JP2023133153A - 検査用コネクタ - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明の目的は、容易に組み立てることができる検査用コネクタを提供することである。【解決手段】中心導体は、同軸ケーブルの下端部において中心導体が露出している中心導体露出部を含んでいる。外部導体は、同軸ケーブルの中心導体露出部より上において外部導体が露出している外部導体露出部を含んでいる。同軸ケーブルの下端部が第1貫通孔の上端から第1貫通孔に挿入されていることにより、外部導体露出部の少なくとも一部が第1貫通孔外に位置している。中心導体露出部は、プローブの上端部に接続されている。導電性接合材は、外部導体露出部の一部をプランジャに固定している。【選択図】 図4
Description
本発明は、高周波信号の測定に用いられる検査用コネクタに関する。
従来の検査用コネクタに関する発明としては、例えば、特許文献1に記載のプローブが知られている。特許文献1に記載のプローブは、プローブピン、バレル、ブッシング、同軸ケーブル及びプランジャを備えている。バレルは、上下方向に延びる中心軸を有する円筒形状を有している。バレルには、グランド電位が接続される。プローブピンは、バレル内において上下方向に延びている。プローブピンには、高周波信号が伝送される。ブッシングは、バレル内に位置しており、プローブピンを支持している。同軸ケーブルは、下端部において外部導体及び中心導体が露出している。同軸ケーブルの下端部は、バレルの上端からバレルに挿入されている。そして、中心導体は、プローブピンの上端部に半田により固定されている。外部導体は、半田によりバレルの内周面に固定されている。プランジャには、プランジャを上下方向に貫通する貫通孔が設けられている。バレルは、同軸ケーブルが接続された状態で貫通孔に挿入されている。
ところで、特許文献1に記載のプローブにおいて、容易にプローブを組み立てたいという要望がある。
そこで、本発明の目的は、容易に組み立てることができる検査用コネクタを提供することである。
本発明の一形態に係る検査用コネクタは、
グランド電位が接続され、かつ、上下方向に延びる第1貫通孔が設けられているプランジャと、
高周波信号が伝送され、かつ、前記第1貫通孔内において上下方向に延びているプローブと、
前記第1貫通孔内に設けられており、前記プローブと前記プランジャとが絶縁されるように前記プローブを支持している絶縁性支持部材と、
中心導体と、上下方向に見たときに前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁している第1絶縁体と、上下方向に見て前記外部導体の周囲を囲む第2絶縁体と、を含んでいる同軸ケーブルと、
導電性接合材と、
を備えており、
前記中心導体は、前記同軸ケーブルの下端部において前記中心導体が露出している中心導体露出部を含んでおり、
前記外部導体は、前記同軸ケーブルの前記中心導体露出部より上において前記外部導体が露出している外部導体露出部を含んでおり、
前記同軸ケーブルの前記下端部が前記第1貫通孔の上端から前記第1貫通孔に挿入されていることにより、前記外部導体露出部の少なくとも一部が前記第1貫通孔外に位置しており、
前記中心導体露出部は、前記プローブの上端部に接続されており、
前記導電性接合材は、前記外部導体露出部の一部を前記プランジャに固定している。
グランド電位が接続され、かつ、上下方向に延びる第1貫通孔が設けられているプランジャと、
高周波信号が伝送され、かつ、前記第1貫通孔内において上下方向に延びているプローブと、
前記第1貫通孔内に設けられており、前記プローブと前記プランジャとが絶縁されるように前記プローブを支持している絶縁性支持部材と、
中心導体と、上下方向に見たときに前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁している第1絶縁体と、上下方向に見て前記外部導体の周囲を囲む第2絶縁体と、を含んでいる同軸ケーブルと、
導電性接合材と、
を備えており、
前記中心導体は、前記同軸ケーブルの下端部において前記中心導体が露出している中心導体露出部を含んでおり、
前記外部導体は、前記同軸ケーブルの前記中心導体露出部より上において前記外部導体が露出している外部導体露出部を含んでおり、
前記同軸ケーブルの前記下端部が前記第1貫通孔の上端から前記第1貫通孔に挿入されていることにより、前記外部導体露出部の少なくとも一部が前記第1貫通孔外に位置しており、
前記中心導体露出部は、前記プローブの上端部に接続されており、
前記導電性接合材は、前記外部導体露出部の一部を前記プランジャに固定している。
本発明に係る検査用コネクタによれば、検査用コネクタを容易に組み立てることができる。
(実施形態)
[検査用コネクタの構造]
以下に、本発明の実施形態に係る検査用コネクタ10の構造について図面を参照しながら説明する。図1は、検査用コネクタ10の斜視図である。図2は、検査用コネクタ10の分解斜視図である。図3は、検査用コネクタ10のプランジャ102を上から見た図である。図3では、導電性接合材138a~138dを点線で示した。図4は、検査用コネクタ10の断面図である。図4では、プローブ134dの中心軸線を含み、かつ、左右方向に直交する断面を示した。
[検査用コネクタの構造]
以下に、本発明の実施形態に係る検査用コネクタ10の構造について図面を参照しながら説明する。図1は、検査用コネクタ10の斜視図である。図2は、検査用コネクタ10の分解斜視図である。図3は、検査用コネクタ10のプランジャ102を上から見た図である。図3では、導電性接合材138a~138dを点線で示した。図4は、検査用コネクタ10の断面図である。図4では、プローブ134dの中心軸線を含み、かつ、左右方向に直交する断面を示した。
