JP7334791B2 - 検査用コネクタ及び検査用ユニット - Google Patents

Description

本発明は、検査用コネクタ及び検査用ユニットに関する。

従来の検査用コネクタ及び検査用ユニットに関する発明としては、例えば、特許文献１に記載のプローブが知られている。特許文献１に記載のプローブは、高周波信号の測定に用いられる。そのため、特許文献１に記載のプローブは、同軸ケーブル、プローブピン及びプランジャを備えている。同軸ケーブルは、外部導体及び中心導体を備えている。プローブピンは、中心導体に電気的に接続される。プランジャは、外部導体に電気的に接続される。

以上のような特許文献１に記載のプローブでは、プローブの損失が小さいこと、及び、同軸ケーブルがしなやかに変形できることが要求される。

特開２０１９－１３８７６８号公報

ところで、検査用コネクタでは、高周波信号を測定するプローブの他に、直流信号（例えば、電源）や比較的に低い周波数を有する信号を測定する検査用コネクタが存在する。このような検査用コネクタにおいても、検査用コネクタ、ケーブル及びコネクタを含む検査用ユニットの損失が小さいこと及びケーブルがしなやかに変形できることが要求される。

そこで、本発明の目的は、検査用ユニットの損失が小さく、かつ、同軸線部がしなやかに変形できる検査用コネクタ及び検査用ユニットを提供することである。

直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号を測定する検査用コネクタでは、同軸線部（同軸ケーブル）を用いなくてもよい。より詳細には、直流信号を測定する検査用コネクタでは、ケーブルは、中心導体が被覆された構造を有し、外部導体を備えていなくてもよい。また、比較的に低い周波数を有する信号（例えば、１５ＭＨｚ以下の周波数を有する高周波信号）を測定する検査用コネクタでは、ケーブルは、比較的に低い周波数を有する信号を伝送する中心導体が被覆された構造を有する第１ケーブルと、接地電位に接続される中心導体が被覆された構造を有する第２ケーブルとを含んでいればよい。以下では、中心導体が被覆された構造を有するケーブルを被覆電線と呼ぶ。

しかしながら、検査用コネクタにおいて被覆電線が用いられると、以下に説明するように、検査用ユニットの損失の低減と被覆電線のしなやかさとの両立が難しい。より詳細には、検査用ユニットの損失を低減するためには、被覆電線の中心導体を太くすることが考えられる。被覆電線の中心導体が太くなると、被覆電線がしなやかに変形しにくくなる。

そこで、本願発明者は、更なる検討を行った結果、同軸線部の外部導体を直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号の伝送に利用すればよいことに思い至った。より詳細には、同軸線部は、中心導体、外部導体及び絶縁体を備えている。同軸線部の断面において、外部導体は、比較的に大きな面積を有している。そこで、通常であれば接地電位に接続されるはずの外部導体を直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号の伝送に利用すれば、検査用ユニットの損失の低減を図ることができる。更に、同軸線部は、中心導体と外部導体とを絶縁する絶縁体を備えている。この絶縁体は、弾性体である。従って、絶縁体は、同軸線部がしなやかに変形することを助ける。このように、本願発明者は、直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号を測定する検査用コネクタにおいて、同軸線部の外部導体を直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号の伝送に利用すれば、検査用ユニットの損失の低減と同軸線部のしなやかさとを両立できることに思い至った。

本発明に係る検査用コネクタは、
中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁体と、を備える同軸線部の端部に接続される検査用コネクタであって、
前記外部導体と絶縁された状態で前記同軸線部を保持するプランジャであって、前記同軸線部の延伸方向に沿って延びる貫通孔が設けられているプランジャと、
前記プランジャと絶縁された状態で前記プランジャに支持されている測定ピンであって、前記貫通孔を挿通する測定ピンと、
を備えており、
前記測定ピンは、前記中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む前記外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する前記第１絶縁体と、を備える前記同軸線部の前記外部導体と電気的に接続されている。

本発明に係る検査用ユニットは、
中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁体と、を備える同軸線部と、
前記同軸線部の端部に接続されている前記検査用コネクタと、
を備える。

本発明によれば、検査用ユニットの損失を低減でき、かつ、ケーブルをしなやかに変形させることができる。

図１は、検査用ユニット１０の外観斜視図である。 図２は、検査用コネクタ１００の断面図である。 図３は、検査用コネクタ１００の下部の断面図である。 図４は、検査用コネクタ１００及びコネクタ３００の断面図である。 図５は、検査用ユニット１０ａの検査用コネクタ１００ａの下部の断面図である。 図６は、変形例に係る検査用コネクタ１００ｂの下部の断面図である。

