JP7385158B2 - 波長可変レーザダイオード - Google Patents

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Description

本発明は、発振波長を一定の範囲内において任意に調整できる発振波長調整型の波長可変レーザダイオード(Tunable Laser Diodo:以下、TLDとする)に関する。
従来、光デバイスに属されるTLDは、光通信用の搬送波光源やガスセンシング等の広い応用範囲で用いられている。TLDの重要な性能の一つとして、一定の範囲内において発振波長を連続的に調整する量の大きさが挙げられる。このための準備として、TLDに対してレーザ共振器構造を成すように光デバイスを組み付ける構成が採用される。
図1は、周知のレーザ共振器構造の発振波長調整型のTLD10の基本構成を示したブロック図である。図1を参照すれば、この発振波長調整型のTLD10は、2つのミラーM1、M2の間に光利得導波路1、位相調整器2、及び可変波長フィルタ3を挟み込んで光学的に結合し、レーザ共振器構造として構成される。ここで、光利得導波路1は、レーザにより発生した光を増幅する役割を担う。位相調整器2は、レーザ共振器構造の共振器長Lを微調整する。共振器長Lは、発振波長調整型のTLD10の長さに該当する。可変波長フィルタ3は、光利得導波路1からの光について、特定の波長の光を選択的に帰還させる役割を担う。
尚、一部の可変波長フィルタ3では、分布ブラッグ反射器(Distributed Bragg Reflector:DBR)等の反射スペクトルを調整するフィルタ構成が採用される場合も多い。この場合には、可変波長フィルタ3がミラーM2を兼用することになる。
図2は、図1の発振波長調整型のTLD10における波長選択原理の説明用に示す波長に対する波長可変フィルタ3の機能による光の帰還率の縦モード利得A、及び波長可変レーザに係る縦モード利得Bの特性図である。
縦モード利得Aの特性は、光利得導波路1から見たときの光の反射率スペクトルとみなせるもので、波長可変フィルタ機能の波長選択スペクトルC1と共振器長Lを反映した縦モード利得C2とに区別される利得スペクトルを示している。これに対し、縦モード利得Bの特性は、発振波長調整型のTLD10の共振器長Lで光が定在波(縦モード)をつくる際、光が光利得導波路1の利得を大きく感じる波長可変レーザ全体としての発振モードC3を示している。
光の波長をλとし、m、kを正の整数(自然数)とした場合、一般に縦モードの波長は、以下の関係式(1)で表わされる。
Figure 0007385158000001
但し、この関係式(1)において、nは、発振波長調整型のTLD10を構成する各構成要素の屈折率、Lは、発振波長調整型のTLD10を構成する各構成要素の物理長である。
即ち、図1に示した発振波長調整型のTLD10では、光利得導波路1、位相調整器2、可変波長フィルタ3、及びこれらを繋ぐ導波路の屈折率nと物理長Lとを示している。そして、関係式(1)は、発振波長調整型のTLD10の光路長を光が往復した際、その光位相が整合することを示している。
光源としてのレーザが半導体レーザである場合の共振器長Lは、一部の特別なレーザを除いて数100μmの長さがある。この一方で、半導体レーザの光の波長は、例えば光通信でしばしば用いられる値として、1.55μmである場合を典型値として例示できる。上記関係式(1)から判る通り、整数m(以下、縦モード次数と呼ぶ)は、無数に存在するため、単一の波長でTLD10を発振させるためには、特定の縦モードを更に選択して光利得導波路1へ帰還させる必要がある。
そこで、縦モード利得Bに係る発振モードC3の特性に示されるように、特定の波長の光を選択的に帰還させる可変波長フィルタ3の機能を発振波長調整型のTLD10の内部に設ければ、特定の縦モードを選ぶことができる。可変波長フィルタ機能による調整は、フィルタ種類によって様々であるが、縦モードの調整は上記関係式(1)から判るように、発振波長調整型のTLD10における光路長を調整すれば良い。この光路長を調整するために位相調整器2が使用されている。即ち、関係式(1)では、k=1の場合が位相調整器2を示すものと想定すれば、屈折率nを調整すれば良いことを示す。
