JP7271866B2 - 磁性体検査システムおよびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、磁性体検査システムおよびプログラムに関する。

従来、磁性体検査システムが知られている（たとえば、特許文献１参照）。

上記特許文献１には、ワイヤロープ（磁性体）の漏えい磁束を検知して検査信号を送信する検知コイルと、検査信号に基づいてワイヤロープの損傷を検出する制御装置とを備えるワイヤロープの検査装置（磁性体検査システム）が開示されている。この特許文献１のワイヤロープの検査装置は、検知コイルに対してワイヤロープを移動させながら、ワイヤロープの検査を行っている。また、制御装置は、検査中において、ワイヤロープの損傷を検出した場合に、ランプの点灯やブザーの鳴動により警告を発生させるように構成されている。

国際公開第２０１５／１６６５３３号

上記特許文献１に記載のワイヤロープの検査装置（磁性体検査システム）では、検査中において、ワイヤロープの損傷を検出した場合に、ランプの点灯やブザーの鳴動により警告を発生させるため、ワイヤの損傷があった場合に、作業者が警告に基づいて、コイルに対するワイヤロープの移動を止めて、損傷位置にチョークなどでマーキングしたりする必要がある。このため、ワイヤロープの損傷位置を特定するための作業者の負担が増大するという問題点がある。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、磁性体の損傷位置を特定するための作業者の負担が増大するのを抑制することが可能な磁性体検査システムおよびプログラムを提供することである。

上記目的を達成するために、この発明の第１の局面による磁性体検査システムは、磁性体を囲むように巻回され、磁性体の磁界の変化を検知して検知信号を送信する検知コイルと、検知コイルからの検知信号に基づいて、磁性体の状態を検知する検知部と、磁性体の状態を表示する表示部と、磁性体の検査位置情報と、検知信号とに基づいて、磁性体の状態と、検査位置情報とを関連付けて表示部に表示させる制御を行う制御部とを備え、制御部は、検知信号の波形の横軸を検査位置情報として、磁性体の状態と検査位置情報とを関連付けて、表示部に表示するように構成されており、検知信号としての差動信号を積分した積分信号と検査位置情報とが関連付けられて、表示部に表示されるように構成されている。

この発明の第１の局面による磁性体検査システムでは、上記のように構成することによって、磁性体の状態と、検査位置情報とが関連付けられて表示された表示部の表示を作業者が確認することにより、容易に磁性体の損傷位置を特定することができるので、磁性体の損傷位置を特定するための作業者の負担が増大するのを抑制することができる。また、検知コイルに対して磁性体を相対移動させながら検査を行う場合に、損傷があった場合でも、検知コイルに対する磁性体の相対移動を止めなくてもよいので、検査の中断により検査時間が長くなるのを抑制することができる。

上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、制御部は、磁性体の状態の情報と、検査位置情報とを関連付けて記憶部に保存するように構成されている。このように構成すれば、検査を行った検査結果と、記憶部に保存された以前の検査結果とを比べることができるので、磁性体の経時的な変化を容易に取得することができる。これにより、磁性体の交換時期を的確に判断することができる。

上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、制御部は、検知信号の大きさに基づいて、検査位置情報と関連付けて、磁性体の傷みの状態を示す表示を、表示部に表示するように構成されている。このように構成すれば、作業者が磁性体の傷みの状態と位置とを表示部の表示に基づいて容易に確認することができる。

上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、制御部は、検知信号の波形と合わせて、磁性体の状態を判断するためのしきい値を、表示部に表示するように構成されている。このように構成すれば、検知信号としきい値とを容易に比較することができるので、作業者が磁性体の状態を容易に確認することができる。

上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、制御部は、検知信号と、検査位置情報とを、並行して取得して、磁性体の状態と、検査位置情報とを関連付けるように構成されている。このように構成すれば、磁性体の状態と、検査位置情報とを容易に関連付けることができる。

上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、検査位置情報を取得するための位置取得部をさらに備え、制御部は、位置取得部により取得した検査位置情報と、検知信号とに基づいて、磁性体の状態と、検査位置情報とを関連付けて表示部に表示するように構成されている。このように構成すれば、位置取得部により検査位置を容易に取得することができるので、磁性体の状態と検査位置情報とを容易に関連付けることができる。

