危険である。 Tires on automobiles and other vehicles tend to wear out on one side when they drive too fast around a corner or when there is an abnormality such as poor air pressure. Driving with tires worn out on one side is extremely dangerous as there is a risk of the tires bursting or the steering wheel may come loose and cause an accident.

以上のような点から、タイヤにかかる圧力分布を測定することは、自動車等が安全に走行する上で極めて重要である。そのため、例えば、変形検出素子をタイヤの内表面、タイヤの外表面、タイヤの補強層に取り付けることで、タイヤの変形状態を測定する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 From the above points, it is extremely important to measure the pressure distribution applied to tires for safe driving of automobiles and the like. Therefore, for example, a method has been proposed in which the deformation state of a tire is measured by attaching a deformation detection element to the inner surface of the tire, the outer surface of the tire, or the reinforcing layer of the tire (see, for example, Patent Document 1).

特開2008-249567号公報Japanese Patent Application Publication No. 2008-249567

しかしながら、従来の測定方法では、タイヤの部分的な変形状態しか検出できず、タイヤにかかる圧力分布を測定することは困難であった。 However, conventional measurement methods can only detect a partial deformation state of a tire, making it difficult to measure the pressure distribution applied to the tire.

本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、圧力分布を測定できるセンサを搭載したタイヤを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a tire equipped with a sensor capable of measuring pressure distribution.

本タイヤは、移動体用のタイヤであって、前記タイヤの内側にセンサが設けられ、前記センサは、絶縁層と、前記絶縁層の一方の側に長手方向を第1方向に向けて並置された複数の第1抵抗部と、前記絶縁層の他方の側に長手方向を前記第1方向と交差する第2方向に向けて並置された複数の第2抵抗部と、各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部の両端部に設けられた1対の電極と、を有し、各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部は、前記1対の電極の間に形成されたジグザグのパターンであり、各々の前記第1抵抗部と各々の前記第2抵抗部とは、平面視で1点のみで交差し、前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部は、α-Crを主成分とするCr、CrN、及びCr Nを含む膜から形成され、前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部に含まれるCrN及びCr Nの割合は、20重量%以下であり、前記CrN及び前記Cr N中の前記Cr Nの割合は、80重量%以上90重量%未満であり、前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部が押圧されると、押圧された前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部の前記1対の電極間の抵抗値が加わる圧力の大きさに応じて連続的に変化する。
The present tire is a tire for a mobile object, and includes a sensor provided inside the tire, and the sensor is juxtaposed with an insulating layer on one side of the insulating layer with its longitudinal direction facing a first direction. a plurality of first resistor parts, a plurality of second resistor parts juxtaposed on the other side of the insulating layer with the longitudinal direction facing a second direction intersecting the first direction, and each of the first resistor parts. and a pair of electrodes provided at both ends of each of the second resistance parts, and each of the first resistance parts and each of the second resistance parts has an electrode between the pair of electrodes. , each of the first resistance parts and each of the second resistance parts intersect at only one point in a plan view, and the first resistance part and the second resistance part intersect at only one point. , formed from a film containing Cr containing α-Cr as a main component, CrN, and Cr 2 N, and the proportion of CrN and Cr 2 N contained in the first resistance part and the second resistance part is 20% by weight. or less, the proportion of the Cr 2 N in the CrN and the Cr 2 N is 80% by weight or more and less than 90% by weight, and when the first resistance part and/or the second resistance part is pressed, The resistance value between the pair of electrodes of the pressed first resistance section and/or second resistance section continuously changes depending on the magnitude of the applied pressure.

開示の技術によれば、圧力分布を測定できるセンサを搭載したタイヤを提供できる。 According to the disclosed technology, it is possible to provide a tire equipped with a sensor that can measure pressure distribution.

第1実施形態に係るタイヤを例示する断面図(その1)である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a cross-sectional view (part 1) illustrating a tire according to a first embodiment. 第1実施形態に係るタイヤを例示する断面図(その2)である。FIG. 2 is a cross-sectional view (Part 2) illustrating the tire according to the first embodiment. 第1実施形態に係るセンサを例示する平面図である。FIG. 1 is a plan view illustrating a sensor according to a first embodiment. 第1実施形態に係るセンサを例示する断面図(その1)である。FIG. 2 is a cross-sectional view (part 1) illustrating the sensor according to the first embodiment. 第1実施形態に係るセンサを例示する断面図(その2)である。FIG. 2 is a cross-sectional view (part 2) illustrating the sensor according to the first embodiment. 第1実施形態に係る圧力分布検出装置を例示するブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating a pressure distribution detection device according to a first embodiment. 第1実施形態に係る圧力分布検出装置の制御装置を例示するブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a control device for the pressure distribution detection device according to the first embodiment. 第1実施形態の変形例1に係るセンサを例示する断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a sensor according to modification example 1 of the first embodiment. 第1実施形態の変形例2に係るセンサを例示する断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a sensor according to a second modification of the first embodiment. 第1実施形態の変形例3に係るセンサを例示する平面図である。FIG. 7 is a plan view illustrating a sensor according to modification 3 of the first embodiment.

以下、図面を参照して発明を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。 Hereinafter, embodiments for carrying out the invention will be described with reference to the drawings. In each drawing, the same components are given the same reference numerals, and redundant explanations may be omitted.

〈第1実施形態〉
図1は、第1実施形態に係るタイヤを例示する断面図(その1)であり、タイヤを幅方向に切断した断面を示している。図2は、第1実施形態に係るタイヤを例示する断面図(その2)であり、タイヤを幅方向の中央で幅方向に垂直な方向に切断した断面を示している。なお、図2は、図1とは縮尺が異なり、又、図1に示した構成要素の一部が省略されている。
<First embodiment>
FIG. 1 is a sectional view (Part 1) illustrating a tire according to a first embodiment, and shows a cross section of the tire taken in the width direction. FIG. 2 is a cross-sectional view (Part 2) illustrating the tire according to the first embodiment, and shows a cross section of the tire cut at the center of the width direction in a direction perpendicular to the width direction. Note that the scale of FIG. 2 is different from that of FIG. 1, and some of the components shown in FIG. 1 are omitted.

図1及び図2に示すように、タイヤ100は、トレッド部110と、左右のサイドウォール部120と、左右のビード部130とを有している。トレッド部110は、タイヤ100の路面に接する部分である。サイドウォール部120は、タイヤ100の側面となる部分である。ビード部130は、タイヤ100をホイールのリムに固定する部分である。 As shown in FIGS. 1 and 2, the tire 100 includes a tread portion 110, left and right sidewall portions 120, and left and right bead portions 130. The tread portion 110 is a portion of the tire 100 that comes into contact with the road surface. The sidewall portion 120 is a portion that becomes the side surface of the tire 100. The bead portion 130 is a portion that fixes the tire 100 to the rim of the wheel.

タイヤ100の内側には、インナーライナー140が設けられている。インナーライナー140は、例えば、ゴムで形成された層である。インナーライナー140の外側には、トレッド部110と左右のサイドウォール部120とを通って左右のビード部130間に伸びるカーカス150が設けられている。カーカス150は、例えば、繊維やスチールをゴムで被覆した層である。カーカス150の両端部は、ビードコア160及びビードフィラー170を挟み込むようにして折り返されている。トレッド部110のカーカス150の外周側には、複数のベルト180が設けられている。 An inner liner 140 is provided inside the tire 100. Inner liner 140 is, for example, a layer made of rubber. A carcass 150 is provided on the outside of the inner liner 140 and extends between the left and right bead portions 130 through the tread portion 110 and the left and right sidewall portions 120. The carcass 150 is, for example, a layer of fiber or steel coated with rubber. Both ends of the carcass 150 are folded back to sandwich the bead core 160 and bead filler 170. A plurality of belts 180 are provided on the outer peripheral side of the carcass 150 of the tread portion 110.

インナーライナー140の内周側(タイヤ100の中心に近い側)には、センサ1が貼り付けられている。センサ1は、インナーライナー140の内周側の幅方向の全体及び周方向の全体に貼り付けられていることが好ましい。なお、センサ1をインナーライナー140の内周側に貼り付けることに代えて、タイヤ100の最外周(路面に接する面)よりも内側に位置する何れかの部分に埋め込んでもよい。例えば、センサ1をインナーライナー140に埋め込んでもよい。 The sensor 1 is attached to the inner peripheral side of the inner liner 140 (the side closer to the center of the tire 100). The sensor 1 is preferably attached to the entire inner liner 140 in the width direction and circumferential direction. Note that instead of attaching the sensor 1 to the inner circumferential side of the inner liner 140, it may be embedded in any part of the tire 100 located inside the outermost circumference (the surface in contact with the road surface). For example, the sensor 1 may be embedded in the inner liner 140.

センサ1は、タイヤ100が自動車等の移動体に装着されているときに、タイヤ100にかかる圧力分布を検出するために設けられている。タイヤ100にかかる圧力には、タイヤ100の外部からの圧力(路面からの圧力)やタイヤ100の内部からの圧力(空気圧)があるが、センサ1は、これらを合成した圧力の分布を検出できる。なお、移動体とは、例えば、自動車、自動二輪車、ロボット等のタイヤ100を装着して移動可能な物体を指す。 The sensor 1 is provided to detect the pressure distribution applied to the tire 100 when the tire 100 is mounted on a moving object such as an automobile. The pressure applied to the tire 100 includes pressure from the outside of the tire 100 (pressure from the road surface) and pressure from the inside of the tire 100 (air pressure), and the sensor 1 can detect the distribution of the combined pressure. . Note that a moving object refers to an object that can be moved by being equipped with tires 100, such as a car, a motorcycle, or a robot, for example.

図3は、第1実施形態に係るセンサを例示する平面図である。図4は、第1実施形態に係るセンサを例示する断面図であり、図3のA-A線に沿う断面を示している。 FIG. 3 is a plan view illustrating the sensor according to the first embodiment. FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating the sensor according to the first embodiment, and shows a cross section taken along line AA in FIG.

図3及び図4は、センサ1がタイヤ100に配置される前の状態を示している。又、X方向はタイヤ100の幅方向に相当し、Y方向はタイヤ100の周方向に相当し、Z方向はタイヤ100の半径方向に相当する。 3 and 4 show the state before the sensor 1 is placed on the tire 100. Further, the X direction corresponds to the width direction of the tire 100, the Y direction corresponds to the circumferential direction of the tire 100, and the Z direction corresponds to the radial direction of the tire 100.

