JP7340381B2 - 空間周波数比測定装置およびそのプログラム - Google Patents
空間周波数比測定装置およびそのプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7340381B2 JP7340381B2 JP2019145122A JP2019145122A JP7340381B2 JP 7340381 B2 JP7340381 B2 JP 7340381B2 JP 2019145122 A JP2019145122 A JP 2019145122A JP 2019145122 A JP2019145122 A JP 2019145122A JP 7340381 B2 JP7340381 B2 JP 7340381B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- display
- spatial frequency
- circle
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
一方、ディスプレイの画素構造は、従来のRGBストライプだけではなく、ペンタイル、RGBW、RGB原色以外の光学カラーチャンネルを有したマルチ・クロマティックディスプレイ等、様々な新しいテクノロジが普及してきている。また、従来のRGBストライプは、その3つの光学カラーチャンネルのセットで一画素を構成しているが、マルチ・クロマティックディスプレイでは、必ずしもそれぞれの画素にRGBとその他の光学カラーチャンネルが揃って一画素を構成しておらず、画素の単位が曖昧な場合があり、4K、8Kといった画素数が同じディスプレイであっても、空間解像度特性が異なり得る。
そのため、解像度の高いカメラでディスプレイのサブピクセル構造が分析できる高倍率でディスプレイを撮影し、ディスプレイの空間解像度特性を分析することが求められている。
このディスプレイの変調度を測定する従来手法は、図17(a)に示すように、水平方向または垂直方向に白黒の矩形波のパターンPをディスプレイに表示し、カメラで撮影する。なお、図17(a)は、画素構造の例としてRGBWの構造を示し、1画素ごとに白黒を表した水平方向の矩形波のパターンPを表示した例を示している。
そして、従来手法は、カメラで撮影した画像から、図17(b)に示すように、横軸をカメラ画素位置(水平方向または垂直方向)、縦軸を輝度(画素値)とした、サブ画素単位の位置の輝度(図17中、実線)に1画素幅の平滑化フィルタをかけて(図17中、破線)変調度を測定している。
しかし、これらの情報の取得には、事前に開示されたディスプレイおよびカメラのスペック等が必要になり、それらを入手することは困難な場合がある。また、これらの情報は、仕様と一致しない場合がある。
そこで、これらの情報を必要とせずに、ディスプレイとカメラとの空間周波数の比を求める手法が望まれている。
そして、空間周波数比測定装置は、円中心探索手段によって、撮影画像上の画素の明るさに基づいて、撮影画像において円の中心点の位置を探索する。
さらに、空間周波数比測定装置は、局所ピーク探索手段によって、円中心探索手段で探索された中心点を通る撮影画像内の水平ラインおよび垂直ラインにおいて、明るさの局所ピークの位置を探索する。この水平ラインおよび垂直ラインには、円と交差する点と、中心点とで局所ピークが存在する。
そして、空間周波数比測定装置は、ピーク間画素数算出手段によって、中心点の局所ピークから、水平ラインおよび垂直ラインにおける中心点の上下左右の各局所ピークまでの局所ピーク間の画素数を求めて平均化する。この局所ピーク間の画素数の平均値は、局所ピークである中心点と円上の点との距離であって、撮影画像上の円の半径となる。
そして、空間周波数比測定装置は、画素数比算出手段によって、測定用画像上の円の半径の画素数と、撮影画像上の円の半径の画素数との比を算出する。この半径の画素数の比は、カメラの画素を基準としたディスプレイとカメラとの空間周波数比と対応するものであるため、空間周波数比測定装置は、画素数比算出手段で算出した半径の比を、ディスプレイとカメラとの空間周波数比として出力する。
本発明によれば、ディスプレイの画素構造、画素サイズ、あるいは、カメラの画素サイズ、レンズ倍率等の情報が未知であっても、ディスプレイおよびカメラの空間周波数の比を測定することができる。
これによって、本発明で測定する空間周波数比を、カメラで撮影した画像からディスプレイのMTFを測定するディスプレイMTF測定装置で利用することができる。
最初に、図1を参照して、本発明の実施形態に係る空間周波数比測定装置1の構成について説明する。