上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、制御部は、磁性体の状態に応じて通知する異常状態の累計の数を、磁性体の状態と検査位置情報とを関連付けた表示と合わせて、表示部に表示するように構成されている。このように構成すれば、表示部の表示に基づいて検査位置における損傷などの異常状態の数を作業者が容易に認識することができる。

上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、磁性体は、複数の素線により形成されたワイヤロープである。このように構成すれば、ワイヤロープの長さ方向における損傷位置を特定するための作業者の負担が増大するのを抑制することができる。また、一部の素線が断線した場合でも、検知コイルに対するワイヤロープの相対移動を止めなくてもよいので、検査の中断により検査時間が長くなるのを抑制することができる。

上記目的を達成するために、この発明の第２の局面によるプログラムは、磁性体を囲むように巻回された検知コイルにより検知した、磁性体の磁界の変化を検知する検知信号と、磁性体の検査位置情報とに基づいて、検知信号の波形の横軸を検査位置情報として、磁性体の状態と、検査位置情報とを関連付けて表示部に表示させるとともに、検知信号としての差動信号を積分した積分信号と検査位置情報とを関連付けて表示部に表示させる制御をコンピュータに実行させる。

この発明の第２の局面によるプログラムでは、上記のように構成することによって、磁性体の状態と、検査位置情報とが関連付けられて表示された表示部を作業者が確認することにより、容易に磁性体の損傷位置を特定することができるので、磁性体の損傷位置を特定するための作業者の負担が増大するのを抑制することが可能なプログラムを提供することができる。また、検知コイルに対して磁性体を相対移動させながら検査を行う場合に、損傷があった場合でも、検知コイルに対する磁性体の相対移動を止めなくてもよいので、検査の中断により検査時間が長くなるのを抑制することができる。

本発明によれば、上記のように、磁性体の損傷位置を特定するための作業者の負担が増大するのを抑制することができる。

一実施形態による磁性体検査システムの構成を示す概略図である。 一実施形態による磁性体検査装置の磁界印加部および検出部の構成を説明するための図である。 一実施形態による磁性体検査システムの表示部の表示例を示した図である。 一実施形態による磁性体検査システムの検知信号と位置情報との関連付けを説明するための図である。 一実施形態による磁性体検査システムの位置取得部を説明するための図である。 一実施形態による磁性体検査システムの位置取得部の位置取得の際のワイヤロープの位置と信号強度との関係を説明するための図である。 一実施形態による磁性体検査システムの位置取得部の位置取得の際の時間と信号強度との関係の一例を示したグラフである。 一実施形態による磁性体検査システムの第１変形例の位置取得部を説明するための図である。 一実施形態による磁性体検査システムの第２変形例の位置取得部を説明するための図である。

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

図１～図４を参照して、一実施形態による磁性体検査システム１００の構成について説明する。

（磁性体検査システムの構成）
図１に示すように、磁性体検査システム１００は、検査対象物である磁性体のワイヤロープＷを検査するように構成されている。磁性体検査システム１００は、磁性体検査装置２００と、コンピュータ３００とを備えている。磁性体検査装置２００には、位置取得部２０１が設けられている。コンピュータ３００は、通信部３０１と、制御部３０２と、記憶部３０３と、表示部３０４とを含んでいる。ワイヤロープＷは、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用されている。磁性体検査システム１００は、ワイヤロープＷを定期的に検査するように構成されている。磁性体検査システム１００は、ワイヤロープＷの傷みを検査するように構成されている。磁性体検査システム１００は、検査対象物であるワイヤロープＷの表面に沿って磁性体検査装置２００を相対移動させながら、ワイヤロープＷを検査する。たとえば、クレーンやエレベータなどのようにワイヤロープＷが移動する場合は、磁性体検査装置２００を固定した状態で、ワイヤロープＷの移動に伴って、検査が行われる。また、吊り橋のようにワイヤロープＷが移動しない場合は、ワイヤロープＷに沿って磁性体検査装置２００を移動させながら検査が行われる。ワイヤロープＷは、磁性体検査装置２００の位置において、Ｘ方向に相対的に移動するように配置されている。なお、ワイヤロープＷは、特許請求の範囲の「磁性体」の一例である。

磁性体検査装置２００は、図２に示すように、検出部１と、電子回路部２とを備えている。検出部１は、一対の受信コイル１１および１２を有する差動コイル１０と、励振コイル１３とを含んでいる。また、磁性体検査装置２００は、磁界印加部３を備えている。なお、電子回路部２は、特許請求の範囲の「検知部」の一例である。また、差動コイル１０は、特許請求の範囲の「検知コイル」の一例である。