図3及び図4を参照すると、センサ1は、基材10と、抵抗体30(複数の抵抗部31及び32)と、複数の端子部41及び42とを有している。センサ1は、並置された複数の抵抗部31及び32の長手方向(Y方向)をタイヤ100の周方向に向けてタイヤ100に配置される。ここでは、センサ1の抵抗部31側がインナーライナー140側を向くように配置されるものとする。 Referring to FIGS. 3 and 4, the sensor 1 includes a base material 10, a resistor 30 (a plurality of resistance parts 31 and 32), and a plurality of terminal parts 41 and 42. The sensor 1 is arranged on the tire 100 so that the longitudinal direction (Y direction) of the plurality of resistance parts 31 and 32 arranged in parallel is directed toward the circumferential direction of the tire 100. Here, it is assumed that the sensor 1 is arranged so that the resistance portion 31 side faces the inner liner 140 side.

なお、本実施形態では、便宜上、センサ1において、基材10の抵抗部31が設けられている側を上側又は一方の側、抵抗部32が設けられている側を下側又は他方の側とする。又、各部位の抵抗部31が設けられている側の面を一方の面又は上面、抵抗部32が設けられている側の面を他方の面又は下面とする。但し、センサ1は天地逆の状態で用いることができ、又は任意の角度で配置することができる。又、平面視とは対象物を基材10の上面10aの法線方向から視ることを指し、平面形状とは対象物を基材10の上面10aの法線方向から視た形状を指すものとする。 In this embodiment, for convenience, in the sensor 1, the side of the base material 10 on which the resistance part 31 is provided is referred to as the upper side or one side, and the side on which the resistance part 32 is provided is referred to as the lower side or the other side. do. Further, the surface on the side where the resistance section 31 of each part is provided is defined as one surface or the top surface, and the surface on the side where the resistance section 32 is provided is defined as the other surface or bottom surface. However, the sensor 1 can be used upside down or placed at any angle. In addition, plan view refers to the object viewed from the normal direction of the upper surface 10a of the base material 10, and planar shape refers to the shape of the object viewed from the normal direction to the upper surface 10a of the base material 10. shall be.

基材10は、抵抗体30等を形成するためのベース層となる絶縁性の部材であり、可撓性を有する。基材10の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、5μm~500μm程度とすることができる。特に、基材10の厚さが5μm~200μmであると、抵抗部31及び32のひずみ感度誤差を少なくできる点で好ましい。 The base material 10 is an insulating member that serves as a base layer for forming the resistor 30 and the like, and has flexibility. The thickness of the base material 10 is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, and may be, for example, about 5 μm to 500 μm. In particular, it is preferable that the thickness of the base material 10 is 5 μm to 200 μm, since the strain sensitivity error of the resistive parts 31 and 32 can be reduced.

基材10は、例えば、PI(ポリイミド)樹脂、エポキシ樹脂、PEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂、PEN(ポリエチレンナフタレート)樹脂、PET(ポリエチレンテレフタレート)樹脂、PPS(ポリフェニレンサルファイド)樹脂、ポリオレフィン樹脂等の絶縁樹脂フィルムから形成できる。なお、フィルムとは、厚さが500μm以下程度であり、可撓性を有する部材を指す。 The base material 10 is made of, for example, PI (polyimide) resin, epoxy resin, PEEK (polyetheretherketone) resin, PEN (polyethylene naphthalate) resin, PET (polyethylene terephthalate) resin, PPS (polyphenylene sulfide) resin, polyolefin resin, etc. It can be formed from an insulating resin film. Note that the film refers to a member having a thickness of about 500 μm or less and having flexibility.

ここで、『絶縁樹脂フィルムから形成する』とは、基材10が絶縁樹脂フィルム中にフィラーや不純物等を含有することを妨げるものではない。基材10は、例えば、シリカやアルミナ等のフィラーを含有する絶縁樹脂フィルムから形成しても構わない。 Here, "formed from an insulating resin film" does not prevent the base material 10 from containing fillers, impurities, etc. in the insulating resin film. The base material 10 may be formed, for example, from an insulating resin film containing filler such as silica or alumina.

基材10の樹脂以外の材料としては、例えば、SiO、ZrO(YSZも含む)、Si、Si、Al(サファイヤも含む)、ZnO、ペロブスカイト系セラミックス(CaTiO、BaTiO)等の結晶性材料が挙げられ、更に、それ以外に非晶質のガラス等が挙げられる。又、基材10の材料として、アルミニウム、アルミニウム合金(ジュラルミン)、チタン等の金属を用いてもよい。この場合、金属製の基材10上に、例えば、絶縁膜が形成される。 Examples of materials other than resin for the base material 10 include SiO 2 , ZrO 2 (including YSZ), Si, Si 2 N 3 , Al 2 O 3 (including sapphire), ZnO, perovskite ceramics (CaTiO 3 , Examples include crystalline materials such as BaTiO 3 ), and further examples include amorphous glass. Further, as the material of the base material 10, metals such as aluminum, aluminum alloy (duralumin), titanium, etc. may be used. In this case, for example, an insulating film is formed on the metal base material 10.

抵抗体30は、基材10上に形成されており、加わる圧力に応じて連続的に抵抗値が変化する受感部である。抵抗体30は、基材10の上面10a及び下面10bに直接形成されてもよいし、基材10の上面10a及び下面10bに他の層を介して形成されてもよい。 The resistor 30 is formed on the base material 10 and is a sensing portion whose resistance value changes continuously according to applied pressure. The resistor 30 may be formed directly on the upper surface 10a and the lower surface 10b of the base material 10, or may be formed on the upper surface 10a and the lower surface 10b of the base material 10 via another layer.

抵抗体30は、基材10を介して積層された複数の抵抗部31及び32を含んでいる。すなわち、抵抗体30は、複数の抵抗部31及び32の総称であり、抵抗部31及び32を特に区別する必要がない場合には抵抗体30と称する。なお、図3では、便宜上、抵抗部31及び32を梨地模様で示している。 The resistor 30 includes a plurality of resistor parts 31 and 32 stacked together with the base material 10 in between. That is, the resistor 30 is a general term for the plurality of resistors 31 and 32, and is referred to as the resistor 30 when there is no need to particularly distinguish between the resistors 31 and 32. In addition, in FIG. 3, the resistance parts 31 and 32 are shown in a satin pattern for convenience.

複数の抵抗部31は、基材10の上面10aに、長手方向をX方向に向けて所定間隔でY方向に並置された薄膜である。複数の抵抗部32は、基材10の下面10bに、長手方向をY方向に向けて所定間隔でX方向に並置された薄膜である。 The plurality of resistance parts 31 are thin films arranged on the upper surface 10a of the base material 10 in the Y direction at predetermined intervals with the longitudinal direction facing the X direction. The plurality of resistance parts 32 are thin films arranged on the lower surface 10b of the base material 10 in the X direction at predetermined intervals with the longitudinal direction facing the Y direction.

なお、本実施形態では、複数の抵抗部31と複数の抵抗部32とは平面視で直交しているが、これには限定されない。すなわち、複数の抵抗部31と複数の抵抗部32とは平面視で直交している必要はなく、交差していればよい。 Note that in this embodiment, the plurality of resistance sections 31 and the plurality of resistance sections 32 are orthogonal to each other in plan view, but the present invention is not limited to this. That is, the plurality of resistance parts 31 and the plurality of resistance parts 32 do not need to be perpendicular to each other in plan view, but only need to intersect with each other.

抵抗体30は、例えば、Cr(クロム)を含む材料、Ni(ニッケル)を含む材料、又はCrとNiの両方を含む材料から形成できる。すなわち、抵抗体30は、CrとNiの少なくとも一方を含む材料から形成できる。Crを含む材料としては、例えば、Cr混相膜が挙げられる。Niを含む材料としては、例えば、Cu-Ni(銅ニッケル)が挙げられる。CrとNiの両方を含む材料としては、例えば、Ni-Cr(ニッケルクロム)が挙げられる。 The resistor 30 can be formed of, for example, a material containing Cr (chromium), a material containing Ni (nickel), or a material containing both Cr and Ni. That is, the resistor 30 can be formed from a material containing at least one of Cr and Ni. Examples of materials containing Cr include a Cr mixed phase film. Examples of materials containing Ni include Cu--Ni (copper nickel). An example of a material containing both Cr and Ni is Ni--Cr (nickel chromium).

ここで、Cr混相膜とは、Cr、CrN、CrN等が混相した膜である。Cr混相膜は、酸化クロム等の不可避不純物を含んでもよい。 Here, the Cr mixed phase film is a film in which Cr, CrN, Cr 2 N, etc. are mixed in phase. The Cr mixed phase film may contain inevitable impurities such as chromium oxide.

抵抗体30の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、0.05μm~2μm程度とすることができる。特に、抵抗体30の厚さが0.1μm以上であると、抵抗体30を構成する結晶の結晶性(例えば、α-Crの結晶性)が向上する点で好ましい。又、抵抗体30の厚さが1μm以下であると、抵抗体30を構成する膜の内部応力に起因する膜のクラックや基材10からの反りを低減できる点で更に好ましい。 The thickness of the resistor 30 is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, and may be, for example, about 0.05 μm to 2 μm. In particular, it is preferable that the thickness of the resistor 30 is 0.1 μm or more, since the crystallinity of the crystal forming the resistor 30 (for example, the crystallinity of α-Cr) is improved. Further, it is more preferable that the thickness of the resistor 30 is 1 μm or less, since cracks in the film constituting the resistor 30 due to internal stress and warpage from the base material 10 can be reduced.

抵抗体30の幅は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、0.1μm~1000μm(1mm)程度とすることができる。隣接する抵抗体30のピッチは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、1mm~100mm程度とすることができる。なお、抵抗部31及び32は、実際には数100~数10000本程度設けられる。 The width of the resistor 30 is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, and may be, for example, about 0.1 μm to 1000 μm (1 mm). The pitch between adjacent resistors 30 is not particularly limited and can be selected as appropriate depending on the purpose, and may be, for example, about 1 mm to 100 mm. Note that, in reality, about several hundred to several tens of thousand resistor sections 31 and 32 are provided.