以上に説明した通り、発振波長調整型のTLD10では、縦モード波長と可変波長フィルタ3の機能とを適切に制御すれば、任意の波長の光を発振させることができる。ここで、TLD10の波長の連続的な調整量は、縦モード次数mを変化させずに変化できる調整幅を示すものである。或る縦モード次数mで発振しているレーザについて、例えばm+1の縦モード次数を選ぶように、波長可変フィルタ3の機能を調整すれば、大きな波長変化が得られる。
ところで、縦モード次数mの変化は、モードホップと呼ばれ、このモードホップの前後において、光の強度不安定化やスペクトル純度の悪化が生じる。例えば、波長を掃引したTLD10からの光をガスに透過させ、その透過スペクトルからガス種を同定するガスセンシングでは、波長掃引時にモードホップが起きると、透過スペクトルの連続性が損なわれて解析を困難にする。
また、TLD10を無温調レーザとして用いれば、温度変化によるレーザ発振波長変化をTLD10への電気信号によって補償する手法においても、TLD10の波長の連続的な調整量は重要となる。レーザの無温調化は、レーザモジュールのサイズや消費電力を低減させるために非常に有用であるが、運用時にモードホップが起きると、通信品質を著しく損なうことにもなる。
TLD10の波長の連続的な調整量を大きくするには、図1に示した発振波長調整型のTLD10の構成要素において、可変波長フィルタ3の機能の調整量と縦モードを制御する位相調整器2の調整量との両方を大きくする必要がある。導波路型のTLD10の場合には、多くの場合に共振器材料である半導体へのキャリア注入や局所加熱によってその屈折率を制御すれば、波長可変フィルタ3の機能のスペクトルや位相調整器2による共振器長Lの調整を行うことができる。但し、これらの調整量は、物性値による限界がある。
そこで、可変波長フィルタ3の機能の調整の改善技術について、導波路材料の屈折率変化に加えて、その導波路構造の設計において、波長可変幅を拡張する技術(非特許文献1)が挙げられる。係る非特許文献1の手法を用いれば、TLD10における波長可変フィルタ3の機能については、そのフィルタ材料の物性値に依存しない大きなスペクトル変化が得られる。
しかしながら、非特許文献1の手法の場合、位相調整器2については、上記関係式1から判るように、発振波長調整型のTLD10を構成する各構成要素の物理量L及び屈折率nに依存している。このため、非特許文献1の手法によれば、依然として位相調整器2の調整量には限界がある。
このため、最近では、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術による可動ミラーを用いた外部共振器型のレーザについて、共振器長Lを制御する技術(非特許文献2)が注目されている。ところが、MEMS技術の場合には、一般的に機械振動に弱い、調整速度が遅い、制御電圧が大きい等の問題がある。
即ち、周知の発振波長調整型のTLD10では、問題のあるMEMS技術の外部共振器構造を用いるか、或いは、限界のある導波路型の位相調整における導波路材料の物性値の依存性を利用するかの少なくとも一方を採用する手法になる。これにより、波長の連続的な調整量の制限要因である共振器長Lの制御量を調整している。
Yuta Ueda,Takahiro Shindo,Shigeru Kanazawa,Naoki Fujiwara,and Mitsuteru Ishikawa."ELECTRO-OPTICALLY TUNABLE LASER with <10-mW TUNING POWER DISSIPATION AND HIGH‐SPEED λ‐SWITCHING FOR COHERENT NETWORK",in Proc.of ECOC2019,PD.2.2. Masanori Nakahama,Takahiro Sakaguchi,Akihiro Matustani,and Fumio Koyama"Athermal and widely tunable VCSEL with bimorph micromachined mirror",Optics Express,vol.22,p.21471(2014).