空間周波数比測定装置1は、ディスプレイ2に対向して配置したカメラ3で測定用画像を撮影した撮影画像から、ディスプレイ2とカメラ3との空間周波数比を測定するものである。
空間周波数比測定装置1は、ディスプレイ2、カメラ3および表示装置4を接続して動作する。
なお、カメラ3は、ディスプレイ2と正対させて配置するが、ディスプレイ2の画面と平行な面において回転していてもよい。
表示装置4は、カメラ3が撮影した画像、測定結果等を表示するものである。例えば、表示装置4は、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ等である。
以下、空間周波数比測定装置1の構成について詳細に説明する。
測定用画像表示手段10は、ディスプレイ2の任意の位置に、点と当該点を中心点とする予め定めた半径(例えば、10ピクセル)の円を描画した測定用画像をディスプレイ2に表示する。例えば、測定用画像表示手段10は、図2に示すように、黒色の背景画像に背景画像よりも画素値が高い(明るい)白色の点(中心点O)と円Cとを描画した測定用画像をディスプレイ2に表示する。中心点Oは、円Cよりも高い(明るい)画素値とする。なお、測定用画像は、画素値の明るさを反転(白黒反転)したものであっても構わない。
図3に示すように、画像入力手段11が入力した撮影画像Gは、中心点Oと円Cとが、背景画像よりも画素値が高い状態で撮影される。また、撮影画像Gは、中心点Oが円Cよりも画素値が高い状態で撮影される。
なお、画像入力手段11は、撮影画像に、ガウシアンフィルタ等のローパスフィルタをかけることが好ましい。これによって、画像入力手段11は、撮影画像に撮影されたディスプレイ2の画素構造(サブピクセル構造)をぼかしたり、カメラ3のノイズを抑制したりすることができる。また、画像入力手段11は、カメラ3がビデオカメラの場合、逐次入力される撮影画像(フレーム)を予め定めたフレーム数ごとに加算平均することが好ましい。
画像入力手段11は、入力した撮影画像を円中心探索手段12および局所ピーク探索手段13に出力する。
円中心探索手段12は、探索した円の中心点の位置を局所ピーク探索手段13に出力する。
中心点を通る水平ラインにおいて、中心点と、水平ラインおよび円が交差する2点との計3か所が局所ピークとなる。
同様に、中心点を通る垂直ラインにおいて、中心点と、垂直ラインおよび円が交差する2点との計3か所が局所ピークとなる。
局所ピーク探索手段13は、水平ラインおよび垂直ラインにおいて、それぞれ求めた3点の局所ピークの画素位置をピーク間画素数算出手段14に出力する。
ピーク間画素数算出手段14は、水平ラインの3点の局所ピークの画素位置から、右側の局所ピークの画素位置と中央の局所ピークの画素位置との差を算出する。この差は、円の中心から右側の半径の画素数に相当する。また、ピーク間画素数算出手段14は、中央の局所ピークの画素位置と左側の局所ピークの画素位置との差を算出する。この差は、円の中心から左側の半径の画素数に相当する。
このように、ピーク間画素数算出手段14は、円の中心点から、4方向の半径を算出する。
そして、ピーク間画素数算出手段14は、4方向の半径の平均値を算出し、撮影された円の半径の画素数とする。
これによって、測定者は、カメラ3をディスプレイ2と正対するように配置することが容易になる。
ピーク間画素数算出手段14は、算出した局所ピークのピーク間の画素数である円の半径の画素数を画素数比算出手段15に出力する。
画素数比算出手段15は、ディスプレイ2に表示された測定用画像の円の半径については、予め外部の入力装置(不図示)を介して設定されることとしてもよいし、測定用画像表示手段10から入力することとしてもよい。
また、画素数比算出手段15は、撮影画像上の円の半径の画素数については、ピーク間画素数算出手段14から入力する。
測定用画像の円の半径の画素数(ディスプレイ2の画素数)と撮影画像上の円の半径の画素数(カメラ3の画素数)との比は、カメラ3の画素を基準としたディスプレイ2の空間周波数とカメラ3の空間周波数との比と対応するものである。
ここで、測定用画像の円の半径の画素数をND(pixelDISP)、撮影画像上の円の半径の画素数をNC(pixelCAM)、カメラ3の画素を基準としたディスプレイ2の空間周波数をFD(cycles/pixelCAM)、カメラ3の空間周波数をFC(cycles/pixelCAM)とした場合、NC/ND=FC/FDとなる。なお、通常、ディスプレイ2の画素(pixelDISP)サイズは、カメラ3の画素(pixelCAM)サイズよりも大きく、例えば、30倍以上である。
画素数比算出手段15は、例えば、撮影画像上の円の半径の画素数NCを測定用画像の円の半径の画素数NDで除算して、カメラ3の画素を基準としたディスプレイ2とカメラ3との空間周波数比とする。
