JP7257750B2 - 光検査システム用支援装置 - Google Patents
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Description
そこで、まずは、光検査システム100について簡単に説明する。
この光検査システムは、図1に示すように、工場等において製造されるワークWを例えばインラインで次々表面検査するものであって、ワークWを搬送する搬送装置203上に設けられて該ワークWに検査光を照射する照明装置201と、該照明装置201によって照明されているワークWを撮像する撮像装置202と、該撮像装置202で撮像されたワークWの画像データに基づいてそのワークWを検査し、その検査結果を出力する情報処理装置206とを備えている。
次に、光検査システム用支援装置100について説明する。
これら各部について、以下順に説明する。
さらに、異なる種類の光照射装置を支持するために、構造が異なる光照射装置支持機構4を枠構造体11に共通に取り付けられるようにしてもよい。そのためには、枠構造体11に光照射装置支持機構4を取り付けるための取付構造を共通化しておけばよい。
100・・・光検査システム用支援装置
W1・・・既知ワーク
1・・・筐体
2・・・ワーク支持機構
3・・・光照射装置
4・・・光照射装置支持機構
5・・・撮像装置
6・・・撮像装置支持機構
93・・・画像格納部
10・・・入力装置
Claims (5)
- 照明装置を用いて所定の照明条件で照明されたワークを撮像し、この撮像によって得られたワークの画像データを、所定の検査アルゴリズムにしたがって検査し、その検査結果を出力する光検査システムに利用されるものであって、当該光検査システムとは別に設けられたものであり、
検査結果が既知である既知ワークを交換可能に支持するワーク支持機構と、
既知ワークに検査光を照射する光照射装置と、
前記光照射装置を、交換可能、かつ、姿勢変更及び/又は位置変更可能に支持するものであり、前記光照射装置の姿勢及び/又は位置の設定によって、前記光検査システムにおける前記照明装置を用いた前記所定の照明条件を再現できるように構成された光照射装置支持機構と、
前記光照射装置によって照明された前記既知ワークを撮像する撮像装置と、
前記既知ワークの検査結果を入力する入力装置と、
前記撮像装置によって前記既知ワークが撮像される度に、当該画像データを、前記入力装置で入力された検査結果に紐づけて格納する画像格納部とを備えていることを特徴とする光検査システム用支援装置。 - 前記ワーク支持機構が、前記既知ワークを姿勢変更及び/又は位置変更可能に支持するものである請求項1記載の光検査システム用支援装置。
- 前記撮像装置を、姿勢変更及び/又は位置変更可能に支持する撮像装置支持機構をさらに備えている請求項1又は2記載の光検査システム用支援装置。
- 枠材を組み合わせてなる枠構造体をさらに備え、該枠構造体によって光照射装置及び撮像装置が支持されている請求項1乃至3いずれか記載の光検査システム用支援装置。
- 前記画像格納部に格納されている既知ワークの画像データとその検査結果とに基づいて、前記検査アルゴリズムを学習によって取得する学習部をさらに備えている請求項1乃至4いずれか記載の光検査システム用支援装置。
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JP2017173234A (ja) | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 株式会社サンユウ | 表面疵検査方法 |
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