本発明は、上述した問題を解決するためになされたものである。本発明に係る実施形態の目的は、MEMS技術の外部共振器構造を用いることなく、導波路型の位相調整における導波路材料の物性値にも依存せず、共振器長の制御量を調整できる発振波長調整型のTLDを提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の一態様は、光を発生して増幅させる光利得導波路と、M入力×N出力(但し、Mを自然整数、Nを2以上の正の整数とする)ポートを有して構成される多モード干渉導波路と、多モード干渉導波路のN出力ポートを有する側に接続されると共に、光を反射するミラーによって終端されているN個の反射型遅延線が備えられた反射型遅延線アレーと、が同一の基板の上面に集積された発振波長調整型のTLDであって、N個の反射型遅延線は、透過する光の波長の変化に応じて往復する光の強度を調整可能であることを特徴とする。
上記一態様の構成によれば、発振波長調整型のTLDを構成する位相調整器として、多モード干渉カプラ及び反射型遅延線アレーによる反射型位相調整器を適用できる。これにより、集積された発振波長調整型のTLDでは、反射型遅延線アレーに備えられる複数の反射型遅延線について、透過する光の波長の変化に応じて往復する光の強度を調整可能となる。この結果、周知技術のようにMEMS技術の外部共振器構造を用いることなく、導波路型の位相調整における導波路材料の物性値にも依存せず、共振器長Lの制御量を調整できる。
周知のレーザ共振器構造の発振波長調整型のTLDの基本構成を示したブロック図である。 図1の発振波長調整型のTLDにおける波長選択原理の説明用に示す波長に対する波長可変フィルタの機能による光の帰還率の縦モード利得、及び波長可変レーザに係る縦モード利得の特性図である。 本発明の実施形態1に係る発振波長調整型のTLDに用いられる反射型位相調整器の概略構成を示した模式図である。 図3の反射型位相調整器の反射型遅延線を往復する電界透過率を変化させたときのパワー反射スペクトルと実効光路長とについての計算結果のデータを例示したものである。 本発明の実施形態2に係る反射型位相調整器に備えられる反射型遅延線の電界透過率を変化させたときの電界透過率の値とパワー反射率と遅延実効長との計算結果を示す図である。 本発明の実施形態3に係る発振波長調整型のTLDに用いられる反射型位相調整器の概略構成を示した模式図である。 図6の反射型位相調整器に備えられる反射型遅延線の波長依存ミラーの電界反射率とパワー反射率と遅延実効長との計算結果を示す図である。 図7中の計算に用いた屈折率を全波長に及んで0.1%増加させた場合のパワー反射率と遅延実効長との計算結果を示す図である。
以下、本発明の幾つかの実施形態に係るTLDについて、図面を参照して詳細に説明する。
最初に、本発明の実施形態に係る発振波長調整型のTLDの技術的概要について説明する。この発振波長調整型のTLDは、光利得導波路と、多モード干渉導波路と、複数の反射型遅延線が備えられた反射型遅延線アレーと、が同一の基板の上面に集積されてレーザ共振器構造として構成される。
光利得導波路は、図1で説明した場合と同様に、光を発生して増幅させる機能を持つ。多モード干渉導波路は、M入力×N出力(但し、Mを自然整数、Nを2以上の正の整数とする)ポートを有して構成され、例えば多モード干渉カプラ(Multi-Mode Interference Coupler)を適用できる。反射型遅延線アレーは、多モード干渉導波路のN出力ポートを有する側に接続され、光を反射するミラーによって終端されているN個の反射型遅延線が備えられる。また、反射型遅延線アレーの反射型遅延線は、透過する光の波長の変化に応じて往復する光の強度を調整可能となっている。この往復する光の強度の調整は、外部からの電気信号の付与によっても行うことができる。複数の反射型遅延線を用いた反射型遅延線アレーと多モード干渉カプラとは、合わせて反射型位相調整器(Reflective Phase Adjuster)を構成する。発振波長調整型のTLDでは、図1の構成の波長調整器2に対して、係る反射型位相調整器を代替させたものとみなして良い。
このように構成された発振波長調整型のTLDでは、多モード干渉カプラと合わせて複数の反射型遅延線が備えられた反射型遅延線アレーによる反射型位相調整器を用いることができる。また、反射型遅延線アレーに備えられる複数の反射型遅延線について、透過する光の波長の変化に応じて往復する光の強度を調整することができる。これにより、MEMS技術の外部共振器構造を用いることなく、導波路型の位相調整における導波路材料の物性値にも依存せず、波長の連続的な調整量の制限要因である共振器長Lの制御量を調整できる。以下は、係る反射型位相調整器を用いた発振波長調整型のTLDの具体例について、幾つかの実施形態を挙げて説明する。
(実施形態1)
図3は、本発明の実施形態1に係る発振波長調整型のTLDに用いられる反射型位相調整器20の概略構成を示した模式図である。