（第１の実施形態）
［検査用ユニットの構造］
以下に、本発明の第１の実施形態に係る検査用ユニット１０の構造について図面を参照しながら説明する。図１は、検査用ユニット１０の外観斜視図である。図２は、検査用コネクタ１００の断面図である。図３は、検査用コネクタ１００の下部の断面図である。

図１ないし図３に示すように上下方向、左右方向及び前後方向を定義する。ただし、上下方向、左右方向及び前後方向は、説明のために定義した方向である。従って、検査用ユニット１０の実際の使用時における上下方向、左右方向及び前後方向は、図１ないし図３の上下方向、左右方向及び前後方向と一致していなくてよい。

本明細書において、前後方向に延びる軸や部材は、必ずしも前後方向と平行である軸や部材だけを示すものではない。前後方向に延びる軸や部材とは、前後方向に対して±４５°の範囲で傾斜している軸や部材のことである。同様に、上下方向に延びる軸や部材とは、上下方向に対して±４５°の範囲で傾斜している軸や部材のことである。左右方向に延びる軸や部材とは、左右方向に対して±４５°の範囲で傾斜している軸や部材のことである。

本明細書において、前後方向に並ぶ第１部材及び第２部材とは、以下の状態を示す。前後方向に垂直な方向に第１部材及び第２部材を見たときに、第１部材及び第２部材の両方が前後方向を示す任意の直線上に配置されている状態である。本明細書において、上下方向に見たときに前後方向に並ぶ第１部材及び第２部材とは、以下の状態を示す。上下方向に第１部材及び第２部材を見たときに、第１部材及び第２部材の両方が前後方向を示す任意の直線上に配置されている。この場合、上下方向とは異なる左右方向から第１部材及び第２部材を見ると、第１部材及び第２部材のいずれか一方が前後方向を示す任意の直線上に配置されていなくてもよい。なお、第１部材と第２部材とが接触していてもよい。第１部材と第２部材とが離れていてもよい。第１部材と第２部材との間に第３部材が存在していてもよい。この定義は、前後方向以外の方向にも適用される。なお、第１部材ないし第３部材は、検査用ユニットの一部である。

本明細書において、第１部材が第２部材の前に配置されるとは、以下の状態を指す。第１部材の少なくとも一部は、第２部材が前方向に平行移動するときに通過する領域内に配置されている。よって、第１部材は、第２部材が前方向に平行移動するときに通過する領域内に収まっていてもよいし、第２部材が前方向に平行移動するときに通過する領域から突出していてもよい。この場合、第１部材及び第２部材は、前後方向に並んでいる。この定義は、前後方向以外の方向にも適用される。

本明細書において、左右方向に見たときに、第１部材が第２部材の前に配置されるとは、以下の状態を指す。左右方向に見たときに、第１部材と第２部材が前後方向に並んでおり、かつ、左右方向に見たときに、第１部材の第２部材と対向する部分が、第２部材の前に配置される。この定義において、第１部材と第２部材は、３次元では、前後方向に並んでいなくてもよい。この定義は、前後方向以外の方向も適用される。

本明細書において、第１部材が第２部材より前に配置されるとは、以下の状態を指す。第１部材は、第２部材の前端を通り前後方向に直交する平面の前に配置される。この場合、第１部材及び第２部材は、前後方向に並んでいてもよく、並んでいなくてもよい。この定義は、前後方向以外の方向にも適用される。

本明細書において、特に断りのない場合には、第１部材の各部について以下のように定義する。第１部材の前部とは、第１部材の前半分を意味する。第１部材の後部とは、第１部材の後半分を意味する。第１部材の左部とは、第１部材の左半分を意味する。第１部材の右部とは、第１部材の右半分を意味する。第１部材の上部とは、第１部材の上半分を意味する。第１部材の下部とは、第１部材の下半分を意味する。第１部材の前端とは、第１部材の前方向の端を意味する。第１部材の後端とは、第１部材の後方向の端を意味する。第１部材の左端とは、第１部材の左方向の端を意味する。第１部材の右端とは、第１部材の右方向の端を意味する。第１部材の上端とは、第１部材の上方向の端を意味する。第１部材の下端とは、第１部材の下方向の端を意味する。第１部材の前端部とは、第１部材の前端及びその近傍を意味する。第１部材の後端部とは、第１部材の後端及びその近傍を意味する。第１部材の左端部とは、第１部材の左端及びその近傍を意味する。第１部材の右端部とは、第１部材の右端及びその近傍を意味する。第１部材の上端部とは、第１部材の上端及びその近傍を意味する。第１部材の下端部とは、第１部材の下端及びその近傍を意味する。

