JP7380865B2 - 角度計測装置 - Google Patents

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Description

本発明は、高速動作および小型化可能な角度計測装置および方法に関する。
角度計測装置として最も知られているものは、ビルなど大型の構造物建設や、屋内の改装工事などに用いられる水準器である。この水準器は周知の通り、液体を保持した透明容器を用い、水平を基準として目的の構造物の角度を計測するものであり、液体と重力の相互作用を利用した受動的な計測装置である。
また、光学的な角度計測装置として、例えば自動車に搭載されるLight Detection and Ranging (LiDAR)などが広く知られている。この装置では、出射したレーザ光を走査し、その反射光と参照光の干渉信号を用いて測距した情報をもとに画像を構成する技術が用いられ、画像中の任意の2点間の角度計測装置である。
また、光学的な角度計測装置として、例えば特許文献1には物体の傾斜角度を計測する装置が開示されている。この装置では、物体に光を照射して反射光の2次元的な分布を受光器で検出することにより、物体の傾斜角度を計測する。
このように光学的な角度計測装置では、外部から光検出部に入射する光(上記装置における反射光)の入射角を計測する必要がある。この入射角を測定するためには、例えば、図12に示すような、反射型の光学部品101と受光位置情報が出力される平面(2次元)状の受光器102で構成され、外部から計測装置に入射する光を受光器に導き、光線が検出された位置から光線の入射角を計測する装置が考えられる。
また、図13に示すような、透過型光学部品111と受光位置情報が出力される受光器112で構成され外部から計測装置に入射する光を受光器に導き、光線が検出された位置から光線の入射角を演算する装置が考えられる。
特許第3336584号公報
しかしながら、上述の角度計測装置は任意の光源からの入射角を計測するために、光学部品の機械駆動部と光検出位置情報を出力する受光器の両方が必要であるため、小型化が困難であり、高速動作も困難であった。
また、多数存在する点光源の角度を高速に計測することも困難であった。
上述したような課題を解決するために、本発明に係る角度計測装置は、入射する光線の入射角度を計測する角度計測装置であって、複数の光偏向器と、駆動電源と、受光器と、演算部を備え、前記光偏向器が、透過型であり、電気光学効果を有し、前記駆動電源から印加される電圧により前記光線の軌道を変化させ、前記受光器に前記光線を入射させ、前記演算部が、前記受光器が検知する前記光線の強度が最大となる前記電圧に基づき、前記入射角度を算出し、前記複数の光偏向器が並列に配置されることを特徴とする。
本発明によれば、高速動作および小型化可能な角度計測装置および方法を提供できる。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る角度計測装置の構成を示すブロック図である。 図2は、本発明の第1の実施の形態に係る角度計測装置の概略図である。 図3は、本発明の第1の実施の形態に係る角度計測方法のフローチャート図である。 図4は、本発明の第1の実施の形態に係る角度計測装置の受光器で観測されるピークの模式図である。 図5は、本発明の第1の実施の形態の変形例に係る角度計測装置の概略図である。 図6は、本発明の第1の実施の形態の変形例に係る角度計測装置の概略図である。 図7は、本発明の第2の実施の形態に係る角度計測装置の構成を示すブロック図である。 図8は、本発明の第2の実施の形態に係る角度計測装置の概略図である。 図9は、本発明の第2の実施の形態に係る角度計測方法のフローチャート図である。 図10は、本発明の第2の実施の形態に係る角度計測装置の受光器で観測されるピークの模式図である。 図11は、本発明の実施例に係る角度計測装置の概略図である。 図12は、従来の角度計測装置の一例を示す模式図である。 図13は、従来の角度計測装置の一例を示す模式図である。
<第1の実施の形態>
本発明の第1の実施の形態に係る角度計測装置について図1~4を参照して説明する。
<角度計測装置の構成>
図1に、第1の実施の形態に係る角度計測装置10の構成を示す。角度計測装置は、光偏向器11と駆動電源12と受光器13と演算部14とを備える。
光偏向器11は、透過型であり、測定対象(光源)1から入射される光線2を制御する。駆動電源12は、光偏向器11を駆動する。受光器13は、光偏向器11を透過した光を検知する。演算部14は、駆動電源12の電圧と受光器13の検出強度に基づき、入射角度を算出する。