図3を参照すれば、この反射型位相調整器20は、図1に示される光利得導波路1と光学的に結合されるもので、1入力×5出力(即ち、M入力=1、N出力=5)ポートを有して構成される多モード干渉導波路(MMI)21を有する。また、反射型位相調整器20は、多モード干渉導波路(MMI)21の5出力ポートを有する側の出力導波路に接続された反射型遅延線アレー25を備える。反射型遅延線アレー25は、それぞれ長さが異なり、その終端部にミラーMが備えられた5個の反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4を有している。尚、5出力ポートは、識別子i=0,1,2,3,4により識別されるものとする。
反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4は、それぞれ往復する光の強度を調整する電界吸収型光変調器(Electro‐Absorption Modulator:EAM-0~4)22を備える。また、反射型遅延線24-1、24-2、24-3、24-4に係る終端部のミラーMと電界吸収型光変調器(EAM-1~4)22との間には、それぞれ反射スペクトル調整用電極23が介在されている。実施形態1の発振波長調整型のTLDに用いる反射型位相調整器20では、M入力=1、N出力=5の場合を例示したが、N入力、M出力の選定はそれ以外でも適用可能である。
長さLMMIの1入力×5出力型の多モード干渉導波路(MMI)21を透過する光の複素透過率は、下記の式(2)で表わされる。
Figure 0007385158000002
但し、この式(2)において、βは、多モード干渉導波路(MMI)21の基底モードの伝搬定数である。また、ψは、多モード干渉導波路(MMI)21の伝達関数を反映して、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4に結合される光の相対位相関係を表わしている。この相対位相関係ψは、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4に微小長(図3中に示すδlに相当)を付加することによって補償できるため、以降ではこれを零とする。尚、このような手法は、上述した非特許文献1の記載でも述べられている。
図3に示すように、反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4のそれぞれの長さは、共通の遅延線長をL、及び単位差分長dL’(=0.5dL)として、L+idL’となっている。尚、後述するように、長さdLは、反射型位相調整器20の反射スペクトル周期(Free Spectral Range:FSR)を決定するものである。
実施形態1の場合には、反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の識別子iの増加に従って、反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4のそれぞれの差分長が単調に長くなっている。しかし、実施態様上では係る構成の形態に限定されない。例えば、識別子iが0から4に増加するときに、反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の差分長は、3dL’,2dL’,0,4dL’,dL’等になっていても構わない。また、必ずしもdL‘の整数倍となっていなくても構わない。
電界吸収型光変調器(EAM-0~4)22による反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4について、往復した光の電界透過率t、光の伝搬定数を多モード干渉導波路(MMI)21と共通のβとする。尚、この伝搬定数βは、説明上で簡便化したものである。この場合、反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4を往復したときの複素電界変化は、下記の式(3)で表わされる。
Figure 0007385158000003
図3に示す反射型位相調整器20の入力導波路から見た複素反射スペクトルr(β)は、上記式(2)の二乗×式(3)の識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4に関する和になる。即ち、複素反射スペクトルr(β)は、下記の関係式(4)で表わされる。
Figure 0007385158000004
但し、関係式4において、Σは識別子i=0~4までの和である。この関係式4の絶対値は、i2βdL’=iβdL(dL’=0.5dLの定義に注意)が2πの整数倍になるときにピークを持ち、そのピーク間隔(FSR)は光周波数表示でc/(ndL)となる。但し、ここで、cは光速を示し、nは反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の群屈折率を示す。