本明細書における任意の２つの部材を第１部材及び第２部材と定義した場合、任意の２つの部材の関係は以下のような意味になる。本明細書において、第１部材が第２部材に支持されているとは、第１部材が第２部材に対して移動不可能に第２部材に取り付けられている（すなわち、固定されている）場合、及び、第１部材が第２部材に対して移動可能に第２部材に取り付けられている場合を含む。また、第１部材が第２部材に支持されているとは、第１部材が第２部材に直接に取り付けられている場合、及び、第１部材が第３部材を介して第２部材に取り付けられている場合の両方を含む。

本明細書において、第１部材が第２部材に支持されているとは、第１部材が第２部材に対して移動不可能に第２部材に取り付けられている（すなわち、固定されている）場合を含み、第１部材が第２部材に対して移動可能に第２部材に取り付けられている場合を含まない。また、第１部材が第２部材に保持されているとは、第１部材が第２部材に直接に取り付けられている場合、及び、第１部材が第３部材を介して第２部材に取り付けられている場合の両方を含む。

本明細書において、「第１部材と第２部材とが電気的に接続される」とは、第１部材と第２部材との間で電気が導通していることを意味する。従って、第１部材と第２部材とが接触していてもよいし、第１部材と第２部材とが接触していなくてもよい。第１部材と第２部材とが接触していない場合には、第１部材と第２部材との間に導電性を有する第３部材が配置されている。

検査用ユニット１０は、電子機器内を伝送される直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号の測定に用いられる。本実施形態では、検査用ユニット１０は、比較的に低い周波数を有する信号の測定に用いられる。検査用ユニット１０は、検査用コネクタ１００、外部接続用コネクタ２００ａ，２００ｂ及び同軸ケーブル２０２ａ，２０２ｂ（同軸線部）を備えている。外部接続用コネクタ２００ａ，２００ｂは、図示しない測定機器に接続される。外部接続用コネクタ２００ａ，２００ｂの構造は一般的な構造であるので説明を省略する。

同軸ケーブル２０２ａは、検査用コネクタ１００と外部接続用コネクタ２００ａとを電気的に接続している。同軸ケーブル２０２ｂは、検査用コネクタ１００と外部接続用コネクタ２００ｂとを電気的に接続している。同軸ケーブル２０２ａ，２０２ｂは、同じ構造を有する。同軸ケーブル２０２ａの構造を例に挙げて説明する。

同軸ケーブル２０２ａは、中心導体２０４ａ、外部導体２０６ａ、絶縁体２０８ａ（第１絶縁体）及び被膜２１０ａ（第２絶縁体）を備えている。中心導体２０４ａは、同軸ケーブル２０２ａの芯線である。従って、中心導体２０４ａは、同軸ケーブル２０２ａの中心に位置する。中心導体２０４ａは、低抵抗な導体により作製されている。中心導体２０４ａは、例えば、銅により作製されている。

外部導体２０６ａは、中心導体２０４ａの周囲を囲んでいる。従って、外部導体２０６ａは、同軸ケーブル２０２ａが延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。このような外部導体２０６ａは、例えば、細い同線が編まれることにより作製されている。外部導体２０６ａは、低抵抗な導体により作製されている。外部導体２０６ａは、例えば、銅により作製されている。

絶縁体２０８ａは、中心導体２０４ａと外部導体２０６ａとを絶縁する。絶縁体２０８ａは、中心導体２０４ａと外部導体２０６ａとの間に位置している。絶縁体２０８ａは、中心導体２０４ａの周囲を囲んでいる。絶縁体２０８ａの周囲は、外部導体２０６ａにより囲まれている。絶縁体２０８ａは、同軸ケーブル２０２ａが延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。絶縁体２０８ａは、絶縁性を有する樹脂により作製されている。絶縁体２０８ａは、例えば、ポリエチレンにより作製されている。また、同軸ケーブル２０２ａがしなやかに変形できるように、絶縁体２０８ａには複数の孔が設けられている。

被膜２１０ａは、外部導体２０６ａの周囲を囲んでいる。従って、被膜２１０ａは、同軸ケーブル２０２ａが延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。被膜２１０ａは、絶縁性を有する樹脂により作製されている。被膜２１０ａは、例えば、ポリエチレンにより作製されている。ただし、被膜２１０ａには、複数の孔が設けられていない、又は、絶縁体２０８より少ない孔が設けられている。そのため、被膜２１０ａは、絶縁体２０８ａより変形しにくい。従って、被膜２１０ａのヤング率は、絶縁体２０８ａのヤング率より大きい。また、被膜２１０ａの厚みは、絶縁体２０８ａの厚みより小さい。

