JP7329044B2 - 熱変調器 - Google Patents

熱変調器 Download PDF

Info

Publication number
JP7329044B2
JP7329044B2 JP2021514410A JP2021514410A JP7329044B2 JP 7329044 B2 JP7329044 B2 JP 7329044B2 JP 2021514410 A JP2021514410 A JP 2021514410A JP 2021514410 A JP2021514410 A JP 2021514410A JP 7329044 B2 JP7329044 B2 JP 7329044B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermal
heat
modulator
heater
capillary
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021514410A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022502632A (ja
Inventor
スタローン,ガエターノ
メリック,マーク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leco Corp
Original Assignee
Leco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leco Corp filed Critical Leco Corp
Publication of JP2022502632A publication Critical patent/JP2022502632A/ja
Priority to JP2023127540A priority Critical patent/JP2023145728A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7329044B2 publication Critical patent/JP7329044B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/26Conditioning of the fluid carrier; Flow patterns
    • G01N30/28Control of physical parameters of the fluid carrier
    • G01N30/30Control of physical parameters of the fluid carrier of temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/26Conditioning of the fluid carrier; Flow patterns
    • G01N30/38Flow patterns
    • G01N30/46Flow patterns using more than one column
    • G01N30/461Flow patterns using more than one column with serial coupling of separation columns
    • G01N30/465Flow patterns using more than one column with serial coupling of separation columns with specially adapted interfaces between the columns
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/26Conditioning of the fluid carrier; Flow patterns
    • G01N30/28Control of physical parameters of the fluid carrier
    • G01N30/30Control of physical parameters of the fluid carrier of temperature
    • G01N2030/303Control of physical parameters of the fluid carrier of temperature using peltier elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N2030/621Detectors specially adapted therefor signal-to-noise ratio
    • G01N2030/623Detectors specially adapted therefor signal-to-noise ratio by modulation of sample feed or detector response