以上の結果により、長さdLは、反射型位相調整器20のピーク間隔(FSR)を決めるパラメータであることが判る。そこで、関係式(4)の系の実効物理長Leffを考察する。実効物理長Leffは、構造体を透過する光の位相に関して伝搬定数に対する変化の割合で与えられる。まず、複素反射スペクトルr(β)の位相を想定すると、関係式(4)により、下記の関係式(5)が得られる。
Figure 0007385158000005
この関係式5について、複素反射スペクトルr(β)の電界反射率のピーク近傍のみを想定すると、上述した通り、r(β)の位相の項は十分に小さいと考えられるため、tan(arg(r(β))は、下記の関係式(6)で表われる。
Figure 0007385158000006
そして、図3に示す反射型位相調整器20の片道分の実効物理長Leffは、下記の関係式(7)で表われる。
Figure 0007385158000007
関係式(7)では、反射型位相調整器20の実効物理長Leffは、長さLMMIと共通の遅延線長Lとの和に反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の差分長(idL’)を示す重み付け平均値Leff_delayを加えている。尚、実効物理長Leffの重み付け平均値Leff_delayは、遅延実効長と呼ばれても良い。
ここで、上記関係式1による縦モードを構成する光利得導波路1の屈折率を代表する参照屈折率nrefを用いれば、縦モード次数mは、下記の関係式(8)から得られる。
Figure 0007385158000008
この関係式(8)によれば、電界吸収型光変調器(EAM-0~4)22の光の透過率(電界透過率t)を変化させることで、反射型位相調整器20の実効物理長Leffについて、その単位差分長dL’によって制御できることが判る。このことは、周知の位相調整器2が導波路材料の屈折率変化によって制限されてしまうという問題を解決できることを示している。
具体的な例として、1.55μmの波長帯において、関係式(4)について反射型位相調整器20のパワー透過率(複素反射スペクトルr(β)のノルムの2乗)を数値計算した。また、同様に識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の遅延実効長Leff_delayについても数値計算した。但し、ここでは、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4を往復した光の電界透過率tをパラメータとする前提条件を設定する。この前提条件の設定下で識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の屈折率を1.55μmの波長において3.36、群屈折率nを3.8、dL=2dL’=23.96μmとしている。
図4は、上述した数値計算の結果である。図4では、まず反射型位相調整器20の識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4を往復する電界透過率tを変化させている。そして、電界透過率tの変化時のパワー反射スペクトルと実効光路長Leff_delayとについての計算結果のデータD1~D6を例示している。但し、図4中のLeff_delay解析値は、近似モデルである関係式(7)に基づく遅延実効長Leff_delayの値を示すものである。また、図4中のLeff_delay計算値は、関係式(4)のモデルに対して数値計算によって直接得られた遅延実効長Leff_delayについて、反射ピーク波長における値を示すものである。
図4を参照すれば、計算結果のデータD1~D6について、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の電界透過率tを変化させると、遅延実効長Leff_delayが異なるパターンで変化する様子が判る。また、Leff_delay解析値は、Leff_delay計算値と良い一致性を示している。そこで、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の差分長(idL’)を考察する。
この差分長(idL’)については、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4からの光の強度に関する重み付け平均値の遅延実効長Leff_delayを注目する。そして、この遅延実効長Leff_delayは、反射型遅延線アレー25の全体としての実効物理長Leffであるというモデルの妥当性を確認することができる。尚、図4のデータD1~D6からは、実施形態1の反射型位相調整器20は、その波長選択スペクトル自体が波長選択フィルタ3の機能として用いることが可能であるということも判る。
また、反射型位相調整器20の反射型遅延線アレー25では、電界吸収型光変調器(EAM-1~4)22について、終端部のミラーMとの間に反射スペクトル調整用電極23を設けている。これらの反射スペクトル調整用電極23に対して、非特許文献1に記載されているように、適当な制御信号を加えれば、反射型位相調整器20は、実効物理長Leffのみでなく、波長選択スペクトルについても調整することができる。