ここで、光偏向器11について、従来の透過型光偏向器としてレンズやプリズムが考えられる。しかしながら、これらの光学部品においては光線2の入射角に対して透過光の出射角が一義的に決定されるので、任意の入射角に対応するためには光学部品の機械駆動部や光検出位置情報を取得できる2次元状の受光器等が必要となる、したがって、角度計測装置の小型化、高速化に対応できない。
本実施の形態では、透過型の光偏向器11に、電気光学効果を有するニオブ酸タンタル酸カリウム(KTa1-xNb、以下、「KTN」という。)を用いる。電気光学効果は電圧を印加すると物質の屈折率が変化する現象である。したがって、光偏向器11を透過する光線2が光偏向器11内で屈折率変調を受けて偏向され、光線2の軌道が変化して、受光器に導かれる。その結果、光線2の入射角に依らず、所定の位置に固定された、光検出位置情報を出力しない単純な構成の受光器13に光線2を導くことができる。
このように、本実施の形態に係る角度計測装置10は、光偏向器11にKTNを用いることにより、小型化、高速化できる。詳細な動作原理は以下に示す。
<角度計測装置の動作原理>
図2に、本実施の形態に係る角度計測装置10の概略図を示す。図3に、本実施の形態に係る角度計測方法のフローチャート図を示す。
光偏向器11と受光器13は、水平面と平行に、光偏向器11の出射口と受光器13の入射口(受光窓)が略同一の光軸3上になるように配置される。したがって、光源1からの光線2が光偏向器11に入射する角度θ’4は、水平方向に対する入射角度となる。
以下、「略同一」とは完全同一を含み、僅かな差異がある場合、例えば、光軸3から2°~3°程度の差異や0.2~0.3mm程度の差異がある場合を含む。このような差異を含む場合には、この差異が測定誤差に繋がる。したがって、「略同一」は、測定誤差が許容される範囲において、光軸3から差異がある場合を含む。
初めに、対象となる光を角度計測装置に入射させる(ステップ21)。図2において、x軸上の任意の点に存在する点光源1から発生した光線2が、光偏向器11に光軸3であるz軸に対して角度θ’4で入射する。光偏向器11に電圧を印加しない場合、光線2はほとんど軌道を変化させずに、z軸に対して角度θ’で出射する。
次に、光偏向器11に駆動電源12により電圧を印加する。電圧の印加により、光線2は軌道を変化させ出射する角度が変化する(ステップ22)。
光偏向器11には、KTNを用いる。KTNは電気光学効果を有し、電圧を印加するとKTNの屈折率が変化する。
ここで、KTNは印加電圧の二乗に比例して屈折率が変化するKerr効果(カー効果)を示す。特にKTNは、比誘電率が大きいためカー効果が大きい(Koichiro Nakamura, Jun Miyazu, Yuzo Sasaki, Tadayuki Imai, Masahiro Sasaura, and Kazuo Fujiura,“Space-charge-controlled electro-optic effect: Optical beam deflection by electro-optic effect and space-charge-controlled electrical conduction”, J. Appl. Phys. 104, 013105 (2008))。
したがって、以下の式(1)に示すように、KTN光偏向器11に入射した光線2を光軸3(z軸)に対して角度θで出射させることができ、角度θは印加電圧の二乗に比例して変化する。
Figure 0007380865000001
ここで、Lは光偏向器11の光軸3の方向の長さ、Δn(x)はx座標に沿った屈折率変化量である。また、nはKTNの屈折率、sijは電気光学係数、dは図2におけるx軸方向の(光軸3に垂直かつ紙面に平行な)KTN結晶の厚さ、EはKTN結晶内に空間電荷効果が生じないときの電界であり印加電圧に依存する。
次に、電圧を変化させると、光線2の軌道が変化して、z軸に沿った軌道になり、z軸上に設置した受光器13に光線2が導入される。したがって、電圧を変化させて受光強度を測定すると、図4に示すようにピーク31が観測される(ステップ23)。
演算部14で、このときの電圧の値(ピーク電圧)Vpより入射角度θ’4を算出する(ステップ24-25)。入射角度θ’4の算出には、事前に式(1)又は実測に基づいて得られる、KTN光偏向器11により偏向される角度の印加電圧依存性を用いればよい。