図1ないし図4に示すように、プローブ134a~134dが延びる方向を上下方向と定義する。プローブ134b~134dが並ぶ方向を左右方向と定義する。左右方向は、上下方向と直交している。前後方向は、上下方向及び左右方向に直交している。なお、上下方向、左右方向及び前後方向は、説明の便宜上定義した方向である。従って、上下方向、左右方向及び前後方向は、検査用コネクタ10の使用時の上下方向、左右方向及び前後方向と一致していなくてもよい。
また、本明細書において、上端とは、部材の上方向の端を指す。上端部とは、上端及びその周辺の部分を指す。下端、下端部、左端、左端部、右端及び右端部についても、上端及び上端部と同じ意味である。
検査用コネクタ10は、スマートフォン等の電子機器内を伝送される高周波信号の測定に用いられる。検査用コネクタ10は、図1ないし図3に示すように、プランジャ102、ハウジング104、フランジ106、スプリング108、ねじ110a,110b、プローブ134a~134d、絶縁性支持部材136a~136d、導電性接合材138a~138d(図3参照)及び同軸ケーブル202a~202dを備えている。
プランジャ102には、グランド電位が接続される。また、プランジャ102には、図2に示すように、上下方向に延びる第1貫通孔ha~hdが設けられている。より詳細には、プランジャ102は、プランジャ下部102a及びプランジャ上部102bを含んでいる。プランジャ下部102aは、直方体形状を有している。従って、プランジャ下部102aは、図4に示すように、上面SU及び下面SDを有している。第1貫通孔ha~hdは、図2及び図4に示すように、プランジャ下部102aを上下方向に貫通している。従って、第1貫通孔ha~hdの上端は、上面SUに位置している。第1貫通孔ha~hdの下端は、下面SDに位置している。第1貫通孔ha~hdのは、左から右へとこの順に一列に並んでいる。第1貫通孔haは、第1貫通孔hbの後に位置している。
プランジャ上部102bは、図2に示すように、プランジャ下部102aの上に位置し、かつ、プランジャ下部102aに連結されている。プランジャ上部102bは、上下方向に延びる中心軸線を有する筒形状を有している。本実施形態では、プランジャ上部102bは、円筒形状を有している。そのため、図3に示すように、プランジャ上部102bは、上下方向に見て、プランジャ上部102bに囲まれた領域A11を形成している。プランジャ上部102bに囲まれた領域A11は、上下方向に見て、プランジャ下部102aと重なる重複領域A12と、プランジャ下部102aと重ならない非重複領域A13,A14とを有している。本実施形態では、非重複領域A13は、図4に示すように、上下方向に見て、重複領域A12の後に位置している。非重複領域A14は、上下方向に見て、重複領域A12の前に位置している。非重複領域A13,A14の下には部材が存在しない。また、第1貫通孔ha~hdは、上下方向に見て、重複領域A12内に位置している。
図4に示すように、前後方向に見て、後述する導電性接合材138a~138dを視認できるように、プランジャ下部102aの上面SUとプランジャ上部102bとの間に開口Op1,Op2が設けられている。開口Op1は、非重複領域A13に位置している。開口Op2は、非重複領域A14に位置している。このようなプランジャ102は、導電性の高い金属により作製されている。プランジャ102は、例えば、SUSにより作製されている。
プローブ134a~134dには、高周波信号が伝送される。プローブ134a~134dは、比較的に高い周波数を有する高周波信号が印加される端子である。比較的に高い周波数を有する高周波信号は、例えば、0.3GHz~0.3THzの周波数を有するミリ波信号やマイクロ波信号である。プローブ134a~134dは、上下方向に延びる棒形状を有している。プローブ134b~134dは、図2に示すように、左から右へとこの順に一列に並んでいる。プローブ134aは、プローブ134bの後に位置している。プローブ134a~134dは同じ構造を有しているので、以下では、プローブ134dの構造を例に挙げて説明する。
プローブ134dは、図4に示すように、第1貫通孔hd内において上下方向に延びている。具体的には、プローブ134dは、上下方向に延びる棒形状を有している。プローブ134dは、第1貫通孔hdに挿入されている。プローブ134dの下端は、下面SDより下に位置している。プローブ134dの上端は、上面SUより上に位置している。また、プローブ134dは、第1貫通孔hdの内周面に接触していない。
プローブ134dは、図4に示すように、筒部1202d、下ピン1204d及びスプリング1208dを含んでいる。筒部1202dは、上下方向に延びる筒形状を有している。本実施形態では、筒部1202dは、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有している。筒部1202dの上端は開口していない。筒部1202dの下端は開口している。筒部1202dの下端部の直径は、筒部1202dの残余の部分の直径より小さい。すなわち、筒部1202dは、筒部1202dの下端部が少し絞られた形状を有している。
下ピン1204dは、上下方向に延びる棒状部材である。下ピン1204dの上部は、筒部1202dの内部に位置している。下ピン1204dの下部は、筒部1202dから下方向に突出している。更に、下ピン1204dは、下面SDから下方向に突出している。ただし、下ピン1204dの上部の直径は、下ピン1204dの下部の直径より大きい。これにより、下ピン1204dは、筒部1202dの下端の開口を下方向に通過することができない。