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

本開示は、熱変調器に、及びクロマトグラフィーシステムでのキャピラリー内の分析種を熱的に変調するためのデバイスに関する。
トラップのための低い温度と組み合わされた高速加熱がクロマトグラフィーシステムでの狭い再注入にとって望ましいと認知されている。高速加熱は、例えば、高温ガスジェット、トラップゾーンを熱気浴の高温ゾーンへ移すこと、金属キャピラリーカラムの抵抗加熱、金属被覆された溶融シリカカラム、又はキャピラリーカラムを通す小径金属管材、その他によって実現されてきた。
冷却用に液体窒素を使用するシステムは、それらが極低温に達することができるという点で高い性能を追求されてきたが、その様なシステムに付帯する運転費は高く、多くの環境では商業的に非実用的であるかもしれない。
本開示の1つの態様は、クロマトグラフィーシステムのための熱変調器を提供している。熱変調器は、冷却器、熱バルブ、熱バッファ、ヒーター、及びキャピラリーを含んでいる。熱バルブは冷却器に熱的に係合している。熱バッファは熱バルブに熱的に係合している。ヒーターは熱バッファに熱的に係合している。キャピラリーは、ヒーターに熱的に係合していて、分析種を第1の方向に輸送するように構成されている。
開示のこの態様は、次の特徴の1つ又はそれ以上を含むことができる。幾つかの実施形では、熱バルブは、熱を第1の速度で第1の方向に移動させ且つ第2の速度で第1の方向を横断する第2の方向に移動させるように動作可能な異方性材料を含んでいる。異方性材料は熱を第1の速度で、第1の方向及び第2の方向を横断する第3の方向に移動させるように動作可能であってもよい。第1の速度は第2の速度より大きくてもよい。
幾つかの実施形では、第1の冷却器は熱電式である。
幾つかの実施形では、熱変調器は、熱バルブに熱的に係合している第2の熱電式冷却器を含んでいる。熱バルブは、第1の冷却器と第2の冷却器の間に配置されていてもよい。ヒーターは第1の冷却器に熱的に係合していてもよい。
幾つかの実施形では、熱バッファはヒーターを取り囲んでいる。
幾つかの実施形では、熱変調器は、熱バルブと第1の熱電式冷却器の間に配置されていてそれらに熱的に係合している冷リザーバを含んでいる。
別の態様によれば、本開示はクロマトグラフィーシステムのための熱変調器を提供している。熱変調器は、熱電式冷却器、冷リザーバ、熱バッファ、ヒーター、及びキャピラリーを含んでいる。冷リザーバは熱電式冷却器に熱的に係合している。熱バッファは冷リザーバに熱的に係合している。ヒーターは熱バッファに熱的に係合している。キャピラリーは、ヒーターに熱的に係合していて、分析種を第1の方向に輸送するように構成されている。
開示のこの態様は、次の特徴の1つ又はそれ以上を含むことができる。幾つかの実施形では、異方性材料が、熱バッファと冷リザーバの間に配置されていてそれらに熱的に係合している。異方性材料は、熱を第1の速度で第1の方向に移動させ且つ第2の速度で第1の方向を横断する第2の方向に移動させるように動作可能であってもよい。異方性材料は熱を第1の速度で、第1の方向及び第2の方向を横断する第3の方向に移動させるように動作可能であってもよい。第1の速度は第2の速度より大きくてもよい。
幾つかの実施形では、第1の冷却器は熱電式である。
幾つかの実施形では、熱変調器は、冷リザーバに熱的に係合している第2の熱電式冷却器を含んでいる。冷リザーバは第1の熱電式冷却器と第2の熱電式冷却器の間に配置されていてもよい。
幾つかの実施形では、ヒーターは第1の熱電式冷却器に熱的に係合している。
幾つかの実施形では、熱バッファはヒーターを取り囲んでいる。
本開示の別の態様は、熱変調器を有するクロマトグラフィーシステムを提供している。幾つかの実施形では、熱変調器は、熱変調器の表面上に配置された熱的に異方性の材料を備える熱電式変調器を含んでいる。異方性材料は、平面の熱伝導率が平面を横断する方向の熱伝導率よりも大きいとされる熱伝導率を有していてもよい。したがって、熱は、加熱場所にて熱変調器の中へ直接に(例えば横断方向に)伝導しヒーターキャピラリー組立体の下のより限定された領域で温度を著しく上昇させる、というよりむしろ熱変調器の表面全体に亘って(例えば接線方向に)分配されることができるだろう。熱を表面全体に亘って分配する際に、熱変調器の冷リザーバが効率的に(例えば完全に又は90%より多く)利用され、熱を除去するために冷却源全体が活用される。
幾つかの実施形では、冷リザーバが冷却源のセラミックカバーの上に配置されている。冷リザーバは金属材料で形成されていてもよい。幾つかの実施形では、冷リザーバは熱リザーバとして働くために異方性材料の下に配置されている(例えば冷却源と異方性材料の間に挟まれている)。冷却源によってより長い時間に亘って熱が除去されるよりも前にヒートシンク内の局所温度が上昇する可能性がある。
幾つかの実施形では、熱変調器は、加熱中に熱を封じ込める熱バッファを含んでいてもよい。
トラップ温度が上昇される場合(例えばガスクロマトグラフィーオーブン温度が立ち上げられる場合)、熱変調器は、低温先端部/熱バッファ/ヒーター/キャピラリー組立体を、この組立体と冷却源の間に配置された特定の材料を備える補助ヒーターで加熱することによって、トラップ温度を制御することができるだろう。例えば熱電式冷却器のセラミック表面と異方性材料か又は使用されている場合には金属の冷リザーバとの間に熱バルブ材料が配置されてもよい。補助ヒーターはキャピラリーの近傍の温度を上昇させることができるだろう。1つの実施形では、ヒーターは低いデューティサイクルで動作するキャピラリーヒーターであってもよい。別の実施形では、ヒーターは、熱バッファ/ヒーター/キャピラリー組立体の周りに位置づけられた別体のヒーターであってもよい。熱バッファ/ヒーター/キャピラリー組立体上で温度が上昇される際、冷却源への熱の流れは熱バルブの材料によって制限されるだろう。
幾つかの実施形では、熱バルブの材料は、例えばサファイアの様な、高い温度での低い熱伝導率と低い温度での高い熱伝導率を有する材料である。代替的には、熱バルブ材料は、冷却源がその所望される動作範囲内に留まるように熱の流れを制限するポリイミドの様な絶縁体であってもよいだろう。前者の場合(例えばサファイアなど)では、材料は、トラップ温度と冷却源の間の温度差が増加していっても、より一定した熱の流れを提供する傾向がある。後者の場合(例えば絶縁体又はその同等物)では、材料は、熱を低温先端部に封じ込め、熱の量が冷却源の熱除去能力を超える点を上回らないように冷却源への熱の流れを制限するのに十分な拘束を提供する。どちらの場合も、最大トラップ温度での熱の流れに冷却源が対応できるように材料の厚さは最適化され得る。したがって、冷却源はその最大動作温度を超えることはなく、システムが循環して次の分析開始時の初期動作条件へ戻ったときに冷却源は十分に素早く始動温度へ復帰することができるだろう。
