JP7286151B2 - 昇温脱離分析装置及び昇温脱離分析方法 - Google Patents
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Description
固体試料Sとして、炭素材料を用いた。具体的に、市販の活性炭(MSC30、Kansai Coke & Chemicals Co., Ltd.)を用いた。液体Lとしては、炭素材料に、当該炭素材料の炭素構造に結合した官能基に含まれるプロトン性水素原子を、重水素原子に置換する処理(H-D置換処理)を施すことを目的として、重水(D2O)を用いた。
図1に示す構成を有する本装置1を用いて、炭素材料を含む懸濁液の凍結乾燥を行った。すなわち、まず、ガス供給流路82を介して、ガス供給源83から、試料チャンバー10の内部空間11にガス(アルゴン)を供給することにより、当該内部空間11を常圧まで昇圧した。次いで、石英製の第一部分10aを、ステンレス製の第二部分10bから分離し、バイアル瓶から試料容器40の凹部41内に、炭素材料を含む懸濁液を移した。
凍結乾燥後の炭素材料を、本装置1を用いた昇温脱離法により分析した。すなわち、上述した凍結乾燥後、試料チャンバー10の内部空間11を昇圧することなく、さらに減圧ポンプ92(TMP)を駆動させることで、1×10-3Pa以下の高真空の内部空間11を形成した。
図4A、及び図4Bには、H-D置換処理が施されていない炭素材料(MSC)について得られたCO及びCO2の昇温脱離スペクトル、及びH2の昇温脱離スペクトルをそれぞれ示す。図5A、及び図5Bには、H-D置換処理が施された炭素材料(MSC(D2O))について得られたCO及びCO2の昇温脱離スペクトル、及びH2、HD及びD2の昇温脱離スペクトルをそれぞれ示す。
Claims (10)
- 減圧可能な内部空間を有する試料チャンバー、
前記試料チャンバー内の固体試料を加熱するヒーター、及び、
前記試料チャンバー内で加熱された前記固体試料から発生した脱離ガスを検出する検出器、
を含み、
前記試料チャンバーは、前記内部空間内に、
前記固体試料と液体との混合物を収容するための試料容器、及び、
前記試料容器と伝熱可能に接続された接続部分と、前記試料容器内の前記混合物を凍結するために冷却される被冷却部分とを有する伝熱部材、
を含む、
昇温脱離分析装置。 - 前記伝熱部材の前記被冷却部分は、前記試料チャンバーの前記内部空間から突出して形成されている、
請求項1に記載の昇温脱離分析装置。 - 前記伝熱部材は、前記接続部分としての一方の端部と、前記被冷却部分としての他方の端部と、を有する棒状の部材である、
請求項1又は2に記載の昇温脱離分析装置。 - 前記伝熱部材は、前記接続部分を有する炭素部材を含む、
請求項1乃至3のいずれかに記載の昇温脱離分析装置。 - 前記伝熱部材は、前記被冷却部分を有する金属部材を含む、
請求項1乃至4のいずれかに記載の昇温脱離分析装置。 - 前記試料チャンバーは、前記試料容器を収容する第一部分と、前記伝熱部材を収容する第二部分とを含み、
前記第一部分と前記第二部分とは分離可能に接続されている、
請求項1乃至5のいずれかに記載の昇温脱離分析装置。 - 前記ヒーターは、前記固体試料を500℃以上に加熱するヒーターである、
請求項1乃至6のいずれかに記載の昇温脱離分析装置。 - 前記ヒーターは、高周波誘導加熱ヒーターである、
請求項1乃至7のいずれかに記載の昇温脱離分析装置。 - 前記試料チャンバーは、冷却器をさらに含む、
請求項1乃至8のいずれかに記載の昇温脱離分析装置。 - 請求項1乃至9のいずれかに記載の昇温脱離分析装置を用いて、昇温脱離法により、固体試料を分析する、昇温脱離分析方法であって、
前記固体試料と液体との混合物を前記試料チャンバー内の前記試料容器に収容すること、
前記試料容器に接続された前記伝熱部材の前記被冷却部分を冷却することにより、前記試料容器内の前記混合物を凍結すること、
前記試料チャンバーの前記内部空間を減圧して、前記試料容器内の凍結した前記混合物を乾燥させること、及び、
前記混合物の乾燥によって前記試料容器内に残された前記固体試料を、前記ヒーターによる加熱下で、昇温脱離法により分析すること、
を含む、
昇温脱離分析方法。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002372483A (ja) | 2001-04-09 | 2002-12-26 | Toshiba Microelectronics Corp | 脱離ガス分析装置及びその分析方法 |
JP2005083887A (ja) | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Rigaku Corp | 昇温脱離分析装置とその方法 |
JP2010054498A (ja) | 2008-07-31 | 2010-03-11 | Denshi Kagaku Kk | 試料分析方法、試料搬入部材、試料搬入方法および昇温脱離分析装置 |
JP2013234911A (ja) | 2012-05-09 | 2013-11-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 昇温脱離分析方法および装置 |
JP2017096710A (ja) | 2015-11-20 | 2017-06-01 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | ガス分析装置およびガス分析方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5932856A (ja) * | 1982-08-18 | 1984-02-22 | Shimadzu Corp | アモルフアスシリコンの水素分析装置 |
JP2552146B2 (ja) * | 1987-08-31 | 1996-11-06 | 理学電機株式会社 | 熱分析試料冷却装置 |
JP3659459B2 (ja) * | 1998-01-29 | 2005-06-15 | 京セラ株式会社 | 昇温脱離ガス分析装置及び昇温脱離ガス分析方法 |
KR100263418B1 (ko) * | 1998-05-25 | 2000-08-01 | 정명세 | 산소삼중점 및 고체산소 γ-β 상변화를 이용한 고순도 산소에함유된 아르곤 불순물 측정방법 및 이것을 이용한 저온항온조 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002372483A (ja) | 2001-04-09 | 2002-12-26 | Toshiba Microelectronics Corp | 脱離ガス分析装置及びその分析方法 |
JP2005083887A (ja) | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Rigaku Corp | 昇温脱離分析装置とその方法 |
JP2010054498A (ja) | 2008-07-31 | 2010-03-11 | Denshi Kagaku Kk | 試料分析方法、試料搬入部材、試料搬入方法および昇温脱離分析装置 |
JP2013234911A (ja) | 2012-05-09 | 2013-11-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 昇温脱離分析方法および装置 |
JP2017096710A (ja) | 2015-11-20 | 2017-06-01 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | ガス分析装置およびガス分析方法 |
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