同軸ケーブル２０２ａの下端部では、外部導体２０６ａ、絶縁体２０８ａ及び被膜２１０ａが除去されることにより、中心導体２０４ａが、後に述べるバレル１２２ａ内で、露出している。以下では、中心導体２０４ａが露出している部分を中心導体露出部２０５ａと呼ぶ。また、中心導体露出部２０５ａの上において中心導体露出部２０５ａに隣接する部分では、被膜２１０ａが除去されることにより外部導体２０６ａが露出している。以下では、外部導体２０６ａが露出している部分を外部導体露出部２０７ａと呼ぶ。

検査用コネクタ１００は、同軸ケーブル２０２ａ，２０２ｂの端部に接続されている。本実施形態では、検査用コネクタ１００は、同軸ケーブル２０２ａ，２０２ｂの下端部に接続されている。検査用コネクタ１００は、プランジャ１０２、ハウジング１０４、フランジ１０６、スプリング１０８、スペーサ１１０、測定ピン１２０ａ，１２０ｂ、バレル１２２ａ，１２２ｂ、ブッシング１２４ａ，１２４ｂ，１２６ａ，１２６ｂ（第１絶縁部材）を備えている。

プランジャ１０２は、上下方向に延びる筒状部材である。プランジャ１０２には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ１が設けられている。貫通孔Ｈ１は、同軸ケーブル２０２ａの延伸方向に沿って延びている。貫通孔Ｈ１は、プランジャ１０２の上端から下端までを貫通している。プランジャ１０２は、外部導体２０６ａ，２０６ｂと絶縁された状態で同軸ケーブル２０２ａ，２０２ｂを保持する。プランジャ１０２が外部導体２０６ａ，２０６ｂを保持する態様については、後述する。このようなプランジャ１０２は、導電性の高い金属により作製されている。プランジャ１０２は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

ハウジング１０４は、上下方向に延びる筒状部材である。ハウジング１０４には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ２が設けられている。貫通孔Ｈ２は、ハウジング１０４の上端から下端までを貫通している。ハウジング１０４の下端部は、プランジャ１０２の上部に挿入されている。これにより、下方向に見たときに、貫通孔Ｈ１と貫通孔Ｈ２とは重なっている。このようなハウジング１０４は、導電性の高い金属により作製されている。ハウジング１０４は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

スペーサ１１０は、上下方向においてプランジャ１０２とハウジング１０４との間に配置されている。スペーサ１１０は、円板形状を有する。下方向に見たときに、スペーサ１１０の中心近傍には、２つの孔が設けられている。同軸ケーブル２０２ａ，２０２ｂは、これらの２つの孔を上下方向に通過している。これにより、スペーサ１１０は、同軸ケーブル２０２ａ，２０２ｂの前後方向及び左右方向における位置決めを行っている。このようなスペーサ１１０は、導電性の高い金属により作製されている。スペーサ１１０は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

フランジ１０６は、板形状を有する部材である。フランジ１０６は、下方向に見たときに、長方形状を有する。フランジ１０６は、上下方向において、ハウジング１０４の上端部近傍に配置される。フランジ１０６には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ３が設けられている。ハウジング１０４は、貫通孔Ｈ３内を上下方向に延びている。ただし、ハウジング１０４の上端部の直径は、フランジ１０６の貫通孔Ｈ３の直径より大きい。そのため、ハウジング１０４は、貫通孔Ｈ３を下方向に向かって通過することができない。このようなフランジ１０６は、導電性の高い金属により作製されている。フランジ１０６は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

スプリング１０８は、フランジ１０６を上方向に押す。スプリング１０８は、プランジャ１０２を下方向に押す。より詳細には、スプリング１０８の上端は、フランジ１０６の下面に固定されている。スプリング１０８の下端は、プランジャ１０２の上端に固定されている。プランジャ１０２とハウジング１０４とは一体化されている。そのため、プランジャ１０２が上方向に押されると、スプリング１０８が縮んで、プランジャ１０２及びハウジング１０４がフランジ１０６に対して上方向に変位する。

測定ピン１２０ａは、比較的に低い周波数を有する信号が印加される端子である。測定ピン１２０ａは、中心導体２０４ａと、中心導体２０４ａの周囲を囲む外部導体２０６ａと、中心導体２０４ａと外部導体２０６ａとを絶縁する絶縁体２０８ａと、を備える同軸ケーブル２０２ａの外部導体２０６ａと電気的に接続されている。本実施形態では、測定ピン１２０ａは、同軸ケーブル２０２ａの外部導体２０６ａ及び中心導体２０４ａと電気的に接続されている。測定ピン１２０ａは、上下方向に延びる棒状部材である。測定ピン１２０ａの少なくとも一部は、貫通孔Ｈ１内において上下方向に延びている。測定ピン１２０ａは、貫通孔Ｈ１を挿通している。本実施形態では、測定ピン１２０ａの下端部は、貫通孔Ｈ１から下方向に突出している。

