JP7324097B2 - 3次元測量装置、3次元測量方法および3次元測量プログラム - Google Patents

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Description

本発明は、3次元測量装置、3次元測量方法および3次元測量プログラムに関する。
特許文献1には、トータルステーションと、レーザスキャナユニットと、を備えた測量システムが開示されている。トータルステーションは、測定点の3次元座標(3次元データ)を高精度に測定する測量装置である。レーザスキャナユニットは、測距光としてパルスレーザ光を回転照射し、パルスレーザ光毎に測距を行い、点群データを取得する。より具体的には、レーザスキャナユニットは、測距光としてパルスレーザ光を測定対象物に照射し、測定対象物で反射したパルスレーザ光毎の反射光を受光して、測定対象物までの距離を測定するとともに測距光の照射方向(水平角および鉛直角)を検出することにより、測定対象物の多数点の3次元データ(3次元点群データ)を取得する。
トータルステーションの測定精度は、工業計測を含めて非常に高い。例えば、トータルステーションは、測量の分野で使用される場合において、距離精度で1mm以下の測定精度を確保することができ、また、角度精度も一級経緯儀等で要求される充分な精度を確保することができる。レーザスキャナユニットは、1秒間に数十万点の点群測定を実行可能であり、非常に高速で高効率な測量を実現することができる。
ここで、レーザスキャナユニットは、所定の角度の方向にパルスレーザ光を回転照射してパルスレーザ光毎に測距を行い、点群データを取得する。そのため、レーザスキャナユニットにより取得された点群データは、グリッド構造を有する。すなわち、レーザスキャナユニットにより取得された点群データに含まれる複数の3次元データは、測定対象物において互いに離れた部分に関する3次元データであり、例えば格子状に位置している。そのため、本来的に3次元データの取得を要望する測定対象物のコーナ部やエッジ部などの特徴部分が、レーザスキャナユニットにより取得された点群データに含まれる複数の3次元データの間に存在し、レーザスキャナユニットにより取得されないことがある。この点において、レーザスキャナユニットを備えた3次元測量装置には改善の余地がある。
特開2017-223540号公報
本発明は、前記課題を解決するためになされたものであり、測定対象物の特徴部分に関する3次元データをより確実に取得することができる3次元測量装置、3次元測量方法および3次元測量プログラムを提供することを目的とする。
前記課題は、測定対象物の3次元データを取得する3次元測量装置であって、望遠鏡部の視準により前記測定対象物に第1測距光を照射し、前記第1測距光が前記測定対象物で反射した第1反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記視準の方向を検出する視準測距ユニットと、前記視準測距ユニットと一体で設けられ、第2測距光を回転照射し、前記第2測距光が前記測定対象物で反射した第2反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記第2測距光の照射方向を検出することにより前記測定対象物に関する点群データを取得するスキャナユニットと、前記視準測距ユニットおよび前記スキャナユニットの少なくともいずれかに設けられた制御演算部と、を備え、前記制御演算部は、前記点群データに含まれる複数の前記3次元データの間に存在する前記測定対象物の特徴部分であって前記3次元データが前記スキャナユニットにより取得されていない前記測定対象物の特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得し、前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した前記特徴部分に関する前記3次元データを前記点群データに追加する制御を実行することを特徴とする本発明に係る3次元測量装置により解決される。
本発明に係る3次元測量装置によれば、制御演算部は、スキャナユニットにより取得された点群データに含まれる複数の3次元データの間に存在する測定対象物の特徴部分に関する3次元データを視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得する。ここでいう測定対象物の特徴部分とは、例えば本来的に3次元データの取得を要望する測定対象物のコーナ部やエッジ部などであり、3次元データがスキャナユニットにより取得されていない測定対象物の部分である。そして、制御演算部は、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した測定対象物の特徴部分に関する3次元データをスキャナユニットにより取得された点群データに追加する制御を実行する。すなわち、制御演算部は、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した測定対象物の特徴部分に関する3次元データと、スキャナユニットにより取得された点群データと、を合成する制御を実行する。これにより、本発明に係る3次元測量装置は、測定対象物の特徴部分に関する3次元データをより確実に取得することができる。
本発明に係る3次元測量装置において、好ましくは、前記制御演算部は、前記望遠鏡部の前記視準により測定箇所に設定された前記特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットにより直接的に取得することを特徴とする。
本発明に係る3次元測量装置によれば、制御演算部は、視準測距ユニットの望遠鏡部の視準により測定箇所に設定された特徴部分の測量(測距および測角)を視準測距ユニットにより行い、測定対象物の特徴部分に関する3次元データを直接的に取得する。これにより、制御演算部は、測定対象物の特徴部分に関する3次元データを視準測距ユニットにより直接的に取得することができ、視準測距ユニットにより直接的に取得された特徴部分に関する3次元データをスキャナユニットにより取得された点群データにより確実に追加することができる。
本発明に係る3次元測量装置において、好ましくは、前記制御演算部は、前記特徴部分の近傍における前記点群データに基づいて前記特徴部分の近傍の幾何学的な面を算出するとともに、前記特徴部分に対する前記望遠鏡部の前記視準の方向を視準測距ユニットにより取得し、前記幾何学的な面と、前記望遠鏡部の前記視準の方向と、に基づいて前記特徴部分に関する前記3次元データを取得することを特徴とする。
本発明に係る3次元測量装置によれば、例えば測定対象物のコーナ部やエッジ部などのように、測定対象物の特徴部分が、視準測距ユニットにより3次元データを取得することが困難な部分である場合あっても、制御演算部は、特徴部分の近傍の幾何学的な面と、望遠鏡部の視準の方向と、に基づいて特徴部分に関する3次元データをより確実に取得することできる。すなわち、特徴部分の形状や望遠鏡部の視準の方向によっては、反射測距光の強度が弱かったり、反射測距光がほとんど無かったりすることにより、視準測距ユニットが測定対象物の特徴部分の測距を行うことができず、その特徴部分に関する3次元データを取得できないことがある。一方で、視準測距ユニットは、測定対象物の特徴部分の測距を行うことができない場合であっても、望遠鏡部の視準の方向を確実に検出し、測定対象物の特徴部分の測角を確実に行うことができる。そのため、制御演算部は、測定対象物の特徴部分の近傍における点群データに基づいて特徴部分の近傍の幾何学的な面を算出するとともに、測定対象物の特徴部分に対する望遠鏡部の視準の方向を視準測距ユニットにより取得し、特徴部分の近傍の幾何学的な面に対して視準測距ユニットにより検出された望遠鏡部の視準の方向を適用することにより特徴部分に関する3次元データをより確実に取得することできる。これにより、制御演算部は、測定対象物の特徴部分に関する3次元データをスキャナユニットにより取得された点群データにより確実に追加することができる。
