JP7308609B2 - 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法、および、プログラム - Google Patents
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Claims (19)
- 放射線の入射を受け付け複数の画素から画素値を出力する撮像部と、
前記複数の画素のうち常に異常な画素値を出力する欠陥画素を特定するための特定情報を記憶する手段と、
一度の撮像にしたがって前記撮像部から第1画像データを取得する手段と、
前記第1画像データおよび前記特定情報に基づいて、前記欠陥画素に対応する画素値を所定の画素値に更新した第2画像データを生成する第1生成手段と、
前記一度の撮像において一時的に異常な画素値を出力した一時異常画素を少なくとも所定の閾値条件を用いて検出する検出処理を実行する手段と、
前記第2画像データを構成する画素値のうちの一部の画素値であって前記一時異常画素の近傍の画素群に対応する複数の近傍画素値に基づいて、前記一時異常画素の更新用画素値を決定し、前記第2画像データのうちの前記一時異常画素に対応する画素値を前記更新用画素値で更新した第3画像データを生成する第2生成手段と、を有し、
前記複数の近傍画素値には前記所定の画素値が含まれ得、
前記所定の画素値は、前記閾値条件によって前記欠陥画素が前記一時異常画素として検出されることのない画素値であることを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記検出処理は、前記第2画像データに基づいて実行されることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記第2生成手段は、前記一時異常画素の更新用画素値を決定するにあたって、前記複数の近傍画素値のうち1つの画素値として、前記欠陥画素に対応する画素値である前記所定の画素値を参照することを特徴とする請求項1または2に記載の放射線撮像装置。
- 前記所定の画素値は、前記一部の画素値の最小値であることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記一時異常画素は、設定された閾値以上の画素値を出力する画素であることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記更新用画素値は、前記複数の近傍画素値の何れかの画素値が用いられることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記更新用画素値は、前記複数の近傍画素値のうち最も大きい画素値が用いられることを特徴とする請求項6に記載の放射線撮像装置。
- 前記更新用画素値は、前記複数の近傍画素値のうち中間値の画素値が用いられることを特徴とする請求項6に記載の放射線撮像装置。
- 前記更新用画素値は、
少なくとも2種類から選択される方法を用いて決定可能に構成され、
前記方法を選択するための設定部をさらに備え、
前記方法は、
前記複数の近傍画素値のうち最も大きい画素値を前記更新用画素値に決定する方法と、
前記複数の近傍画素値のうち中間値の画素値を前記更新用画素値に決定する方法と、
を含むことを特徴とする請求項6に記載の放射線撮像装置。 - 前記設定部が、撮像を行う際の撮像条件に応じて前記方法を選択することを特徴とする請求項9に記載の放射線撮像装置。
- 前記複数の近傍画素値を第1の複数の近傍画素値として、
前記第3画像データを構成する一部の画素値であって前記欠陥画素の近傍の画素群に対応する第2の複数の近傍画素値に基づいて、前記欠陥画素に対応する画素値をさらに更新する補間部をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至10の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 画像データのオフセットを補正するオフセット補正部と、画像データのゲインを補正するゲイン補正部をさらに備え、
前記第2生成手段は、前記第2画像データのうちの前記一時異常画素に対応する画素値を前記更新用画素値で更新した後に、前記オフセット補正部および前記ゲイン補正部による処理を施して前記第3画像データを生成することを特徴とする請求項11に記載の放射線撮像装置。 - 前記補間部は、前記第2の複数の近傍画素値の2つ以上の画素値に基づく値を用いて、前記欠陥画素の画素値を補正することを特徴とする請求項11または12に記載の放射線撮像装置。
- 前記補間部は、前記第2の複数の近傍画素値の平均値を用いて前記欠陥画素の画素値を変更することを特徴とする請求項13に記載の放射線撮像装置。
- 前記撮像部は、シンチレータをさらに含み、
前記複数の画素は、前記シンチレータによって放射線から変換された光を電気信号に変換するための光電変換部をそれぞれ備えることを特徴とする請求項1乃至14の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 請求項1乃至15の何れか1項に記載の放射線撮像装置と、
前記放射線撮像装置に放射線を照射するための放射線源と、
を含む放射線撮像システム。 - 放射線の入射を受け付け且つ複数の画素から画素値を出力する撮像部を備える放射線撮像装置の制御方法であって、
前記複数の画素のうち常に異常な画素値を出力する欠陥画素を特定するための特定情報を記憶する工程と、
一度の撮像にしたがって前記撮像部から第1画像データを取得する工程と、
前記第1画像データおよび前記特定情報に基づいて、前記欠陥画素に対応する画素値を所定の画素値に更新した第2画像データを生成する第1生成工程と、
前記一度の撮像において一時的に異常な画素値を出力した一時異常画素を少なくとも所定の閾値条件を用いて検出する検出処理を実行する工程と、
前記第2画像データを構成する画素値のうちの一部の画素値であって前記一時異常画素の近傍の画素群に対応する複数の近傍画素値に基づいて、前記一時異常画素の更新用画素値を決定し、前記第2画像データのうちの前記一時異常画素に対応する画素値を前記更新用画素値で更新した第3画像データを生成する第2生成工程と、を有し、
前記複数の近傍画素値には前記所定の画素値が含まれ得、
前記所定の画素値は、前記閾値条件によって前記欠陥画素が前記一時異常画素として検出されることのない画素値であることを特徴とする制御方法。 - 請求項17に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 放射線の入射を受け付け複数の画素から画素値を出力する撮像部と、
前記複数の画素のうち常に異常な画素値を出力する欠陥画素を特定するための特定情報を記憶する手段と、
一度の撮像にしたがって前記撮像部から第1画像データを取得する手段と、
前記第1画像データおよび前記特定情報に基づいて、前記欠陥画素に対応する画素値を所定の画素値に更新した第2画像データを生成する第1生成手段と、
前記一度の撮像において一時的に異常な画素値を出力した一時異常画素を少なくとも所定の閾値条件を用いて検出する検出処理を実行する手段と、
前記第2画像データを構成する画素値のうちの一部の画素値であって前記一時異常画素の近傍の画素群に対応する複数の近傍画素値に基づいて、前記一時異常画素の更新用画素値を決定し、前記第2画像データのうちの前記一時異常画素に対応する画素値を前記更新用画素値で更新した第3画像データを生成する第2生成手段と、を有し、
前記複数の近傍画素値には前記所定の画素値が含まれ得、
前記所定の画素値は、前記閾値条件によって前記欠陥画素が前記一時異常画素として検出されることのない画素値であることを特徴とする放射線撮像システム。
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