磁性体検査装置２００は、コンピュータ３００に接続されている。コンピュータ３００は、通信部３０１を介して、磁性体検査装置２００によるワイヤロープＷの計測データを受信するように構成されている。コンピュータ３００の制御部３０２は、素線断線、断面積変化などの傷みの種類を解析するように構成されている。また、コンピュータ３００は、解析結果を、表示部３０４に表示するように構成されている。また、コンピュータ３００は、解析結果を、記憶部３０３に保存するように構成されている。また、コンピュータ３００は、解析結果に基づいて、異常判定を行い、表示部３０４に結果を表示するように構成されている。

ワイヤロープＷは、磁性を有する複数の素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されている。ワイヤロープＷは、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープＷは、劣化による切断が起こるのを防ぐために、状態（傷等の有無）を監視されている。そして、劣化が所定量より進行したワイヤロープＷは、交換される。

図２に示すように、磁性体検査装置２００は、ワイヤロープＷの磁界（磁束）の変化を検知するように構成されている。磁性体検査装置２００は、全磁束型センサを含む。つまり、磁性体検査装置２００は、ワイヤロープＷの検出位置を通る磁束の略全てを検出する。

磁界印加部３は、検査対象物であるワイヤロープＷに対して予め磁界を印加し磁性体の磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。また、磁界印加部３は、磁石３１および３２を含む第１磁界印加部と、磁石３３および３４を含む第２磁界印加部とを含んでいる。第１磁界印加部（磁石３１および３２）は、検出部１に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の一方側（Ｘ１方向側）に配置されている。また、第２磁界印加部（磁石３３および３４）は、検出部１に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の他方側（Ｘ２方向側）に配置されている。

差動コイル１０（受信コイル１１および１２）と、励振コイル１３とは、図２に示すように、長尺材からなる磁性体であるワイヤロープＷの延びる方向を中心軸として、長手方向に沿うようにそれぞれ複数回巻回されている。また、差動コイル１０および励振コイル１３は、ワイヤロープＷの延びるＸ方向（長手方向）に沿って円筒形となるように形成される導線部分を含むコイルである。したがって、差動コイル１０および励振コイル１３の巻回される導線部分の形成する面は、長手方向に略直交している。ワイヤロープＷは、差動コイル１０および励振コイル１３の内部を通過する。また、差動コイル１０は、励振コイル１３の内側に設けられている。なお、差動コイル１０および励振コイル１３の配置はこれに限られない。差動コイル１０の受信コイル１１は、Ｘ１方向側に配置されている。また、差動コイル１０の受信コイル１２は、Ｘ２方向側に配置されている。

励振コイル１３は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振する。具体的には、励振コイル１３に励振交流電流が流されることにより、励振コイル１３の内部において、励振交流電流に基づいて発生する磁界がＸ方向に沿って印加されるように構成されている。

差動コイル１０は、一対の受信コイル１１および１２の差動信号を送信するように構成されている。具体的には、差動コイル１０は、ワイヤロープＷの磁界の変化を検知して差動信号を送信するように構成されている。差動コイル１０は、検査対象物であるワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知して検知信号（電圧）を出力するように構成されている。すなわち、差動コイル１０は、磁界印加部３により磁界が印加されたワイヤロープＷに対して、Ｘ方向の磁界の変化を検知する。また、差動コイル１０は、検知したワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化に基づく差動信号（電圧）を出力するように構成されている。また、差動コイル１０は、励振コイル１３によって発生する磁界の略全てが検知可能に（入力される様に）配置されている。

ワイヤロープＷに欠陥（傷等）が存在する場合は、欠陥（傷等）のある部分でワイヤロープＷの全磁束（磁界に透磁率と面積とを掛けた値）が小さくなる。その結果、たとえば、受信コイル１１が、欠陥（傷等）のある場所に位置する場合、受信コイル１２を通る磁束量が受信コイル１１と比較して変化するため、差動コイル１０による検知電圧の差の絶対値（差動信号）が大きくなる。一方、欠陥（傷等）のない部分での差動信号は略ゼロとなる。このように、差動コイル１０において、欠陥（傷等）の存在をあらわす明確な信号（Ｓ／Ｎ比の良い信号）が検知される。これにより、電子回路部２は、差動信号の値に基づいてワイヤロープＷの欠陥（傷等）の存在を検出することが可能である。