例えば、抵抗体30がCr混相膜である場合、安定な結晶相であるα-Cr(アルファクロム)を主成分とすることで、抵抗体30の温度係数の安定化や、加わる圧力に対する抵抗体30の感度の向上を実現できる。ここで、主成分とは、対象物質が抵抗体を構成する全物質の50質量%以上を占めることを意味するが、抵抗体30の温度係数の安定化や、加わる圧力に対する抵抗体30の感度の向上を実現する観点から、抵抗体30はα-Crを80重量%以上含むことが好ましく、90重量%以上含むことが更に好ましい。なお、α-Crは、bcc構造(体心立方格子構造)のCrである。 For example, when the resistor 30 is a Cr mixed-phase film, by using α-Cr (alpha chromium), which is a stable crystalline phase, as the main component, the temperature coefficient of the resistor 30 can be stabilized, and the resistor can withstand the applied pressure. It is possible to achieve an improvement in sensitivity of 30 degrees. Here, the term "main component" means that the target substance occupies 50% by mass or more of all the substances constituting the resistor, but it also helps stabilize the temperature coefficient of the resistor 30 and the sensitivity of the resistor 30 to applied pressure. From the viewpoint of realizing an improvement in the resistance, the resistor 30 preferably contains α-Cr in an amount of 80% by weight or more, more preferably 90% by weight or more. Note that α-Cr is Cr having a bcc structure (body-centered cubic lattice structure).

又、抵抗部31及び32がCr混相膜である場合、Cr混相膜に含まれるCrN及びCrNは20重量%以下であることが好ましい。Cr混相膜に含まれるCrN及びCrNが20重量%以下であることで、ゲージ率の低下を抑制できる。 Moreover, when the resistance parts 31 and 32 are Cr mixed-phase films, it is preferable that the content of CrN and Cr 2 N in the Cr mixed-phase film is 20% by weight or less. When the Cr mixed phase film contains 20% by weight or less of CrN and Cr 2 N, a decrease in gauge factor can be suppressed.

又、CrN及びCrN中のCrNの割合は80重量%以上90重量%未満であることが好ましく、90重量%以上95重量%未満であることが更に好ましい。CrN及びCrN中のCrNの割合が90重量%以上95重量%未満であることで、半導体的な性質を有するCrNにより、TCRの低下(負のTCR)が一層顕著となる。更に、セラミックス化を低減することで、脆性破壊の低減が成される。 Further, the proportion of Cr 2 N in CrN and Cr 2 N is preferably 80% by weight or more and less than 90% by weight, and more preferably 90% by weight or more and less than 95% by weight. When the proportion of Cr 2 N in CrN and Cr 2 N is 90% by weight or more and less than 95% by weight, the decrease in TCR (negative TCR) becomes more pronounced due to Cr 2 N having semiconducting properties. . Furthermore, by reducing the amount of ceramic, brittle fracture can be reduced.

一方で、膜中に微量のNもしくは原子状のNが混入、存在した場合、外的環境(例えば高温環境下)によりそれらが膜外へ抜け出ることで、膜応力の変化を生ずる。化学的に安定なCrNの創出により上記不安定なNを発生させることがなく、安定なひずみゲージを得ることができる。 On the other hand, if a trace amount of N 2 or atomic N is mixed or present in the film, it escapes from the film due to the external environment (for example, under a high temperature environment), causing a change in film stress. By creating chemically stable CrN, a stable strain gauge can be obtained without generating the above-mentioned unstable N.

端子部41は、基材10の上面10aにおいて、各々の抵抗部31の両端部から延在しており、平面視において、抵抗部31よりも拡幅して略矩形状に形成されている。端子部41は、加わる圧力により生じる抵抗部31の抵抗値の変化を外部に出力するための1対の電極であり、例えば、外部接続用のフレキシブル基板やリード線等が接合される。端子部41の上面を、端子部41よりもはんだ付け性が良好な金属で被覆してもよい。なお、抵抗部31と端子部41とは便宜上別符号としているが、両者は同一工程において同一材料により一体に形成できる。 The terminal portion 41 extends from both ends of each resistor portion 31 on the upper surface 10a of the base material 10, and is formed in a substantially rectangular shape with a wider width than the resistor portion 31 in plan view. The terminal portion 41 is a pair of electrodes for outputting to the outside a change in resistance value of the resistance portion 31 caused by applied pressure, and is connected to, for example, a flexible substrate for external connection, a lead wire, or the like. The upper surface of the terminal portion 41 may be coated with a metal that has better solderability than the terminal portion 41. Although the resistive portion 31 and the terminal portion 41 are given different symbols for convenience, they can be integrally formed using the same material in the same process.

端子部42は、基材10の下面10bにおいて、各々の抵抗部32の両端部から延在しており、平面視において、抵抗部32よりも拡幅して略矩形状に形成されている。端子部42は、加わる圧力により生じる抵抗部32の抵抗値の変化を外部に出力するための1対の電極であり、例えば、外部接続用のフレキシブル基板やリード線等が接合される。端子部42の上面を、端子部42よりもはんだ付け性が良好な金属で被覆してもよい。なお、抵抗部32と端子部42とは便宜上別符号としているが、両者は同一工程において同一材料により一体に形成できる。 The terminal portion 42 extends from both ends of each resistor portion 32 on the lower surface 10b of the base material 10, and is formed in a substantially rectangular shape with a wider width than the resistor portion 32 in plan view. The terminal portion 42 is a pair of electrodes for outputting to the outside a change in resistance value of the resistance portion 32 caused by applied pressure, and is connected to, for example, a flexible substrate for external connection, a lead wire, or the like. The upper surface of the terminal portion 42 may be coated with a metal that has better solderability than the terminal portion 42. Note that although the resistor portion 32 and the terminal portion 42 are given different symbols for convenience, they can be integrally formed using the same material in the same process.

なお、基材10を貫通する貫通配線(スルーホール)を設け、端子部41及び42を基材10の上面10a側又は下面10b側に集約してもよい。 Note that a through wiring (through hole) passing through the base material 10 may be provided, and the terminal portions 41 and 42 may be concentrated on the upper surface 10a side or the lower surface 10b side of the base material 10.

抵抗部31を被覆し端子部41を露出するように基材10の上面10aにカバー層(絶縁樹脂層)を設けても構わない。又、抵抗部32を被覆し端子部42を露出するように基材10の下面10bにカバー層(絶縁樹脂層)を設けても構わない。カバー層を設けることで、抵抗部31及び32に機械的な損傷等が生じることを防止できる。又、カバー層を設けることで、抵抗部31及び32を湿気等から保護できる。なお、カバー層は、端子部41及び42を除く部分の全体を覆うように設けてもよい。 A cover layer (insulating resin layer) may be provided on the upper surface 10a of the base material 10 so as to cover the resistance section 31 and expose the terminal section 41. Alternatively, a cover layer (insulating resin layer) may be provided on the lower surface 10b of the base material 10 so as to cover the resistive portion 32 and expose the terminal portion 42. By providing the cover layer, it is possible to prevent mechanical damage to the resistance parts 31 and 32. Further, by providing the cover layer, the resistor parts 31 and 32 can be protected from moisture and the like. Note that the cover layer may be provided so as to cover the entire portion except the terminal portions 41 and 42.

カバー層は、例えば、PI樹脂、エポキシ樹脂、PEEK樹脂、PEN樹脂、PET樹脂、PPS樹脂、複合樹脂(例えば、シリコーン樹脂、ポリオレフィン樹脂)等の絶縁樹脂から形成できる。カバー層は、フィラーや顔料を含有しても構わない。カバー層の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、2μm~30μm程度とすることができる。 The cover layer can be formed from an insulating resin such as a PI resin, an epoxy resin, a PEEK resin, a PEN resin, a PET resin, a PPS resin, or a composite resin (eg, a silicone resin or a polyolefin resin). The cover layer may contain filler or pigment. The thickness of the cover layer is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, and may be, for example, about 2 μm to 30 μm.

センサ1を製造するためには、まず、基材10を準備し、基材10の上面10aに図3に示す平面形状の抵抗部31及び端子部41を形成する。抵抗部31及び端子部41の材料や厚さは、前述の通りである。抵抗部31と端子部41とは、同一材料により一体に形成できる。 In order to manufacture the sensor 1, first, the base material 10 is prepared, and the planar resistor part 31 and terminal part 41 shown in FIG. 3 are formed on the upper surface 10a of the base material 10. The materials and thicknesses of the resistance portion 31 and the terminal portion 41 are as described above. The resistance portion 31 and the terminal portion 41 can be integrally formed from the same material.

抵抗部31及び端子部41は、例えば、抵抗部31及び端子部41を形成可能な原料をターゲットとしたマグネトロンスパッタ法により成膜し、フォトリソグラフィによってパターニングすることで形成できる。抵抗部31及び端子部41は、マグネトロンスパッタ法に代えて、反応性スパッタ法や蒸着法、アークイオンプレーティング法、パルスレーザー堆積法等を用いて成膜してもよい。 The resistor part 31 and the terminal part 41 can be formed by, for example, forming a film by magnetron sputtering using a raw material capable of forming the resistor part 31 and the terminal part 41 as a target, and patterning it by photolithography. The resistive portion 31 and the terminal portion 41 may be formed using a reactive sputtering method, a vapor deposition method, an arc ion plating method, a pulsed laser deposition method, or the like instead of the magnetron sputtering method.

抵抗部31の温度係数の安定化や、加わる圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現する観点から、抵抗部31及び端子部41を成膜する前に、下地層として所定の膜厚の機能層を真空成膜することが好ましい。機能層は、例えば、コンベンショナルスパッタ法により成膜できる。なお、機能層は、機能層の上面全体に抵抗部31及び端子部41を形成後、フォトリソグラフィによって抵抗部31及び端子部41と共に図3に示す平面形状にパターニングされる。 From the viewpoint of stabilizing the temperature coefficient of the resistor part 31 and improving the sensitivity of the resistor part 31 to applied pressure, before forming the resistor part 31 and the terminal part 41, a film with a predetermined thickness is formed as a base layer. Preferably, the layer is vacuum deposited. The functional layer can be formed by, for example, conventional sputtering. Note that the functional layer is patterned together with the resistive part 31 and the terminal part 41 into the planar shape shown in FIG. 3 by photolithography after forming the resistive part 31 and the terminal part 41 on the entire upper surface of the functional layer.

本願において、機能層とは、少なくとも上層である抵抗部の結晶成長を促進する機能を有する層を指す。機能層は、更に、基材10に含まれる酸素や水分による抵抗部の酸化を防止する機能や、基材10と抵抗部との密着性を向上する機能を備えていることが好ましい。機能層は、更に、他の機能を備えていてもよい。 In the present application, the term "functional layer" refers to a layer having a function of promoting crystal growth of at least the upper layer, ie, the resistance section. It is preferable that the functional layer further has a function of preventing oxidation of the resistance part due to oxygen and moisture contained in the base material 10, and a function of improving the adhesion between the base material 10 and the resistance part. The functional layer may further include other functions.