開示の1つ又はそれ以上の実施形の詳細事項は、添付図面及び以下の説明に示されている。他の態様、特徴、及び利点は、説明及び図面並びに特許請求の範囲から明らかになるであろう。
本開示の原理によるデバイスを利用しているクロマトグラフィーシステムの一実施例の略図である。 本開示の原理によるデバイスを利用しているクロマトグラフィーシステムの別の実施例の略図である。 本開示の原理によるデバイスを利用しているクロマトグラフィーシステムの別の実施例の略図である。 図1A-図1Cのシステムのための一例としての熱変調器デバイス略平面図である。 図1A-図1Cのシステムのための一例としての熱変調器デバイスの、図2の3-3を横切って延びる線に沿って取られた断面図である。 図1A-図1Cのシステムのための別の例としての熱変調器デバイスの、図2の3-3を横切って延びる線に沿って取られた断面図である。 図1A-図1Cのシステムのための別の例としての熱変調器デバイスの、図2の3-3を横切って延びる線に沿って取られた断面図である。 図1A-図1Cのシステムのための別の例としての熱変調器デバイスの、図2の3-3を横切って延びる線に沿って取られた断面図である。 図1A-図1Cのシステムのための別の例としての熱変調器デバイスの、図2の3-3を横切って延びる線に沿って取られた断面図である。 図1A-図1Cのシステムのための別の例としての熱変調器デバイスの、図2の3-3を横切って延びる線に沿って取られた断面図である。 図1A-図1Cのシステムのための別の例としての熱変調器デバイスの、図2の3-3を横切って延びる線に沿って取られた断面図である。 図1A-図1Cのシステムのための例示としてのデバイスの熱交換ブロックの或る実施例に配置されている熱バッファの一実施例の略透視図である。
様々な図面中の同様の符号は同様の要素を表す。
この開示は、クロマトグラフでの分析種を変調するためのデバイスを有する例示としてのシステムを説明している。この開示は、その様なデバイスが包括的二次元ガスクロマトグラフィーシステム(「GCxGC」)内に採用されているシステムを説明しようとするものであり、そこではデバイスはシステムのための熱変調器として利用される。説明されるGCxGCシステムは、デバイスが採用され得る例示としての環境を提供するために含まれているが、デバイスはその様なシステムに限定されるものではない。例えば中でも特に、デバイスは(i)クロマトグラフィーシステムでのカラム間に利用されることができ、又は(ii)第1のカラムの前に試料を導入するのにも同じく利用されることができる。デバイスはガスクロマトグラフ以外のシステムでも利用され得るものと理解しておきたい。
幾つかの実施形では、二次元ガスクロマトグラフィーシステムが、急速変調及び最適包括的二次元ガスクロマトグラフィーのための十分に狭い再注入帯域を高い周波数にて提供する熱変調器として構成されたデバイスを含んでいる。本明細書に記載されている様に、効率的な熱制御は十分に狭い帯域を高速変調と共にもたらすことができる。幾つかの実施形では、デバイスは、デバイスを通って伸びるキャピラリーのトラップ部分での急な熱勾配を達成すると共に冷却デバイスでの熱負荷を最小限に抑えるように構成されている。例えばキャピラリーのトラップ部分は、キャピラリーのトラップゾーン内の分析種が(加熱中には)脱離され及び/又はキャピラリーを通されるように、そして(冷却中には)トラップされ及び/又は集束されるように、加熱及び冷却される。
諸実施形では、本明細書に記載されている様に、デバイスはキャピラリー内の所望のそして交互の温度を得るための効率的なやり方を提供している。
これより諸図を参照すると、図1Aは、ガスクロマトグラフ12、検出器14、及びガスクロマトグラフ12と検出器14の間のデバイス16を採用しているクロマトグラフィーシステム10の一部分を描いている。上述の様に、デバイス16は熱変調器とすることができ、以下に説明される例示としてのシステム10ではデバイス16は熱変調器として使用されるものとする。よってこの開示の残部については、デバイス16は熱変調器16又はデバイスとして参照されることになるが、とはいえ開示はその様なシステム10での熱変調器に限定されない。
幾つかの実施形では、ガスクロマトグラフ12と検出器14の間にキャピラリー18が設けられている。キャピラリー18は、図1A、図1B、及び図1Cに示されている様に熱変調器16を通って延びていてもよい。
幾つかの実施形では、試料(図示せず)がキャピラリー18を通ってガスクロマトグラフ12から熱変調器16へキャピラリー18の入力部分20を経由して移される。変調器16を通過した後、試料は更に熱変調器16から検出器14(又は他の外部ガスクロマトグラフィー検出器、又はカラムなど(図示せず))へキャピラリー18の出力部分22を通って移されてもよい。単一のキャピラリーが記載されているが、1つより多いキャピラリー18、移動ライン、及び試料に変調器16を出入りさせるための他の手段が利用されていてもよいということを理解されたい。例えば限定するわけではないが、第2のカラムが導入されてもよい。
図3を参照して、幾つかの実施形では、デバイス16は、内部分26と外部分28を画定しているチャンバ24を含んでいる。キャピラリー18はチャンバ24の内部分26内に配置されている。図1Aに描かれている様に、キャピラリー18は、入力部20、出力部22、及び入力部20と出力部22の間を延びている細長体を含んでいる。或る実施形ではチャンバ24はオーブンであってもよい。他の実施形はアンビエント・コントロールド・テンパラチャー・チャンバ(ambient controlled temperature chamber)又は単に包囲された空間を含んでいる。
図1B及び図1Cを参照すると、クロマトグラフィーシステムの他の実施形である10a、10bがそれぞれ示されている。クロマトグラフィーシステム10a、10bは、別途ここに提示されている場合を別にしてクロマトグラフィーシステム10と実質的に同様であるとしてもよい。したがって、以下及び図面中には同様の構成要素を識別するのに同様の符号が使用されるが、修正された構成要素を識別するために文字拡張子(即ち「a」及び「b」それぞれ)を含む同様の符号が使用される。図1Bに描かれている様に、クロマトグラフィーシステム10aはオーブン31a及びデバイス16aを含むことができる。オーブン31aは、デバイス16aに隣接していて、デバイス16aに対して離散的に形成されていてもよい。オーブン31a及びデバイス16aは、ガスクロマトグラフ12内に配置されていてもよい。図1Cに描かれている様に、クロマトグラフィーシステム10bはオーブン31b及びデバイス16bを含むことができる。オーブン31bは、デバイス16bに隣接していて、デバイス16bに対して離散的に形成されていてもよい。デバイス16bはガスクロマトグラフ12内に配置され、オーブン31bはガスクロマトグラフ12の外に配置されていてもよい。