電子回路部２は、磁性体検査装置２００の各部を制御するように構成されている。具体的には、電子回路部２は、ＣＰＵ（中央処理装置）などのプロセッサ、メモリ、ＡＤ変換器などを含んでいる。電子回路部２は、差動コイル１０の差動信号（検知信号）を受信して、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。また、電子回路部２は、励振コイル１３を励振させる制御を行うように構成されている。また、電子回路部２は、励振コイル信号および検出コイル信号の同期検波を行うように構成されている。また、電子回路部２は、ワイヤロープＷの状態の検知結果をコンピュータ３００に送信するように構成されている。また、電子回路部２は、位置取得部２０１により取得した磁性体検査装置２００によるワイヤロープＷの検査位置情報を受信するように構成されている。また、電子回路部２は、検査位置情報をコンピュータ３００に送信するように構成されている。

位置取得部２０１は、検査位置情報を取得するように構成されている。たとえば、位置取得部２０１は、発光部と、受光部とを有し、発光部から照射された光がワイヤロープＷに反射して受光部により受光されることにより、ワイヤロープＷの位置を取得する。具体的には、位置取得部２０１は、受光部により受光される光の強弱に基づいて、ワイヤロープＷの凹凸の数を取得して、ワイヤロープＷの位置情報を取得する。つまり、ワイヤロープＷは、ストランドが編み込まれて形成されているため、表面に周期的に凹凸形状を有している。位置取得部２０１は、周期的な凹凸形状の凹部または凸部の数をカウントすることにより、ワイヤロープＷの位置情報を取得する。なお、凸部では、受光強度が強くなり、凹部では、受光強度が弱くなる。具体的な構成については、後述する。また、磁性体検査装置２００を移動させながら、検査を行う場合は、位置取得部２０１は、加速度センサまたはＧＰＳを有しており、加速度またはＧＰＳの位置情報に基づいて、ワイヤロープＷの検査位置を取得する。また、エレベータのワイヤを検査する場合は、エレベータのシステムからワイヤの位置情報がコンピュータ３００に送信されてもよい。

ここで、本実施形態では、表示部３０４に検査されたワイヤロープＷの状態が表示される。具体的には、図３に示すように、制御部３０２の制御により、ワイヤロープＷの検査位置情報と、差動コイル１０の検知信号とに基づいて、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とが関連付けられて表示部に表示される。具体的には、制御部３０２は、位置取得部２０１により取得した検査位置情報と、検知信号とに基づいて、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とを関連付けて表示部３０４に表示するように構成されている。また、制御部３０２は、プログラムに基づいて、ワイヤロープＷの磁界の変化を検知する検知信号と、ワイヤロープＷの検査位置情報とに基づいて、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とを関連付けて表示部３０４に表示させる。

また、制御部３０２は、ワイヤロープＷの状態の情報と、検査位置情報とを関連付けて記憶部３０３に保存するように構成されている。記憶部３０３への保存は、たとえば、検査毎に行われる。これにより、記憶部３０３に記憶された検知信号を同じ検査位置において比較することができる。たとえば、初期値の検知信号との差分をとることにより、初期検査時からの経時変化の量を取得することができる。また、前回の検査時の検知信号との差分をとることにより、前回検査時からの経時変化の量を取得することができる。

また、制御部３０２は、検知信号の大きさに基づいて、検査位置情報と関連付けて、ワイヤロープＷの傷みの状態を示す表示を、表示部３０４に表示するように構成されている。たとえば、検知信号の値に基づいて、「注意」や「警告」を示す表示が、検査位置情報と関連付けられて表示される。また、「キンク」や、「断線」などの傷みの種類を示す表示が、検査位置情報と関連付けられて表示される。図３に示す例では、「注意」という文字とともに、矢印により傷みの状態を示している。また、傷みの状態を示す表示をマウスオーバーすることにより、詳細な情報が表示される。また、傷みの種類や、進行状態に応じて、色が変えられて表示される。

また、制御部３０２は、検知信号の波形と合わせて、ワイヤロープＷの状態を判断するためのしきい値を、表示部３０４に表示するように構成されている。具体的には、図３に示すように、検知信号の波形と合わせて、注意すべきしきい値としてのＰ１およびＰ２のラインを表示する。この場合では、Ｐ１とＰ２の差は、５Ｖに設定されている。また、検知信号の波形と合わせて、警告すべきしきい値としてのＰ３およびＰ４のラインを表示する。この場合では、Ｐ３とＰ４の差は、８Ｖに設定されている。なお、しきい値は、作業者により変更することが可能である。