本発明に係る3次元測量装置において、好ましくは、前記制御演算部は、前記特徴部分の近傍における前記点群データに基づいて前記特徴部分を認識するとともに認識した前記特徴部分を含む領域を自動的に測定箇所に設定し、前記測定箇所において自動的なスキャンを前記視準測距ユニットに実行させることにより前記特徴部分に関する前記3次元データを取得することを特徴とする。
本発明に係る3次元測量装置によれば、作業者等が視準測距ユニットにより自動的なスキャンを行う測定箇所を例えば操作表示部などにおいて設定しなくとも、制御演算部は、測定対象物の特徴部分の近傍における点群データに基づいて測定対象物の特徴部分を認識し、視準測距ユニットにより自動的なスキャンを行う測定箇所を自動的に設定する。これにより、制御演算部は、測定対象物の特徴部分に関する3次元データを視準測距ユニットにより効率的に取得し、スキャナユニットにより取得された点群データに効率的に追加することができる。
前記課題は、望遠鏡部の視準により測定対象物に第1測距光を照射し、前記第1測距光が前記測定対象物で反射した第1反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記視準の方向を検出する視準測距ユニットと、前記視準測距ユニットと一体で設けられ、第2測距光を回転照射し、前記第2測距光が前記測定対象物で反射した第2反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記第2測距光の照射方向を検出することにより前記測定対象物に関する点群データを取得するスキャナユニットと、前記視準測距ユニットおよび前記スキャナユニットの少なくともいずれかに設けられた制御演算部と、を備え、前記測定対象物の3次元データを取得する3次元測量装置が実行する3次元測量方法であって、前記点群データに含まれる複数の前記3次元データの間に存在する前記測定対象物の特徴部分であって前記3次元データが前記スキャナユニットにより取得されていない前記測定対象物の特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得し、前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した前記特徴部分に関する前記3次元データを前記点群データに追加するステップを備えたことを特徴とする本発明に係る3次元測量方法により解決される。
本発明に係る3次元測量方法によれば、スキャナユニットにより取得された点群データに含まれる複数の3次元データの間に存在する測定対象物の特徴部分に関する3次元データが、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得される。ここでいう測定対象物の特徴部分とは、例えば本来的に3次元データの取得を要望する測定対象物のコーナ部やエッジ部などであり、3次元データがスキャナユニットにより取得されていない測定対象物の部分である。そして、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得された測定対象物の特徴部分に関する3次元データをスキャナユニットにより取得された点群データに追加するステップが実行される。すなわち、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得された測定対象物の特徴部分に関する3次元データと、スキャナユニットにより取得された点群データと、を合成するステップが実行される。これにより、本発明に係る3次元測量方法は、測定対象物の特徴部分に関する3次元データをより確実に取得することができる。
前記課題は、望遠鏡部の視準により測定対象物に第1測距光を照射し、前記第1測距光が前記測定対象物で反射した第1反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記視準の方向を検出する視準測距ユニットと、前記視準測距ユニットと一体で設けられ、第2測距光を回転照射し、前記第2測距光が前記測定対象物で反射した第2反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記第2測距光の照射方向を検出することにより前記測定対象物に関する点群データを取得するスキャナユニットと、前記視準測距ユニットおよび前記スキャナユニットの少なくともいずれかに設けられた制御演算部と、を備え、前記測定対象物の3次元データを取得する3次元測量装置のコンピュータによって実行される3次元測量プログラムであって、前記コンピュータに、前記点群データに含まれる複数の前記3次元データの間に存在する前記測定対象物の特徴部分であって前記3次元データが前記スキャナユニットにより取得されていない前記測定対象物の特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得し、前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した前記特徴部分に関する前記3次元データを前記点群データに追加するステップを実行させることを特徴とする本発明に係る3次元測量プログラムにより解決される。
本発明に係る3次元測量プログラムによれば、スキャナユニットにより取得された点群データに含まれる複数の3次元データの間に存在する測定対象物の特徴部分に関する3次元データが、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得される。ここでいう測定対象物の特徴部分とは、例えば本来的に3次元データの取得を要望する測定対象物のコーナ部やエッジ部などであり、3次元データがスキャナユニットにより取得されていない測定対象物の部分である。そして、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得された測定対象物の特徴部分に関する3次元データをスキャナユニットにより取得された点群データに追加するステップが実行される。すなわち、視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得された測定対象物の特徴部分に関する3次元データと、スキャナユニットにより取得された点群データと、を合成するステップが実行される。これにより、本発明に係る3次元測量プログラムは、測定対象物の特徴部分に関する3次元データをより確実に取得することができる。
本発明によれば、測定対象物の特徴部分に関する3次元データをより確実に取得することができる3次元測量装置、3次元測量方法および3次元測量プログラムを提供することができる。