基材10を構成する絶縁樹脂フィルムは酸素や水分を含むため、特に抵抗部がCrを含む場合、Crは自己酸化膜を形成するため、機能層が抵抗部の酸化を防止する機能を備えることは有効である。 Since the insulating resin film constituting the base material 10 contains oxygen and moisture, especially when the resistance part contains Cr, Cr forms a self-oxidation film, so the functional layer has a function of preventing oxidation of the resistance part. is valid.

機能層の材料は、少なくとも上層である抵抗部の結晶成長を促進する機能を有する材料であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、Cr(クロム)、Ti(チタン)、V(バナジウム)、Nb(ニオブ)、Ta(タンタル)、Ni(ニッケル)、Y(イットリウム)、Zr(ジルコニウム)、Hf(ハフニウム)、Si(シリコン)、C(炭素)、Zn(亜鉛)、Cu(銅)、Bi(ビスマス)、Fe(鉄)、Mo(モリブデン)、W(タングステン)、Ru(ルテニウム)、Rh(ロジウム)、Re(レニウム)、Os(オスミウム)、Ir(イリジウム)、Pt(白金)、Pd(パラジウム)、Ag(銀)、Au(金)、Co(コバルト)、Mn(マンガン)、Al(アルミニウム)からなる群から選択される1種又は複数種の金属、この群の何れかの金属の合金、又は、この群の何れかの金属の化合物が挙げられる。 The material of the functional layer is not particularly limited as long as it has the function of promoting crystal growth of at least the upper layer of the resistance section, and can be selected as appropriate depending on the purpose. Examples include Cr (chromium), Ti (titanium), ), V (vanadium), Nb (niobium), Ta (tantalum), Ni (nickel), Y (yttrium), Zr (zirconium), Hf (hafnium), Si (silicon), C (carbon), Zn (zinc) ), Cu (copper), Bi (bismuth), Fe (iron), Mo (molybdenum), W (tungsten), Ru (ruthenium), Rh (rhodium), Re (rhenium), Os (osmium), Ir (iridium) ), Pt (platinum), Pd (palladium), Ag (silver), Au (gold), Co (cobalt), Mn (manganese), and Al (aluminum). , an alloy of any metal in this group, or a compound of any metal in this group.

上記の合金としては、例えば、FeCr、TiAl、FeNi、NiCr、CrCu等が挙げられる。又、上記の化合物としては、例えば、TiN、TaN、Si、TiO、Ta、SiO等が挙げられる。 Examples of the above-mentioned alloy include FeCr, TiAl, FeNi, NiCr, and CrCu. Moreover, examples of the above-mentioned compounds include TiN, TaN, Si 3 N 4 , TiO 2 , Ta 2 O 5 , SiO 2 and the like.

機能層が金属又は合金のような導電材料から形成される場合には、機能層の膜厚は抵抗部の膜厚の1/20以下であることが好ましい。このような範囲であると、α-Crの結晶成長を促進できると共に、抵抗部に流れる電流の一部が機能層に流れて、ひずみの検出感度が低下することを防止できる。 When the functional layer is formed from a conductive material such as a metal or an alloy, the thickness of the functional layer is preferably 1/20 or less of the thickness of the resistive portion. Within this range, α-Cr crystal growth can be promoted, and a portion of the current flowing through the resistance portion can be prevented from flowing into the functional layer, thereby preventing deterioration of strain detection sensitivity.

機能層が金属又は合金のような導電材料から形成される場合には、機能層の膜厚は抵抗部の膜厚の1/50以下であることがより好ましい。このような範囲であると、α-Crの結晶成長を促進できると共に、抵抗部に流れる電流の一部が機能層に流れて、ひずみの検出感度が低下することを更に防止できる。 When the functional layer is formed from a conductive material such as a metal or an alloy, it is more preferable that the thickness of the functional layer is 1/50 or less of the thickness of the resistive part. Within this range, α-Cr crystal growth can be promoted, and a portion of the current flowing through the resistance portion can be prevented from flowing into the functional layer, thereby preventing deterioration of strain detection sensitivity.

機能層が金属又は合金のような導電材料から形成される場合には、機能層の膜厚は抵抗部の膜厚の1/100以下であることが更に好ましい。このような範囲であると、抵抗部に流れる電流の一部が機能層に流れて、抵抗部に流れる電流の一部が機能層に流れて、ひずみの検出感度が低下することを一層防止できる。 When the functional layer is formed from a conductive material such as a metal or an alloy, it is more preferable that the thickness of the functional layer is 1/100 or less of the thickness of the resistive portion. With such a range, it is possible to further prevent a portion of the current flowing through the resistance portion from flowing into the functional layer, and a portion of the current flowing through the resistance portion from flowing into the functional layer, thereby further preventing strain detection sensitivity from decreasing. .

機能層が酸化物や窒化物のような絶縁材料から形成される場合には、機能層の膜厚は、1nm~1μmとすることが好ましい。このような範囲であると、α-Crの結晶成長を促進できると共に、機能層にクラックが入ることなく容易に成膜できる。 When the functional layer is formed from an insulating material such as an oxide or nitride, the thickness of the functional layer is preferably 1 nm to 1 μm. Within this range, α-Cr crystal growth can be promoted and the film can be easily formed without cracking the functional layer.

機能層が酸化物や窒化物のような絶縁材料から形成される場合には、機能層の膜厚は、1nm~0.8μmとすることよりが好ましい。このような範囲であると、α-Crの結晶成長を促進できると共に、機能層にクラックが入ることなく更に容易に成膜できる。 When the functional layer is formed from an insulating material such as an oxide or nitride, the thickness of the functional layer is preferably 1 nm to 0.8 μm. Within this range, α-Cr crystal growth can be promoted and the film can be formed more easily without cracking the functional layer.

機能層が酸化物や窒化物のような絶縁材料から形成される場合には、機能層の膜厚は、1nm~0.5μmとすることが更に好ましい。このような範囲であると、α-Crの結晶成長を促進できると共に、機能層クラックが入ることなく一層容易に成膜できる。 When the functional layer is formed from an insulating material such as an oxide or nitride, the thickness of the functional layer is more preferably 1 nm to 0.5 μm. Within this range, α-Cr crystal growth can be promoted and the film can be formed more easily without cracking the functional layer.

なお、機能層の平面形状は、例えば、図3に示す抵抗部の平面形状と略同一にパターニングされている。しかし、機能層の平面形状は、抵抗部の平面形状と略同一である場合には限定されない。機能層が絶縁材料から形成される場合には、抵抗部の平面形状と同一形状にパターニングしなくてもよい。この場合、機能層は少なくとも抵抗部が形成されている領域にベタ状に形成されてもよい。或いは、機能層は、基材10の上面全体にベタ状に形成されてもよい。 Note that the planar shape of the functional layer is patterned to be substantially the same as the planar shape of the resistance section shown in FIG. 3, for example. However, the planar shape of the functional layer is not limited to being substantially the same as the planar shape of the resistance section. When the functional layer is formed from an insulating material, it does not need to be patterned to have the same planar shape as the resistor section. In this case, the functional layer may be formed in a solid manner at least in the region where the resistance portion is formed. Alternatively, the functional layer may be formed in a solid manner over the entire upper surface of the base material 10.

又、機能層が絶縁材料から形成される場合に、機能層の厚さを50nm以上1μm以下となるように比較的厚く形成し、かつベタ状に形成することで、機能層の厚さと表面積が増加するため、抵抗部が発熱した際の熱を基材10側へ放熱できる。その結果、センサ1において、抵抗部の自己発熱による測定精度の低下を抑制できる。 In addition, when the functional layer is formed from an insulating material, the thickness and surface area of the functional layer can be reduced by forming the functional layer relatively thickly, such as 50 nm or more and 1 μm or less, and forming it in a solid shape. Therefore, the heat generated by the resistance section can be radiated to the base material 10 side. As a result, in the sensor 1, deterioration in measurement accuracy due to self-heating of the resistance portion can be suppressed.

機能層は、例えば、機能層を形成可能な原料をターゲットとし、チャンバ内にAr(アルゴン)ガスを導入したコンベンショナルスパッタ法により真空成膜できる。コンベンショナルスパッタ法を用いることにより、基材10の上面10aをArでエッチングしながら機能層が成膜されるため、機能層の成膜量を最小限にして密着性改善効果を得ることができる。 The functional layer can be formed into a vacuum film by, for example, a conventional sputtering method using a raw material capable of forming the functional layer as a target and introducing Ar (argon) gas into a chamber. By using the conventional sputtering method, the functional layer is formed while etching the upper surface 10a of the base material 10 with Ar, so that the amount of the functional layer formed can be minimized and an effect of improving adhesion can be obtained.

但し、これは、機能層の成膜方法の一例であり、他の方法により機能層を成膜してもよい。例えば、機能層の成膜の前にAr等を用いたプラズマ処理等により基材10の上面10aを活性化することで密着性改善効果を獲得し、その後マグネトロンスパッタ法により機能層を真空成膜する方法を用いてもよい。 However, this is an example of a method for forming the functional layer, and the functional layer may be formed by other methods. For example, before forming the functional layer, the upper surface 10a of the base material 10 is activated by plasma treatment using Ar or the like to obtain an effect of improving adhesion, and then the functional layer is formed into a vacuum film by magnetron sputtering. You may also use the method of

機能層の材料と抵抗部31及び端子部41の材料との組み合わせは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できる。例えば、機能層としてTiを用い、抵抗部31及び端子部41としてα-Cr(アルファクロム)を主成分とするCr混相膜を成膜可能である。 The combination of the material of the functional layer and the materials of the resistance section 31 and the terminal section 41 is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose. For example, it is possible to use Ti as the functional layer and form a Cr mixed-phase film containing α-Cr (alpha chromium) as the main component as the resistance portion 31 and the terminal portion 41.