スプリング1208dは、筒部1202d内に設けられている。スプリング1208dの下端は、下ピン1204dの上端に接触している。スプリング1208dの上端は、筒部1202dの内周面の上端に接触している。これにより、スプリング1208dは、下ピン1204dを下方向に押している。以上の構造を有するプローブ134dは、スプリング1208dが上下方向に伸縮することにより、上下方向に伸縮することができる。以上のようなプローブ134dは、例えば、黄銅により作製されている。
絶縁性支持部材136a~136dは、第1貫通孔hd内に設けられており、かつ、プローブ134a~134dとプランジャ102とが絶縁されるようにプローブ134a~134dを支持している。プローブ134a~134dは同じ構造を有しているので、以下では、プローブ134dの構造を例に挙げて説明する。
絶縁性支持部材136dは、図2に示すように、上下方向に見て、プローブ134dの周囲を囲む環形状を有している。より詳細には、絶縁性支持部材136dは、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有している。絶縁性支持部材136dの中心軸線は、図4に示すように、プローブ134dの中心軸線と一致する。絶縁性支持部材136dは、第1貫通孔hdの下端部に位置している。そして、プローブ134dは、絶縁性支持部材136d内において上下方向に延びている。これにより、絶縁性支持部材136dは、プランジャ102に支持されると共にプローブ134dを支持している。このような絶縁性支持部材136dは、絶縁性を有する樹脂により作製されている。絶縁性支持部材136dは、例えば、エポキシ樹脂により作製されている。これにより、プローブ134dは、プランジャ102と絶縁されている。
同軸ケーブル202b~202dの下端部は、図1に示すように、左から右へとこの順に一列に並んでいる。同軸ケーブル202aの下端部は、同軸ケーブル202bの下端部の後に位置している。同軸ケーブル202a~202dは、同じ構造を有する。同軸ケーブル202dの構造を例に挙げて説明する。
同軸ケーブル202dは、図4に示すように、中心導体204d、外部導体206d、第1絶縁体208d及び第2絶縁体210dを備えている。中心導体204dは、同軸ケーブル202dの芯線である。従って、中心導体204dは、同軸ケーブル202dの中心に位置している。中心導体204dには、高周波信号が伝送される。中心導体204dは、低い抵抗値を有する導体により作製されている。中心導体204dは、例えば、銅により作製されている。
外部導体206dは、上下方向に見たときに中心導体204dの周囲を囲んでいる。従って、外部導体206dは、同軸ケーブル202dが延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。外部導体206dには、グランド電位が接続される。このような外部導体206dは、例えば、細い導線が編まれることにより作製されている。外部導体206dは、低い抵抗値を有する導体により作製されている。外部導体206dは、例えば、銅により作製されている。
第1絶縁体208dは、中心導体204dと外部導体206dとを絶縁している。第1絶縁体208dは、中心導体204dと外部導体206dとの間に位置している。第1絶縁体208dは、上下方向に見たときに中心導体204dの周囲を囲んでいる。第1絶縁体208dの周囲は、外部導体206dにより囲まれている。第1絶縁体208dは、同軸ケーブル202dが延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。第1絶縁体208dは、絶縁性を有する樹脂により作製されている。第1絶縁体208dは、例えば、ポリエチレンにより作製されている。また、同軸ケーブル202dがしなやかに変形できるように、第1絶縁体208dには複数の孔が設けられている。
第2絶縁体210dは、上下方向に見て外部導体206dの周囲を囲んでいる。従って、第2絶縁体210dは、同軸ケーブル202dが延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。第2絶縁体210dは、絶縁性を有する樹脂により作製されている。第2絶縁体210dは、例えば、ポリエチレンにより作製されている。ただし、第2絶縁体210dには、複数の孔が設けられていない、又は、第1絶縁体208dより少ない孔が設けられている。そのため、第2絶縁体210dは、第1絶縁体208dより変形しにくい。従って、第2絶縁体210dのヤング率は、第1絶縁体208dのヤング率より大きい。
中心導体204dは、同軸ケーブル202dの下端部において中心導体204dが露出している中心導体露出部P1を含んでいる。具体的には、同軸ケーブル202dの下端部では、外部導体206d、第1絶縁体208d及び第2絶縁体210dが除去されることにより、中心導体204dが同軸ケーブル202dから露出している。
外部導体206dは、同軸ケーブル202dの中心導体露出部P1より上において外部導体206dが露出している外部導体露出部P2を含んでいる。具体的には、中心導体204dが露出している部分より上において第2絶縁体210dが除去されることにより、外部導体206dが同軸ケーブル202dから露出している。
同軸ケーブル202dの下端部が第1貫通孔hdの上端から第1貫通孔hdに挿入されていることにより、外部導体露出部P2の少なくとも一部が第1貫通孔hd外に位置している。本実施形態では、同軸ケーブル202dの下端部が第1貫通孔hdの上端から第1貫通孔hdに挿入されていることにより、中心導体露出部P1が第1貫通孔hd内に位置し、かつ、外部導体露出部P2の一部が第1貫通孔hd内に位置し、かつ、外部導体露出部P2の残部が第1貫通孔hd外に位置している。このとき、中心導体露出部P1は、プローブ134dの上端部に接続されている。例えば、中心導体露出部P1は、プローブ134dの上端部に半田等の導電性接合材(図示せず)により固定されている。