本発明の実施形態に係る3次元測量装置の構造系を主として表すブロック図である。 本実施形態に係る3次元測量装置の制御系を主として表すブロック図である。 本実施形態に係る3次元測量装置の動作を表すフローチャートである。 測定対象物の特徴部分の近傍を表す平面図である。 図3に表したステップS13の処理の第1具体例を表すフローチャートである。 図3に表したステップS13の処理の第2具体例を表すフローチャートである。 図3に表したステップS13の処理の第3具体例を表すフローチャートである。
以下に、本発明の好ましい実施形態を、図面を参照して詳しく説明する。
なお、以下に説明する実施形態は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。また、各図面中、同様の構成要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
図1は、本発明の実施形態に係る3次元測量装置の構造系を主として表すブロック図である。
図2は、本実施形態に係る3次元測量装置の制御系を主として表すブロック図である。
本実施形態に係る3次元測量装置2は、視準測距ユニット4と、スキャナユニット5と、を備え、例えば建築物などの測定対象物7の3次元データを取得する。視準測距ユニット4は、例えばトータルステーションなどと呼ばれ、望遠鏡部45の視準により、測定対象物7に第1測距光455(図2参照)を照射し、第1測距光455が測定対象物7で反射した第1反射測距光456(図2参照)と第1内部参照光(図示せず)とに基づいて測定対象物7までの距離を測定するとともに、第1測距光455の照射方向すなわち望遠鏡部45の視準の方向を検出する。つまり、視準測距ユニット4は、測距および測角を行う機器である。視準測距ユニット4の詳細については、後述する。
視準測距ユニット4が測距および測角を行う測定対象物には、例えばプリズムなどの計測用ターゲット6が含まれる。つまり、視準測距ユニット4は、測定対象物として例えばプリズムなどの計測用ターゲット6に関する測距および測角を行うことができる。計測用ターゲット6として用いられるプリズムは、特には限定されず、例えば全周プリズムや球状プリズムや面状プリズムなどである。
スキャナユニット5は、視準測距ユニット4と一体で設けられている。本実施形態に係る3次元測量装置2では、スキャナユニット5は、視準測距ユニット4の上部に固定されている。なお、スキャナユニット5は、視準測距ユニット4に対して回転自在に設けられていてもよい。スキャナユニット5は、測定対象物7に第2測距光565(図2参照)を照射し、第2測距光565が測定対象物7で反射した第2反射測距光566(図2参照)と第2内部参照光(図示せず)とに基づいて測定対象物7までの距離を測定するとともに、第2測距光565の照射方向を検出する。スキャナユニット5は、視準測距ユニット4と同様に、測距および測角を行う機器である。
より具体的には、スキャナユニット5は、第2測距光565を回転照射し、測定対象物7までの距離を測定するとともに第2測距光565の照射方向を検出することにより、測定対象物7に関する多数の測定点の3次元座標(3次元データ)を取得する。すなわち、スキャナユニット5は、測定対象物7における多数の測定点の3次元データ(点群データ)を取得する。スキャナユニット5の詳細については、後述する。
本実施形態の視準測距ユニット4は、整準部41と、第1托架部42と、第1水平回転部43と、第1鉛直回転部44と、望遠鏡部45と、制御演算部46と、操作表示部47と、基盤部48と、傾斜計49と、を有する。なお、視準測距ユニット4は、傾斜計49を必ずしも有していなくともよい。視準測距ユニット4は、測定対象物としての計測用ターゲット6を自動的に探す自動追尾機能を有していてもよい。
制御演算部46は、演算部461と、第1距離測定部462と、第1水平回転駆動部463と、第1鉛直回転駆動部464と、第2距離測定部465と、第2鉛直回転駆動部467と、記憶部468と、画像処理部469と、を有する。演算部461は、例えばCPU(Central Processing Unit)などであり、操作表示部47の操作入力部472から送信された信号(指令)に基づいて、プログラムの起動や、信号の制御処理や、演算や、操作表示部47の表示部471などの駆動制御などを実行する。すなわち、演算部461は、3次元測量装置2の全体の制御を行うとともに、測量条件や、測定結果(測距結果および測角結果)や、画像処理された結果(2D受光光量の画像)などを表示部471に表示させる。
なお、制御演算部46は、スキャナユニット5に設けられていてもよく、視準測距ユニット4およびスキャナユニット5の両方に設けられていてもよい。すなわち、制御演算部46は、視準測距ユニット4およびスキャナユニット5の少なくともいずれかに設けられる。
第1距離測定部462、第1水平回転駆動部463、第1鉛直回転駆動部464、第2距離測定部465、第2鉛直回転駆動部467、および画像処理部469は、記憶部468に格納(記憶)されているプログラムを演算部461が実行することにより実現される。なお、第1距離測定部462、第1水平回転駆動部463、第1鉛直回転駆動部464、第2距離測定部465、第2鉛直回転駆動部467、および画像処理部469は、ハードウェアによって実現されてもよく、ハードウェアとソフトウェアとの組み合わせによって実現されてもよい。
記憶部468には、例えば、測定のためのシーケンスプログラムや、画像処理のための画像処理プログラムや、演算プログラムなどが格納されている。記憶部468としては、例えば、3次元測量装置2に内蔵された半導体メモリなどが挙げられる。あるいは、記憶部468としては、3次元測量装置2に接続可能なCD(Compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)、RAM(Random access memory)、ROM(Read only memory)、ハードディスク、メモリカードなどの種々の記憶媒体が挙げられる。
制御演算部46を含むコンピュータによって実行されるプログラムは、本発明の「3次元測量プログラム」に相当する。ここでいう「コンピュータ」とは、パソコンには限定されず、情報処理機器に含まれる演算処理装置、マイコン等も含み、プログラムによって本発明の機能を実現することが可能な機器、装置を総称している。
整準部41は、三脚(図示せず)に取付けられる部分であり、例えば3つの調整螺子411を有する。整準部41の整準は、測量位置において、第1托架部42に設けられた傾斜センサ(図示せず)が水平を検出するように調整螺子411が調整されることにより行われる。すなわち、第1托架部42は、測量位置において、調整螺子411による整準が行われることで水平に維持される。
第1水平回転部43は、第1水平回転軸431と、軸受432と、第1水平駆動モータ433と、第1水平角検出器(例えばエンコーダ)434と、を有する。第1水平回転軸431は、鉛直に延びた第1鉛直軸心436を有し、軸受432を介して基盤部48に回転自在に支持されている。第1托架部42は、第1水平回転軸431に支持され、第1水平駆動モータ433から伝達された駆動力により第1鉛直軸心436を中心として水平方向に第1水平回転軸431と一体的に回転する。
基盤部48に対する第1水平回転軸431の回転角(すなわち第1托架部42の回転角)は、第1水平角検出器434によって検出される。第1水平角検出器434の検出結果は、演算部461に入力される。第1水平駆動モータ433の駆動は、第1水平角検出器434の検出結果に基づいて第1水平回転駆動部463により制御される。