即ち、実施形態1の発振波長調整型のTLDは、反射型位相調整器20における反射型遅延線アレー25の反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4に電界吸収型光変調器(EAM-0~4)22を備える。この反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4では、透過する光の発振波長の変化(透過率の変化)に応じて、往復する光の強度を調整可能(外部からの電気信号の上記制御信号を併用しても良い)となっている。この結果、MEMS技術の外部共振器構造を用いることなく、導波路型の位相調整における導波路材料の物性値にも依存せず、共振器長Lの制御量を調整できる。
(実施形態2)
実施形態1に係る発振波長調整型のTLDでは、波長調整制御において、理想的には可変波長フィルタ3の機能や反射型位相調整器20の制御に伴い、波長選択スペクトルや光路長のみが変化すれば良いものである。その反面、係る制御に伴って、レーザ共振器構造のレーザ共振器の損失が変化することは好ましくない。実施形態1の反射型位相調整器20の場合、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の透過率を変化させるため、結果的にレーザ共振器の損失が変化してしまう事態も生じ得る。しかし、一定の条件を満たせば、レーザ共振器の損失を変化させずに光路長を変化させることが可能になる。そこで、実施形態2に係る発振波長調整型のTLDでは、レーザ共振器の損失を変化させずに光路長を変化させることが可能な反射型位相調整器20について説明する。
反射型位相調整器20のピーク波長近傍では、関係式(4)の通り、反射率は複素反射スペクトルr(β)の導出に係る電界透過率tの合計値のみによって決定されることが判る。従って、電界透過率tの合計値が一定となる範囲において、電界吸収型光変調器(EAM-0~4)22へ与える制御信号を調整すれば、反射率の変化なしに光路長のみを変化させて発振波長を調整することができる。
そこで、実施形態2では、実施形態1で説明したパラメータを持つ反射型位相調整器20について、反射型位相調整器20への制御信号sをs(0≦s≦4)としたときに、電界透過率tの制御条件を設定することを想定する。この電界透過率tの制御条件は、下記の関係式(9)のように表わされる。
Figure 0007385158000009
ここでは、識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4が連続する二つの遅延線のみ、t+ti+1=1(0≦i≦3)になるように、光の吸収又は透過を行わせる。具体的に云えば、該当する識別子iの反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4に備わっている電界吸収型光変調器(EAM)22については、光を吸収させる。また、それ以外の電界吸収型光変調器(EAM)22については、光を透過させる。
関係式(9)に従って電界透過率tを変化させると、反射型位相調整器20のパワー反射率のピーク値(波長1.5484μmのパワー反射率)、及びその波長における反射型遅延線アレー25の遅延実効長Leff_delayも得られる。但し、パワー反射率は、複素反射スペクトルr(β)の絶対値の2乗で得られる。
図5は、本発明の実施形態2に係る反射型位相調整器20に備えられる反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4の電界透過率tを変化させたときの電界透過率t~tの値とパワー反射率と遅延実効長Leff_delayとの計算結果を示す図である。パワー反射率は、電界透過率t~tの値に対応して複素反射スペクトルr(β)の絶対値の2乗で得られる。遅延実効長Leff_delayは、それらの波長における反射型遅延線アレー25の実効光路長を示すものである。尚、ここでは、電界吸収型光変調器(EAM-0~4)22に制御信号sを与えて電界透過率tを変化させている。
図5を参照すれば、関係式9に従って電界透過率tを変化させた計算結果からは、制御信号sに対してパワー反射率が一定となるが、遅延実効長Leff_delayは59.9μmから35.94μmまで連続的に変化していることが判る。
ここで、反射型位相調整器20の有用性について図1を参照して説明した既存の位相調整器2との相違について検討する。反射型位相調整器20の実効物理長Leffは、関係式8中のLMMI+L+Leff_delayで表わされる。また、1入力×5出力ポートを有する多モード干渉導波路(MMI)21は、無理なく作製できるサイズとして、長さLMMI=150μmを採用する。共通の遅延線長Lとしては、電界吸収型光変調器(EAM-0~4)22を用いる場合には、L=100μm程度あれば充分である。図5を参照して説明した通り、遅延実効長Leff_delayの平均値を(59.9+35.94)/2=47.92μm(変化量±11.98μm)とすると、反射型位相調整器20の全体としての実効物理長Leffの変化の割合は、±11.98/(150+100+47.92)であり、概ね±4.02%となる。