導電性接合材138dは、外部導体露出部P2の一部をプランジャ102に固定している。より詳細には、導電性接合材138dは、第1貫通孔hd外に位置している。そして、導電性接合材138dは、上面SUにおいて第1貫通孔hdの周囲に位置することにより、上面SU及び外部導体露出部P2に接触している。
また、導電性接合材138dは、第1貫通孔hdの上端に設けられることによって、外部導体露出部P2を第1貫通孔hdの内周面に固定している。具体的には、導電性接合材138dは、第1貫通孔hdの上端部において第1貫通孔hdの内周面と外部導体露出部P2との間に位置している。これにより、導電性接合材138dは、外部導体206dとプランジャ102とを電気的に接続している。導電性接合材138dは、例えば、半田である。ただし、導電性接合材138dは、樹脂及び金属の混合物である導電性接着剤であってもよい。
ハウジング104は、図2に示すように、上下方向に延びる筒状部材である。ハウジング104には、上下方向に延びる貫通孔が設けられている。貫通孔は、ハウジング104の上端から下端までを貫通している。ハウジング104の下端部は、プランジャ上部102bに挿入されている。そして、ハウジング104は、ねじ110a,110bによりプランジャ上部102bに固定されている。同軸ケーブル202a~202dは、ハウジング104の内部を上下方向に通過している。このようなハウジング104は、導電性の高い金属により作製されている。ハウジング104は、例えば、SUSにより作製されている。
フランジ106は、板形状を有する部材である。フランジ106は、下方向に見たときに、長方形状を有する。フランジ106は、上下方向において、ハウジング104の上端部近傍に配置される。フランジ106には、上下方向に延びる貫通孔が設けられている。ハウジング104は、貫通孔内を上下方向に通過している。ただし、ハウジング104の上端部の直径は、フランジ106の貫通孔の直径より大きい。そのため、ハウジング104は、貫通孔を下方向に向かって通過できない。このようなフランジ106は、導電性の高い金属により作製されている。フランジ106は、例えば、SUSにより作製されている。
スプリング108は、フランジ106を上方向に押している。スプリング108は、プランジャ102を下方向に押している。より詳細には、スプリング108の上端は、フランジ106の下面に接触している。スプリング108の下端は、プランジャ上部102bの上面に接触している。プランジャ102とハウジング104とは一体化されている。そのため、プランジャ102が上方向に押されると、スプリング108が縮んで、プランジャ102及びハウジング104がフランジ106に対して上方向に変位する。
以上のような検査用コネクタは、外部導体及び4つの中心導体を備えるコネクタの検査に用いられる。そして、プローブ134a~134dのそれぞれは、4つの中心導体に接触する。プランジャ102の下面SDは、外部導体と接触する。
[効果]
検査用コネクタ10によれば、検査用コネクタ10を容易に組み立てることができる。より詳細には、同軸ケーブル202dの下端部が第1貫通孔hdの上端から第1貫通孔hdに挿入されていることにより、外部導体露出部P2の少なくとも一部が第1貫通孔hd外に位置している。そして、導電性接合材138dは、外部導体露出部P2の一部をプランジャ102に固定している。なお、同軸ケーブル202a~202c及び導電性接合材138a~138cも、同軸ケーブル202d及び導電性接合材138dと同じ構造を有している。これにより、プローブ134a~134dを第1貫通孔ha~hdに挿入した後に、同軸ケーブル202a~202dを第1貫通孔ha~hdに挿入し、導電性接合材138a~138dを形成できる。すなわち、導電性接合材138a~138dを同時に形成することができる。その結果、検査用コネクタ10によれば、検査用コネクタ10を容易に組み立てることができる。
検査用コネクタ10によれば、検査用コネクタ10を容易に組み立てることができる。より詳細には、同軸ケーブル202dの下端部が第1貫通孔hdの上端から第1貫通孔hdに挿入されていることにより、外部導体露出部P2の少なくとも一部が第1貫通孔hd外に位置している。そして、導電性接合材138dは、外部導体露出部P2の一部をプランジャ102に固定している。なお、同軸ケーブル202a~202c及び導電性接合材138a~138cも、同軸ケーブル202d及び導電性接合材138dと同じ構造を有している。これにより、プローブ134a~134dを第1貫通孔ha~hdに挿入した後に、同軸ケーブル202a~202dを第1貫通孔ha~hdに挿入し、導電性接合材138a~138dを形成できる。すなわち、導電性接合材138a~138dを同時に形成することができる。その結果、検査用コネクタ10によれば、検査用コネクタ10を容易に組み立てることができる。
検査用コネクタ10によれば、導電性接合材138a~138dの形成時に発生する熱が、プランジャ上部102bに囲まれた領域A11に留まることを抑制できる。より詳細には、プランジャ上部102bに囲まれた領域A11は、上下方向に見て、プランジャ下部102aと重なる重複領域A12と、プランジャ下部102aと重ならない非重複領域A13,A14とを有している。これにより、導電性接合材138a~138dの形成時に発生する熱は、非重複領域A13,A14を介して、領域A11外に拡散する。その結果、導電性接合材138a~138dの形成時に発生する熱が、プランジャ上部102bに囲まれた領域A11に留まることを抑制できる。これにより、第2絶縁体210a~210dが溶けることが抑制される。
検査用コネクタ10では、前後方向に見て、導電性接合材138a~138dを視認できるように、プランジャ下部102aの上面SUとプランジャ上部102bとの間に開口Op1,Op2が設けられている。これにより、検査者は、導電性接合材138a~138dが外部導体206a~206dとプランジャ102とを電気的に接続しているか否かを、目視により確認することができる。
(第1変形例)
以下に第1変形例に係る検査用コネクタ10aについて図面を参照しながら説明する。図5は、検査用コネクタ10aの分解斜視図である。図6及び図7は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。図6及び図7では、上下方向に直交する断面を示した。図6では、ねじ110a,110bが取り付けられていない。図7では、ねじ110a,110bが取り付けられている。
以下に第1変形例に係る検査用コネクタ10aについて図面を参照しながら説明する。図5は、検査用コネクタ10aの分解斜視図である。図6及び図7は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。図6及び図7では、上下方向に直交する断面を示した。図6では、ねじ110a,110bが取り付けられていない。図7では、ねじ110a,110bが取り付けられている。
図5に示すように、ハウジング104には、ハウジング104の下端から上方向に延びる第1スリットSL1及び第2スリットSL2が設けられている。図6及び図7に示すように、第1スリットSL1は、ハウジング104の中心軸線C2の左に位置している。第2スリットSL2は、ハウジング104の中心軸線C2の右に位置している。
図7に示すように、ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L1より後において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。本実施形態では、ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の後に位置している。本明細書において、第1スリットSL1の中心c1とは、上下方向に見て、ハウジング104の円周方向における第1スリットSL1の両端の中間点である。
ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L1より前において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の前に位置している。
以上のようにねじ110a,110bが取り付けられることにより、第1スリットSL1の前後方向の幅及び第2スリットSL2の前後方向の幅が広がる。これにより、ハウジング104の下端部の外周面は、プランジャ上部102bの内周面に密着する。このとき、ハウジング104の中心軸線C1は、プランジャ上部102bの中心軸線C2と略一致している。
また、プランジャ上部102bの外周面においてねじ110a(第1締結部材)の周囲に位置する部分は、平面である。プランジャ上部102bの外周面においてねじ110b(第2締結部材)の周囲に位置する部分は、平面である。
検査用コネクタ10aによれば、部品を再利用できる。より詳細には、ねじ110a,110bは、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。これにより、プランジャ上部102bとハウジング104とを容易に分離することができる。その結果、検査用コネクタ10aによれば、部品を再利用できる。
検査用コネクタ10aによれば、プランジャ102とハウジング104との位置関係にずれが生じにくい。より詳細には、検査用コネクタ10では、ハウジング104の下端部は、プランジャ上部102bに挿入されている。そして、ねじ110a,110bは、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。この場合、ハウジング104の下端部の外径は、図7に示すように、プランジャ上部102bの内径より僅かに小さい。すなわち、ねじ110a,110bが取り付けられていない状態では、プランジャ上部102bとハウジング104との間に僅かな隙間が存在する。
ここで、ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L1より後において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L1より前において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。このとき、ハウジング104の下端部の後半分は、ねじ110aにより後方向に引っ張られる。ハウジング104の下端部の前半分は、ねじ110bにより前方向に引っ張られる。そこで、第1スリットSL1は、ハウジング104の中心軸線C2の左に位置している。第2スリットSL2は、ハウジング104の中心軸線C2の右に位置している。これにより、第1スリットSL1の前後方向の幅及び第2スリットSL2の前後方向の幅が広がる。そして、ハウジング104の下端部の外周面は、プランジャ上部102bの内周面に密着する。このとき、ハウジング104の中心軸線C1は、プランジャ上部102bの中心軸線C2と略一致している。よって、検査用コネクタ10aによれば、プランジャ102とハウジング104との位置関係にずれが生じにくい。
検査用コネクタ10aによれば、プランジャ102とハウジング104との位置関係にずれが更に生じにくい。より詳細には、ねじ110aは、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の後に位置している。ねじ110bは、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の前に位置している。これにより、第1スリットSL1の前後方向の幅の広がり量及び第2スリットSL2の前後方向の幅の広がり量が近づく。よって、ハウジング104の下端部の外周面は、プランジャ上部102bの内周面に密着しやすくなる。よって、ハウジング104の中心軸線C1は、プランジャ上部102bの中心軸線C2と更に一致しやすくなる。以上より、検査用コネクタ10aによれば、プランジャ102とハウジング104との位置関係にずれが更に生じにくい。
検査用コネクタ10aでは、プランジャ上部102bの外周面においてねじ110aの周囲に位置する部分は、平面である。プランジャ上部102bの外周面においてねじ110bの周囲に位置する部分は、平面である。これにより、ねじ110a,110bがプランジャ上部102bに力を加えたときに、力がプランジャ上部102bの中心に向かうようになる。その結果、プランジャ上部102bに歪が発生しにくくなる。
検査用コネクタ10aでは、スプリング108によりハウジング104が囲まれているので、ハウジング104に力が加わりやすい。従って、ハウジング104が変形しやすく、ハウジング104とプランジャ102との位置ずれが発生しやすい。そこで、第1スリットSL1及び第2スリットSL2がスプリング108に囲まれる。これにより、ハウジング104とプランジャ102との位置ずれが抑制される。
(第2変形例)
以下に第2変形例に係る検査用コネクタ10bについて図面を参照しながら説明する。図8は、検査用コネクタ10aのプランジャ102及びハウジング104の左側面図である。図9及び図10は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。
以下に第2変形例に係る検査用コネクタ10bについて図面を参照しながら説明する。図8は、検査用コネクタ10aのプランジャ102及びハウジング104の左側面図である。図9及び図10は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。
図8に示すように、ハウジング104の下端部は、プランジャ上部102bに挿入されている。そして、図9及び図10に示すように、プランジャ上部102bには、プランジャ上部102bの上端から下方向に延びる第1スリットSL1及び第2スリットSL2が設けられている。第1スリットSL1は、プランジャ上部102bの中心軸線C2の左に位置している。第2スリットSL2は、プランジャ上部102bの中心軸線C2の右に位置している。
ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L2より後において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2の後に位置している。
ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L2より前において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2の前に位置している。
以上のような検査用コネクタ10bでは、第1スリットSL1の前後方向の幅及び第2スリットSL2の前後方向の幅が狭くなる。これにより、プランジャ上部102bの内周面は、ハウジング104の下端部の外周面に密着する。検査用コネクタ10bのその他の構造は、検査用コネクタ10aと同じであるので説明を省略する。
(第3変形例)
以下に第3変形例に係る検査用コネクタ10cについて図面を参照しながら説明する。図11は、検査用コネクタ10cのプランジャ102及びハウジング104の左側面図である。図12及び図13は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。
以下に第3変形例に係る検査用コネクタ10cについて図面を参照しながら説明する。図11は、検査用コネクタ10cのプランジャ102及びハウジング104の左側面図である。図12及び図13は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。
図11に示すように、プランジャ上部102bは、ハウジング104の下端部に挿入されている。そして、図12及び図13に示すように、プランジャ上部102bには、プランジャ上部102bの上端から下方向に延びる第1スリットSL1及び第2スリットSL2が設けられている。第1スリットSL1は、プランジャ上部102bの中心軸線C2の左に位置している。第2スリットSL2は、プランジャ上部102bの中心軸線C2の右に位置している。
ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L2より後において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2の後に位置している。
ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L2より前において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2の前に位置している。
また、ハウジング104の外周面においてねじ110a(第1締結部材)の周囲に位置する部分は、平面である。ハウジング104の外周面においてねじ110b(第2締結部材)の周囲に位置する部分は、平面である。