第1鉛直回転部44は、第1鉛直回転軸441と、軸受442と、第1鉛直駆動モータ443と、第1鉛直角検出器(例えばエンコーダ)444と、を有する。第1鉛直回転軸441は、水平に延びた第1水平軸心446を有し、軸受442を介して第1托架部42に回転自在に支持されている。第1鉛直回転軸441の一方の端部は、第1托架部42の間隙部421に突出している。望遠鏡部45は、第1托架部42の間隙部421に突出した第1鉛直回転軸441の一方の端部に支持され、第1鉛直駆動モータ443から伝達された駆動力により第1水平軸心446を中心として鉛直方向に第1鉛直回転軸441と一体的に回転する。
第1鉛直角検出器444は、第1鉛直回転軸441の他方の端部に設けられている。第1托架部42に対する第1鉛直回転軸441の回転角(すなわち望遠鏡部45の回転角)は、第1鉛直角検出器444により検出される。第1鉛直角検出器444の検出結果は、演算部461に入力される。第1鉛直駆動モータ443の駆動は、第1鉛直角検出器444の検出結果に基づいて第1鉛直回転駆動部464により制御される。
望遠鏡部45は、前述したように、第1鉛直回転軸441に支持され、第1鉛直駆動モータ443から伝達された駆動力により第1水平軸心446を中心として鉛直方向に回転する。望遠鏡部45は、視準望遠鏡458を有し、計測用ターゲット6を含む測定対象物7に視準され第1測距光455を照射する。第1測距光455は、望遠鏡部45の測距光軸上に射出される。望遠鏡部45の測距光軸は、第1鉛直軸心436と交差するとともに、第1水平軸心446と直交する。望遠鏡部45の測距光軸と、第1鉛直軸心436と、の交差点は、視準測距ユニット4の機械基準点に設定されてもよい。本実施形態の説明では、視準測距ユニット4の機械基準点が、望遠鏡部45の測距光軸と、第1鉛直軸心436と、の交差点である場合を例に挙げる。
望遠鏡部45は、第1測距発光部451と、第1測距受光部452と、視準受光部453と、を有する。
第1測距発光部451は、第1距離測定部462により駆動制御される。第1測距発光部451は、望遠鏡部45の内部に設けられ、例えばレーザ光などの第1測距光455を第1水平軸心446に直交する方向に射出する。第1測距発光部451から射出された第1測距光455は、測定対象物7に照射される。なお、前述したように、視準測距ユニット4が測距および測角を行う測定対象物は、建築物などの測定対象物7に限定されるわけではなくプリズムなどの計測用ターゲット6であってもよい。測定対象物7で反射した第1反射測距光456は、望遠鏡部45の内部に設けられた第1測距受光部452において受光される。第1測距受光部452は、受光した第1反射測距光456による明暗(受光結果)を電子信号(受光信号)に変換し、受光信号を第1距離測定部462に送信する。また、第1測距受光部452は、参照光光学部(図示せず)から導かれた内部参照光(図示せず)を受光し電気信号に変換して、第1距離測定部462に送信する。
第1距離測定部462は、第1測距受光部452から送信された受光信号に基づいて測定対象物7までの距離を演算する。すなわち、第1反射測距光456および内部参照光は、第1反射測距光電気信号および内部参照光電気信号のそれぞれに変換され、第1距離測定部462に送られる。測定対象物7までの距離は、第1反射測距光電気信号と内部参照光電気信号との間の時間的間隔の差に基づいて測定される。第1距離測定部462の演算結果は、演算部(CPU)461に入力される。
演算部461は、測定した測定対象物7までの距離と、第1鉛直角検出器444により検出された鉛直角と、第1水平角検出器434により検出された水平角と、に基づいて、測定対象物7の座標を算出する。あるいは、演算部461は、測定した測定対象物7までの距離と、第1鉛直角検出器444により検出された鉛直角と、第1水平角検出器434により検出された水平角と、に基づいて、所定位置を基準とした視準測距ユニット4の機械基準点の座標を算出してもよい。
視準受光部453は、例えばCCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などのイメージセンサであり、第1反射測距光456の波長域とは異なる波長域の反射視準光457を受光する。反射視準光457は、第1反射測距光456の波長域とは異なる波長域を有する光であって、測定対象物7で反射した光である。すなわち、視準受光部453は、測定対象物7で反射した反射視準光457を受光し、測定対象物7の画像を受光する。反射視準光457としては、例えば自然光や赤外光などが挙げられる。但し、反射視準光457は、これだけには限定されない。反射視準光457は、望遠鏡部45の内部に設けられた視準受光部453において受光される。視準受光部453は、反射視準光457による明暗(受光結果)を電子信号(画像信号)に変換し、画像信号を画像処理部469に送信する。
画像処理部469は、視準受光部453から送信された画像信号の画像処理を実行し、画像データ信号として演算部461に送信する。演算部461は、画像処理部469から送信された画像データ信号に基づいて演算を実行し、望遠鏡部45による視準範囲の画像を操作表示部47の表示部471に表示させる制御を実行する。
傾斜計49は、重力に対する視準測距ユニット4の傾き(傾斜角)を計測する。傾斜計49の計測結果は、演算部461に入力される。
本実施形態のスキャナユニット5は、第2托架部52と、第2鉛直回転部54と、走査鏡55と、第2測距発光部56と、第2測距受光部57と、を有し、視準測距ユニット4の上部に固定されている。なお、スキャナユニット5は、視準測距ユニット4の第1水平回転部43と同様の水平回転部を有していてもよい。この場合には、スキャナユニット5は、視準測距ユニット4に対して水平方向に回転自在に設けられる。
第2鉛直回転部54は、第2鉛直回転軸541と、軸受542と、第2鉛直駆動モータ543と、第2鉛直角検出器(例えばエンコーダ)544と、を有する。第2鉛直回転軸541は、水平に延びた第2水平軸心546を有し、軸受542を介して第2托架部52に回転自在に支持されている。第2鉛直回転軸541の一方の端部は、第2托架部52の凹部521に突出している。走査鏡55は、第2托架部52の凹部521に突出した第2鉛直回転軸541の一方の端部に支持され、第2鉛直駆動モータ543から伝達された駆動力により第2水平軸心546を中心として鉛直方向に第2鉛直回転軸541と一体的に回転する。
第2鉛直角検出器544は、第2鉛直回転軸541の他方の端部に設けられている。第2托架部52に対する第2鉛直回転軸541の回転角(すなわち走査鏡55の回転角)は、第2鉛直角検出器544により検出される。第2鉛直角検出器544の検出結果は、演算部461に入力される。第2鉛直駆動モータ543の駆動は、第2鉛直角検出器544の検出結果に基づいて第2鉛直回転駆動部467により制御される。
第2水平軸心546は、第1水平軸心446と平行である。第1水平軸心446と第2水平軸心546との間の距離は、既知である。すなわち、第1水平軸心446に対する第2水平軸心546の位置は、既知である。