幾つかの実施形では、デバイス16は、キャピラリー18の一部分の温度を効率的な方式で制御するために提供されている。例えば図10に描かれている様に、デバイス16がキャピラリー18の少なくとも1つのトラップゾーン32の温度を制御するように設置されている。描かれているシステム10は二段変調を含み、それによりデバイス16はキャピラリー18の2つのトラップゾーン32a、32bの温度を制御するようになっていてもよい。先に説明されている様に、キャピラリー18のトラップゾーン32内の分析種の流れ特性を制御するには、トラップゾーン32を第1の冷却された(又はトラップ用)の温度と第2の加熱された(又は脱離用の)温度との間で交互させることが所望されるだろう。
デバイス16は、キャピラリー18のトラップゾーン32を効率的に加熱及び冷却するため及びデバイス16に対して設置されている冷却デバイスが被る負荷を管理するために熱変調デバイスとして働く。以下に説明されている諸構成は、選択的に:(i)第1の時間枠中に(a)トラップゾーン32付近の熱を急速に上昇させる、(b)トラップゾーン32内の熱を保持する、及び(c)トラップゾーン32からの熱の引き出しを最小限に抑える;及び(ii)第2の時間枠中に、トラップゾーン32から熱を除去し熱を冷却デバイスに向けて方向決めする、という二重の目的で構築された多種多様な材料、構造、及びスキームを導入している。
幾つかの実施形での、様々な構成及び組合せでは、このキャピラリー18のトラップゾーン32の加熱と冷却は、次のうちの1つ又はそれ以上、即ち:(i)チャンバ24の外に設置されている例えばヒートシンクの様な冷却デバイス33、(ii)チャンバ24内部に設置されているか又は冷却デバイス33に比べてキャピラリー18により近接して設置されているヒーター34、(iii)どんな形態にせよ冷却デバイス33とヒーター34の間に設置され得る熱バッファ44、(iv)どんな形態にせよ対向する冷却デバイス33との間に設置され得る1つ又はそれ以上の熱バルブ45、及び(v)項目(i)~(iv)の何れかの組合せ、のうちの1つ又はそれ以上によって達成させることができる。以上の配置の諸例及びそれらの組合せが以下に更に詳細に説明されている。
図1Aに描かれている様に、幾つかの実施形では、トラップゾーン32を(i)熱を止め冷却デバイス33を使用することによる冷却温度と(ii)ヒーター34を使用する注入温度との間で選択的に交互させるためにコントローラ37が提供されている。コントローラ37は、ヒーター34をユーザの定義した間隔でON状態とOFF状態の間で交互するように制御することができる。
図3に描かれている様に、幾つかの実施形では、デバイス16はトラップ温度を提供するために2つの冷却デバイス33を含んでいる。幾つかの実施形では、冷却デバイス33は熱電式冷却デバイスを含んでいる。これに関し、図4及び図5に描かれている様に、冷却デバイス33は、冷却を提供するように構成され電気絶縁性セラミック49(例えばアルミナ又は窒化アルミニウム)を被せられた複数の電気的要素47を含んでいてもよい。但し、冷却デバイス33は、本開示の範囲内で、極低温冷却器又は受動的冷却器を含む何れかの他の型式の冷却器を含むこともできるものと理解しておきたい。更に理解しておきたいこととして、冷却デバイス33は、ハイスピードGC注入システム、温度制御型注入、及びGC用の多重蒸留注入デバイスにも適用されることができる。例えば冷却デバイス33は、ハイスピードGC注入、制御温度での注入、及びガスクロマトグラフへ連結された多重蒸留デバイスを含め、低温トラップと高温脱離を要する任意のGC注入デバイスと共に利用することができる。
図2及び図3に描かれている様に、熱バッファ44は、熱バルブ45、ヒーター34、及び冷却デバイス33と熱的に係合していてもよい。具体的には、各冷却デバイス33がキャピラリー18のトラップゾーン32にて熱バッファ44と熱的に係合していてもよい。これに関し、冷却デバイス33は、接触区域48、50、52を有する表面46を含んでいてもよい。接触区域48はヒーター34に熱的に係合していてもよい。接触区域50は熱バッファ44に熱的に係合していてもよい。1つ又はそれ以上の接触区域52は熱バルブ45に熱的に係合していてもよい。描かれている様に、接触区域48が一対の接触区域50の間に配置され、接触区域50が一対の接触区域52の間に配置されていてもよい。
図4を参照すると、デバイスの別の実施形であるデバイス16aが示されている。デバイス16aは、別途ここに示され又は記載されている場合を別にして、デバイス16と実質的に同様であるとしてもよい。したがって、以下及び図面中には同様の構成要素を識別するのに同様の符号が使用されるが、修正された構成要素を識別するために文字拡張子(即ち「a」)を含む同様の符号が使用される。デバイス16aは熱バッファ44aを含むことができる。図4に描かれている様に、熱バッファ44aは、熱バッファ44aの外側表面が接触区域60にて熱バルブ45の表面58に熱的に係合するようにヒーター34を取り囲んでいてもよい。
図5を参すると、デバイスの別の実施形であるデバイス16bが示されている。デバイス16bは、別途ここに示され又は記載されている場合を別にして、デバイス16、16aと実質的に同様であるとしてもよい。したがって、以下及び図面中には同様の構成要素を識別するのに同様の符号が使用されるが、修正された構成要素を識別するために文字拡張子(即ち「b」)を含む同様の符号が使用される。デバイス16aは、どんな形態にせよ冷却デバイス33と熱バルブ45の間に設置された冷リザーバ62を含むことができる。具体的には、図5に描かれている様に、冷リザーバ62は冷却デバイス33の表面46及び熱バルブ45の表面64に熱的に係合していてもよい。
図6を参照すると、デバイスの別の実施形であるデバイス16cが示されている。デバイス16cは、別途ここに示され又は記載されている場合を別にして、デバイス16、16a、16bと実質的に同様であるとしてもよい。したがって、以下及び図面中には同様の構成要素を識別するのに同様の符号が使用されるが、修正された構成要素を識別するために文字拡張子(即ち「c」)を含む同様の符号が使用される。デバイス16cは、どんな形態にせよ一対の冷却デバイス33の間に熱バッファ44に隣接して設置された1つ又はそれ以上の二次的熱バッファ66を含むことができる。幾つかの実施形では、デバイス16cは一対の二次的熱バッファ66を、一対の二次的熱バッファ66の間にキャピラリー18、ヒーター34、及び熱バッファ44が配置されるようにして含んでいる。図6に描かれている様に、熱バッファ66は対向する冷却デバイス33の表面58に熱的に係合していてもよい。