なお、空間周波数比測定装置1は、コンピュータを前記した各手段として機能させるためのプログラム(空間周波数比測定プログラム)で動作させることができる。
次に、図6を参照(構成については、図1参照)して、空間周波数比測定装置1の動作について説明する。
ステップS3において、円中心探索手段12は、撮影画像の中で画素値が最も高い画素位置を、円の中心点の位置として探索する。
なお、このとき、ステップとして図示は省略するが、ピーク間画素数算出手段14は、4方向のそれぞれのピーク間の画素数を表示装置4に表示することとする(図5参照)。もし、4方向のそれぞれのピーク間の画素数によって、カメラ3がディスプレイ2と正対していないと測定者が判断した場合、測定者がカメラ3を配置し直して、最初から測定を行えばよい。
ステップS7において、画素数比算出手段15は、ステップS1でディスプレイ2に表示した測定用画像の円の半径と、ステップS6で算出されたカメラ3で撮影した撮影画像上の円の半径との画素数の比を空間周波数比として算出する。
これによって、空間周波数比測定装置1は、後記する図7に示すディスプレイMTF測定装置5に入力する空間周波数比を測定により求めることができる。
例えば、ここでは、ピーク間画素数算出手段14は、中心点となる局所ピークと、上下左右の局所ピークとのピーク間の画素数で、円の半径の画素数を算出した。しかし、円の大きさは、半径の代わりに直径で特定することも可能である。
その場合、局所ピーク探索手段13は、円中心探索手段12で探索された撮影画像内の円の中心点を通る水平ラインおよび垂直ラインにおいて、それぞれ中心点を除く2点の局所ピークの位置を探索する。そして、ピーク間画素数算出手段14は、上下の両端の局所ピーク間、左右の両端の局所ピーク間の画素数で、直径を算出する。そして、画素数比算出手段15は、ディスプレイ2に表示した測定用画像の円の直径と、ピーク間画素数算出手段14で算出した円の直径との画素数の比で、空間周波数比を算出すればよい。
[ディスプレイMTF測定装置の構成]
次に、図7を参照して、参考例の実施形態に係るディスプレイMTF測定装置5の構成について説明する。
ディスプレイMTF測定装置5は、ディスプレイ2の空間周波数特性を表すMTF(以下、ディスプレイMTF)を測定するものである。
ディスプレイMTF測定装置5は、ディスプレイ2、カメラ3および表示装置4を接続して動作する。
すなわち、カメラ3は、ディスプレイ2の画素の大きさに対してカメラ3の画素が十分小さくなるように、十分高い倍率でディスプレイ2の画面を撮影する。例えば、倍率は、10~20倍以上が好ましい。これによって、ディスプレイ2の1画素がカメラ3の複数の画素に対応することになる。
なお、カメラ3は、ディスプレイ2と正対させるとともに、ディスプレイ2が表示する後記する直線のラインL(図8参照)に対して、所定角度(数度程度)傾いた状態で配置する。
以下、ディスプレイMTF測定装置5の構成について詳細に説明する。
なお、画像入力手段51は、撮影画像に、ガウシアンフィルタ等のローパスフィルタをかけることが好ましい。これによって、画像入力手段51は、撮影画像に撮影されたディスプレイ2の画素構造(サブピクセル構造)をぼかしたり、カメラ3のノイズを抑制したりすることができる。また、画像入力手段51は、カメラ3がビデオカメラの場合、逐次入力される撮影画像(フレーム)を予め定めたフレーム数ごとに加算平均することが好ましい。
画像入力手段51は、入力した撮影画像を、図示を省略したメモリに記憶する。
なお、ディスプレイ2とカメラ3との空間周波数の違いにより、図9に示すように、撮影画像Gには、直線のラインLが、複数画素のライン幅で撮影される。
画像入力手段51が入力しメモリに記憶した撮影画像は、図示を省略した画像出力手段を介して表示装置4に出力されるとともに、ROI画像抽出手段53によって読み出される。
なお、ROI設定手段52によるROIの設定は、ROIを変更する必要がなければ、一度の設定でよい。
ROI設定手段52は、設定したROIを特定するROI情報をROI画像抽出手段53に出力する。
ROI画像抽出手段53は、抽出したROI画像をライン投影情報生成手段54に出力する。
また、ROI画像抽出手段53は、ライン投影情報生成手段54におけるライン投影情報の生成の完了後、ROI画像を線広がり関数生成手段56に出力する。
ここでは、ROI画像抽出手段53は、ROI画像をライン投影情報生成手段54に出力し、ライン投影情報生成手段54からライン投影情報の生成の完了通知を入力した後に、ROI画像を線広がり関数生成手段56に出力する。
ライン投影情報生成手段54は、ライン傾き検出手段54aと、画素位置投影手段54bと、を備える。