走査鏡55は、偏向光学部材であり、水平方向から入射した第2測距光565を直角に反射する。すなわち、走査鏡55は、水平方向から入射した第2測距光565を第2水平軸心546に直交する方向に反射する。走査鏡55は、前述したように、第2鉛直回転軸541に支持され、第2鉛直駆動モータ543から伝達された駆動力により第2水平軸心546を中心として鉛直方向に回転する。これにより、走査鏡55は、第2測距光565を第2水平軸心546に交差(具体的には直交)する面内で回転照射させる。また、走査鏡55は、測定対象物7で反射され走査鏡55に入射した第2反射測距光566を第2測距受光部57に向かって反射する。すなわち、走査鏡55は、測定対象物7で反射され走査鏡55に入射した第2反射測距光566を第2水平軸心546に平行な方向に反射する。
第2水平軸心546と、走査鏡55と、の交差点は、スキャナユニット5の機械基準点に設定されている。例えば、視準測距ユニット4の機械基準点と、スキャナユニット5の機械基準点と、は、同一直線としての第1鉛直軸心436の上に存在する。つまり、スキャナユニット5の機械基準点を通過する鉛直線は、第1鉛直軸心436に合致する。視準測距ユニット4の機械基準点と、スキャナユニット5の機械基準点と、の間の距離は、既知である。
図2に表したように、第2測距発光部56は、発光素子561と、対物レンズ等を含む投光光学部562と、を有し、第2距離測定部465により駆動制御される。発光素子561は、例えば半導体レーザ等であり、投光光学部562を介して第2測距光565を第2水平軸心546に合致する光軸上に射出する。第2測距光565は、不可視光としての赤外光のパルスレーザ光線である。発光素子561は、第2距離測定部465に制御され、所要の光強度や所要のパルス間隔などを含む所要の状態でパルス光を発光する。
図2に表したように、第2測距受光部57は、受光素子571と、集光レンズなどを含む受光光学部572と、を有する。受光素子571は、第2測距光565が測定対象物7で反射した第2反射測距光566であって、走査鏡55で反射し受光光学部572を透過した第2反射測距光566を受光する。受光素子571は、受光した第2反射測距光566による明暗(受光結果)を電子信号(受光信号)に変換し、受光信号を第2距離測定部465および演算部461に送信する。また、受光素子571は、参照光光学部(図示せず)から導かれた内部参照光(図示せず)を受光し電気信号に変換して、第2距離測定部465に送信する。
第2距離測定部465は、第2測距受光部57(具体的には受光素子571)から送信された受光信号に基づいて測定対象物7までの距離を演算する。すなわち、第2反射測距光566および内部参照光は、第2反射測距光電気信号および内部参照光電気信号のそれぞれに変換され、第2距離測定部465に送られる。測定対象物7までの距離は、第2反射測距光電気信号と内部参照光電気信号との間の時間的間隔の差に基づいて測定される。第2距離測定部465の演算結果は、演算部461に入力される。
演算部461は、測定した測定対象物7までの距離と、第2鉛直角検出器544により検出された鉛直角と、第1水平角検出器434により検出された水平角と、に基づいて、測定対象物7の座標を算出する。また、演算部461は、パルス光毎の測定対象物7の座標を記録することで、測定範囲全域に関する点群データ、あるいは測定対象物7に関する点群データを得ることができる。
さらに、演算部461は、第2測距受光部57の受光素子571から送信された受光信号に基づいて第2反射測距光566の強度(反射強度)を演算し、第2反射測距光566の強度を示す画像を望遠鏡部45による視準範囲の画像に重合させて操作表示部47の表示部471に表示させる制御を実行する。これにより、作業者等は、測定対象物7のうちで、3次元データが取得された測定箇所(点や領域)と、3次元データが取得されなかった測定箇所(点や領域)と、を表示部471において確認することができる。すなわち、作業者等は、スキャナユニット5が点群データを取得したときに、測定対象物7のうちに3次元データが取得されていない「抜け部」などと呼ばれるデータ不足部が存在するか否かを表示部471において確認することができる。
次に、本実施形態に係る3次元測量装置の動作を、図面を参照して説明する。
図3は、本実施形態に係る3次元測量装置の動作を表すフローチャートである。
図4は、測定対象物の特徴部分の近傍を表す平面図である。
なお、図3は、すなわち、本実施形態に係る3次元測量方法により実行されるステップと、本実施形態に係る3次元測量プログラムが3次元測量装置2のコンピュータに実行させるステップと、を表すフローチャートである。
まず、ステップS11において、3次元測量装置2の制御演算部46は、例えば後方交会法などにより測量位置における視準測距ユニット4の機械基準点の座標と、視準測距ユニット4の望遠鏡部45の基準視準の方向と、を決定し記憶部468に記憶する。すなわち、制御演算部46は、視準測距ユニット4から例えばプリズムなどの計測用ターゲット6までの距離と、第1鉛直角検出器444により検出された鉛直角と、第1水平角検出器434により検出された水平角と、に基づいて、視準測距ユニット4の機械基準点の座標と、視準測距ユニット4の望遠鏡部45の基準視準の方向と、を算出し記憶部468に記憶する。
続いて、ステップS12において、制御演算部46は、スキャナユニット5を制御することにより、測定対象物7における多数の測定点の3次元データ(点群データ)を取得し記憶する。
続いて、ステップS13において、制御演算部46は、スキャナユニット5により取得された点群データ8(図4参照)に含まれる複数の3次元データ81(図4参照)の間に存在する測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを視準測距ユニット4の測量結果に基づいて取得する。ここでいう「測定対象物7の特徴部分71」は、本来的に3次元データの取得を要望する測定対象物7のコーナ部やエッジ部などの特徴部分71であり、3次元データがスキャナユニット5により取得されていない測定対象物7の特徴部分71をいう。
より具体的に説明すると、図4に表したように、スキャナユニット5は、所定の角度の方向にパルスレーザ光を回転照射してパルスレーザ光毎に測距を行い、点群データ8を取得する。そのため、スキャナユニット5により取得された点群データ8は、グリッド構造を有する。すなわち、スキャナユニット5により取得された点群データ8に含まれる複数の3次元データ81は、測定対象物7において互いに離れた部分に関する3次元データであり、例えば格子状に位置している。そのため、本来的に3次元データの取得を要望する測定対象物7のコーナ部やエッジ部などの特徴部分71が、スキャナユニット5により取得された点群データ8に含まれる複数の3次元データ81の間に存在し、スキャナユニット5により取得されないことがある。
これに対して、ステップS13において、本実施形態に係る3次元測量装置2の制御演算部46は、スキャナユニット5により取得された点群データ8に含まれる複数の3次元データ81の間に存在する測定対象物7の特徴部分71であって、3次元データがスキャナユニット5により取得されていない測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを視準測距ユニット4の測量結果に基づいて取得する。
続いて、ステップS14において、制御演算部46は、視準測距ユニット4の測量結果に基づいて取得した測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データをスキャナユニット5により取得された点群データ8に追加する。