図３に示す例では、表示部３０４に、検査位置情報と関連付けられて差動信号が表示されている。また、表示を切り替えることにより、差動信号を積分した積分信号が検査位置情報と関連付けられて表示部３０４に表示される。積分信号は、差動信号を適宜設定した時間分で積分した上で、検査位置情報と関連付けて表示してもよいし、差動信号を検査位置情報と関連付けた上で、適宜設定した長さ（位置）により積分してもよい。これにより、表示される信号の視認性を上げることができる。また、傷みの種類を容易に判別することが可能である。たとえば、キンクの場合の積分信号は、なだらかな波形となり、断線の場合の積分信号は、シャープな波形となる。

また、制御部３０２は、ワイヤロープＷの状態に応じて通知する異常状態の累計の数を、ワイヤロープＷの状態と検査位置情報とを関連付けた表示と合わせて、表示部３０４に表示するように構成されている。具体的には、図３に示すように、「注意」の累計のポイント数および「警告」の累計のポイント数が表示部３０４に表示される。この累計のポイント数のしきい値は作業者により設定される。累計のポイント数がしきい値を超えると、ワイヤロープＷの傷みが進んでいると判断される。表示部３０４には、他に、ロープ送り速度、検出レベルＶｐの現在値、測定スパンが表示される。

ワイヤロープＷが長い場合、表示部３０４の一画面に全ての検査位置における検知信号が収まらない場合がある。この場合、検知信号の波形を拡大・縮小表示することにより、局所的な波形を確認したり、全体の波形を確認したりすることができる。また、異常部分（損傷部分）を表示部３０４に順次表示させてもよい。

励振コイルを備えておらずワイヤロープＷを励振しない場合、交流ではなく直流励振を行う場合、また磁石による固定磁場を与えている場合は、ロープ送り速度により、信号のレベルが変わる。この場合、ロープ速度に応じて、検知信号を補正して、検査位置情報と関連付けられて、表示部３０４に表示される。

制御部３０２は、検知信号と、検査位置情報とを、並行して取得して、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とを関連付けるように構成されている。具体的には、図４に示すように、所定の時間間隔毎に、検知信号をサンプリングしている。これにより、時間Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３・・・と、検出レベルＶ１、Ｖ２、Ｖ３・・・とが関連付けられる。また、所定の時間間隔毎に、位置情報が取得される。これにより、時間Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３・・・と、位置情報ｘ１、ｘ２、ｘ３・・・とが関連付けられる。これらに基づいて、位置情報ｘ１、ｘ２、ｘ３・・・と、検出レベルＶ１、Ｖ２、Ｖ３・・・とが関連付けられる。また、時間を、位置に変換する場合には、ワイヤロープＷの相対移動の速度を一定として、移動時間と、速度とを乗じて変換する。あるいは、時間を、位置に変換する場合に、ワイヤロープＷの相対速度を時々刻々と取得して、速度を時間により積分することにより変換する。

表示部３０４には、最新の検知信号が表示される。つまり、ワイヤロープＷが往復移動することにより、同じ位置において検知信号が検出された場合、新しい情報が表示部３０４に表示される。また、ワイヤロープＷの相対移動が停止している場合は、ワイヤロープＷの同じ位置を続けて検査しないように、検知信号は検出されない。

（位置取得部の構成）
図５に示すように、位置取得部２０１は、発光部２１０と、受光部２２０と、収束レンズ２３１と、ハーフミラー２３２と、結像レンズ２３３とを含んでいる。受光部２２０は、受光素子２２１と、電子回路２２２とを有している。位置取得部２０１は、受光部２２０により受光される光の強弱に基づいて、ワイヤロープＷの位置情報を取得するために設けられている。

発光部２１０は、所定の波長（たとえば、６３５ｎｍ）のレーザ光を発生させる半導体レーザ素子を有している。発光部２１０は、所定の波長のレーザ光をワイヤロープＷに向けて照射するように構成されている。なお、発光部２１０は、可視光を照射してもよいし、非可視光（赤外光など）を照射してもよい。また、発光部２１０は、半導体以外のレーザ素子でもよい。