このラインの傾き角度は、一般的な手法で求めることができる。例えば、ライン傾き検出手段54aは、ROI画像Rにおいて、Sobelエッジ検出によりエッジを検出し、図10に示すように、ROI画像Rをエッジeの境界で2値化して2値画像を生成する。そして、ライン傾き検出手段54aは、2値画像のROI画像Rをハフ(Hough)変換し、エッジeの傾き角度θeを、ラインLの傾き角度として検出する。このとき、ライン傾き検出手段54aは、例えば、0.1度程度の角度間隔でエッジeの傾き角度θeを求める。
ライン傾き検出手段54aは、検出したラインの傾き角度を画素位置投影手段54bに出力する。
なお、投影軸の座標系は、ROI画像の画素単位の座標系よりも小さいサブ画素単位とし、例えば、1画素の1/4や1/8とする。
具体的には、画素位置投影手段54bは、図11に示すように、ROI画像Rの各画素位置(x,y)を、ラインの傾き角度(エッジeの傾き角度θe)の回転方向と逆方向の傾き角度(-θe)だけ、予め定めた回転中心(例えば、ROI画像の中心)で回転させる。
そして、画素位置投影手段54bは、ROI画像Rの回転前の各画素位置(x,y)と、画素を投影したサブ画素単位の投影軸のサブピクセル幅で区切られたビンの位置とを対応付けることで、ライン投影情報を生成する。
画素位置投影手段54bは、生成したライン投影情報をライン投影情報記憶手段55に記憶する。
なお、ライン投影情報生成手段54は、画素位置投影手段54bがライン投影情報をライン投影情報記憶手段55に記憶した後、ライン投影情報の生成の完了通知をROI画像抽出手段53に出力する。
ライン投影情報記憶手段55に記憶されたライン投影情報は、線広がり関数生成手段56によって参照される。
具体的には、線広がり関数生成手段56は、図12に示すように、ライン投影情報記憶手段55に記憶されているライン投影情報に基づいて、ROI画像抽出手段53で抽出されたROI画像から、投影軸の同じビンに投影される画素の画素値を読み出し、ビンごとに平均化する。
これによって、線広がり関数生成手段56は、投影軸のサブ画素位置と画素値とを対応付けた、ラインの特性を示す線広がり関数LSFを生成することができる。
線広がり関数生成手段56は、生成した線広がり関数をMTF算出手段57に出力する。
具体的には、MTF算出手段57は、線広がり関数をフーリエ変換して絶対値を求め、定数成分(DC成分)で正規化することで、空間周波数ごとのMTFの値を求める。
なお、MTF算出手段57で求められるMTF(測定MTF)は、ディスプレイ2のMTF(ディスプレイMTF)に対して、さらに、カメラ3のMTF(カメラMTF)が重畳されている。
MTF算出手段57は、算出した測定MTFをMTF補正手段59に出力する。
カメラMTFは、空間周波数ごとにMTFの値が対応付けられたデータである。
このカメラMTF記憶手段58に予め記憶するカメラMTFは、既知のカメラ用のMTF測定装置によって予め測定されたものを用いることができる。既知のカメラ用のMTF測定装置は、例えば、特開2018-136222、特開2018-013416、特開2015-094701等に開示されている。
なお、ディスプレイ2およびカメラ3の空間周波数比(例えば、サンプリング周波数の比)は、予め既知の情報として外部から設定されるものとする。この空間周波数比は、ディスプレイ2およびカメラ3のそれぞれの画素サイズと、カメラ3の倍率とから求めることができる。なお、カメラ3の倍率は、カメラ3のレンズの焦点距離と被写体距離とから求めることができる。
あるいは、MTF補正手段59は、図1で説明した空間周波数比測定装置1で測定される空間周波数比を入力することとしてもよい。
空間周波数fにおける測定MTFの値をMTFDISP+CAM(f)、カメラMTFの値をMTFCAM(f)、ディスプレイ2の空間周波数に対するカメラ3の空間周波数の倍率である空間周波数比をn(n=fSCAM/fSDISP)とする。
この場合、MTF補正手段59は、空間周波数fDISPにおけるディスプレイMTFの値であるMTFDISP(fDISP)を、以下の式(1)により算出する。
なお、カメラMTFとディスプレイMTFとでは、サンプリングポイントが揃っていない。そこで、MTF補正手段59は、測定MTFであるMTFDISP+CAM(f)からMTFDISP+CAM(fDISP)を補間により算出し、カメラMTFであるMTFCAM(f)からMTFCAM(fDISP)を補間により算出して、前記式(1)において用いる。
これによって、MTF補正手段59は、ディスプレイMTFを求めることができる。
MTF補正手段59は、補正後のディスプレイMTFを、測定結果として外部(表示装置4)に出力する。