本実施形態に係る3次元測量装置2によれば、制御演算部46は、スキャナユニット5により取得された点群データ8に含まれる複数の3次元データ81の間に存在する測定対象物7の特徴部分71であって、3次元データがスキャナユニット5により取得されていない測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを視準測距ユニット4の測量結果に基づいて取得し、視準測距ユニット4の測量結果に基づいて取得した測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データをスキャナユニット5により取得された点群データ8に追加する制御を実行する。すなわち、制御演算部46は、視準測距ユニット4の測量結果に基づいて取得した測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データと、スキャナユニット5により取得された点群データ8と、を合成する制御を実行する。これにより、本実施形態に係る3次元測量装置2は、測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データをより確実に取得することができる。
次に、図3に表したステップS13の処理の具体例を、図面を参照して詳しく説明する。
図5は、図3に表したステップS13の処理の第1具体例を表すフローチャートである。
本具体例では、まず、ステップS131において、視準測距ユニット4の望遠鏡部45の視準により、測定箇所が設定される。例えば、作業者等は、表示部471に表示された画像に基づいて、3次元データの取得を要望する測定対象物7のコーナ部やエッジ部などの特徴部分71に対して望遠鏡部45の視準を行い、視準測距ユニット4により測距を行う測定箇所を設定する。
続いて、ステップS132において、視準測距ユニット4は、視準測距ユニット4の望遠鏡部45の視準により測定箇所に設定された測定対象物7の特徴部分71の測量(測距および測角)を行い、測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを直接的に取得する。
続いて、ステップS15において、制御演算部46は、視準測距ユニット4により取得された測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを取得する。例えば、制御演算部46は、視準測距ユニット4により取得された測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データの信号を視準測距ユニット4から受信し、測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データとして取得する。
本具体例によれば、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを視準測距ユニット4により直接的に取得することができ、視準測距ユニット4により直接的に取得された測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データをスキャナユニット5により取得された点群データ8により確実に追加することができる。
図6は、図3に表したステップS13の処理の第2具体例を表すフローチャートである。
本具体例では、まず、ステップS131Aにおいて、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍における点群データ8に基づいて測定対象物7の特徴部分71の近傍の幾何学的な面を算出する。
例えば、図4に表したように、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍の3つの3次元データ811、812、813を含む点群データ8に基づいて、測定対象物7の特徴部分71の近傍の幾何学的な面85を算出する。測定対象物7の特徴部分71の近傍の面85は、平面だけには限定されず、曲面や円柱面や球面である場合がある。そのため、制御演算部46により算出される幾何学的な面85は、平面だけには限定されず、例えば曲面や円柱面や球面などが挙げられる。なお、制御演算部46が幾何学的な面85を算出するときに参照する3次元データは、3つの3次元データ811、812、813だけには限定されず、4つ以上の3次元データであってもよい。
続いて、ステップS132Aにおいて、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71に対する望遠鏡部45の視準の方向を視準測距ユニット4により取得する。例えば、例えば、作業者等は、表示部471に表示された画像に基づいて、3次元データの取得を要望する測定対象物7のコーナ部やエッジ部などの特徴部分71に対して望遠鏡部45の視準を行う。これにより、視準測距ユニット4は、測定対象物7の特徴部分71に対する望遠鏡部45の視準の方向を取得することができる。
すなわち、図1および図2に関して前述したように、所定部分に対して望遠鏡部45の視準が行われると、制御演算部46の演算部461は、第1鉛直角検出器444により検出された鉛直角と、第1水平角検出器434により検出された水平角と、を取得することができる。つまり、視準測距ユニット4は、第1鉛直角検出器444により検出された鉛直角と、第1水平角検出器434により検出された水平角と、に基づいて測角を行うことができる。これにより、例えば作業者等が測定対象物7の特徴部分71に対して望遠鏡部45の視準を行うと、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71に対する望遠鏡部45の視準の方向を視準測距ユニット4により取得することができる。
続いて、ステップS133Aにおいて、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍の幾何学的な面85と、望遠鏡部45の視準の方向と、に基づいて測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを取得する。例えば、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍の3つの3次元データ811、812、813を含む点群データ8に基づいて算出した幾何学的な面85の延長上に測定対象物7の特徴部分71が存在すると想定し、算出した幾何学的な面85に対して視準測距ユニットにより検出された望遠鏡部45の視準の方向を適用することにより測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを取得する。つまり、制御演算部46は、算出した幾何学的な面85に対して望遠鏡部45の視準の方向を適用することにより測定対象物7の特徴部分71に関する測距を行うことができる。
本具体例によれば、例えば測定対象物7のコーナ部やエッジ部などのように、測定対象物7の特徴部分71が、視準測距ユニット4により3次元データを取得することが困難な部分である場合あっても、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍の幾何学的な面85と、望遠鏡部45の視準の方向と、に基づいて測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データをより確実に取得することできる。すなわち、測定対象物7の特徴部分71の形状や望遠鏡部45の視準の方向によっては、第1反射測距光456(図2参照)の強度が弱かったり、第1反射測距光456がほとんど無かったりすることにより、視準測距ユニット4が測定対象物7の特徴部分71の測距を行うことができず、その特徴部分71に関する3次元データを取得できないことがある。一方で、視準測距ユニット4は、測定対象物7の特徴部分71の測距を行うことができない場合であっても、望遠鏡部45の視準の方向を確実に検出し、測定対象物7の特徴部分71の測角を確実に行うことができる。そのため、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍における点群データ8に基づいて測定対象物7の特徴部分71の近傍の幾何学的な面85を算出するとともに、測定対象物7の特徴部分71に対する望遠鏡部45の視準の方向を視準測距ユニット4により取得し、測定対象物7の特徴部分71の近傍の幾何学的な面85に対して視準測距ユニット4により検出された望遠鏡部45の視準の方向を適用することにより測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データをより確実に取得することできる。これにより、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データをスキャナユニット5により取得された点群データ8により確実に追加することができる。
図7は、図3に表したステップS13の処理の第3具体例を表すフローチャートである。
本具体例では、まず、ステップS131Bにおいて、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍における点群データ8に基づいて測定対象物7の特徴部分71を認識する。例えば、図4に表したように、制御演算部46は、測定対象物7上に存在する3次元データ814と、測定対象物7上には存在しない背景の3次元データ815と、に基づいて、測定対象物7のコーナ部やエッジ部などの特徴部分71の位置や形状を認識することができる。すなわち、例えば、3次元データ814のうちの距離データと、3次元データ815のうちの距離データと、の互いの差が、所定値以上である場合には、制御演算部46は、測定対象物7のコーナ部やエッジ部などの特徴部分71が3次元データ814と3次元データ815との間に存在すると認識することができる。但し、制御演算部46が測定対象物7の特徴部分71の位置や形状を認識する手段は、これだけに限定されるわけではない。
例えば、制御演算部46は、視準測距ユニット4に内蔵されたカメラなどの撮像部から送信された画像信号に基づいて画像処理を実行し、測定対象物7の特徴部分71を自動的に抽出してもよい。すなわち、視準測距ユニット4は、カメラなどの撮像部を内蔵していてもよい。この場合には、カメラで撮像された画像に関する信号が制御演算部46に送信される。制御演算部46は、カメラから送信された画像信号に基づいて画像処理を実行し、測定対象物7のコーナ部やエッジ部などの特徴部分71の位置や形状を自動的に認識することができる。
また、ステップS131Bにおいて、制御演算部46は、認識した測定対象物7の特徴部分71を含む領域A1(図4参照)を自動的に測定箇所に設定する。なお、制御演算部46が測定対象物7の特徴部分71の位置や形状を認識する際に参照する3次元データは、2つの3次元データ814、815だけには限定されず、3つ以上の3次元データであってもよい。また、制御演算部46が測定対象物7の特徴部分71の位置や形状を認識する際に画像処理に用いる画像信号は、1つの画像データであってもよく、複数の画像データを含んでいてもよい。
続いて、ステップS132Bにおいて、制御演算部46は、自動的に設定した測定箇所において自動的なスキャンを視準測距ユニット4に実行させる。続いて、ステップS133Bにおいて、制御演算部46は、視準測距ユニット4により取得された測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを取得する。このように、本具体例では、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍における点群データ8に基づいて測定対象物7の特徴部分71を認識するとともに、認識した測定対象物7の特徴部分71を含む領域A1を自動的に測定箇所に設定し、測定対象物7の特徴部分71を含む領域A1において局所的に自動的なスキャンを視準測距ユニット4に実行させる。あるいは、本具体例では、制御演算部46は、視準測距ユニット4に内蔵されたカメラなどの撮像部から送信された画像信号に基づいて測定対象物7の特徴部分71を自動的に抽出するとともに、抽出した測定対象物7の特徴部分71を含む領域A1を自動的に測定箇所に設定し、測定対象物7の特徴部分71を含む領域A1において局所的に自動的なスキャンを視準測距ユニット4に実行させる。
本具体例によれば、作業者等が視準測距ユニット4により自動的なスキャンを行う測定箇所を例えば操作表示部47などにおいて設定しなくとも、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71の近傍における点群データ8に基づいて測定対象物7の特徴部分71を認識し、視準測距ユニット4により自動的なスキャンを行う測定箇所を自動的に設定する。あるいは、制御演算部46は、カメラなどの撮像部から送信された画像信号に基づいて測定対象物7の特徴部分71を自動的に認識し、視準測距ユニット4により自動的なスキャンを行う測定箇所を自動的に設定する。これにより、制御演算部46は、測定対象物7の特徴部分71に関する3次元データを視準測距ユニット4により効率的に取得し、スキャナユニット5により取得された点群データ8に効率的に追加することができる。
以上、本発明の実施形態について説明した。しかし、本発明は、上記実施形態に限定されず、特許請求の範囲を逸脱しない範囲で種々の変更を行うことができる。上記実施形態の構成は、その一部を省略したり、上記とは異なるように任意に組み合わせたりすることができる。
2:3次元測量装置、 4:視準測距ユニット、 5:スキャナユニット、 6:計測用ターゲット、 7:測定対象物、 8:点群データ、 41:整準部、 42:第1托架部、 43:第1水平回転部、 44:第1鉛直回転部、 45:望遠鏡部、 46:制御演算部、 47:操作表示部、 48:基盤部、 49:傾斜計、 52:第2托架部、 54:第2鉛直回転部、 55:走査鏡、 56:第2測距発光部、 57:第2測距受光部、 71:特徴部分、 81:3次元データ、 85:面、 411:調整螺子、 421:間隙部、 431:第1水平回転軸、 432:軸受、 433:第1水平駆動モータ、 434:第1水平角検出器、 436:第1鉛直軸心、 441:第1鉛直回転軸、 442:軸受、 443:第1鉛直駆動モータ、 444:第1鉛直角検出器、 446:第1水平軸心、 451:第1測距発光部、 452:第1測距受光部、 453:視準受光部、 455:第1測距光、 456:第1反射測距光、 457:反射視準光、 458:視準望遠鏡、 461:演算部、 462:第1距離測定部、 463:第1水平回転駆動部、 464:第1鉛直回転駆動部、 465:第2距離測定部、 466:第2水平回転駆動部、 467:第2鉛直回転駆動部、 468:記憶部、 469:画像処理部、 471:表示部、 472:操作入力部、 521:凹部、 541:第2鉛直回転軸、 542:軸受、 543:第2鉛直駆動モータ、 544:第2鉛直角検出器、 546:第2水平軸心、 561:発光素子 562:投光光学部、 565:第2測距光、 566:第2反射測距光、 571:受光素子、 572:受光光学部、 811、812、813、814、815:3次元データ、 A1:領域