測定ピン１２０ａは、筒部１２０２ａ、下ピン１２０４ａ、上ピン１２０６ａ及びスプリング１２０８ａを含んでいる。筒部１２０２ａは、上下方向に延びる中心軸を有する円筒形状を有する。ただし、筒部１２０２ａの上端部及び下端部の直径は、筒部１２０２ａの残余の部分の直径より小さい。すなわち、筒部１２０２ａは、筒部１２０２ａの上端部及び下端部が少し絞られた形状を有している。

下ピン１２０４ａは、上下方向に延びる棒状部材である。下ピン１２０４ａの上部は、筒部１２０２ａ内に位置する。下ピン１２０４ａの下部は、筒部１２０２ａ外に位置する。ただし、下ピン１２０４ａの上部の直径は、下ピン１２０４ａの残余の部分の直径より大きい。これにより、下ピン１２０４ａは、筒部１２０２ａを下方向に通過することができない。

上ピン１２０６ａは、上下方向に延びる棒状部材である。上ピン１２０６ａの下部は、筒部１２０２ａ内に位置する。上ピン１２０６ａの上部は、筒部１２０２ａ外に位置する。ただし、上ピン１２０６ａの下部の直径は、上ピン１２０６ａの残余の部分の直径より大きい。これにより、上ピン１２０６ａは、筒部１２０２ａを上方向に通過することができない。

スプリング１２０８ａは、筒部１２０２ａ内に配置されている。スプリング１２０８ａの下端は、下ピン１２０４ａの上端に接触している。スプリング１２０８ａの上端は、上ピン１２０６ａの下端に接触している。これにより、スプリング１２０８ａは、下ピン１２０４ａを下方向に押すとともに、上ピン１２０６ａを上方向に押している。以上の構造を有する測定ピン１２０ａは、上下方向に伸縮することができる。

以上のような測定ピン１２０ａは、例えば、黄銅により作製されている。測定ピン１２０ａは、後述するように、プランジャ１０２と絶縁された状態でプランジャ１０２に支持されている。

バレル１２２ａは、測定ピン１２０ａ及び外部導体２０６ａを保持している。より詳細には、バレル１２２ａは、同軸ケーブル２０２ａの下端部に固定されている。バレル１２２ａは、上下方向に延びる中心軸を有する円柱形状を有する。ただし、バレル１２２ａの下部には、上下方向に延びる穴Ｈ１０が設けられている。測定ピン１２０ａの一部は、穴Ｈ１０内に配置されている。測定ピン１２０ａは、バレル１２２ａに対してはんだにより固定されている。これにより、測定ピン１２０ａとバレル１２２ａとは、電気的に接続されている。測定ピン１２０ａの下端部は、穴Ｈ１０から下に突出している。

バレル１２２ａの上部には、上下方向に延びる穴Ｈ１１が設けられている。中心導体露出部２０５ａ及び外部導体露出部２０７ａは、穴Ｈ１１内に配置されている。中心導体露出部２０５ａ及び外部導体露出部２０７ａは、バレル１２２ａに対してはんだにより固定されている。これにより、中心導体２０４ａとバレル１２２ａとは、電気的に接続されている。外部導体２０６ａとバレル１２２ａとは、電気的に接続されている。以上の構造により、測定ピン１２０ａは、バレル１２２ａを介して外部導体２０６ａ及び中心導体２０４ａと電気的に接続されている。以上のような構造を有するバレル１２２ａは、例えば、黄銅により作製されている。

ブッシング１２４ａは、プランジャ１０２に保持され、かつ、バレル１２２ａを保持する絶縁部材である。ブッシング１２４ａは、上下方向に延びる中心軸を有する円筒形状を有する。ブッシング１２４ａには、上下方向に延びる貫通孔Ｈ２１が設けられている。バレル１２２ａの下部は、貫通孔Ｈ２１内に配置されている。ブッシング１２４ａは、貫通孔Ｈ１内に配置されている。これにより、ブッシング１２４ａは、プランジャ１０２とバレル１２２ａとが接触することを妨げている。すなわち、ブッシング１２４ａは、プランジャ１０２とバレル１２２ａとを絶縁している。ブッシング１２４ａは、測定ピン１２０ａとプランジャ１０２とを絶縁している。ブッシング１２４ａは、絶縁性を有する樹脂により作製されている。ブッシング１２４ａは、例えば、エポキシ樹脂により作製されている。