図7を参照すると、デバイスの別の実施形であるデバイス16dが示されている。デバイス16dは、別途ここに示され又は記載されている場合を別にして、デバイス16、16a、16b、16cと実質的に同様であるとしてもよい。したがって、以下及び図面中には同様の構成要素を識別するのに同様の符号が使用されるが、修正された構成要素を識別するために文字拡張子(即ち「d」)を含む同様の符号が使用される。デバイス16dは、どんな形態にせよ対向する冷却デバイス33の間に熱バッファ44に隣接して設置され得る1つ又はそれ以上の熱バルブ45dを含むことができる。幾つかの実施形では、デバイス16dは一対の熱バルブ45dを含んでいる。熱バルブ45dは、別途ここに示され又は記載されている場合を別にして、熱バルブ45と実質的に同様であるとしてもよい。これに関し、熱バルブ45dの表面58は凹部68を含んでいてもよい。熱バッファ44aは、凹状接触区域60dにて熱バルブ45dが熱バッファ44aの外側表面に熱的に係合するように凹部68内に配置されることができる。
図8を参照すると、デバイスの別の実施形であるデバイス16eが示されている。デバイス16eは、別途ここに示され又は記載されている場合を別にして、デバイス16、16a、16b、16c、16dと実質的に同様であるとしてもよい。したがって、以下及び図面中には同様の構成要素を識別するのに同様の符号が使用されるが、修正された構成要素を識別するために文字拡張子(即ち「e」)を含む同様の符号が使用される。デバイス16eは、どんな形態にせよ冷却デバイス33と冷リザーバ62の間に設置され得る1つ又はそれ以上の二次的熱バルブ70(熱コントローラ)を含むことができる。幾つかの実施形では、デバイス16eは一対の二次的熱バルブ70を、第1の二次的熱バルブ70が第1の冷リザーバ62及び第1のデバイス33の外側表面に熱的に係合し、第2の二次的熱バルブ70が第2の冷リザーバ62及び第2のデバイス33の外側表面に熱的に係合するようにして含んでいる。上述の様に、幾つかの実施形では、二次的熱バルブ70は、高い温度での低い熱伝導率と低い温度での高い熱伝導率を有する材料(例えばサファイアなど)を含むか又は少なくとも部分的にはその様な材料から形成されることができる。代替的には、二次的熱バルブ70は、少なくとも部分的には、熱の流れを制限するポリイミドの様な絶縁性材料から形成されることもできる。したがって、熱バルブは「低温先端部」(熱が生成され制御される領域)から冷却器への熱を制御する。脱離のための過渡的加熱の場合には、この熱は熱バルブを通って冷却器へ除去され、熱バルブは、低温先端部でトラップ温度が制御される際にどれほど多くの熱が冷却器へ流れるかを制御する。
図9を参照すると、デバイスの別の実施形であるデバイス16fが示されている。デバイス16fは、別途ここに示され又は記載されている場合を別にして、デバイス16、16a、16b、16c、16d、16eと実質的に同様であるとしてもよい。したがって、以下及び図面中には同様の構成要素を識別するのに同様の符号が使用されるが、修正された構成要素を識別するために文字拡張子(即ち「f」)を含む同様の符号が使用される。デバイス16fは、どんな形態にせよ冷却デバイス33と熱バルブ45の間に設置され得る1つ又はそれ以上の二次的熱バルブ70を含むことができる。幾つかの実施形では、デバイス16fは一対の二次的熱バルブ70を、第1の二次的熱バルブ70が第1のデバイス33の外側表面46及び第1の熱バルブ45の表面64に熱的に係合し、第2の二次的熱バルブ70が第2のデバイス33の外側表面46及び第2の熱バルブ45の表面64に熱的に係合するようにして含んでいる。
幾つかの実施形では、(単数又は複数の)熱バルブ45は熱的に異方性の材料を含むか又はその様な材料から形成されている。例えば幾つかの実施形では、熱バルブ45は、熱分解グラファイトを含むか又はそうでなければ少なくとも部分的には熱分解グラファイトから形成されている。幾つかの実施形では、熱バルブ45又は冷リザーバ62は、金属材料(例えば銅)を含んでいるか又はそうでなければ少なくとも部分的には金属材料から形成されている。具体的には、熱バルブ45は、z方向の熱伝導率56よりも高い熱伝導率54をx-y平面に有する材料から形成されていてもよく、そうすると熱は接触区域48にて冷却デバイス33の中へ直接に(例えばz方向に)伝導されるのではなく表面46全体に亘って分配される。したがって、表面46に亘って熱を分配し冷却デバイス33で以て熱を除去する際に、冷却デバイス33全体の冷リザーバを利用することができ、その結果、ヒーター34の直下(例えばz方向)の電気的要素の温度上昇は熱バルブが使用されなかった場合の温度上昇より低くなるだろう。この熱の分配は、熱バルブ45のx-y平面の高い熱伝導率54とz方向の低い熱伝導率56によって実現される。
動作中、熱バルブ45は脱離プロセスからの熱を吸収し表面46を横切って拡散させることができ、次いでより長い時間的期間に亘って但し次の脱離の前に、熱バルブ45の熱は表面46を通って冷却デバイス33の冷却要素へ移動することができる。熱バルブ45及び冷リザーバ62の厚さは、システムの熱流れ特性(例えば温度差、材料、及び寸法)に応じて最適化されることができる。例えば熱バルブ45及び冷リザーバ62の厚さ(例えばy方向)は、熱が冷却デバイス33の表面46の中へ著しく分散する前に表面46に亘って分配されることを可能にするように最適化されることができる。
幾つかの実施形では、デバイス16、16a、16bは、その様なやり方で、本明細書に具体的に説明されている通りに構成され、それにより、キャピラリー18は、既定速度で又は第1の既定の時間量(T1)の間は脱離温度へ加熱されるか、又は、既定速度で又は第2の既定の時間量(T2)の間は冷却される。例えば幾つかの実施形では、第1の既定の時間量(T1)は、実質的に0.5msと20ms又はその間であってもよく、別の実施形では、時間(T1)は、実質的に3msと10ms又はその間であってもよい。幾つかの実施形では、第2の既定の時間量(T2)は20msと200ms又はその間であってもよい。
幾つかの実施形では、既定速度での又は第1の既定の時間量(T1)中の脱離温度への加熱は、高電流パルス(例えば3~12アンペアの容量放電)をヒーター34へ印加することを含んでいてもよい。幾つかの実施形では、ヒーター34は第3の既定の時間量(T3)の間は既定温度に維持される。幾つかの実施形では、第1の既定の時間量と第2の既定の時間量の間にトラップをクリアするために第3の時間的期間(T3)が導入されるのは随意である。或る実施形では、第3の時間的期間(T3)は実質的に10msと30ms又はその間であってもよい。トラップをクリアにするプロセスを捗らせるために低電流パルス(例えば1~5アンペアの補助放電)の印加がヒーター34へ提供されてもよい。