ここで、KTN光偏向器11は200kHzの交流電圧に追従して、偏向角を変化させることができるため、角度を高速(0.01ミリ秒程度)で計測することができる。
また、角度計測装置10では、光偏向器11により光を受光器13に導入できるので、平面(2次元)状の受光器13を必要としない。その結果、受光器13は小型でよく、受光器13の受光窓は500μm程度である。
このように、本実施の形態に係る角度計測装置10によれば、光学素子の回転機構や平面(2次元)状の光検出器を必要とせず、小型の光偏向器11と受光器13を用いるので、装置全長が10mm-20mm程度に小型化できる。
以上のように、本実施の形態に係る角度計測装置10によれば、簡易な構成により高速で入射角を計測でき、装置の小型化が可能になる。
<第1の実施の形態の変形例1>
図5に、本変形例に係る角度計測装置40の概略図を示す。角度計測装置40は、第1の実施の形態に係る角度計測装置10と略同様の構成を有し、光偏向器41の入射口の前方(入射光の光源側)にバッフル板45を備える。
角度計測装置40では、バッフル板45により散乱光などによる周囲から雑音を低減して、計測精度を向上できる。
<第1の実施の形態の変形例2>
図6に、本変形例に係る角度計測装置50の概略図を示す。角度計測装置50は、第1の実施の形態に係る角度計測装置10と略同様の構成を有し、光偏向器51の入射口の前方(入射光の光源側)にバッフル板55に加えて凹レンズ56を備える。
第1の実施の形態に係る角度計測装置10では、KTN光偏向器11の偏向角は8°程度に制限されるため、計測できる入射角(立体角)に制限がある。本変形例に係る角度計測装置では、凹レンズを用いることにより、入射角(立体角)を15°程度までに拡大できる。
また、バッフル板と凹レンズを組み合わせることにより、入射角(立体角)を拡大するとともに雑音を低減できる。
本変形例では、バッフル板と凹レンズを組み合わせて用いる例を示したが、凹レンズのみを用いても入射角(立体角)を拡大することができる。
<第2の実施の形態>
本発明の第2の実施の形態に係る角度計測装置60について図7~図10を参照して説明する。第2の実施の形態に係る角度計測装置60は、多点の光源からの光線のそれぞれの角度を計測する。
<角度計測装置の構成>
図7に、第1の実施の形態に係る角度計測装置60の構成を示す。角度計測装置60は、2台の光偏向器611、612と駆動電源621、622と受光器63と演算部64とを備える。
駆動電源621、622は、それぞれ光偏向器611、612を駆動する。
受光器63は、光偏向器611、612を透過した光を検知する。
演算部64は、駆動電源621、622の電圧と受光器63の検出強度に基づき、それぞれの光線2_1、2_2、・・・、2_Nの入射角度θ’_1とφ’_1、θ’_2とφ’_2、・・・、θ’_Nとφ’_Nを算出する。
2台の光偏向器611、612において、一方の光偏向器611は第1の実施の形態と同様に、駆動電源621により電圧が印加され、垂直方向(x方向)に光の軌道を変化させる。
他方の光偏向器612は、一方の光偏向器611を、光軸3(z軸)を中心に90°回転させたものであり、略同一の光軸上に、一方の光偏向器611の前方(光源側)に配置され、駆動電源622により電圧が印加され、水平方向(y方向)に光の軌道を変化させる。ここで、他方の光偏向器は、一方の光偏向器の後方(光検出器側)に配置されてもよい。
<角度計測装置の作用効果>
図8に、本実施の形態に係る角度計測装置60の概略図を示す。図9に、本実施の形態に係る角度計測方法のフローチャート図を示す。
初めに、対象となる多点の光源からの光を角度計測装置60に入射させる(ステップ71)。x-y平面上の任意の点に存在するN個の点光源1_1、1_2、・・・、1_Nから発生した光線2_1、2_2、・・・、2_Nが、光偏向器612に光軸3であるz軸に対して、それぞれの角度θ’_1とφ’_1、θ’_2とφ’_2、・・・、θ’_Nとφ’_Nで入射する。
図7には、説明を簡略化するために、x-y平面上の任意の1点に存在する点光源1から発生した光線2が、光偏向器612に光軸3であるz軸に対して、角度θ’41と角度φ’42で入射する場合を示す。光偏向器611、612に電圧を印加しない場合、光線2はほとんど軌道を変化させずに、それぞれz軸に対して角度θ’41と角度φ’42で出射する。