受光部２２０は、発光部２１０から照射され、ワイヤロープＷにより反射された光を、受光するように構成されている。また、受光部２２０は、受光した光の強度に応じて、外部に信号を出力するように構成されている。受光素子２２１は、光を受けて、強度に応じて電気信号に変換するように構成されている。受光素子２２１は、たとえば、フォトダイオードにより構成されている。電子回路２２２は、受光素子２２１からの電気信号を受信し、増幅して外部に信号を出力するように構成されている。

収束レンズ２３１は、発光部２１０からの光をワイヤロープＷ上に集光するように構成されている。収束レンズ２３１は、発光部２１０と、ハーフミラー２３２との間に配置されている。ハーフミラー２３２は、ワイヤロープＷの表面により反射された光の一部を受光部２２０に導くように構成されている。ハーフミラー２３２は、収束レンズ２３１と、ワイヤロープＷとの間に配置されている。結像レンズ２３３は、ワイヤロープＷの表面により反射され、ハーフミラー２３２により導かれた光を、受光部２２０の受光素子２２１上に結像させるように構成されている。結像レンズ２３３は、ハーフミラー２３２と、受光部２２０との間に配置されている。

図６および図７に示すように、ワイヤロープＷに照射された光は、（Ａ）凸部（平坦部）では、ハーフミラー２３２に向かって反射される。このため、（Ａ）凸部（平坦部）の位置では、受光部２２０により受光する光の強度が大きくなる。また、ワイヤロープＷに照射された光は、（Ｂ）傾斜部では、斜めに反射される。このため、（Ｂ）傾斜部の位置では、受光部２２０により受光する光の強度が小さくなる。また、ワイヤロープＷに照射された光は、（Ｃ）底部では、斜め方向に散乱しつつ、ハーフミラー２３２に向かって反射される。このため、（Ｃ）底部の位置では、受光部２２０により受光する光の強度が小さくなる（ただし、（Ｂ）傾斜部の位置よりも少し大きくなる）。つまり、ワイヤロープＷが位置取得部２０１に対して相対移動することにより、図７に示すように、時間ごとに光の強度が変化する信号が取得される。

ここで、ワイヤロープＷの凹凸のピッチは、既知であるため、しきい値を用いてワイヤロープＷの凹凸を検知することによりワイヤロープＷの位置を取得することが可能である。具体的には、まず、（１）ワイヤロープＷの凹凸のピッチ間距離Ｌ（図６参照）を、強度のしきい値を超えた時の時間間隔Δｔで除する（割る）ことにより、各々のピッチ間での速度を算出する。たとえば、エレベータが静止状態から加速していく場合は、初期では、速度が遅いため、ピッチ間の時間間隔Δｔは大きくなる。そして、加速するにつれて、速度が速くなっていくため、徐々にピッチ間の時間間隔Δｔは、小さくなっていく。

そして、（２）各々のピッチ間の速度に時間間隔Δｔを乗じて加算することにより、ワイヤロープＷのスタート点からの距離に換算することが可能である。この場合、各々のピッチ間の速度を、多項式（たとえば、３次式以内）で近似してスムーズ化してから、距離に換算する処理を行ってもよい。上記の処理により、ワイヤロープＷの相対移動速度と、相対位置との両方を取得することが可能である。なお、ワイヤロープＷの相対位置のみを取得する場合、凹凸の数に、凹凸のピッチを乗じて求めてもよい。

なお、位置取得部は、図８のような構成でもよい。具体的には、図８に示すように、位置取得部２０２は、発光部２１０と、受光部２２０と、ハーフミラー２３２と、レンズ２３４とを含んでいる。受光部２２０は、受光素子２２１と、電子回路２２２とを有している。図８の構成では、レンズ２３４は、ハーフミラー２３２と、ワイヤロープＷとの間に配置されている。また、レンズ２３４は、ワイヤロープＷへの光の収束と、受光部２２０への光の結像との両方の機能を一体的に有している。これにより、部品点数の減少を図ることが可能である。

また、位置取得部は、図９のような構成でもよい。具体的には、図９に示すように、位置取得部２０３は、発光部２１０と、受光部２２０と、収束レンズ２３１と、結像レンズ２３３と、偏光ビームスプリッタ２３５と、波長板２３６とを含んでいる。受光部２２０は、受光素子２２１と、電子回路２２２とを有している。図９の構成では、偏光ビームスプリッタ２３５と、波長板２３６とにより、ワイヤロープＷの表面で反射された光を受光部２２０に導いている。偏光ビームスプリッタ２３５は、収束レンズ２３１と、波長板２３６との間に配置されている。波長板２３６は、偏光ビームスプリッタ２３５と、ワイヤロープＷとの間に配置されている。波長板２３６は、１／４波長板を含んでいる。