この場合、例えば、Cr混相膜を形成可能な原料をターゲットとし、チャンバ内にArガスを導入したマグネトロンスパッタ法により、抵抗部31及び端子部41を成膜できる。或いは、純Crをターゲットとし、チャンバ内にArガスと共に適量の窒素ガスを導入し、反応性スパッタ法により、抵抗部31及び端子部41を成膜してもよい。この際、窒素ガスの導入量や圧力(窒素分圧)を変えることや加熱工程を設けて加熱温度を調整することで、Cr混相膜に含まれるCrN及びCrNの割合、並びにCrN及びCrN中のCrNの割合を調整できる。 In this case, for example, the resistor portion 31 and the terminal portion 41 can be formed by magnetron sputtering using a raw material capable of forming a Cr mixed phase film as a target and introducing Ar gas into a chamber. Alternatively, the resistance portion 31 and the terminal portion 41 may be formed by reactive sputtering using pure Cr as a target and introducing an appropriate amount of nitrogen gas together with Ar gas into the chamber. At this time, by changing the introduction amount and pressure (nitrogen partial pressure) of nitrogen gas, and by providing a heating process and adjusting the heating temperature, the proportion of CrN and Cr 2 N contained in the Cr multiphase film, as well as the ratio of CrN and Cr The proportion of Cr 2 N in 2 N can be adjusted.

これらの方法では、Tiからなる機能層がきっかけでCr混相膜の成長面が規定され、安定な結晶構造であるα-Crを主成分とするCr混相膜を成膜できる。又、機能層を構成するTiがCr混相膜中に拡散することにより、抵抗部31の温度係数の安定化や、加わる圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現できる。なお、機能層がTiから形成されている場合、Cr混相膜にTiやTiN(窒化チタン)が含まれる場合がある。 In these methods, the growth plane of the Cr mixed phase film is defined by the functional layer made of Ti, and it is possible to form a Cr mixed phase film mainly composed of α-Cr, which has a stable crystal structure. Furthermore, by diffusing Ti constituting the functional layer into the Cr multiphase film, it is possible to stabilize the temperature coefficient of the resistance section 31 and improve the sensitivity of the resistance section 31 to applied pressure. Note that when the functional layer is formed of Ti, the Cr mixed phase film may contain Ti or TiN (titanium nitride).

なお、抵抗部31がCr混相膜である場合、Tiからなる機能層は、抵抗部31の結晶成長を促進する機能、基材10に含まれる酸素や水分による抵抗部31の酸化を防止する機能、及び基材10と抵抗部31との密着性を向上する機能の全てを備えている。機能層として、Tiに代えてTa、Si、Al、Feを用いた場合も同様である。 In addition, when the resistance part 31 is a Cr mixed-phase film, the functional layer made of Ti has a function of promoting crystal growth of the resistance part 31 and a function of preventing oxidation of the resistance part 31 due to oxygen and moisture contained in the base material 10. , and a function of improving the adhesion between the base material 10 and the resistance section 31. The same holds true when Ta, Si, Al, or Fe is used instead of Ti as the functional layer.

このように、抵抗部31の下層に機能層を設けることにより、抵抗部31の結晶成長を促進可能となり、安定な結晶相からなる抵抗部31を作製できる。その結果、センサ1において、抵抗部31の温度係数の安定化や、加わる圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現できる。又、機能層を構成する材料が抵抗部31に拡散することにより、センサ1において、抵抗部31の温度係数の安定化や、加わる圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現できる。 By providing the functional layer below the resistance section 31 in this manner, crystal growth of the resistance section 31 can be promoted, and the resistance section 31 made of a stable crystal phase can be manufactured. As a result, in the sensor 1, it is possible to stabilize the temperature coefficient of the resistance section 31 and improve the sensitivity of the resistance section 31 to applied pressure. Furthermore, by diffusing the material constituting the functional layer into the resistor section 31, it is possible to stabilize the temperature coefficient of the resistor section 31 and improve the sensitivity of the resistor section 31 to applied pressure in the sensor 1.

次に、基材10の下面10bに図3に示す平面形状の抵抗部32及び端子部42を形成する。抵抗部32及び端子部42は、抵抗部31及び端子部41と同様の方法で形成できる。抵抗部32及び端子部42を成膜する前に、下地層として、基材10の下面10bに機能層を成膜することが好ましい点も同様である。 Next, the planar resistance portion 32 and terminal portion 42 shown in FIG. 3 are formed on the lower surface 10b of the base material 10. The resistance section 32 and the terminal section 42 can be formed by the same method as the resistance section 31 and the terminal section 41. Similarly, it is also preferable to form a functional layer as a base layer on the lower surface 10b of the base material 10 before forming the resistor part 32 and the terminal part 42.

抵抗部31及び端子部41並びに抵抗部32及び端子部42を形成後、必要に応じ、基材10の上面10aに抵抗部31を被覆し端子部41を露出するカバー層を、基材10の下面10bに抵抗部32を被覆し端子部42を露出するカバー層を設けてもよい。これにより、センサ1が完成する。 After forming the resistance part 31 and the terminal part 41 and the resistance part 32 and the terminal part 42, if necessary, a cover layer covering the resistance part 31 and exposing the terminal part 41 is applied to the upper surface 10a of the base material 10. A cover layer covering the resistive portion 32 and exposing the terminal portion 42 may be provided on the lower surface 10b. Thereby, the sensor 1 is completed.

カバー層は、例えば、基材10の上面10aに抵抗部31を被覆し端子部41を露出するように半硬化状態の熱硬化性の絶縁樹脂フィルムをラミネートし、加熱して硬化させて作製できる。又、カバー層は、例えば、基材10の下面10bに抵抗部32を被覆し端子部42を露出するように半硬化状態の熱硬化性の絶縁樹脂フィルムをラミネートし、加熱して硬化させて作製できる。カバー層は、絶縁樹脂フィルムのラミネートに代えて、液状又はペースト状の熱硬化性の絶縁樹脂を塗布し、加熱して硬化させて作製してもよい。 The cover layer can be produced, for example, by laminating a semi-cured thermosetting insulating resin film so as to cover the resistive part 31 on the upper surface 10a of the base material 10 and exposing the terminal part 41, and then heating and curing the film. . Further, the cover layer is formed by, for example, laminating a semi-cured thermosetting insulating resin film on the lower surface 10b of the base material 10 so as to cover the resistor part 32 and exposing the terminal part 42, and then heating and curing the film. It can be made. Instead of laminating an insulating resin film, the cover layer may be produced by applying a liquid or paste thermosetting insulating resin and curing it by heating.

なお、抵抗部31及び端子部41の下地層として基材10の上面10aに機能層を設け、抵抗部32及び端子部42の下地層として基材10の下面10bに機能層を設けた場合には、センサ1は図5に示す断面形状となる。符号20a及び20bで示す層が機能層である。機能層20a及び20bを設けた場合のセンサ1の平面形状は、図3と同様である。 Note that when a functional layer is provided on the upper surface 10a of the base material 10 as a base layer for the resistance section 31 and the terminal section 41, and a functional layer is provided on the bottom surface 10b of the base material 10 as a base layer for the resistance section 32 and the terminal section 42. In this case, the sensor 1 has a cross-sectional shape shown in FIG. Layers indicated by symbols 20a and 20b are functional layers. The planar shape of the sensor 1 when the functional layers 20a and 20b are provided is the same as that in FIG. 3.

図6に示すように、センサ1及び制御装置2により圧力分布検出装置3を実現できる。圧力分布検出装置3は、路面からタイヤ100にかかる圧力分布を検出する装置である。圧力分布検出装置3において、センサ1の各々の端子部41及び42は、例えば、フレキシブル基板やリード線等を用いて、制御装置2に接続されている。 As shown in FIG. 6, a pressure distribution detection device 3 can be realized by the sensor 1 and the control device 2. The pressure distribution detection device 3 is a device that detects the pressure distribution applied to the tire 100 from the road surface. In the pressure distribution detection device 3, each terminal portion 41 and 42 of the sensor 1 is connected to the control device 2 using, for example, a flexible board or a lead wire.

制御装置2は、センサ1の端子部41及び42を介して得られた情報に基づいて、路面からタイヤ100にかかる圧力分布を検出できる。すなわち、センサ1の抵抗部31はX座標の検出に用いることができ、抵抗部32はY座標の検出に用いることができるため、圧力が加わった位置のXY座標と、加わる圧力の大きさを検出できる。 The control device 2 can detect the pressure distribution applied to the tire 100 from the road surface based on information obtained via the terminal portions 41 and 42 of the sensor 1. That is, the resistance section 31 of the sensor 1 can be used to detect the X coordinate, and the resistance section 32 can be used to detect the Y coordinate, so the XY coordinates of the position where pressure is applied and the magnitude of the applied pressure can be determined. Can be detected.

図7に示すように、制御装置2は、例えば、アナログフロントエンド部21と、信号処理部22とを含む構成にできる。 As shown in FIG. 7, the control device 2 can be configured to include, for example, an analog front end section 21 and a signal processing section 22.

アナログフロントエンド部21は、例えば、入力信号選択スイッチ、ブリッジ回路、増幅器、アナログ/デジタル変換回路(A/D変換回路)等を備えている。アナログフロントエンド部21は、温度補償回路を備えていてもよい。 The analog front end section 21 includes, for example, an input signal selection switch, a bridge circuit, an amplifier, an analog/digital conversion circuit (A/D conversion circuit), and the like. The analog front end section 21 may include a temperature compensation circuit.

アナログフロントエンド部21では、例えば、センサ1の全ての端子部41及び42が入力信号選択スイッチに接続され、入力信号選択スイッチにより1対の電極が選択される。入力信号選択スイッチで選択された1対の電極は、ブリッジ回路に接続される。 In the analog front end section 21, for example, all the terminal sections 41 and 42 of the sensor 1 are connected to an input signal selection switch, and one pair of electrodes is selected by the input signal selection switch. A pair of electrodes selected by the input signal selection switch are connected to a bridge circuit.

すなわち、ブリッジ回路の1辺が入力信号選択スイッチで選択された1対の電極間の抵抗部で構成され、他の3辺が固定抵抗で構成される。これにより、ブリッジ回路の出力として、入力信号選択スイッチで選択された1対の電極間の抵抗部の抵抗値に対応した電圧(アナログ信号)を得ることができる。なお、入力信号選択スイッチは、信号処理部22から制御可能に構成されている。 That is, one side of the bridge circuit is constituted by a resistance section between a pair of electrodes selected by an input signal selection switch, and the other three sides are constituted by fixed resistances. Thereby, a voltage (analog signal) corresponding to the resistance value of the resistance section between the pair of electrodes selected by the input signal selection switch can be obtained as the output of the bridge circuit. Note that the input signal selection switch is configured to be controllable from the signal processing section 22.