ブッシング１２６ａは、プランジャ１０２に保持され、かつ、バレル１２２ａを保持する絶縁部材である。ブッシング１２６ａは、上下方向に延びる中心軸を有する円筒形状を有する。ブッシング１２６ａには、上下方向に延びる貫通孔Ｈ２２が設けられている。バレル１２２ａの上部は、貫通孔Ｈ２２内に配置されている。ブッシング１２４ａは、貫通孔Ｈ１内に配置されている。これにより、ブッシング１２６ａは、プランジャ１０２とバレル１２２ａとが接触することを妨げている。すなわち、ブッシング１２６ａは、プランジャ１０２とバレル１２２ａとを絶縁している。ブッシング１２６ａは、測定ピン１２０ａとプランジャ１０２とを絶縁している。ブッシング１２６ａは、絶縁性を有する樹脂により作製されている。ブッシング１２６ａは、例えば、エポキシ樹脂により作製されている。

測定ピン１２０ｂ、バレル１２２ｂ、ブッシング１２４ｂ，１２６ｂは、測定ピン１２０ａ、バレル１２２ａ、ブッシング１２４ａ，１２６ａの右に配置されている。測定ピン１２０ｂは、接地電位に接続される端子である。ただし、測定ピン１２０ｂ、バレル１２２ｂ、ブッシング１２４ｂ，１２６ｂの構造は、測定ピン１２０ａ、バレル１２２ａ、ブッシング１２４ａ，１２６ａの構造と同じであるので説明を省略する。

［検査用ユニットの使用方法］
次に、第１の実施形態に係る検査用ユニット１０の使用方法について図面を参照しながら説明する。図４は、検査用コネクタ１００及びコネクタ３００の断面図である。

コネクタ３００は、電子機器の回路基板に実装されている。コネクタ３００は、複数の端子３０２ａ～３０２ｄを備えている。端子３０２ａからは、比較的に低い周波数を有する信号が出力する。端子３０２ｃは、接地電位に接続されている。

検査用コネクタ１００は、コネクタ３００の上にセットされる。そして、検査用コネクタ１００が下降させられる。これにより、測定ピン１２０ａは、端子３０２ａに接触する。すなわち、測定ピン１２０ａには、比較的に低い周波数を有する信号が印加される。この際、測定ピン１２０ａは、端子３０２ａにより上方向に押される。そのため、測定ピン１２０ａは、プランジャ１０２に対して上方向に変位する。測定ピン１２０ｂは、端子３０２ｃに接触する。すなわち、測定ピン１２０ｂは、接地電位に接続される。この際、測定ピン１２０ｂは、端子３０２ｃにより上方向に押される。そのため、測定ピン１２０ｂは、プランジャ１０２に対して上方向に変位する。以上の動作により、検査用コネクタ１００に接続された測定装置は、比較的に低い周波数を有する信号を測定することができる。

［効果］
検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００によれば、検査用ユニット１０の損失が小さく、かつ、同軸ケーブル２０２ａがしなやかに変形できる。より詳細には、同軸ケーブル２０２ａは、中心導体２０４ａ、外部導体２０６ａ及び絶縁体２０８ａを備えている。同軸ケーブル２０２ａの断面において、外部導体２０６ａは、比較的に大きな面積を有している。そこで、検査用コネクタ１００では、外部導体２０６ａを直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号の伝送に利用して、検査用ユニット１０の損失の低減を図っている。更に、同軸ケーブル２０２ａは、中心導体２０４ａと外部導体２０６ａとを絶縁する絶縁体２０８ａを備えている。この絶縁体２０８ａは、弾性体である。従って、絶縁体２０８ａは、同軸ケーブル２０２ａがしなやかに変形することを助ける。このように、直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号を測定する検査用コネクタ１００において、同軸ケーブル２０２ａの外部導体２０６ａを直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号の伝送に利用すれば、検査用ユニット１０の損失の低減と同軸ケーブル２０２ａのしなやかさとを両立できる。

検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００によれば、検査用ユニット１０の損失をより低減できる。より詳細には、測定ピン１２０ａは、外部導体２０６ａ及び中心導体２０４ａと電気的に接続されている。これにより、外部導体２０６ａに加えて中心導体２０４ａが直流信号又は比較的に低い周波数を有する信号の伝送に利用されるようになる。その結果、検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００によれば、検査用ユニット１０の損失をより低減できる。

検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００によれば、検査用ユニット１０の損失をより低減できる。より詳細には、測定ピン１２０ａは、バレル１２２ａを介して外部導体２０６ａと電気的に接続されている。このように、バレル１２２ａが用いられると、測定ピン１２０ａとバレル１２２ａとの接触面積を大きくすることが容易である。また、外部導体２０６ａとバレル１２２ａとの接触面積を大きくすることが容易である。その結果、測定ピン１２０ａと外部導体２０６ａとの間の抵抗値が低減される。よって、検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００によれば、検査用ユニット１０の損失をより低減できる。

検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００では、同軸ケーブル２０２ａが中心導体を備えている。中心導体２０４ａを備える同軸ケーブル２０２ａの方が、外部導体を備え中心導体を備えないケーブルよりも、安定した外部導体２０６ａの表面形状を有する。これにより、外部導体２０６ａと他の導体部材との間に発生する容量結合が不要な変化をすることを抑制できる。その結果、検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００による安定した測定を実現できる。

検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００では、プランジャ１０２が上方向に押されると、スプリング１０８が縮んで、プランジャ１０２及びハウジング１０４がフランジ１０６に対して上方向に変位する。これにより、プランジャ１０２がコネクタ３００に接続された状態で、測定ピン１２０ａの上下方向の位置が調整されるようになる。その結果、測定ピン１２０ａとコネクタ３００の端子３０２ａとをより確実に接触させることができる。

（第２の実施形態）
［検査用ユニットの構造］
以下に、本発明の第２の実施形態に係る検査用ユニット１０ａの構造について図面を参照しながら説明する。図５は、検査用ユニット１０ａの検査用コネクタ１００ａの下部の断面図である。

検査用コネクタ１００では、プランジャ１０２とバレル１２２ａとが絶縁されることにより、プランジャ１０２と測定ピン１２０ａとが絶縁されていた。一方、検査用コネクタ１００ａでは、測定ピン１２０ａとバレル１２２ａとが絶縁されることにより、プランジャ１０２と測定ピン１２０ａとが絶縁されている。以下に、この相違点を中心に検査用コネクタ１００ａの構造について説明する。

検査用コネクタ１００ａは、プランジャ１０２、ハウジング１０４、フランジ１０６（図５に図示せず）、スプリング１０８（図５に図示せず）、測定ピン１２０ａ、バレル１２２ａ、ブッシング１２８ａ（第２絶縁部材）及びブッシング１３０ａ（第３絶縁部材）を備えている。検査用コネクタ１００ａのプランジャ１０２、ハウジング１０４、フランジ１０６、スプリング１０８及び測定ピン１２０ａはそれぞれ、検査用コネクタ１００のプランジャ１０２、ハウジング１０４、フランジ１０６、スプリング１０８及び測定ピン１２０ａと同じであるので説明を省略する。

バレル１２２ａは、プランジャ１０２に保持されている。より詳細には、バレル１２２ａは、貫通孔Ｈ１内に配置されている。また、バレル１２２ａは、プランジャ１０２に接触している。バレル１２２ａは、上下方向に延びる中心軸を有する円筒形状を有する。バレル１２２ａには、上下方向に延びる貫通孔Ｈ３０が設けられている。貫通孔Ｈ３０は、バレル１２２ａの上端から下端までを貫通している。

測定ピン１２０ａは、バレル１２２ａの貫通孔Ｈ３０内に配置されている。ただし、測定ピン１２０ａとバレル１２２ａとは、絶縁されている。具体的には、ブッシング１２８ａは、バレル１２２ａに保持され、かつ、測定ピン１２０ａを保持している。

また、ブッシング１３０ａは、バレル１２２ａに保持され、かつ、外部導体２０６ａを保持している。これにより、外部導体２０６ａとバレル１２２ａとは、絶縁されている。

また、測定ピン１２０ａの上端は、中心導体２０４ａの下端に接触している。また、中心導体２０４ａと外部導体２０６ａとは、接続部材２１２ａにより電気的に接続されている。そのため、測定ピン１２０ａは、同軸ケーブル２０２ａの中心導体２０４ａ及び外部導体２０６ａに電気的に接続されている。

検査用コネクタ１００ａによれば、検査用コネクタ１００と同じ理由により、検査用ユニット１０の損失が小さく、かつ、同軸ケーブル２０２ａがしなやかに変形できる。

ところで、図６は、変形例に係る検査用コネクタ１００ｂの下部の断面図である。図６に示すように、測定ピン１２０ａは、外部導体２０６ａと電気的に接続されていれば、中心導体２０４ａと電気的に接続されていなくてもよい。

（その他の実施形態）
なお、検査用コネクタ１００，１００ａ，１００ｂの構成を任意に組み合わせてもよい。

なお、検査用コネクタ１００，１００ａ，１００ｂの測定ピン１２０ａには、比較的に低い周波数を有する高周波信号（１５ＭＨｚ以下の周波数を有する高周波信号）が印加されている。しかしながら、検査用コネクタ１００，１００ａ，１００ｂの測定ピン１２０ａには、直流信号が印加されてもよい。

なお、検査用ユニット１０及び検査用コネクタ１００では、測定ピン１２０ａが下方向に突出した状態でコネクタ３００の端子３０２ａに接続される。しかしながら、プランジャ１０２がコネクタ３００に接続された後に、測定ピン１２０ａが下方向に突出してもよい。

１０，１０ａ：検査用ユニット
１００，１００ａ，１００ｂ：検査用コネクタ
１０２：プランジャ
１０４：ハウジング
１０６：フランジ
１０８，１２０８ａ：スプリング
１１０：スペーサ
１２０ａ，１２０ｂ：測定ピン
１２２ａ，１２２ｂ：バレル
１２４ａ，１２４ｂ，１２６ａ，１２６ｂ，１２８ａ，１３０ａ：ブッシング
２００ａ，２００ｂ：外部接続用コネクタ
２０２ａ，２０２ｂ：同軸ケーブル
２０４ａ：中心導体
２０５ａ：中心導体露出部
２０６ａ，２０６ｂ：外部導体
２０７ａ：外部導体露出部
２０８ａ：絶縁体
２１０ａ：被膜
２１２ａ：接続部材
３００：コネクタ
３０２ａ～３０２ｄ：端子
１２０２ａ：筒部
１２０４ａ：下ピン
１２０６ａ：上ピン

Claims (11)

1. 中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁体と、を備える同軸線部の端部に接続される検査用コネクタであって、
   前記外部導体と絶縁された状態で前記同軸線部を保持する金属であるプランジャであって、前記同軸線部の延伸方向に沿って延びる貫通孔が設けられているプランジャと、
   前記プランジャと絶縁された状態で前記プランジャに支持されている測定ピンであって、前記貫通孔に挿通される測定ピンと、
   を備え、
   前記測定ピンは、前記中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む前記外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する前記第１絶縁体と、を備える前記同軸線部の前記外部導体と電気的に接続されていて、
   前記プランジャに保持されているバレルと、
   前記バレルに保持され、かつ、前記測定ピンを保持する第２絶縁部材と、
   前記バレルに保持され、かつ、前記外部導体を保持する第３絶縁部材と、
   を更に備える、
   検査用コネクタ。
2. 中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁体と、を備える同軸線部の端部に接続される検査用コネクタであって、
   前記外部導体と絶縁された状態で前記同軸線部を保持する金属であるプランジャであって、前記同軸線部の延伸方向に沿って延びる貫通孔が設けられているプランジャと、
   前記プランジャと絶縁された状態で前記プランジャに支持されている測定ピンであって、前記貫通孔に挿通される測定ピンと、
   を備え、
   前記測定ピンは、前記中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む前記外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する前記第１絶縁体と、を備える前記同軸線部の前記外部導体と電気的に接続されていて、
   前記測定ピン及び前記外部導体を保持するバレルを、
   更に備え、
   前記測定ピンは、前記バレルを介して前記外部導体と電気的に接続されている、
   検査用コネクタ。
3. 前記測定ピンには、１５ＭＨｚ以下の周波数を有する高周波信号が印加される、
   請求項１又は請求項２に記載の検査用コネクタ。
4. 前記測定ピンは、直流信号が印加される端子である、
   請求項１又は請求項２に記載の検査用コネクタ。
5. 前記測定ピンは、前記外部導体及び前記中心導体と電気的に接続されている端子である、
   請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の検査用コネクタ。
6. 前記バレルは、円柱形状の導体であり、
   前記バレルには、穴が設けられている、
   請求項２に記載の検査用コネクタ。
7. 前記検査用コネクタは、
   前記プランジャに保持され、かつ、前記バレルを保持する第１絶縁部材を、
   更に備える、
   請求項２又は請求項６に記載の検査用コネクタ。
8. 前記同軸線部は、前記外部導体の周囲を囲む第２絶縁体を、更に備えており、
   前記第２絶縁体のヤング率は、前記第１絶縁体のヤング率より大きい、
   請求項１ないし請求項７のいずれかに記載の検査用コネクタ。
9. 前記測定ピンは、棒形状を有している、
   請求項１ないし請求項８のいずれかに記載の検査用コネクタ。
10. 前記外部導体には、信号が印加される、
    請求項１ないし請求項９のいずれかに記載の検査用コネクタ。
11. 中心導体と、前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁体と、を備える同軸線部と、
    前記同軸線部の端部に接続されている請求項１ないし請求項１０のいずれかに記載の検査用コネクタと、
    を備える、
    検査用ユニット。

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