また、位置取得部の発光部２１０と受光部２２０との配置は、逆であってもよい。つまり、発光部２１０から発生した光をハーフミラー２３２または偏光ビームスプリッタ２３５により方向を変えて、ワイヤロープＷに照射し、反射光をハーフミラー２３２または偏光ビームスプリッタ２３５を透過させて受光部２２０に導いてもよい。

（実施形態の効果）
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

本実施形態では、上記のように、制御部３０２を、ワイヤロープＷの検査位置情報と、検知信号とに基づいて、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とを関連付けて表示部３０４に表示させる制御を行うように構成する。これにより、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とが関連付けられて表示された表示部３０４の表示を作業者が確認することにより、容易にワイヤロープＷの損傷位置を特定することができるので、ワイヤロープＷの損傷位置を特定するための作業者の負担が増大するのを抑制することができる。また、差動コイル１０に対してワイヤロープＷを相対移動させながら検査を行う場合に、損傷があった場合でも、差動コイル１０に対するワイヤロープＷの相対移動を止めなくてもよいので、検査の中断により検査時間が長くなるのを抑制することができる。

また、本実施形態では、上記のように、制御部３０２を、ワイヤロープＷの状態の情報と、検査位置情報とを関連付けて記憶部３０３に保存するように構成する。これにより、検査を行った検査結果と、記憶部３０３に保存された以前の検査結果とを比べることができるので、ワイヤロープＷの経時的な変化を容易に取得することができる。これにより、ワイヤロープＷの交換時期を的確に判断することができる。

また、本実施形態では、上記のように、制御部３０２を、検知信号の大きさに基づいて、検査位置情報と関連付けて、ワイヤロープＷの傷みの状態を示す表示を、表示部３０４に表示するように構成する。これにより、作業者がワイヤロープＷの傷みの状態と位置とを表示部３０４の表示に基づいて容易に確認することができる。

また、本実施形態では、上記のように、検知信号の波形と合わせて、ワイヤロープＷの状態を判断するためのしきい値を、表示部３０４に表示するように構成する。これにより、検知信号としきい値とを容易に比較することができるので、作業者がワイヤロープＷの状態を容易に確認することができる。

また、本実施形態では、上記のように、制御部３０２を、検知信号と、検査位置情報とを、並行して取得して、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とを関連付けるように構成する。これにより、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とを容易に関連付けることができる。

また、本実施形態では、上記のように、制御部３０２を、位置取得部２０１により取得した検査位置情報と、検知信号とに基づいて、ワイヤロープＷの状態と、検査位置情報とを関連付けて表示部３０４に表示するように構成する。これにより、位置取得部２０１により検査位置を容易に取得することができるので、ワイヤロープＷの状態と検査位置情報とを容易に関連付けることができる。

また、本実施形態では、上記のように、ワイヤロープＷの状態に応じて通知する異常状態の累計の数を、ワイヤロープＷの状態と検査位置情報とを関連付けた表示と合わせて、表示部３０４に表示するように構成する。これにより、表示部３０４の表示に基づいて検査位置における損傷などの異常状態の数を作業者が容易に認識することができる。

（変形例）
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

たとえば、上記実施形態では、磁性体検査システムにより検査される磁性体がワイヤロープである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体検査システムにより検査される磁性体は、ワイヤロープ以外の磁性体でもよい。

また、上記実施形態では、検査対象のワイヤロープは、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査対象のワイヤロープ（磁性体）は、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボット以外に用いられていてもよい。

また、上記実施形態では、磁性体検査システムが磁界印加部を備える構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体検査システムは磁界印加部を備えていなくてもよい。

また、上記実施形態では、差動コイル（検知コイル）が設けられる磁性体検査装置に対して外部のコンピュータに制御部が設けられている構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルが設けられる磁性体検査装置に制御部が設けられていてもよい。また、検知部と制御部とは一体的に設けられていてもよい。

また、上記実施形態では、差動コイル（検知コイル）が設けられる磁性体検査装置に対して外部のコンピュータに表示部が設けられている構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルが設けられる磁性体検査装置に表示部が設けられていてもよい。