また、ディスプレイMTF測定装置5は、ディスプレイ2に表示したラインの傾きから線広がり関数を求めるため、画素構造に関係なくディスプレイMTFを測定することができる。
なお、ディスプレイMTF測定装置5は、コンピュータを前記した各手段として機能させるためのプログラム(ディスプレイMTF測定プログラム)で動作させることができる。
次に、図15を参照(構成については、図7参照)して、ディスプレイMTF測定装置5の動作について説明する。
なお、カメラMTF記憶手段58には、予め測定したカメラ3のMTF(カメラMTF)が記憶されているものとする。また、ディスプレイ2とカメラ3との空間周波数比は、既知であって、外部から入力されるものとする。
ステップS21において、画像入力手段51は、カメラ3で撮影した画像(撮影画像)を入力する。なお、このとき、カメラ3は、ディスプレイ2が表示する直線のラインに対して、数度程度傾けて撮影を行う。
ステップS23において、ROI画像抽出手段53は、ステップS21で入力した撮影画像から、ステップS22で設定されたROIの画像(ROI画像)を抽出する。
ステップS27において、線広がり関数生成手段56は、ステップS23で抽出されたROI画像から線広がり関数(LSF)を生成する。ここでは、線広がり関数生成手段56は、ライン投影情報記憶手段55に記憶されているライン投影情報に基づいて、ROI画像から、投影軸の同じサブ画素のビンに投影される画素の画素値を読み出し、ビンごとに平均化することで、線広がり関数を生成する(図12参照)。
以上の動作によって、ディスプレイMTF測定装置5は、ディスプレイ2に表示した任意の方向の直線のラインによって、ディスプレイMTFを測定することができる。
例えば、ここでは、ディスプレイMTF測定装置5は、ディスプレイ2を接続し、測定用画像表示手段50によって、ディスプレイ2の画面上に直線のラインを表示することとした。しかし、ディスプレイ2は、ディスプレイMTF測定装置5と独立して、直線のラインを描画した画像を表示することが可能な場合、ディスプレイMTF測定装置5は、ディスプレイ2を接続する必要はない。また、その場合、ディスプレイMTF測定装置5は、測定用画像表示手段50を構成から省略してもよい。
しかし、カメラ3がビデオカメラで、逐次入力される撮影画像に対して、ディスプレイ2に表示した直線のラインの傾きが不変とみなせる場合、必ずしも、逐次、ライン投影情報を生成する必要はない。その場合、ライン投影情報生成手段54は、ROI設定手段52でROIを設定された最初の1回だけライン投影情報を生成し、ライン投影情報記憶手段55に記憶すればよい。
10 測定用画像表示手段
11 画像入力手段
12 円中心探索手段
13 局所ピーク探索手段
14 ピーク間画素数算出手段
15 画素数比算出手段
2 ディスプレイ
3 カメラ
4 表示装置
5,5B ディスプレイMTF測定装置
50 測定用画像表示装置
51 画像入力手段
52 ROI設定手段
53 ROI画像抽出手段
54 ライン投影情報生成手段
54a ライン傾き検出手段
54b 画素位置投影手段
55 ライン投影情報記憶手段
56 線広がり関数生成手段
57 MTF算出手段
58 カメラMTF記憶手段
Claims (7)
- ディスプレイに表示された、単一画素値の画像に円と前記円の中心点とを順に明るさが異なるように描画した測定用画像を、カメラで撮影した撮影画像から、前記ディスプレイと前記カメラとの空間周波数比を測定する空間周波数比測定装置であって、
前記カメラから前記撮影画像を入力する画像入力手段と、
前記撮影画像上の画素の明るさに基づいて、前記撮影画像において前記円の中心点の位置を探索する円中心探索手段と、
前記円中心探索手段で探索された中心点を通る前記撮影画像内の水平ラインおよび垂直ラインにおいて、明るさの局所ピークの位置を探索する局所ピーク探索手段と、
前記中心点の局所ピークから、前記水平ラインおよび前記垂直ラインにおける前記中心点の上下左右の各局所ピークまでの局所ピーク間の画素数を求めて平均化することで、前記撮影画像上の円の半径の画素数を算出するピーク間画素数算出手段と、
前記測定用画像上の円の半径の画素数と、前記ピーク間画素数算出手段で算出された前記撮影画像上の円の半径の画素数との比を、前記ディスプレイと前記カメラとの空間周波数比として算出する画素数比算出手段と、
を備えることを特徴とする空間周波数比測定装置。 - ディスプレイに表示された、単一画素値の画像に円と前記円の中心点とを順に明るさが異なるように描画した測定用画像を、カメラで撮影した撮影画像から、前記ディスプレイと前記カメラとの空間周波数比を測定する空間周波数比測定装置であって、
前記カメラから前記撮影画像を入力する画像入力手段と、
前記撮影画像上の画素の明るさに基づいて、前記撮影画像において前記円の中心点の位置を探索する円中心探索手段と、