次に、光偏向器611、612に、駆動電源621、622によりそれぞれ電圧Vx、Vyを印加する(ステップ72)。電圧Vx、Vyの印加により、N本の光線は軌道を変化させ出射する角度が変化する。
次に、電圧Vx、Vyを変化させると、N本のそれぞれの光線の軌道が変化して、N本の光線ごとにz軸に沿った軌道になり、z軸上に設置した受光器63にN本の光線が導入される。したがって、電圧Vx、Vyを変化させて受光強度を測定すると、それぞれのN本の光線に相当するN個のピークが観測される(ステップ73)。5本の光線の場合は、図10に示すように、5本のピーク81-85が観測される。
演算部64で、このときのそれぞれの光線に相当するピークにおける電圧(ピーク電圧)Vxより、それぞれの光線2_1、2_2、・・・、2_Nの入射角度θ’_1、θ’_2、・・・、θ’_Nを算出する。また、ピーク電圧Vyより、それぞれの光線2_1、2_2、・・・、2_Nの入射角度φ’_1、φ’_2、・・・、φ’_Nを算出する(ステップ74-75)。入射角度θ’とφ’の算出には、事前に式(1)又は実測値に基づいて得られる、KTN光偏向器611、612により偏向される角度の印加電圧依存性を用いればよい。
このように、本実施の形態に係る角度計測装置60では、垂直方向に光の軌道を変化させる光偏向器と水平方向に光の軌道を変化させる光偏向器、換言すれば、光軸に対して90°の角度をもって配置された2つの光偏向器の組み合わせによって、2次元で光の軌道を変化させて、複数の光線の入射角を一括で計測することができる。
さらに、本実施の形態に係る角度計測装置60において、KTN光偏向器611、612は200kHzの交流電圧に追従して、偏向角を変化させることができるため、多数の入射光(光線)の角度を高速で計測することができ、例えば100本の入射光(光線)に対して1秒間で角度を計測できる。
このように、本実施の形態に係る角度計測装置60によれば、光学素子の回転機構やパネル状の光検出器を必要とせずに、簡易な構成により高速で多数の入射光(光線)の入射角を計測でき、装置の小型化が可能になる。
本実施の形態では、x-y平面上の任意の点に存在するN個の点光源からの光を例にして説明したが、複数の点光源は同一のx-y平面上に存在する場合に限らない。複数の点光源が同一のx-y平面上ではなく3次元的に存在してもよい。各光源からの光が或るx-y平面を透過して角度計測装置に入射するものとすれば、本実施の形態では検出強度の絶対値を用いずにピーク電圧を用いて角度を算出するので、当該x-y平面上の点光源からの光に置き換えて考えることができる。
本実施の形態では、2台の光偏向器が互いに90°をなすように配置したが、これに限らない。90°でなくても所定の角度であればよい。それぞれ偏向する角度の方向(以下、「偏向方向」という。)が異なるように配置すればよい。複数の光偏向器間の角度が定まっていれば、それぞれの光偏向器により算出される複数の角度より立体的な入射角度を算出できる。ここで、(0、0、1)方向に進行する光線を(x、y、1)方向に偏向させる場合に、x座標、y座標が異なる場合を、「偏向方向が異なる」という。
本実施の形態では、2台の光偏向器を配置したが、これに限らない。2台でなくても複数の光偏向器をそれぞれ偏向方向が異なるように配置すればよい。それぞれ偏向方向が所定の角度をなすように複数の光偏向器を配置すれば、さらに高精度で入射角度を算出できる。また、複数の光偏向器のうち、一部の光偏向器の偏向方向が他の光偏向器の偏向方向と異なれば同様の効果を奏する。
本実施の形態では、他方の光偏向器は、一方の光偏向器と同一の光偏向器(特性)である必要ななく、単位電圧当たりの偏向角度など特性が異なるものであってもよい。
<実施例>
図11に、第2の実施の形態に係る角度計測装置60を多数の恒星の角度計測に用いる例を示す。本実施例において、角度計測装置60を人工衛星に搭載する。第2の実施の形態に係る角度計測装置60は簡易な構成で小型化できるので、人工衛星に搭載することができる。
人工衛星に搭載する際には、角度測定装置60の基準面を人工衛星の基準面と一致するようにして搭載することによって、角度測定装置60の検出角度を良好に保つことができる。ここで、人工衛星の基準面としては、人工衛星に搭載される他のセンサにおける基準面と一致してもよい。
本実施例において、角度計測装置により、1秒間で100個の恒星の角度を計測でき、従来の角度計測装置に比べて、1秒間で2桁程度多くの恒星の角度を計測することができる。