また、表示部は、コンピュータとは別に設けられていてもよい。また、表示部は、有線または無線により接続されていてもよい。また、表示部は、液晶モニタでもよい。

また、上記実施形態では、差動コイル（検知コイル）が設けられる磁性体検査装置に対して外部のコンピュータの記憶部に、磁性体の状態の情報と、検査位置情報とが関連付けられて保存される構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、他の記憶媒体や、クラウド上のサーバなどに、磁性体の状態の情報と、検査位置情報とが関連付けられて保存されてもよい。また、磁性体検査装置に設けられたメモリや記憶媒体に、磁性体の状態の情報と、検査位置情報とが関連付けられて保存されてもよい。

また、表示部の「注意」や「警告」を示す表示は、記号であってもよい。その場合、例えば、傷みの存在を表す記号が検査位置情報と関連付けて表示される。また、傷みの種類に応じて、記号の色が変えられて表示される。また、傷みの進行状態に応じて、記号の大きさが変えられて表示される。

また、上記実施形態では、磁性体検査システムに励振コイルを設ける構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体検査システムに励振コイルを設けなくてもよい。

２ 電子回路部（検知部）
１０ 差動コイル（検知コイル）
１００ 磁性体検査システム
２０１、２０２、２０３ 位置取得部
３０２ 制御部
３０３ 記憶部
３０４ 表示部
Ｗ ワイヤロープ（磁性体）

Claims (9)

1. 磁性体を囲むように巻回され、前記磁性体の磁界の変化を検知して検知信号を送信する検知コイルと、
   前記検知コイルからの前記検知信号に基づいて、前記磁性体の状態を検知する検知部と、
   前記磁性体の状態を表示する表示部と、
   前記磁性体の検査位置情報と、前記検知信号とに基づいて、前記磁性体の状態と、前記検査位置情報とを関連付けて前記表示部に表示させる制御を行う制御部とを備え、
   前記制御部は、前記検知信号の波形の横軸を前記検査位置情報として、前記磁性体の状態と前記検査位置情報とを関連付けて、前記表示部に表示するように構成されており、
   前記検知信号としての差動信号を積分した積分信号と前記検査位置情報とが関連付けられて、前記表示部に表示されるように構成されている、磁性体検査システム。
2. 前記制御部は、前記磁性体の状態の情報と、前記検査位置情報とを関連付けて記憶部に保存するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査システム。
3. 前記制御部は、前記検知信号の大きさに基づいて、前記検査位置情報と関連付けて、前記磁性体の傷みの状態を示す表示を、前記表示部に表示するように構成されている、請求項１または２に記載の磁性体検査システム。
4. 前記制御部は、前記検知信号の波形と合わせて、前記磁性体の状態を判断するためのしきい値を、前記表示部に表示するように構成されている、請求項１～３のいずれか１項に記載の磁性体検査システム。
5. 前記制御部は、前記検知信号と、前記検査位置情報とを、並行して取得して、前記磁性体の状態と、前記検査位置情報とを関連付けるように構成されている、請求項１～４のいずれか１項に記載の磁性体検査システム。
6. 前記検査位置情報を取得するための位置取得部をさらに備え、
   前記制御部は、前記位置取得部により取得した前記検査位置情報と、前記検知信号とに基づいて、前記磁性体の状態と、前記検査位置情報とを関連付けて前記表示部に表示するように構成されている、請求項１～５のいずれか１項に記載の磁性体検査システム。
7. 前記制御部は、前記磁性体の状態に応じて通知する異常状態の累計の数を、前記磁性体の状態と前記検査位置情報とを関連付けた表示と合わせて、前記表示部に表示するように構成されている、請求項１～６のいずれか１項に記載の磁性体検査システム。
8. 前記磁性体は、複数の素線により形成されたワイヤロープである、請求項１～７のいずれか１項に記載の磁性体検査システム。
9. 磁性体を囲むように巻回された検知コイルにより検知した、前記磁性体の磁界の変化を検知する検知信号と、前記磁性体の検査位置情報とに基づいて、前記検知信号の波形の横軸を前記検査位置情報として、前記磁性体の状態と、前記検査位置情報とを関連付けて表示部に表示させるとともに、前記検知信号としての差動信号を積分した積分信号と前記検査位置情報とを関連付けて前記表示部に表示させる制御をコンピュータに実行させる、プログラム。

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