前記円中心探索手段で探索された中心点を通る前記撮影画像内の水平ラインおよび垂直ラインにおいて、明るさの局所ピークの位置を探索する局所ピーク探索手段と、
前記水平ラインで探索された左右両端の局所ピーク間の画素数と、前記垂直ラインで探索された上下両端の局所ピーク間の画素数とを求めて平均化することで、前記撮影画像上の円の直径の画素数を算出するピーク間画素数算出手段と、
前記測定用画像上の円の直径の画素数と、前記ピーク間画素数算出手段で算出された前記撮影画像上の円の直径の画素数との比を、前記ディスプレイと前記カメラとの空間周波数比として算出する画素数比算出手段と、
を備えることを特徴とする空間周波数比測定装置。 - 前記測定用画像を前記ディスプレイに表示する測定用画像表示手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の空間周波数比測定装置。
- 前記測定用画像表示手段は、前記測定用画像にアンチエイリアシング処理を行って前記ディスプレイに表示することを特徴とする請求項3に記載の空間周波数比測定装置。
- 前記画像入力手段は、入力した撮影画像にローパスフィルタをかけることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の空間周波数比測定装置。
- 前記カメラとして、逐次画像を入力するビデオカメラを用いる場合、
前記画像入力手段は、逐次入力される撮影画像を予め定めたフレーム数ごとに加算平均することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の空間周波数比測定装置。 - コンピュータを、請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の空間周波数比測定装置として機能させるための空間周波数比測定定プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019145122A JP7340381B2 (ja) | 2019-08-07 | 2019-08-07 | 空間周波数比測定装置およびそのプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019145122A JP7340381B2 (ja) | 2019-08-07 | 2019-08-07 | 空間周波数比測定装置およびそのプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021027498A JP2021027498A (ja) | 2021-02-22 |
JP7340381B2 true JP7340381B2 (ja) | 2023-09-07 |
Family
ID=74664919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019145122A Active JP7340381B2 (ja) | 2019-08-07 | 2019-08-07 | 空間周波数比測定装置およびそのプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7340381B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116823938B (zh) * | 2023-08-28 | 2023-11-17 | 荣耀终端有限公司 | 空间频率响应的确定方法、电子设备及存储介质 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009213008A (ja) | 2008-03-06 | 2009-09-17 | Sharp Corp | 固体撮像装置用テストチャート及びその使用方法、チャート盤、テスト装置 |
JP2014092508A (ja) | 2012-11-06 | 2014-05-19 | Leader Electronics Corp | テストチャート及びその使用方法 |
JP2018138904A (ja) | 2017-02-24 | 2018-09-06 | 日本放送協会 | Mtf測定用チャート |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05308665A (ja) * | 1992-04-28 | 1993-11-19 | Daikin Ind Ltd | テストパターン |
-
2019