ブリッジ回路から出力された電圧は、増幅器で増幅された後、A/D変換回路によりデジタル信号に変換され、信号処理部22に送られる。アナログフロントエンド部21が温度補償回路を備えている場合には、温度補償されたデジタル信号が信号処理部22に送られる。入力信号選択スイッチを高速で切り替えることで、センサ1の全ての端子部41及び42の抵抗値に対応するデジタル信号を極短時間で信号処理部22に送ることができる。 The voltage output from the bridge circuit is amplified by an amplifier, then converted into a digital signal by an A/D conversion circuit, and sent to the signal processing section 22. If the analog front end section 21 includes a temperature compensation circuit, the temperature compensated digital signal is sent to the signal processing section 22 . By switching the input signal selection switch at high speed, digital signals corresponding to the resistance values of all the terminal sections 41 and 42 of the sensor 1 can be sent to the signal processing section 22 in a very short time.

信号処理部22は、アナログフロントエンド部21から送られた情報に基づいて、路面からタイヤ100にかかる圧力分布を検出できる。 The signal processing section 22 can detect the pressure distribution applied to the tire 100 from the road surface based on the information sent from the analog front end section 21.

なお、加わる圧力の大きさによっては、抵抗部31及び抵抗部32のうち、何れか一方のみに圧力がかかる場合がある。この場合には、何れか一方の抵抗部の1対の電極間の抵抗値のみが加わる圧力の大きさに応じて連続的に変化するが、この場合も、信号処理部22は、抵抗部の抵抗値の変化の大小に基づいて、加わる圧力の大きさを検出できる。 Note that depending on the magnitude of the applied pressure, pressure may be applied to only one of the resistance portions 31 and 32. In this case, only the resistance value between the pair of electrodes of one of the resistance sections changes continuously according to the magnitude of the applied pressure, but in this case as well, the signal processing section 22 The magnitude of the applied pressure can be detected based on the magnitude of the change in resistance value.

つまり、抵抗部31及び/又は抵抗部32に圧力がかかると、加圧された抵抗部(抵抗部31及び/又は抵抗部32)の1対の電極間の抵抗値が加わる圧力の大きさに応じて連続的に変化する。そして、信号処理部22は、抵抗部31と抵抗部32の一方が加圧されたか両方が加圧されたかにかかわらず、加圧された抵抗部の抵抗値の変化の大小に基づいて、加わる圧力の大きさを検出できる。 In other words, when pressure is applied to the resistance section 31 and/or the resistance section 32, the resistance value between the pair of electrodes of the pressurized resistance section (the resistance section 31 and/or the resistance section 32) increases with the magnitude of the applied pressure. Continuously changes depending on the situation. Then, the signal processing section 22 determines whether the resistance section 31 or the resistance section 32 is pressurized based on the magnitude of the change in resistance value of the pressurized resistance section, regardless of whether one or both of the resistance section 31 and the resistance section 32 are pressurized. Can detect the magnitude of pressure.

信号処理部22は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、メインメモリ等を含む構成にできる。 The signal processing unit 22 can be configured to include, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), a main memory, and the like.

この場合、信号処理部22の各種機能は、ROM等に記録されたプログラムがメインメモリに読み出されてCPUにより実行されることによって実現できる。但し、信号処理部22の一部又は全部は、ハードウェアのみにより実現されてもよい。又、信号処理部22は、物理的に複数の装置等により構成されてもよい。 In this case, various functions of the signal processing section 22 can be realized by reading a program recorded in a ROM or the like into the main memory and executing it by the CPU. However, part or all of the signal processing section 22 may be realized only by hardware. Furthermore, the signal processing section 22 may be physically configured by a plurality of devices.

このように、センサ1の抵抗部31及び32が加圧されると、加圧された抵抗部31及び32が加わる圧力の大きさに応じて撓み、加圧された抵抗部31及び32の1対の電極間の抵抗値が加わる圧力の大きさに応じて連続的に変化する。すなわち、センサ1では、3次元情報(圧力が加わった位置の座標と、加わる圧力の大きさ)を得ることができる。 In this way, when the resistance parts 31 and 32 of the sensor 1 are pressurized, the pressurized resistance parts 31 and 32 bend according to the magnitude of the applied pressure, and one of the pressurized resistance parts 31 and 32 The resistance value between the pair of electrodes changes continuously depending on the amount of pressure applied. That is, the sensor 1 can obtain three-dimensional information (coordinates of the position where pressure is applied and the magnitude of the applied pressure).

圧力分布検出装置3において、センサ1で得られた3次元情報は制御装置2に送られ、制御装置2はセンサ1で得られた3次元情報に基づいて、タイヤ100にかかる圧力分布を検出できる。 In the pressure distribution detection device 3, the three-dimensional information obtained by the sensor 1 is sent to the control device 2, and the control device 2 can detect the pressure distribution applied to the tire 100 based on the three-dimensional information obtained by the sensor 1. .

例えば、初期状態(例えば、タイヤ100に片減りがなく、空気圧が正常な状態)の圧力分布を記憶しておき、移動体の走行中にセンサ1の出力をモニタして初期状態と比較することで、タイヤ100の接地面の摩耗状態や空気圧の変化をリアルタイムで監視できる。その結果、タイヤ100の片減りを検出できる。又、タイヤ100の空気圧が適切か否かを検出できる。又、タイヤ100の調整角度やタイヤ100の交換時期について把握できる。 For example, the pressure distribution in the initial state (for example, the tire 100 has no uneven wear and the air pressure is normal) may be stored, and the output of the sensor 1 may be monitored while the moving object is running and compared with the initial state. The wear condition of the contact surface of the tire 100 and changes in air pressure can be monitored in real time. As a result, uneven wear of the tire 100 can be detected. Furthermore, it is possible to detect whether the air pressure of the tire 100 is appropriate. Further, the adjustment angle of the tire 100 and the time to replace the tire 100 can be grasped.

又、タイヤ100にかかる異常な圧力分布をリアルタイムで検出可能となり、無線等で運転者に伝えることで、タイヤ100について、より正確な状態管理ができる。 Additionally, abnormal pressure distribution on the tire 100 can be detected in real time and communicated to the driver via wireless or the like, allowing for more accurate condition management of the tire 100.

又、タイヤ100の接地面の摩耗状態を常に把握できるようになるので、バースト(破裂)による事故やハンドル操作にりよる事故等が発生するリスクを回避可能となる。 Furthermore, since the wear condition of the contact surface of the tire 100 can be constantly grasped, it is possible to avoid the risk of an accident due to a burst (rupture) or an accident due to steering wheel operation.

特に、抵抗部31及び32がCr混相膜から形成されている場合は、抵抗部31及び32がCu-NiやNi-Crから形成されている場合と比べ、加わる圧力に対する抵抗値の感度(同一の圧力がかかったときの抵抗部31及び32の抵抗値の変化量)が大幅に向上する。抵抗部31及び32がCr混相膜から形成されている場合、加わる圧力に対する抵抗値の感度は、抵抗部31及び32がCu-NiやNi-Crから形成されている場合と比べ、おおよそ5~10倍程度となる。そのため、抵抗部31及び32をCr混相膜から形成することで、圧力が加わった位置の座標の検出精度を向上できると共に、加わる圧力を高感度で検出できる。 In particular, when the resistance parts 31 and 32 are formed from a Cr multiphase film, the sensitivity of the resistance value to the applied pressure (the same (the amount of change in the resistance value of the resistance parts 31 and 32 when pressure is applied) is significantly improved. When the resistance parts 31 and 32 are formed from a Cr mixed-phase film, the sensitivity of the resistance value to applied pressure is approximately 5 to 5, compared to when the resistance parts 31 and 32 are formed from Cu-Ni or Ni-Cr. It will be about 10 times more. Therefore, by forming the resistor parts 31 and 32 from a Cr multiphase film, it is possible to improve the accuracy of detecting the coordinates of the position where pressure is applied, and to detect the applied pressure with high sensitivity.

又、加わる圧力に対する抵抗値の感度が高いことで、加わる圧力が小であることを検出した場合には所定の動作を行い、加わる圧力が中であることを検出した場合には他の動作を行い、加わる圧力が大であることを検出した場合には更に他の動作を行うような制御の実現が可能となる。或いは、加わる圧力が小又は中であることを検出した場合には動作を行わず、加わる圧力が大であることを検出した場合にのみ所定の動作を行うような制御の実現が可能となる。 In addition, the sensitivity of the resistance value to applied pressure is high, so when it detects that the applied pressure is small, it performs the specified operation, and when it detects that the applied pressure is medium, it performs other operations. It becomes possible to implement control such that when the applied pressure is detected to be large, another operation is performed. Alternatively, it is possible to implement control in which no action is performed when it is detected that the applied pressure is low or medium, and a predetermined action is performed only when it is detected that the applied pressure is large.

又、加わる圧力に対する抵抗値の感度が高いと、S/Nの高い信号を得ることができる。そのため、アナログフロントエンド部21のA/D変換回路において平均化を行う回数を低減しても精度よく信号検出ができる。A/D変換回路において平均化を行う回数を低減することで、1回のA/D変換に必要な時間を短縮できるため、入力信号選択スイッチを更に高速で切り替えることが可能となる。その結果、センサ1では、比較的早い圧力分布も検出できる。 Furthermore, if the sensitivity of the resistance value to the applied pressure is high, a signal with a high S/N ratio can be obtained. Therefore, even if the number of averaging operations performed in the A/D conversion circuit of the analog front end section 21 is reduced, signal detection can be performed with high accuracy. By reducing the number of times that averaging is performed in the A/D conversion circuit, the time required for one A/D conversion can be shortened, making it possible to switch the input signal selection switch even faster. As a result, the sensor 1 can also detect relatively fast pressure distribution.

〈第1実施形態の変形例1〉
第1実施形態の変形例1では、基材の一方の面側又は他方の面側に実装された電子部品を有するセンサの例を示す。なお、第1実施形態の変形例1において、既に説明した実施形態と同一構成部についての説明は省略する場合がある。
<Modification 1 of the first embodiment>
Modification 1 of the first embodiment shows an example of a sensor having an electronic component mounted on one side or the other side of a base material. Note that in Modification 1 of the first embodiment, descriptions of components that are the same as those of the already described embodiments may be omitted.

図8は、第1実施形態の変形例1に係るセンサを例示する断面図であり、図4に対応する断面を示している。図8を参照すると、センサ1Aは、基材10の下面10bに電子部品200が実装された点が、センサ1(図3及び図4参照)と相違する。 FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a sensor according to Modification 1 of the first embodiment, and shows a cross-section corresponding to FIG. 4. FIG. Referring to FIG. 8, the sensor 1A differs from the sensor 1 (see FIGS. 3 and 4) in that an electronic component 200 is mounted on the lower surface 10b of the base material 10.

電子部品200は、例えば、図7に示すアナログフロントエンド部21をIC化して外部通信機能(例えば、IC等のシリアル通信機能)を持たせたものである。すなわち、電子部品200は、例えば、入力信号選択スイッチ、ブリッジ回路、増幅器、A/D変換回路、外部通信機能等を備えたICであり、抵抗部31及び32の1対の電極間の抵抗値を電圧に変換してデジタル信号として出力できる。電子部品200は、温度補償回路を備えていてもよい。電子部品200は、外部通信機能により制御装置2の信号処理部22と情報の送受信を行うことができる。 The electronic component 200 is, for example, the analog front end unit 21 shown in FIG. 7 converted into an IC and provided with an external communication function (for example, a serial communication function such as I 2 C). That is, the electronic component 200 is, for example, an IC equipped with an input signal selection switch, a bridge circuit, an amplifier, an A/D conversion circuit, an external communication function, etc. can be converted to voltage and output as a digital signal. Electronic component 200 may include a temperature compensation circuit. The electronic component 200 can send and receive information to and from the signal processing section 22 of the control device 2 using an external communication function.

電子部品200は、例えば、基材10の下面10bに形成されたパッドにフリップチップ実装できる。或いは、電子部品200は、基材10の下面10bにダイアタッチフィルム等の接着層を介して搭載され、基材10の下面10bに形成されたパッドにワイヤボンディングされてもよい。又、電子部品200と共に、コンデンサ等の受動部品が搭載されてもよい。 The electronic component 200 can be flip-chip mounted on a pad formed on the lower surface 10b of the base material 10, for example. Alternatively, the electronic component 200 may be mounted on the lower surface 10b of the base material 10 via an adhesive layer such as a die attach film, and wire-bonded to a pad formed on the lower surface 10b of the base material 10. Further, passive components such as a capacitor may be mounted together with the electronic component 200.

電子部品200は、図示しない配線パターンや貫通配線(スルーホール)を介して、全ての端子部41及び42と接続されている。又、電子部品200は、センサ1Aの外部から電源を供給可能に構成されている。 The electronic component 200 is connected to all the terminal parts 41 and 42 via wiring patterns and through holes (not shown). Moreover, the electronic component 200 is configured so that power can be supplied from outside the sensor 1A.

抵抗部31及び端子部41を被覆するように基材10の上面10aにカバー層(絶縁樹脂層)を設けても構わない。又、抵抗部32、端子部42、及び電子部品200を被覆するように基材10の下面10bにカバー層(絶縁樹脂層)を設けても構わない。カバー層を設けることで、抵抗部31及び32、端子部41及び42、並びに電子部品200に機械的な損傷等が生じることを防止できる。又、カバー層を設けることで、抵抗部31及び32、端子部41及び42、並びに電子部品200を湿気等から保護できる。 A cover layer (insulating resin layer) may be provided on the upper surface 10a of the base material 10 so as to cover the resistance portion 31 and the terminal portion 41. Further, a cover layer (insulating resin layer) may be provided on the lower surface 10b of the base material 10 so as to cover the resistor section 32, the terminal section 42, and the electronic component 200. By providing the cover layer, it is possible to prevent mechanical damage from occurring to the resistance sections 31 and 32, the terminal sections 41 and 42, and the electronic component 200. Further, by providing the cover layer, the resistor sections 31 and 32, the terminal sections 41 and 42, and the electronic component 200 can be protected from moisture and the like.

このように、センサ1Aでは、基材10に電子部品200が実装されているため、配線パターンや貫通配線(スルーホール)を介して、端子部41及び42と電子部品200とを短距離で接続可能である。そのため、小型のセンサ1Aを実現できる。この構造は、特に、抵抗体と電子部品とをリード線を用いてはんだ等で接続することが困難な小型のセンサに有効である。 In this way, in the sensor 1A, since the electronic component 200 is mounted on the base material 10, the terminal parts 41 and 42 and the electronic component 200 are connected over a short distance via a wiring pattern or a through-hole. It is possible. Therefore, a small sensor 1A can be realized. This structure is particularly effective for small-sized sensors in which it is difficult to connect the resistor and electronic components using lead wires and solder.

又、端子部41及び42から電子部品200までの距離を短くすることにより、ノイズ耐性を向上できる。 Further, by shortening the distance from the terminal portions 41 and 42 to the electronic component 200, noise resistance can be improved.

なお、電子部品200は、アナログフロントエンド部21の機能を有するICには限定されず、例えば、アナログフロントエンド部21及び信号処理部22の機能を有するICとしてもよい。 Note that the electronic component 200 is not limited to an IC having the function of the analog front end section 21, but may be an IC having the functions of the analog front end section 21 and the signal processing section 22, for example.

すなわち、制御装置2の一部又は全部がセンサ1Aと一体化されてもよい。ここで、センサ1Aと一体化するとは、制御装置2に使用される基材や電子部品の一部又は全部と、センサ1Aに使用される基材や電子部品の一部又は全部とが兼用されることを含む。 That is, part or all of the control device 2 may be integrated with the sensor 1A. Here, being integrated with the sensor 1A means that some or all of the base material and electronic components used for the control device 2 and some or all of the base material and electronic components used for the sensor 1A are also used. including

又、制御装置2に、信号処理部22による検出結果を無線により送信する集積回路等を設けてもよい。信号処理部22による検出結果を、無線により、例えば自動車に搭載されたECU(Electronic Control Unit)に送信してもよい。制御装置2から無線によりタイヤ100の圧力分布の情報を得たECUは、例えば、圧力分布が異常である場合に、警告表示やブザー等により運転者に異常を知らせることができる。これにより、自動車を安全に走行させて、事故を未然に防ぐことができる。 Further, the control device 2 may be provided with an integrated circuit or the like that wirelessly transmits the detection results by the signal processing section 22. The detection results by the signal processing section 22 may be transmitted wirelessly to, for example, an ECU (Electronic Control Unit) mounted on a vehicle. For example, when the pressure distribution of the tire 100 is abnormal, the ECU that has obtained information about the pressure distribution of the tire 100 wirelessly from the control device 2 can notify the driver of the abnormality using a warning display, a buzzer, or the like. This makes it possible to drive the car safely and prevent accidents.

〈第1実施形態の変形例2〉
第1実施形態の変形例2では、基材の一方の面側又は他方の面側に実装された電源を有するセンサの例を示す。なお、第1実施形態の変形例2において、既に説明した実施形態と同一構成部についての説明は省略する場合がある。
<Modification 2 of the first embodiment>
Modification 2 of the first embodiment shows an example of a sensor having a power source mounted on one side or the other side of the base material. Note that in the second modification of the first embodiment, descriptions of components that are the same as those in the already described embodiments may be omitted.

図9は、第1実施形態の変形例2に係るセンサを例示する断面図であり、図4に対応する断面を示している。図9を参照すると、センサ1Bは、電源300が実装された点が、センサ1A(図8参照)と相違する。 FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a sensor according to a second modification of the first embodiment, and shows a cross-section corresponding to FIG. 4. FIG. Referring to FIG. 9, sensor 1B differs from sensor 1A (see FIG. 8) in that a power supply 300 is mounted.

電源300は、例えば、リチウムイオン電池等の小型バッテリーである。電源300は、例えば、基材10の下面10b側に実装され、電子部品200と電気的に接続されている。電源300は、基材10の上面10a側に実装されてもよい。 The power source 300 is, for example, a small battery such as a lithium ion battery. The power supply 300 is mounted, for example, on the lower surface 10b side of the base material 10, and is electrically connected to the electronic component 200. The power supply 300 may be mounted on the upper surface 10a side of the base material 10.

このように、センサ1Bでは、電子部品200に給電する電源300が実装されている。これにより、外部からの給電を不要とした、小型のセンサ1Bを実現できる。 In this way, the sensor 1B is equipped with the power supply 300 that supplies power to the electronic component 200. This makes it possible to realize a compact sensor 1B that does not require external power supply.

センサ1Bにおいて、抵抗体30を薄膜化することで、センサ1Bを特に低消費電力化及び小型化可能である。 In the sensor 1B, by making the resistor 30 thinner, the sensor 1B can be particularly reduced in power consumption and size.

すなわち、抵抗体30の材料として例えばCu-NiやNi-Crの箔を用いた場合には抵抗体30の抵抗値が1kΩ程度となるが、抵抗体30の材料として薄膜化したCr混相膜を用いた場合には抵抗体30の抵抗値を5kΩ以上にすることができる。そのため、抵抗体30の材料としてCr混相膜を用いた場合には、抵抗体30に流れる電流が少なくなり、低消費電力化が可能となる。又、低消費電力化により電源300から供給する電流が少なくて済むため、小型の電源300を用いることが可能となり、センサ1B全体を小型化できる。 That is, if a Cu-Ni or Ni-Cr foil is used as the material for the resistor 30, the resistance value of the resistor 30 will be about 1 kΩ, but if a thin Cr mixed phase film is used as the material for the resistor 30, then the resistance value of the resistor 30 will be about 1 kΩ. When used, the resistance value of the resistor 30 can be set to 5 kΩ or more. Therefore, when a Cr multiphase film is used as the material for the resistor 30, the current flowing through the resistor 30 is reduced, making it possible to reduce power consumption. In addition, since the current supplied from the power source 300 is reduced due to lower power consumption, it becomes possible to use a smaller power source 300, and the entire sensor 1B can be downsized.

〈第1実施形態の変形例3〉
第1実施形態の変形例3では、センサの抵抗部をジグザグパターンにする例を示す。なお、第1実施形態の変形例3において、既に説明した実施形態と同一構成部についての説明は省略する場合がある。
<Variation 3 of the first embodiment>
Modification 3 of the first embodiment shows an example in which the resistance portion of the sensor is formed in a zigzag pattern. Note that in the third modification of the first embodiment, descriptions of components that are the same as those in the already described embodiments may be omitted.