幾つかの実施形では、冷却デバイス33は十分な冷却パワーと低い冷却パワー密度を提供する。特に、熱バルブ45又は冷リザーバ62は、ヒーター34がONのときに発生する熱バッファ44及びヒーター34の狭小区域の集中熱を急速且つ効率的に除去することのできる冷却システムを提供する。これは、熱バルブ45又は冷リザーバ62が熱バッファ44及びヒーター34の狭小区域からの熱を冷却デバイス33の極めて広い表面区域へ効率的に拡散させることによって実現され、こうして所要の時間スケールでの(例えば既定の時間的期間中の)冷却デバイス33の総冷却パワーが効率的に利用される。
熱バッファ44は図3には2つの離散体として示されているが、熱バッファ44は、図4及び図5に示されている様に単一体として組み合わされ及び単一材料で構成され、図4及び図5に示されている構成と同様の特性を呈していてもよい。
デバイス(例えばデバイス16、16a、16b)を通過してゆくガス状ストリーム中の分析種を変調するための方法がこれより説明され、ここに、特定のデバイス条件に基づいて分析種はデバイス内に保持されるか又はデバイスを通過することを許容される。
或る実施形では、その様な方法は、加熱部材(例えばヒーター34)を通って延びるキャピラリー(例えばキャピラリー18)を提供する段階を備えている。キャピラリー及び加熱部材は、熱バッファ(例えば熱バッファ44)内に配置される(例えば取り囲まれる)ことができる。熱バッファは、その熱伝導率が低い温度では高く高い温度では低いという様な可変熱伝導率を有する材料か又はポリイミドの様な薄膜絶縁体を含むことができる。方法は、更に、第1の時間的期間中にキャピラリー内の分析種を脱離させて分析種がキャピラリーを通過できるようにする第1の温度へヒーターを加熱する段階を含むことができる。方法は、更に、第2の時間的期間中にヒーターをオフにし、キャピラリー内の分析種をトラップし集束させるのに十分な第2の温度へキャピラリーを冷却する段階を含むことができる。第1の時間的期間中は、キャピラリーを急速に加熱するように、及び冷却デバイス(例えば冷却デバイス33)への熱負荷を最小限に抑えるように、熱バッファが熱を冷却デバイスからせき止める。第2の時間的期間中は、熱バルブ(例えば熱バルブ45)が急速に熱を除去し、冷却デバイス33の区域(例えばx-y平面)に亘って熱を拡散させる。次いで、なおも第2の時間的期間中に、冷却デバイス33の冷却パワーをフル活用するため、熱は第2の熱バルブ(例えば熱バルブ70)を通って冷却デバイス33の全表面区域(例えばx-y平面)へ移される。
本願発明の実施例は、例えば、以下の通りである。
[実施例1]
クロマトグラフィーシステムのための熱変調器であって、
第1の冷却器と、
前記第1の冷却器に熱的に係合している熱バルブと、
前記熱バルブに熱的に係合している熱バッファと、
前記熱バッファに熱的に係合しているヒーターと、
前記ヒーターに熱的に係合していて分析種を第1の方向に輸送するように構成されているキャピラリーと、
を備えている熱変調器。
[実施例2]
前記熱バルブは、熱を第1の速度で第1の方向に移動させ且つ第2の速度で第1の方向を横断する第2の方向に移動させるように動作可能な異方性材料を含んでいる、実施例1に記載の熱変調器。
[実施例3]
前記異方性材料は熱を前記第1の速度で、前記第1の方向及び前記第2の方向を横断する第3の方向に移動させるように動作可能である、実施例2に記載の熱変調器。
[実施例4]
前記第1の速度は前記第2の速度より大きい、実施例3に記載の熱変調器。
[実施例5]
前記第1の冷却器は熱電式である、実施例1に記載の熱変調器。
[実施例6]
前記熱バルブに熱的に係合している第2の冷却器、を更に備えている実施例1に記載の熱変調器。
[実施例7]
前記熱バルブは前記第1の冷却器と前記第2の冷却器の間に配置されている、実施例6に記載の熱変調器。
[実施例8]
前記ヒーターは前記第1の冷却器に熱的に係合している、実施例1に記載の熱変調器。
[実施例9]
前記熱バッファは前記ヒーターを取り囲んでいる、実施例1に記載の熱変調器。
[実施例10]
前記熱バルブと前記第1の冷却器の間に配置されていてそれらに熱的に係合している冷リザーバ、を更に備えている実施例1に記載の熱変調器。
[実施例11]
クロマトグラフィーシステムのための熱変調器であって、
第1の熱電式冷却器と、
前記第1の熱電式冷却器に熱的に係合している冷リザーバと、
前記冷リザーバに熱的に係合している熱バッファと、
前記熱バッファに熱的に係合しているヒーターと、
前記ヒーターに熱的に係合していて、分析種を第1の方向に輸送するように構成されたキャピラリーと、
を備えている熱変調器。
[実施例12]
前記熱バッファと前記冷リザーバの間に配置されていてそれらに熱的に係合している異方性材料、を更に備えている実施例11に記載の熱変調器。
[実施例13]
前記異方性材料は、熱を第1の速度で第1の方向に移動させ且つ第2の速度で前記第1の方向を横断する第2の方向に移動させるように動作可能である、実施例12に記載の熱変調器。
[実施例14]
前記異方性材料は熱を第1の速度で、前記第1の方向及び前記第2の方向を横断する第3の方向に移動させるように動作可能である、実施例13に記載の熱変調器。
[実施例15]
前記第1の速度は前記第2の速度より大きい、実施例14に記載の熱変調器。
[実施例16]
前記冷リザーバに熱的に係合している第2の熱電式冷却器、を更に備えている実施例11に記載の熱変調器。
[実施例17]
前記冷リザーバは前記第1の熱電式冷却器と前記第2の熱電式冷却器の間に配置されている、実施例16に記載の熱変調器。
[実施例18]
前記ヒーターは前記第1の熱電式冷却器に熱的に係合している、実施例11に記載の熱変調器。
[実施例19]
前記熱バッファは前記ヒーターを取り囲んでいる、実施例11に記載の熱変調器。
多数の実施形が説明されている。とはいえ、開示の精神及び範囲から逸脱することなく、様々な修正がなされ得ることが理解されるだろう。したがって、他の実施形も付随の特許請求の範囲の範囲内である。例えば特許請求の範囲に記載されている行為は異なる順序で遂行されてなお所望の結果を実現することもできるだろう。
10、10a、10b クロマトグラフィーシステム
12 ガスクロマトグラフ
14 検出器
16、16a、16b、16c、16d、16e、16f デバイス又は熱変調器
18 キャピラリー
20 入力部分
22 出力部分
24 チャンバ
26 内部分
28 外部分
31a、31b オーブン
32、32a、32b トラップゾーン
33 冷却デバイス
34 ヒーター
37 コントローラ
44、44a 熱バッファ
45、45d 熱バルブ
46 冷却デバイスの表面
47 電気的要素
49 電気絶縁性セラミック
48、50、52、60 接触区域
54 高い熱伝導率
56 低い熱伝導率
58 熱バルブの表面
60d 凹状接触区域
62 冷リザーバ
64 熱バルブの表面
66 二次的熱バッファ
68 凹部
70 二次的熱バルブ

Claims (6)

  1. クロマトグラフィーシステムのための熱変調器において、
    第1の熱電式冷却器と、
    前記第1の熱電式冷却器に熱的に係合している冷リザーバと、
    前記冷リザーバに熱的に係合している熱バッファと、
    前記熱バッファに熱的に係合しているヒーターと、
    前記ヒーターに熱的に係合していて、分析種を第1の方向に輸送するように構成されたキャピラリーと、
    前記熱バッファ及び前記冷リザーバの間に配置されるとともに前記熱バッファ及び前記冷リザーバに熱的に係合している異方性材料であって、前記異方性材料は、第1の速度で第1の方向に熱を移動させ、第2の速度で前記第1の方向を横断する第2の方向に熱を移動させ、並びに、前記第1の速度で前記第1の方向及び前記第2の方向を横断する第3の方向に熱を移動させるように動作可能である、前記異方性材料と、
    を備えている熱変調器。
  2. 前記第1の速度は前記第2の速度より大きい、請求項1に記載の熱変調器。
  3. 前記冷リザーバに熱的に係合している第2の熱電式冷却器、を更に備えている請求項1に記載の熱変調器。
  4. 前記冷リザーバは前記第1の熱電式冷却器と前記第2の熱電式冷却器の間に配置されている、請求項3に記載の熱変調器。
  5. 前記ヒーターは前記第1の熱電式冷却器に熱的に係合している、請求項1に記載の熱変調器。
  6. 前記熱バッファは前記ヒーターを取り囲んでいる、請求項1に記載の熱変調器。
JP2021514410A 2018-10-05 2019-10-04 熱変調器 Active JP7329044B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2023127540A JP2023145728A (ja) 2018-10-05 2023-08-04 熱変調器