Claims (8)

  1. 測定対象物の3次元データを取得する3次元測量装置であって、
    望遠鏡部の視準により前記測定対象物に第1測距光を照射し、前記第1測距光が前記測定対象物で反射した第1反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記視準の方向を検出する視準測距ユニットと、
    前記視準測距ユニットと一体で設けられ、第2測距光を回転照射し、前記第2測距光が前記測定対象物で反射した第2反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記第2測距光の照射方向を検出することにより前記測定対象物に関する点群データを取得するスキャナユニットと、
    前記視準測距ユニットおよび前記スキャナユニットの少なくともいずれかに設けられた制御演算部と、
    を備え、
    前記制御演算部は、前記点群データに含まれる複数の前記3次元データの間に存在する前記測定対象物の特徴部分であって前記3次元データが前記スキャナユニットにより取得されていない前記測定対象物の特徴部分の位置および形状の少なくともいずれかを前記測定対象物上に存在する第1の前記3次元データと前記測定対象物上には存在しない背景の第2の前記3次元データとに基づいて認識し、前記特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得し、前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した前記特徴部分に関する前記3次元データを前記点群データに追加する制御を実行することを特徴とする3次元測量装置。
  2. 前記制御演算部は、前記望遠鏡部の前記視準により測定箇所に設定された前記特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットにより直接的に取得することを特徴とする請求項1に記載の3次元測量装置。
  3. 前記制御演算部は、前記特徴部分の近傍における前記点群データに基づいて前記特徴部分の近傍の幾何学的な面を算出するとともに、前記特徴部分に対する前記望遠鏡部の前記視準の方向を視準測距ユニットにより取得し、前記幾何学的な面と、前記望遠鏡部の前記視準の方向と、に基づいて前記特徴部分に関する前記3次元データを取得することを特徴とする請求項1に記載の3次元測量装置。
  4. 前記制御演算部は、認識した前記特徴部分を含む領域を自動的に測定箇所に設定し、前記測定箇所において自動的なスキャンを前記視準測距ユニットに実行させることにより前記特徴部分に関する前記3次元データを取得することを特徴とする請求項1に記載の3次元測量装置。
  5. 前記制御演算部は、前記第1の3次元データのうちの距離データと、前記第2の3次元データのうちの距離データと、の互いの差に基づいて、前記特徴部分が前記第1の3次元データと前記第2の3次元データとの間に存在すると認識することを特徴とする請求項1に記載の3次元測量装置。
  6. 前記視準測距ユニットは、撮像部を内蔵し、
    前記制御演算部は、前記撮像部から送信された画像信号に基づいて画像処理を実行し、前記特徴部分の位置および形状の少なくともいずれかを認識することを特徴とする請求項1に記載の3次元測量装置。
  7. 望遠鏡部の視準により測定対象物に第1測距光を照射し、前記第1測距光が前記測定対象物で反射した第1反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記視準の方向を検出する視準測距ユニットと、
    前記視準測距ユニットと一体で設けられ、第2測距光を回転照射し、前記第2測距光が前記測定対象物で反射した第2反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記第2測距光の照射方向を検出することにより前記測定対象物に関する点群データを取得するスキャナユニットと、
    前記視準測距ユニットおよび前記スキャナユニットの少なくともいずれかに設けられた制御演算部と、
    を備え、前記測定対象物の3次元データを取得する3次元測量装置が実行する3次元測量方法であって、
    前記点群データに含まれる複数の前記3次元データの間に存在する前記測定対象物の特徴部分であって前記3次元データが前記スキャナユニットにより取得されていない前記測定対象物の特徴部分の位置および形状の少なくともいずれかを前記測定対象物上に存在する第1の前記3次元データと前記測定対象物上には存在しない背景の第2の前記3次元データとに基づいて認識し、前記特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得し、前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した前記特徴部分に関する前記3次元データを前記点群データに追加するステップを備えたことを特徴とする3次元測量方法。
  8. 望遠鏡部の視準により測定対象物に第1測距光を照射し、前記第1測距光が前記測定対象物で反射した第1反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記視準の方向を検出する視準測距ユニットと、
    前記視準測距ユニットと一体で設けられ、第2測距光を回転照射し、前記第2測距光が前記測定対象物で反射した第2反射測距光に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記第2測距光の照射方向を検出することにより前記測定対象物に関する点群データを取得するスキャナユニットと、
    前記視準測距ユニットおよび前記スキャナユニットの少なくともいずれかに設けられた制御演算部と、
    を備え、前記測定対象物の3次元データを取得する3次元測量装置のコンピュータによって実行される3次元測量プログラムであって、
    前記コンピュータに、
    前記点群データに含まれる複数の前記3次元データの間に存在する前記測定対象物の特徴部分であって前記3次元データが前記スキャナユニットにより取得されていない前記測定対象物の特徴部分の位置および形状の少なくともいずれかを前記測定対象物上に存在する第1の前記3次元データと前記測定対象物上には存在しない背景の第2の前記3次元データとに基づいて認識し、前記特徴部分に関する前記3次元データを前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得し、前記視準測距ユニットの測量結果に基づいて取得した前記特徴部分に関する前記3次元データを前記点群データに追加するステップを実行させることを特徴とする3次元測量プログラム。
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