本発明に係る角度計測装置の他の実施例としては、物体の表面からの多数の反射光の角度から、物体表面の多様な傾斜角度(表面状態)を計測する場合や、人体や機械などの表面に装着した多数の光源の光の角度から人体や機械などの動きを計測する場合などを想定できる。
本発明に係る実施の形態では、光偏向器にKTNを用いる例を示したが、これに限らない。電気光学効果であるKerr効果(カー効果)を有する物質として、チタン酸バリウム(BaTiO:BT)、タンタル酸カリウム(KTaO:KT)、チタン酸ストロンチウム(SrTiO:ST)を用いても略同様の効果を奏する。
また、直列あるいは並列の光軸上に配置する光偏向器に、KTN、BT、KT、STのいずれかを用いた光偏向器を組み合わせて用いても同様の効果が得られる。
ここで、「直列」とは、1本の光線が複数の光学素子(光偏向器など)を通過するように配置する場合をいう。一方、「並列」とは、1本の光線が複数に分岐され、それぞれの光線が複数の光学素子(光偏向器など)を通過するように配置する場合をいう。
また、本発明に係る実施の形態における光偏向器には、KTNに限らず、電気光学効果を有する物質であればよく、印加電圧に比例して屈折率が変化するPockel‘s効果(ポッケルス効果)を有する物質を用いても略同様の効果を奏する。ポッケルス効果を有する物質として、ニオブ酸リチウム(LiNbO、以下、「LN」という。)を用いてもよく、チタン酸ジルコニア酸ランタン鉛((Pb1-xLa)(Zr Ti1-y)1-x/4O:PLZT)を用いてもよい。
また、本発明に係る実施の形態における光偏向器には、LN等を用いた音響光学素子でも略同様の効果が得られる。
また、本発明に係る実施の形態では、光偏向器と受光器、複数の光偏向器を、水平方向と平行な略同一の光軸上に配置する例を示したが、これに限らない。水平方向と平行でなく所定の角度ψをなす光軸上に配置してもよい。この場合、水平方向からの角度の差分ψを考慮して角度を算出すればよい。
また、光偏向器と受光器は、略同一光軸上に配置されなくてもよい。この場合は、光偏向器と受光器との配置における光軸からの差分を考慮して角度を算出すればよい。光偏向器は出射した光線が受光器に入射できる範囲で配置されればよい。
同様に、複数の光偏向器は略同一光軸上に配置されなくても、光偏向器の配置における光軸からの差分を考慮して角度を算出すればよい。一の光偏向器から出射した光線が他の光偏向器に入射できる範囲で配置されればよい。このように、複数の光偏向器は直列に配置すればよい。
本発明に係る実施の形態では、2台の光偏向器を直列に配置する例を示したが、これに限らない。複数の光偏向器を並列に配置してもよい。この場合、測定できる角度(入射角度)を拡大することもできる。
本発明の実施の形態では、角度計測装置の構成、方法などにおいて、各構成部の構造、寸法、材料等の一例を示したが、これに限らない。本発明に係る角度計測装置および方法の機能を発揮し効果を奏するものであればよい。
本発明は、恒星からの光の角度を測定する天文測定装置や物体表面評価装置などに適用することができる。
10 角度計測装置
1 測定対象(光源)
2 光線
3 光軸
4 入射角度
11 光偏向器
12 駆動電源
13 受光器
14 演算部

Claims (4)

  1. 入射する光線の入射角度を計測する角度計測装置であって
    数の光偏向器と、駆動電源と、受光器と、演算部を備え、
    前記光偏向器が、透過型であり、電気光学効果を有し、前記駆動電源から印加される電圧により前記光線の軌道を変化させ、前記受光器に前記光線を入射させ、
    前記演算部が、前記受光器が検知する前記光線の強度が最大となる前記電圧に基づき、前記入射角度を算出し、
    前記複数の光偏向器が並列に配置されることを特徴とする角度計測装置。
  2. 前記光偏向器に、ニオブ酸タンタル酸カリウムを用いることを特徴とする請求項1に記載の角度計測装置。
  3. 前記光偏向器の入射口の前方にバッフル板を備えることを特徴とする請求項1又は請求項に記載の角度計測装置。
  4. 前記光偏向器の入射口の前方に凹レンズを備えることを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の角度計測装置。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080107372A1 (en) 2005-01-20 2008-05-08 Yoshikazu Fujimori Optical Control Device Having Light Modulation Film