- 2019-08-07 JP JP2019145122A patent/JP7340381B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009213008A (ja) | 2008-03-06 | 2009-09-17 | Sharp Corp | 固体撮像装置用テストチャート及びその使用方法、チャート盤、テスト装置 |
JP2014092508A (ja) | 2012-11-06 | 2014-05-19 | Leader Electronics Corp | テストチャート及びその使用方法 |
JP2018138904A (ja) | 2017-02-24 | 2018-09-06 | 日本放送協会 | Mtf測定用チャート |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021027498A (ja) | 2021-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5193113B2 (ja) | Mtf測定装置およびmtf測定プログラム | |
JP6461426B2 (ja) | 輝度調整装置及び方法、並びに画像表示システム、並びにプログラム及び記録媒体 | |
JP6302219B2 (ja) | Mtf測定装置およびmtf測定プログラム | |
KR100499764B1 (ko) | 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템 | |
CN108230397A (zh) | 多目摄像机标定与校正方法和装置、设备、程序和介质 | |
JP3937024B2 (ja) | モアレ縞を用いたずれ、パタ−ンの回転、ゆがみ、位置ずれ検出方法 | |
JP7503443B2 (ja) | ディスプレイmtf測定装置およびそのプログラム | |
JP5919212B2 (ja) | 目視照合支援装置およびその制御方法 | |
JP2005333564A (ja) | ディスプレイの評価方法及び装置 | |
JP6806587B2 (ja) | Mtf測定装置およびそのプログラム | |
KR20130077414A (ko) | 영상 처리를 통한 광축 오차 보상 방법 및 시스템, 광축 오차 보상 기능이 구현된 줌 카메라 | |
JP7340381B2 (ja) | 空間周波数比測定装置およびそのプログラム | |
CN112261394B (zh) | 振镜的偏转率的测量方法、装置、***及计算机存储介质 | |
JP6742180B2 (ja) | Mtf測定装置及びそのプログラム | |
JP2010197201A (ja) | Mtf測定用チャート、mtf測定装置およびmtf測定プログラム | |
JP7257231B2 (ja) | Mtf測定装置およびそのプログラム | |
JP7432377B2 (ja) | ディスプレイmtf測定装置およびそのプログラム | |
WO2009107365A1 (ja) | 複眼測距装置の検査方法及び検査装置並びにそれに用いるチャート | |
JP7058102B2 (ja) | 解像度特性測定装置およびそのプログラム | |
JP6795998B2 (ja) | Mtf測定装置およびそのプログラム | |
JP6860377B2 (ja) | Mtf測定用チャート | |
JP6748504B2 (ja) | Mtf測定用チャート | |
JP6967382B2 (ja) | Mtf測定装置およびそのプログラム | |
JP2021177626A (ja) | ディスプレイ変調度測定装置およびそのプログラム | |
JP7514181B2 (ja) | Mtf測定装置およびそのプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220711 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230314 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230328 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230425 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230801 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230828 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7340381 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |