JP7288375B2 - 電子機器、算出方法及びプログラム - Google Patents
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Description
特許文献1には、関連する技術として、バッテリの残量を検出する装置に関する技術が開示されている。
このようにすれば、電子機器は、時刻を用いた算出結果に基づいて、バッテリの残り寿命を特定することができる。その結果、電子機器は、バッテリの残り寿命を正確に特定することができる。
このようにすれば、電子機器は、所定の第1時間間隔ごとに不揮発メモリに記録された通電に係る時刻のうちの最新の時刻についてだけではなく、別の時間間隔ごとに不揮発メモリに記録された通電に係る時刻のうちの最新の時刻についても、時刻を用いた算出結果に基づいて、バッテリの残り寿命を特定することができる。その結果、電子機器は、所定の第1時間間隔ごとに通電に係る時刻を不揮発メモリに記録する場合に比べて、バッテリの残り寿命をより正確に特定することができる。
このようにすれば、電子機器は、電源から電子機器へ供給される電力が停止した時刻を正確に特定することができる。その結果、電子機器は、バッテリの残り寿命を正確に特定することができる。
このようにすれば、電子機器は、カードリーダと認証局との間の通信モジュールに使用される電子機器であり、その通信に必要な情報である暗号鍵の情報を保持することができる。その結果、通信モジュールは、セキュリティの高い通信を行うことができる。
このようにすれば、算出方法は、時刻を用いた算出結果に基づいて、バッテリの残り寿命を特定することができる。その結果、算出方法は、バッテリの残り寿命を正確に特定することができる。
このようにすれば、プログラムは、時刻を用いた算出結果に基づいて、バッテリの残り寿命を特定することができる。その結果、プログラムは、バッテリの残り寿命を正確に特定することができる。
以下、本発明の一実施形態による電子機器1について説明する。
本発明の一実施形態による電子機器1は、外部電源からの電力の供給が停止された時刻と、現在時刻との差に基づいて、非通電時間を算出する電子機器である。
例えば、電子機器1は、料金機械である。料金機械は、カードリーダと認証局との間の通信モジュールに使用される電子機器であり、機密情報処理ユニット30の揮発メモリには通信用の暗号鍵が保持されている。電源2が制御装置10に電力を供給している間、電源2から機密情報処理ユニット30の揮発メモリに電力が供給される。そのため、暗号鍵を保持するための機密情報処理ユニット30のバッテリから機密情報処理ユニット30の揮発メモリへの電力の供給は停止される。なお、機密情報処理ユニット30から暗号鍵を取り出そうとして、機密情報処理ユニット30を開けると電源2から機密情報処理ユニット30の揮発メモリへ供給されている電力が断たれる構造となっている。そのため、料金機械から暗号鍵の情報が漏えいすることはない。
ただし、本発明の各実施形態による電子機器1は、料金機械に限定するものではない。
制御装置10は、例えば、ISA(Industry Standard Architecture)バスを介して増設基板20に接続される。
増設基板20は、例えば、USB(Universal Serial Bus)を介して機密情報処理ユニット30に接続される。
また、制御装置10がISAバスを介して増設基板20へ電力を供給している間、増設基板20は、USBを介して機密情報処理ユニット30へ電源2からの電力を供給する。また、制御装置10がISAバスを介して増設基板20へ電源2からの電力を供給している間、増設基板20は、USBを介して機密情報処理ユニット30と通信可能な状態となる。
増設基板20は、図3に示すように、時計201、算出部202、書き込み部203(記録部の一例)、不揮発メモリ204、記憶部205を備える。
なお、不揮発メモリ204は、算出部202が時計201から取得した現在時刻と、算出部202が算出した累積時間とを記憶するための領域として、2つの領域を備えている。それら2つの領域のうちの1つに書き込みフラグが示されており、算出部202が時計201から取得した現在時刻、及び、算出部202が算出した累積時間は、書き込みフラグが示されている領域に書き込まれる。
機密情報処理ユニット30は、図4に示すように、揮発メモリ301、バッテリ302を備える。
例えば、バッテリ302は、リチウム一次電池である。2つのダイオードのカソードどうしを接続する。そして、一方のダイオードのアノードに電源2(例えば、3.3ボルト)を接続する。また、他方のダイオードのアノードに電源2よりも電圧が低いバッテリ302(例えば、3ボルト)を接続する。また、2つのダイオードのカソードを揮発メモリ301に接続する。この接続状態で、電源2から揮発メモリ301に電力が供給される場合、バッテリ302に接続されているダイオードは、アノードとカソードとの間の電位差が小さく、ほとんど電流を流すことができない。つまり、電源2から揮発メモリ301に電力が供給される間には、バッテリ302から揮発メモリ301へ電力は供給されない。また、電源2から揮発メモリ301へ電力が供給されなくなった場合には、電源2に接続されているダイオードが非通電状態になり、バッテリ302から揮発メモリ301へ電力が供給されるようになる。
次に、電子機器1が行う処理を図5~図8を用いて説明する。
なお、ここでは、電源2及びバッテリ302が図5に示す時刻で変化するものとする。また、不揮発メモリ204は、記憶領域204a、204bを備えているものとする。
図5において、横軸は時刻である。図5には、時刻は符号Aの部分に記載されている。電子機器1の製造時の時刻はTMである。ここで、nを自然数とすると、n回目の電源2のオン状態になる時刻を時刻TON(n)、n回目の電源2のオフ状態になる時刻をTOFF(n)とする。バッテリ302は、電源2から揮発メモリ301に電力が供給されていない間、揮発メモリ301に電力を供給する。そのため、バッテリ302のn回目の通電時間S(n)を次の式(1)のように表すことができる。
バッテリ302の1回目の通電時間S(1)からバッテリ302のn回目の通電時間S(n)までの各通電時間を積算すれば、1回目からn回目までのバッテリ302の通電時間の総和、すなわち、製造時の時刻TMからn回目の電源2のオン状態になる時刻TON(n)までの累積非通電時間Q(n)を算出することができる。そのため、上記のように時刻及び通電時間を定義すると、電源2の累積非通電時間Q(n)は、次の式(2)のように表すことができる。
そこで、本発明の一実施形態による電子機器1では、式(2)における時刻TOFF(n-1)を近似の時刻R(n-1)(last)に置き換える。
具体的には、(n-1)回目の電源2のオン状態になると、電子機器1は、所定の第2の時間間隔ごとに、1回目の現在時刻R(n-1)(1)、2回目の現在時刻R(n-1)(2)、・・・、m回目の現在時刻R(n-1)(m)、・・・と不揮発メモリ204に記録する。そして、電源2が(n-1)回目のオフ状態になることによって電子機器1への電力の供給が停止されると、電子機器1が動作できなくなる。その結果、不揮発メモリ204への現在時刻の記録が停止される。その後、電源2がn回目のオン状態になることによって電子機器1が起動したときに不揮発メモリ204に記録されている現在時刻が、近似の時刻R(n-1)(last)である。
ここで、図6に示す電子機器1の処理フローについて説明する。
なお、図6に示す処理フローは、算出部202が算出した電源2の累積非通電時間と、現在時刻とを、書き込み部203が不揮発メモリ204に書き込む処理である。
なお、図7に示すように、不揮発メモリ204は、第1アドレス、第2アドレス、第3アドレスを有する記憶領域204aと、第4アドレス、第5アドレス、第6アドレスを有する記憶領域204bとを備えているものをする。第1アドレス及び第4アドレスには、フラグFが書き込まれる。また、第2アドレス及び第5アドレスには、最後に記録した現在時刻が書き込まれる。また、第3アドレス及び第6アドレスには、電源2の累積非通電時間が書き込まれる。そして、図7における(a)の部分に示すように、電源2から電子機器1への(n-1)回目の電力供給が停止されたときに、第1アドレスにフラグFとして0が書き込まれており、第2アドレスに最後に記録した現在時刻R(n-1)(last)が書き込まれており、第3アドレスに電源2の累積非通電時間Q(n-1)が書き込まれており、第4アドレスにフラグFとして1が書き込まれており、第5アドレスに最後に記録した現在時刻R(n-2)(last)が書き込まれており、第6アドレスに電源2の累積非通電時間Q(n-2)が書き込まれているものとする。
増設基板20が起動すると、書き込み部203は、時計201から現在時刻R(n)(m)を取得する。また、書き込み部203は、第1アドレスと第4アドレスのどちらにフラグFとして1が書き込まれ、どちらにフラグFとして0が書き込まれているかを特定する(ステップS1)。
以下に上述のステップS1~ステップS4の処理の具体例を示す。
また、算出部202は、フラグFとして0が書き込まれている第1アドレスを含む記憶領域204aの第2アドレスから時刻R(n-1)(last)を取得する。算出部202は、フラグFとして0が書き込まれている第1アドレスを含む記憶領域204aの第3アドレスから電源2の累積非通電時間Q(n-1)を取得する。算出部202は、第5アドレスから現在時刻R(n)(m)を取得する。算出部202は、記憶部205から式(3)を読み出す。算出部202は、現在時刻R(n)(m)をTON(n)とし、現在時刻R(n)(m)、時刻R(n-1)(last)、電源2の累積非通電時間Q(n-1)を、式(3)に代入して電源2の累積非通電時間Q(n)を算出する。そして、書き込み部203は、算出部202が算出した電源2の累積非通電時間Q(n)を第6アドレスに書き込む(図7における(b)の部分)。
書き込み部203は、フラグFが1であった第4アドレスのフラグFを0に書き換える(図7における(b)の部分)。また、書き込み部203は、フラグFが0であった第1アドレスのフラグFを1に書き換える(図7における(b)の部分)。
書き込み部203は、電源2から電子機器1への電力の供給が停止され、動作しなくなるまでの間、所定に時間間隔ごとに、時計201から現在時刻R(n)(m)を取得し、取得した現在時刻R(n)(m)を、第5アドレスに上書きする(図7における(b)の部分)。
なお、電源2から電子機器1への電力の供給が停止されると、不揮発メモリ204は、図7における(c)の部分に示すような状態となる。
以上が、図7に示す電源2から電子機器1へn回目の電力の供給が行われた場合の電子機器1の処理についての説明である。
以下で、電源2から電子機器1へ(n+1)回目の電力の供給が行われる場合の電子機器1の処理について説明する。
また、算出部202は、フラグFとして0が書き込まれている第4アドレスを含む記憶領域204bの第5アドレスから時刻R(n)(last)を取得する。算出部202は、フラグFとして0が書き込まれている第4アドレスを含む記憶領域204bの第6アドレスから電源2の累積非通電時間Q(n)を取得する。算出部202は、第2アドレスから現在時刻R(n+1)(m)を取得する。算出部202は、記憶部205から式(3)を読み出す。ただし、電源2から電子機器1への電力の供給が(n+1)回目であるため、式(3)におけるnを(n+1)と置き換える。算出部202は、現在時刻R(n+1)(m)をTON(n+1)とし、現在時刻R(n+1)(m)、時刻R(n)(last)、電源2の累積非通電時間Q(n)を、式(3)に代入して電源2の累積非通電時間Q(n+1)を算出する。そして、書き込み部203は、算出部202が算出した電源2の累積非通電時間Q(n+1)を第3アドレスに書き込む(図8における(b)の部分)。
書き込み部203は、フラグFが1であった第1アドレスのフラグFを0に書き換える(図8における(b)の部分)。また、書き込み部203は、フラグFが0であった第4アドレスのフラグFを1に書き換える(図8における(b)の部分)。
書き込み部203は、電源2から電子機器1への電力の供給が停止され、動作しなくなるまでの間、所定に時間間隔ごとに、時計201から現在時刻R(n+1)(m)を取得し、取得した現在時刻R(n+1)(m)を、第2アドレスに上書きする(図8における(b)の部分)。
なお、電源2から電子機器1への電力の供給が停止されると、不揮発メモリ204は、図8における(c)の部分に示すような状態となる。
以上が、図8に示す電源2から電子機器1へ(n+1)回目の電力の供給が行われた場合の電子機器1の処理についての説明である。
具体的には、判定部101は、機密情報処理ユニット30に電源2から電力が供給されていない累積時間がしきい値を超えた場合、バッテリ302の交換時期であると判定する。
例えば、報知部102は、バッテリ302の交換時期であることを担当者のメールアドレスに送信する。
このようにすれば、電子機器1において、算出部202は、電源2の累積非通電時間を容易にかつ十分な精度で算出することができる。その結果、電子機器1は、算出部202の算出結果としきい値とに基づいて、バッテリの残り寿命を特定することができ、バッテリ302を適切なタイミングで交換することができる。
しかしながら、本発明の別の実施形態では、書き込み部203は、電源2から電子機器1に電力が供給されている累積時間を不揮発メモリ204に書き込むものであってもよい。例えば、書き込み部203は、所定の第3の時間間隔(所定の第2時間間隔の一例)ごとに不揮発メモリ204に時刻を書き込むものであってよい。そして、算出部202は、現在時刻から製造時刻を減算した時間から、電源2から電子機器1に電力が供給されている累積時間を減算することで、電源2の累積非通電時間を算出するものであってもよい。
図9は、少なくとも1つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図である。
コンピュータ5は、図9に示すように、CPU6、メインメモリ7、ストレージ8、インターフェース9を備える。
例えば、上述の電子機器1、制御装置10、増設基板20、機密情報処理ユニット30、その他の制御装置のそれぞれは、コンピュータ5に実装される。そして、上述した各処理部の動作は、プログラムの形式でストレージ8に記憶されている。CPU6は、プログラムをストレージ8から読み出してメインメモリ7に展開し、当該プログラムに従って上記処理を実行する。また、CPU6は、プログラムに従って、上述した各記憶部に対応する記憶領域をメインメモリ7に確保する。
2・・・電源
5・・・コンピュータ
6・・・CPU
7・・・メインメモリ
8・・・ストレージ
9・・・インターフェース
10・・・制御装置
20・・・増設基板
30・・・機密情報処理ユニット
101・・・判定部
102・・・報知部
103、205・・・記憶部
201・・・時計
202・・・算出部
203・・・書き込み部
204・・・不揮発メモリ
301・・・揮発メモリ
302・・・バッテリ
Claims (6)
- 電子機器であって、
2つのメモリ領域を備える不揮発メモリと、
情報を揮発的に記憶する揮発メモリと、
電源から前記電子機器に電力が供給されていないときに、前記揮発メモリに電力を供給するバッテリと、
前記電源から前記電子機器に電力が供給されている間、所定の第1時間間隔ごとに、書き込みフラグにより示される前記2つのメモリ領域のうちの一方に現在時刻と前記電源の累積非通電時間とを書き込み、書き込みが完了すると、前記2つのメモリ領域のうちの他方を示すように前記書き込みフラグを書き換える記録部と、
前記不揮発メモリに記録された最新の時刻と、前記最新の時刻が記録された後に前記電源から前記電子機器に電力が供給開始された時刻とに基づいて、前記累積非通電時間を算出する算出部と、
を備える電子機器。 - 前記不揮発メモリに記録された最新の時刻は、前記電源から前記電子機器に電力が供給開始されたときから前記電源から前記電子機器に電力が供給されなくなるまでの間に、前記第1時間間隔よりも長く、前記バッテリの寿命よりも短い所定の第2時間間隔ごとに記録された時刻のうち最後に記録された時刻である、
請求項1に記載の電子機器。 - 前記算出部は、
前記不揮発メモリに記録された最新の時刻と、前記最新の時刻が記録された後に前記電源から前記電子機器に電力が供給開始された時刻との差に基づいて、前記電源の累積非通電時間を算出する、
請求項1または請求項2に記載の電子機器。 - 前記揮発メモリは、
カードリーダと認証局との間の通信に使用される暗号鍵を保持する、
請求項1から請求項3の何れか一項に記載の電子機器。 - 2つのメモリ領域を備える不揮発メモリと、情報を揮発的に記憶する揮発メモリと、電源から電子機器に電力が供給されていないときに、前記揮発メモリに電力を供給するバッテリと、を備える前記電子機器による算出方法であって、
前記電源から前記電子機器に電力が供給されている間、所定の第1時間間隔ごとに、書き込みフラグにより示される前記2つのメモリ領域のうちの一方に現在時刻と前記電源の累積非通電時間とを書き込み、書き込みが完了すると、前記2つのメモリ領域のうちの他方を示すように前記書き込みフラグを書き換えることと、
前記不揮発メモリに記録された最新の時刻と、前記最新の時刻が記録された後に前記電源から前記電子機器に電力が供給開始された時刻とに基づいて、前記累積非通電時間を算出することと、
を含む算出方法。 - 2つのメモリ領域を備える不揮発メモリと、情報を揮発的に記憶する揮発メモリと、電源から電子機器に電力が供給されていないときに、前記揮発メモリに電力を供給するバッテリと、を備える前記電子機器のコンピュータに、
前記電源から前記電子機器に電力が供給されている間、所定の第1時間間隔ごとに、書き込みフラグにより示される前記2つのメモリ領域のうちの一方に現在時刻と前記電源の累積非通電時間とを書き込み、書き込みが完了すると、前記2つのメモリ領域のうちの他方を示すように前記書き込みフラグを書き換えることと、
前記不揮発メモリに記録された最新の時刻と、前記最新の時刻が記録された後に前記電源から前記電子機器に電力が供給開始された時刻とに基づいて、前記累積非通電時間を算出することと、
を実行させるプログラム。
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