JP2010181214A (ja) 2009-02-04 2010-08-19 Ricoh Co Ltd 反射型フォトセンサ及び画像形成装置
JP2011228732A (ja) 2011-06-22 2011-11-10 Renesas Electronics Corp 光電変換素子、固定撮像デバイス、撮像装置、および画像読み取り装置
CN102322843A (zh) 2011-05-31 2012-01-18 哈尔滨工业大学 多光束激光外差高精度测量激光入射角度的方法
WO2016002373A1 (ja) 2014-07-03 2016-01-07 シャープ株式会社 光反射型センサおよび電子機器
JP2016017915A (ja) 2014-07-10 2016-02-01 日本電信電話株式会社 光干渉断層装置
JP2018072097A (ja) 2016-10-27 2018-05-10 パイオニア株式会社 測定装置および測定方法
JP2018105796A (ja) 2016-12-27 2018-07-05 国立研究開発法人理化学研究所 測定装置、光学式センサ、測定方法及びプログラム
JP2020046424A (ja) 2018-09-19 2020-03-26 ジック アーゲー 光電センサ及び光線の偏向方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6431007A (en) * 1987-07-27 1989-02-01 Agency Ind Science Techn Measuring method of incident angle
JPH08159738A (ja) * 1994-11-30 1996-06-21 Suzuki Motor Corp 入射角測定装置及びこれを用いた速度測定装置
JP3507739B2 (ja) * 1999-12-02 2004-03-15 Nec東芝スペースシステム株式会社 空間光伝送装置
US7145121B1 (en) * 2000-08-11 2006-12-05 Cook Jr Koy B Monolithic silicon integrated circuit for detecting azimuth and elevation of incident radiation and method for using same
JP2005172704A (ja) * 2003-12-12 2005-06-30 Olympus Corp 光検出装置および光学システム
JP2020040072A (ja) * 2018-09-06 2020-03-19 日本電信電話株式会社 レーザー加工装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080107372A1 (en) 2005-01-20 2008-05-08 Yoshikazu Fujimori Optical Control Device Having Light Modulation Film
JP2010181214A (ja) 2009-02-04 2010-08-19 Ricoh Co Ltd 反射型フォトセンサ及び画像形成装置
CN102322843A (zh) 2011-05-31 2012-01-18 哈尔滨工业大学 多光束激光外差高精度测量激光入射角度的方法
JP2011228732A (ja) 2011-06-22 2011-11-10 Renesas Electronics Corp 光電変換素子、固定撮像デバイス、撮像装置、および画像読み取り装置
WO2016002373A1 (ja) 2014-07-03 2016-01-07 シャープ株式会社 光反射型センサおよび電子機器
JP2016017915A (ja) 2014-07-10 2016-02-01 日本電信電話株式会社 光干渉断層装置
JP2018072097A (ja) 2016-10-27 2018-05-10 パイオニア株式会社 測定装置および測定方法
JP2018105796A (ja) 2016-12-27 2018-07-05 国立研究開発法人理化学研究所 測定装置、光学式センサ、測定方法及びプログラム
JP2020046424A (ja) 2018-09-19 2020-03-26 ジック アーゲー 光電センサ及び光線の偏向方法

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