以上のような検査用コネクタ10cでは、第1スリットSL1の前後方向の幅及び第2スリットSL2の前後方向の幅が広くなる。これにより、プランジャ上部102bの外周面は、ハウジング104の下端部の内周面に密着する。検査用コネクタ10cのその他の構造は、検査用コネクタ10aと同じであるので説明を省略する。
(第4変形例)
以下に第4変形例に係る検査用コネクタ10dについて図面を参照しながら説明する。図14は、検査用コネクタ10dのプランジャ102及びハウジング104の左側面図である。図15及び図16は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。
以下に第4変形例に係る検査用コネクタ10dについて図面を参照しながら説明する。図14は、検査用コネクタ10dのプランジャ102及びハウジング104の左側面図である。図15及び図16は、プランジャ102及びハウジング104の断面図である。
図14に示すように、プランジャ上部102bは、ハウジング104の下端部に挿入されている。そして、図15及び図16に示すように、ハウジング104には、ハウジング104の下端から上方向に延びる第1スリットSL1及び第2スリットSL2が設けられている。第1スリットSL1は、ハウジング104の中心軸線C1の左に位置している。第2スリットSL2は、ハウジング104の中心軸線C1の右に位置している。
ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L1より後において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110a(第1締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の後に位置している。
ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1と第1スリットSL1の中心c1とを結ぶ直線L1より前において、プランジャ上部102bとハウジング104とを固定している。ねじ110b(第2締結部材)は、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の前に位置している。
以上のような検査用コネクタ10dでは、第1スリットSL1の前後方向の幅及び第2スリットSL2の前後方向の幅が狭くなる。これにより、プランジャ上部102bの内周面は、ハウジング104の下端部の外周面に密着する。検査用コネクタ10dのその他の構造は、検査用コネクタ10aと同じであるので説明を省略する。
(その他の実施形態)
本発明に係る検査用コネクタは、前記実施形態に係る検査用コネクタ10,10a~10dに限らず、その要旨の範囲内において変更可能である。
本発明に係る検査用コネクタは、前記実施形態に係る検査用コネクタ10,10a~10dに限らず、その要旨の範囲内において変更可能である。
なお、検査用コネクタ10,10a~10dにおいて、プローブの数は4本に限らない。プローブの数は、1本以上3本以下であってもよいし、5本以上であってもよい。ただし、プローブの数は、2本以上が好ましい。
なお、検査用コネクタ10,10a~10dにおいて、プローブ134a~134dは、上下方向に伸縮可能な構造を有していなくてもよい。
なお、検査用コネクタ10において、ハウジング104、フランジ106及びスプリング108は、必須の構成要件ではない。
なお、検査用コネクタ10a~10dにおいて、フランジ106及びスプリング108は、必須の構成要件ではない。
なお、検査用コネクタ10,10a~10dにおいて、開口Op1,Op2は必須の構成要件ではない。
なお、検査用コネクタ10,10a~10dにおいて、非重複領域A13,A14が存在しなくてもよい。
なお、検査用コネクタ10,10a~10dにおいて、プランジャ102は、第1貫通孔hdの内周面に接するバレルを更に備えていてもよい。バレルは、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有している。バレルは、プランジャ102の一部である。従って、プランジャ102がバレルを備える場合には、第1貫通孔hdは、バレルの内部の空間である。
なお、検査用コネクタ10,10a~10dにおいて、外部導体露出部P2の少なくとも一部が第1貫通孔hd外に位置していればよい。従って、外部導体露出部P2の全体が第1貫通孔hd外に位置していてもよい。
なお、第1締結部材及び第2締結部材は、ねじ以外の部材であってもよい。
なお、検査用コネクタ10a~10dにおいて、第2スリットSL2は、必須の構成要件ではない。ただし、第2スリットSL2が存在すると、ハウジング104の下端部の外周面は、プランジャ上部102bの内周面に密着しやすくなる。
なお、検査用コネクタ10a~10dにおいて、第2スリットSL2は、中心軸線C1,C2の左に位置していなくてもよい。第2スリットSL2は、ねじ110a,110bより左に位置していれば、中心軸線C1,C2より前又は後に位置していてもよい。
なお、検査用コネクタ10a~10dにおいて、ねじ110aは、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の後に位置していなくてもよい。従って、ねじ110aは、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1より後に位置していれば、ハウジング104の中心軸線C1より左又は右に位置していてもよい。ねじ110bは、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1の前に位置していなくてもよい。ねじ110bは、上下方向に見て、ハウジング104の中心軸線C1より前に位置していれば、ハウジング104の中心軸線C1より左又は右に位置していてもよい。