これに対し、周知の位相調整器2の光路長(屈折率nと物理長Lとの積)の変化は、その屈折率nの変化に比例するため、半導体の場合は高くても0.3%程度である。従って、反射型位相調整器20は、その実効物理長Leffの変化の大きさから、従来の位相変調器2のように屈折率を制御する手法よりも、大きなオーダーで光路長の変化を得ることができる。これは、上述した通り、連続的な波長の調整量を大きく得られることを意味している。このため、TLDをガスセンシングにおけるサンプリング波長幅や無温調レーザとして使う場合の温度範囲の拡大に多大に寄与できる。
要するに、実施形態2の電界吸収型光変調器(EAM-0~4)22は、反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4における少なくとも2個以上の反射型遅延線に備えられる。そして、往復する光の電界透過率をt(i=0,1,2,…,N―1)としたときに、電界透過率tの合計値が常に一定となるように、往復する光の強度を制御可能なものである。
係る反射型位相調整器20を備えた実施形態2に係る発振波長調整型のTLDは、実施形態1の場合と同様な作用効果を奏する他、レーザ共振器の損失を変化させずに光路長を変化させることが可能になる。
(実施形態3)
実施形態1,2では、反射型位相調整器20の反射型遅延線アレー25が備える反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4を往復する光の透過率を制御する手法を電界透過率tの制御によるものとした。このため、反射型遅延線24-0、24-1、24-2、24-3、24-4には、電界吸収型光変調器(EAM-1~4)22を備える構成が必要になる。実施形態3では、電界透過率tが光の波長によって変化することを想定してミラーMを工夫し、光電界反射率r(i=0,1,2,…,N-1)の波長依存性を有する反射器の波長依存ミラー(DBR-0~4)27を備える構成とした。尚、ここでは、反射器として、波長依存ミラー(DBR-0~4)27を使用する場合を例示するが、波長依存性を有する反射器には、それ以外にエタロンフィルタ等の他のフィルタ構造を適用しても構わない。
図6は、本発明の実施形態3に係る発振波長調整型のTLDに用いられる反射型位相調整器200の概略構成を示した模式図である。
図6を参照すれば、この反射型位相調整器200は、1入力×5出力ポートを有して構成される多モード干渉導波路(MMI)21を有する。また、反射型位相調整器200は、多モード干渉導波路(MMI)21の5出力ポートを有する側の出力導波路に接続された反射型遅延線アレー250を備える。反射型遅延線アレー250は、それぞれ長さが異なり、その終端部に波長依存ミラー(DBR-0~4)27が備えられた5個の反射型遅延線26-0、26-1、26-2、26-3、26-4を有している。尚、5出力ポートは、ここでも識別子i=0,1,2,3,4により識別されるものとする。
反射型遅延線26-1、26-2、26-3、26-4に係る波長依存ミラー(DBR-1~4)27と多モード干渉導波路(MMI)21の4出力ポート(i=1,2,3,4)との間には、反射スペクトル調整用電極23が介在されている。尚、実施形態3の発振波長調整型のTLDに用いる反射型位相調整器200の場合も、M入力=1、N出力=5の場合を例示したが、N入力、M出力の選定はそれ以外でも適用可能である。
図7は、反射型位相調整器200に備えられる反射型遅延線26-0、26-1、26-2、26-3、26-4の波長依存ミラー(DBR-1~4)27の電界反射率とパワー反射率と遅延実効長との計算結果を示す図である。パワー反射率は、電界透過率t~tの値に対応して複素反射スペクトルr(β)の絶対値の2乗で得られる。遅延実効長Leff_delayは、それらの波長における反射型遅延線アレー250の実効光路長を示すものである。尚、ここでは、波長依存ミラー(DBR-1~4)27の電界反射スペクトルを2次のスーパーガウシアンで近似した計算結果を示している。
また、波長1.55μm近傍で電界透過率t~tの合計(図7中では平均値として記す)が一定となるように、波長依存ミラー(DBR-1~4)27の反射ピーク波長を調整している。更に、関係式4の電界透過率tに反射スペクトルを代入し、計算した結果として、反射型位相調整器200のパワー反射スペクトルと遅延実効長Leff_delayとを得ている。その他、ここでは、長さdLを約5.068μmとしている他、波長依存ミラー(DBR-1~4)27は本来波長に応じた実効物理長Leffの変化があるが、ここでは説明の簡便化のために無視している。
図7を参照すれば、パワー反射率はピーク近傍でフラットであるのに対し、遅延実効長Leff_delayはスペクトルが長波長になるに伴い、短くなっている様子が判る。その理由は、反射型位相調整器200の構成のように、識別子iの反射型遅延線26-1、26-2、26-3、26-4の次数が大きくなるに伴い、対応する波長依存ミラー(DBR-1~4)27のピーク波長が短くなるためである。即ち、反射型位相調整器200では、短波長から長波長の変化において、遅延量が小さい識別子iの反射型遅延線26-1、26-2、26-3、26-4からの光の反射の割合が大きくなる。これは、遅延量が大きい識別子iの反射型遅延線26-1、26-2、26-3、26-4からの光の反射の割合と対比した場合である。こうした特徴は、反射型位相調整器200が周知技術で説明した無温調レーザの実現に有用であることを示している。
図8は、図7中の計算に用いた屈折率を全波長に及んで0.1%増加(半導体においては温度が増加したことに対応する)させた場合のパワー反射率と遅延実効長Leff_delayとの計算結果を示す図である。
図8を参照すれば、パワー反射率は、図7中に示される特徴に従って、屈折率が全波長に及んで0.1%増加した場合にも、図8中の矢印で示されるようにスペクトルが右側にシフトし、ピーク近傍でフラットとなっている。この様子からは、温度が変化しても、或る波長範囲内においてパワー反射率が殆ど変化しないことが判る。
これに対し、遅延実効長Leff_delay(実効物理長Leffとみなせる)は、図7中の右肩下がりの曲線を反映し、同一波長において凡そ2μm(約20%)減少していることが判る。即ち、実効物理長Leffは、+0.1%の屈折率の上昇に伴って20%減少しているため、反射型位相調整器200では、温度上昇に伴ってその光路長が減少することが判る。従って、関係式8において、参照屈折率nrefが温度上昇に伴って増加してしまう場合、この変化を遅延実効長Leff_delayの温度変化で補償するように、長さdLを選べば良い。こうした場合、温度変化に対して縦モード次数mが変化しない無温調レーザを実現できる。
要するに、実施形態3の波長依存ミラー(DBR-0~4)27は、ピーク波長と反射スペクトル形状とが一定の波長区間において光電界反射率rの合計値が常に一定となるように調整されるものである。係る反射型位相調整器200を備えた実施形態3に係る発振波長調整型のTLDは、実施形態1の場合の光の発振波長の透過率の変化を反射率の変化に代替させた場合に該当する。即ち、透過する光の発振波長の変化(反射率の変化)に応じて、往復する光の強度が調整可能(外部からの電気信号の上記制御信号を併用しても良い)となっている。この結果、実施形態3に係る発振波長調整型のTLDにおいても、MEMS技術の外部共振器構造を用いることなく、導波路型の位相調整における導波路材料の物性値にも依存せず、共振器長Lの制御量を調整できる。

Claims (6)

  1. 基板上に集積された発振波長調整型の波長可変レーザダイオードであって、
    光を発生して増幅させる光利得導波路と、
    M入力×N出力(M自然整数、N2以上の正の整数)ポートを有する多モード干渉導波路と、
    前記多モード干渉導波路のN出力ポートを有する側に接続され、前記光を反射するミラーによって終端され、それぞれの長さが異なるN個の反射型遅延線を有する反射型遅延線アレーと、
    前記N個の反射型遅延線の往復光路において、前記光の波長に応じて、透過光の強度を調整する強度変調器と
    を備えたことを特徴とする波長可変レーザダイオード。
  2. 前記強度変調器は、外部からの電気信号によって前記透過光の強度を調整される
    ことを特徴とする請求項1に記載の波長可変レーザダイオード。
  3. 前記強度変調器は、前記光の強度を調整する電界吸収型光変調器である
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の波長可変レーザダイオード。
  4. 前記電界吸収型光変調器は、前記N個の反射型遅延線における少なくとも2個以上の反射型遅延線に備えられ、且つ前記光の電界透過率をti(i=0,1,2,…,N―1)としたときに、前記tiの合計値が常に一定となるように、前記光の強度を制御可能である
    ことを特徴とする請求項3に記載の波長可変レーザダイオード。
  5. 基板上に集積された発振波長調整型の波長可変レーザダイオードであって、
    光を発生して増幅させる光利得導波路と、
    M入力×N出力(Mは自然整数、Nは2以上の正の整数)ポートを有する多モード干渉導波路と、
    前記多モード干渉導波路のN出力ポートを有する側に接続され、前記光を反射するミラーによって終端され、それぞれの長さが異なるN個の反射型遅延線を有する反射型遅延線アレーと
    を備え、
    前記ミラーは、前記光の電界反射率ri(i=0,1,2,…,N-1)の波長依存性を有する反射器である
    ことを特徴とする波長可変レーザダイオード。
  6. 前記反射器のピーク波長と反射スペクトル形状とは、一定の波長区間において前記電界反射率riの合計値が常に一定となるように調整されている
    ことを特徴とする請求項5に記載の波長可変レーザダイオード。
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