図10は、第1実施形態の変形例3に係るセンサを例示する平面図であり、図3に対応する平面を示している。図10を参照すると、センサ1Cは、抵抗体30が抵抗体30Cに置換された点が、センサ1(図3及び図4参照)と相違する。 FIG. 10 is a plan view illustrating a sensor according to modification 3 of the first embodiment, and shows a plane corresponding to FIG. 3. FIG. Referring to FIG. 10, sensor 1C differs from sensor 1 (see FIGS. 3 and 4) in that resistor 30 is replaced with resistor 30C.

抵抗体30Cは、抵抗部31C及び32Cを含んでいる。抵抗部31Cは、1対の端子部41の間に形成されたジグザグのパターンである。又、抵抗部32Cは、1対の端子部42の間に形成されたジグザグのパターンである。抵抗部31C及び32Cの材料や厚さは、例えば、抵抗部31及び32の材料や厚さと同様にできる。 The resistor 30C includes resistance parts 31C and 32C. The resistance portion 31C is a zigzag pattern formed between a pair of terminal portions 41. Further, the resistance portion 32C is a zigzag pattern formed between a pair of terminal portions 42. The material and thickness of the resistance parts 31C and 32C can be made the same as the material and thickness of the resistance parts 31 and 32, for example.

このように、抵抗部31C及び32Cをジグザグパターンにすることで、直線状のパターンにした場合と比べて、1対の端子部41間の抵抗値及び1対の端子部42間の抵抗値を高くできる。その結果、加圧された際の1対の端子部41間の抵抗値の変化量及び1対の端子部42間の抵抗値の変化量が大きくなるため、タイヤ100にかかる圧力分布の検出精度を更に向上できる。 In this way, by forming the resistance parts 31C and 32C in a zigzag pattern, the resistance value between the pair of terminal parts 41 and the resistance value between the pair of terminal parts 42 can be reduced compared to the case where the resistance parts 31C and 32C are formed into a linear pattern. Can be made high. As a result, the amount of change in the resistance value between the pair of terminal parts 41 and the amount of change in the resistance value between the pair of terminal parts 42 when pressurized increases, so the detection accuracy of the pressure distribution applied to the tire 100 increases. can be further improved.

又、1対の端子部41間の抵抗値及び1対の端子部42間の抵抗値を高くできるため、センサ1Cを低消費電力化可能である。 Further, since the resistance value between the pair of terminal parts 41 and the resistance value between the pair of terminal parts 42 can be increased, the power consumption of the sensor 1C can be reduced.

以上、好ましい実施形態等について詳説したが、上述した実施形態等に制限されることはなく、特許請求の範囲に記載された範囲を逸脱することなく、上述した実施形態等に種々の変形及び置換を加えることができる。 Although the preferred embodiments have been described in detail above, they are not limited to the above-described embodiments, and various modifications and substitutions may be made to the above-described embodiments without departing from the scope of the claims. can be added.

例えば、センサ1では、絶縁層である基材10の上面10aに抵抗部31を設け、下面10bに抵抗部32を設ける例を示したが、絶縁層の一方の側に抵抗部32を設け、他方の側に抵抗部32を設ける構造であれば、これには限定されない。例えば、基材10の上面10aに抵抗部31を設け、基材10の上面10aに抵抗部31を被覆する絶縁層を設け、絶縁層上に抵抗部32を設けてもよい。又、抵抗部31を設けた第1基材と、抵抗部32を設けた第2基材を作製し、抵抗部31と抵抗部32を内側に向けて、絶縁層を挟んで抵抗部31を設けた第1基材と抵抗部32を設けた第2基材を貼り合わせてもよい。又、抵抗部31を設けた第1基材と、抵抗部32を設けた第2基材を作製し、抵抗部31を設けた第1基材と抵抗部32を設けた第2基材を同一方向に積層してもよい。センサ1A、1B、及び1Cについても同様である。 For example, in the sensor 1, an example has been shown in which the resistance section 31 is provided on the upper surface 10a of the base material 10, which is an insulating layer, and the resistance section 32 is provided on the lower surface 10b. The structure is not limited to this as long as the resistance section 32 is provided on the other side. For example, the resistance portion 31 may be provided on the upper surface 10a of the base material 10, an insulating layer covering the resistance portion 31 may be provided on the upper surface 10a of the base material 10, and the resistance portion 32 may be provided on the insulating layer. In addition, a first base material provided with the resistive part 31 and a second base material provided with the resistive part 32 were prepared, and the resistive part 31 was placed with the insulating layer in between, with the resistive part 31 and the resistive part 32 facing inward. The first base material provided thereon and the second base material provided with the resistance portion 32 may be bonded together. In addition, a first base material provided with the resistance part 31 and a second base material provided with the resistance part 32 were prepared, and the first base material provided with the resistance part 31 and the second base material provided with the resistance part 32 were fabricated. They may be stacked in the same direction. The same applies to sensors 1A, 1B, and 1C.

1、1A、1B、1C センサ、2 制御装置、3 圧力分布検出装置、10 基材、10a 基材の上面、10b 基材の下面、20a、20b 機能層、21 アナログフロントエンド部、22 信号処理部、30、30C 抵抗体、31、31C、32、32C 抵抗部、41、42 端子部、100 タイヤ、110 トレッド部、120 サイドウォール部、130 ビード部、140 インナーライナー、150 カーカス、160 ビードコア、170 ビードフィラー、180 ベルト、200 電子部品、300 電源 1, 1A, 1B, 1C sensor, 2 control device, 3 pressure distribution detection device, 10 base material, 10a upper surface of base material, 10b lower surface of base material, 20a, 20b functional layer, 21 analog front end section, 22 signal processing part, 30, 30C resistor, 31, 31C, 32, 32C resistor part, 41, 42 terminal part, 100 tire, 110 tread part, 120 sidewall part, 130 bead part, 140 inner liner, 150 carcass, 160 bead core, 170 bead filler, 180 belt, 200 electronic components, 300 power supply

Claims (9)

移動体用のタイヤであって、
前記タイヤの内側にセンサが設けられ、
前記センサは、
絶縁層と、
前記絶縁層の一方の側に長手方向を第1方向に向けて並置された複数の第1抵抗部と、
前記絶縁層の他方の側に長手方向を前記第1方向と交差する第2方向に向けて並置された複数の第2抵抗部と、
各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部の両端部に設けられた1対の電極と、を有し、
各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部は、前記1対の電極の間に形成されたジグザグのパターンであり、
各々の前記第1抵抗部と各々の前記第2抵抗部とは、平面視で1点のみで交差し、
前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部は、α-Crを主成分とするCr、CrN、及びCr Nを含む膜から形成され、
前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部に含まれるCrN及びCr Nの割合は、20重量%以下であり、
前記CrN及び前記Cr N中の前記Cr Nの割合は、80重量%以上90重量%未満であり、
前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部が押圧されると、押圧された前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部の前記1対の電極間の抵抗値が加わる圧力の大きさに応じて連続的に変化するタイヤ。
A tire for a moving object,
A sensor is provided inside the tire,
The sensor is
an insulating layer;
a plurality of first resistance parts arranged in parallel on one side of the insulating layer with the longitudinal direction facing the first direction;
a plurality of second resistance parts arranged in parallel on the other side of the insulating layer with the longitudinal direction facing a second direction intersecting the first direction;
a pair of electrodes provided at both ends of each of the first resistance section and each of the second resistance section,
Each of the first resistance section and each of the second resistance section is a zigzag pattern formed between the pair of electrodes,
Each of the first resistance parts and each of the second resistance parts intersect at only one point in a plan view,
The first resistance section and the second resistance section are formed from a film containing Cr, CrN, and Cr 2 N whose main component is α-Cr,
The proportion of CrN and Cr 2 N contained in the first resistance part and the second resistance part is 20% by weight or less,
The proportion of the Cr 2 N in the CrN and the Cr 2 N is 80% by weight or more and less than 90% by weight,
When the first resistance part and/or the second resistance part is pressed, the resistance value between the pair of electrodes of the pressed first resistance part and/or the second resistance part is the magnitude of the pressure applied. Tires that continuously change depending on the weather.
前記センサは、前記タイヤの内周側の幅方向の全体及び周方向の全体に貼り付けられているか、又は埋め込まれている請求項1に記載のタイヤ。 The tire according to claim 1, wherein the sensor is attached to or embedded in the entire widthwise and circumferentially inner circumferential side of the tire. 各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部は、前記1対の電極の間に形成されたジグザグのパターンである請求項1又は2に記載のタイヤ。 The tire according to claim 1 or 2, wherein each of the first resistance part and each of the second resistance part is a zigzag pattern formed between the pair of electrodes. 前記第1抵抗部の抵抗値の変化及び前記第2抵抗部の抵抗値の変化に基づいて、前記タイヤの圧力分布の検出が可能である請求項1乃至3の何れか一項に記載のタイヤ。 The tire according to any one of claims 1 to 3, wherein the pressure distribution of the tire can be detected based on a change in the resistance value of the first resistance part and a change in the resistance value of the second resistance part. . 前記膜の下層に、金属、合金、又は、金属の化合物から形成された機能層を有し、
前記機能層は、前記α-Crの結晶成長を促進させ、前記α-Crを主成分とする膜を形成する機能を有する請求項1乃至4の何れか一項に記載のタイヤ。
a functional layer formed from a metal, an alloy, or a metal compound under the film;
The tire according to any one of claims 1 to 4, wherein the functional layer has a function of promoting crystal growth of the α-Cr and forming a film containing the α-Cr as a main component.
前記膜は、前記α-Crを80重量%以上含む請求項1乃至5の何れか一項に記載のタイヤ。 The tire according to any one of claims 1 to 5 , wherein the film contains 80% by weight or more of the α-Cr. 前記絶縁層の一方の面側又は他方の面側に実装された電子部品を有する請求項1乃至の何れか一項に記載のタイヤ。 The tire according to any one of claims 1 to 6 , further comprising an electronic component mounted on one side or the other side of the insulating layer. 前記電子部品は、前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部の前記1対の電極間の抵抗値を電圧に変換してデジタル信号として出力する請求項に記載のタイヤ。 The tire according to claim 7 , wherein the electronic component converts a resistance value between the pair of electrodes of the first resistance section and the second resistance section into a voltage and outputs the voltage as a digital signal. 前記絶縁層の一方の面側又は他方の面側に実装され、前記電子部品と電気的に接続されて前記電子部品に給電する電源を有する請求項又はに記載のタイヤ。 The tire according to claim 7 or 8 , further comprising a power source mounted on one side or the other side of the insulating layer, electrically connected to the electronic component, and supplying power to the electronic component.
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