なお、検査用コネクタ10a~10dにおいて、ねじ110aは、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2の後に位置していなくてもよい。従って、ねじ110aは、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2より後に位置していれば、プランジャ上部102bの中心軸線C2より左又は右に位置していてもよい。ねじ110bは、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2の前に位置していなくてもよい。ねじ110bは、上下方向に見て、プランジャ上部102bの中心軸線C2より前に位置していれば、プランジャ上部102bの中心軸線C2より左又は右に位置していてもよい。
なお、検査用コネクタ10,10a~10dにおいて、スプリング108の代わりの反発力発生部材として、ゴムや磁石が設けられてもよい。
10,10a~10d:検査用コネクタ
102:プランジャ
102a:プランジャ下部
102b:プランジャ上部
104:ハウジング
106:フランジ
108:スプリング
110a,110b:ねじ
134a~134d:プローブ
136a~136d:絶縁性支持部材
138a~138d:導電性接合材
202a~202d:同軸ケーブル
204d:中心導体
206a~206d:外部導体
208d:第1絶縁体
210a~210d:第2絶縁体
1202d:筒部
1204d:下ピン
1208d:スプリング
A11:領域
A12:重複領域
A13,A14:非重複領域
Op1,Op2:開口
P1:中心導体露出部
P2:外部導体露出部
SD:下面
SU:上面
ha~hd:第1貫通孔
C1,C2:中心軸線
SL1:第1スリット
SL2:第2スリット
c1:中心
102:プランジャ
102a:プランジャ下部
102b:プランジャ上部
104:ハウジング
106:フランジ
108:スプリング
110a,110b:ねじ
134a~134d:プローブ
136a~136d:絶縁性支持部材
138a~138d:導電性接合材
202a~202d:同軸ケーブル
204d:中心導体
206a~206d:外部導体
208d:第1絶縁体
210a~210d:第2絶縁体
1202d:筒部
1204d:下ピン
1208d:スプリング
A11:領域
A12:重複領域
A13,A14:非重複領域
Op1,Op2:開口
P1:中心導体露出部
P2:外部導体露出部
SD:下面
SU:上面
ha~hd:第1貫通孔
C1,C2:中心軸線
SL1:第1スリット
SL2:第2スリット
c1:中心
Claims (6)
- グランド電位が接続され、かつ、上下方向に延びる第1貫通孔が設けられているプランジャと、
高周波信号が伝送され、かつ、前記第1貫通孔内において上下方向に延びているプローブと、
前記第1貫通孔内に設けられており、前記プローブと前記プランジャとが絶縁されるように前記プローブを支持している絶縁性支持部材と、
中心導体と、上下方向に見たときに前記中心導体の周囲を囲む外部導体と、前記中心導体と前記外部導体とを絶縁している第1絶縁体と、上下方向に見て前記外部導体の周囲を囲む第2絶縁体と、を含んでいる同軸ケーブルと、
導電性接合材と、
を備えており、
前記中心導体は、前記同軸ケーブルの下端部において前記中心導体が露出している中心導体露出部を含んでおり、
前記外部導体は、前記同軸ケーブルの前記中心導体露出部より上において前記外部導体が露出している外部導体露出部を含んでおり、
前記同軸ケーブルの前記下端部が前記第1貫通孔の上端から前記第1貫通孔に挿入されていることにより、前記外部導体露出部の少なくとも一部が前記第1貫通孔外に位置しており、
前記中心導体露出部は、前記プローブの上端部に接続されており、
前記導電性接合材は、前記外部導体露出部の一部を前記プランジャに固定している、
検査用コネクタ。 - 前記同軸ケーブルの前記下端部が前記第1貫通孔の上端から前記第1貫通孔に挿入されていることにより、前記中心導体露出部が前記第1貫通孔内に位置し、かつ、前記外部導体露出部の一部が前記第1貫通孔内に位置し、かつ、前記外部導体露出部の残部が前記第1貫通孔外に位置している、
請求項1に記載の検査用コネクタ。 - 前記プランジャは、プランジャ下部と、前記プランジャ下部の上に位置し、かつ、前記プランジャ下部に連結されているプランジャ上部と、を含んでおり、
前記第1貫通孔は、前記プランジャ下部を上下方向に貫通しており、
前記プランジャ上部は、上下方向に延びる中心軸線を有する筒形状を有しており、
前記プランジャ上部に囲まれた領域は、上下方向に見て、前記プランジャ下部と重なる重複領域と前記プランジャ下部と重ならない非重複領域とを有している、
請求項1又は請求項2に記載の検査用コネクタ。 - 前記第1貫通孔は、上下方向に見て、前記重複領域内に位置している、
請求項3に記載の検査用コネクタ。 - 前記プランジャ下部は、上面を有しており、
前記第1貫通孔の上端は、前記プランジャ下部の前記上面に位置しており、
前後方向に見て、前記導電性接合材を視認できるように、前記プランジャ下部の前記上面と前記プランジャ上部との間に開口が設けられている、
請求項4に記載の検査用コネクタ。 - 前記非重複領域の下には部材が存在しない、
請求項5に記載の検査用コネクタ。
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