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201862742130P 2018-10-05 2018-10-05
US62/742,130 2018-10-05
PCT/US2019/054618 WO2020072855A1 (en) 2018-10-05 2019-10-04 Thermal modulator

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023127540A Division JP2023145728A (ja) 2018-10-05 2023-08-04 熱変調器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022502632A JP2022502632A (ja) 2022-01-11
JP7329044B2 true JP7329044B2 (ja) 2023-08-17

Family

ID=70054899

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021514410A Active JP7329044B2 (ja) 2018-10-05 2019-10-04 熱変調器
JP2023127540A Pending JP2023145728A (ja) 2018-10-05 2023-08-04 熱変調器

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023127540A Pending JP2023145728A (ja) 2018-10-05 2023-08-04 熱変調器

Country Status (3)

Country Link
JP (2) JP7329044B2 (ja)
DE (1) DE112019005004T5 (ja)
WO (1) WO2020072855A1 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010281699A (ja) 2009-06-04 2010-12-16 Canon Anelva Corp イオン付着質量分析装置(iams)を用いた不分離ピークの定量方法
US20110232366A1 (en) 2010-03-26 2011-09-29 Agilent Technologies, Inc. Thermal modulation device for two dimensional gas chromatography
WO2017173447A1 (en) 2016-04-01 2017-10-05 Leco Corporation Thermal modulator

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3284935B2 (ja) * 1997-08-21 2002-05-27 株式会社島津製作所 試料導入装置
WO2006122311A2 (en) * 2005-05-11 2006-11-16 The Trustees Of The University Of Pennsylvania Microfluidic chip
WO2010109014A1 (en) * 2009-03-27 2010-09-30 Vrije Universiteit Brussel Method for improving the efficiency of high-pressure liquid chromatography
US8226825B2 (en) * 2009-04-09 2012-07-24 The United States of America, as represented by the Sectretary of Commerce, The National Institute of Standards and Technology Recirculating temperature wave focusing chromatography

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010281699A (ja) 2009-06-04 2010-12-16 Canon Anelva Corp イオン付着質量分析装置(iams)を用いた不分離ピークの定量方法
US20110232366A1 (en) 2010-03-26 2011-09-29 Agilent Technologies, Inc. Thermal modulation device for two dimensional gas chromatography
WO2017173447A1 (en) 2016-04-01 2017-10-05 Leco Corporation Thermal modulator

Also Published As

Publication number Publication date
US20210382017A1 (en) 2021-12-09
DE112019005004T5 (de) 2021-07-01
JP2023145728A (ja) 2023-10-11
JP2022502632A (ja) 2022-01-11
WO2020072855A1 (en) 2020-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11846614B2 (en) Thermal modulator
Cheng et al. Active thermal management of on-chip hot spots using EWOD-driven droplet microfluidics
JP2011523510A (ja) 蒸気チャンバ熱電気モジュールアセンブリ
JP2011528189A (ja) 積層熱電モジュール
US6706091B1 (en) Sub-to super-ambient temperature programmable microfabricated gas chromatography column
JP2008252102A (ja) 基板熱管理システム
US11609212B2 (en) Chromatography system
Paik et al. A digital-microfluidic approach to chip cooling
JP4741562B2 (ja) 基板熱管理の方法
JP7329044B2 (ja) 熱変調器
US12025595B2 (en) Thermal modulator
JP6279692B1 (ja) 試料ホルダー
Bandyopadhyay et al. Experimental characterization of cascaded vapor chambers for spreading of non-uniform heat loads
Abbasi et al. Transient and Steady State Thermal Response of a System With Thermoelectric Coolers
de Paiva et al. Experimental study of a wire mini heat pipe for microgravity test
CN117253839A (zh) 一种静电卡盘及半导体加工设备
NL1035590C2 (nl) Inrichting, tevens werkwijze voor het beheersen van de afkoeling van een onderdeel daarvan.

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210503

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220526

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220602

A603 Late request for extension of time limit during examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A603

Effective date: 20220904

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221101

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230302

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230531

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230707

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230804

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7329044

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150