JP7225858B2 - 検査装置、検査方法および検査プログラム - Google Patents
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Description
所定数以上が連続する候補画素の集合からなる領域をノイズが現れるノイズ領域に決定するノイズ領域決定手段と、を含む。
所定数以上が連続する候補画素の集合からなる領域をノイズが現れるノイズ領域に決定するノイズ領域決定ステップと、を含む。
第1の変形例における検査装置200は、サブ特徴量を算出する際に、ブロックを削除するのではなく、画素値を削除する。具体的には、第1の変形例におけるサブ特徴量決定部85は、サブ特徴量を算出する母数となる画素値を、ブロックに含まれる複数の画素のうち特徴領域に含まれる画素の以外画素の画素値とする。また、特徴量決定部73は、特徴量を算出する母数となる画素値を、候補ブロックに含まれる複数の画素のうち特徴領域に含まれる画素の以外画素の画素値とする。これにより、ブロックに背景またはエッジが含まれる場合であっても、背景またはエッジに含まれる画素の画素値がサブ特徴量および特徴領域の算出の母数とならない。このため、ブロックのサブ特徴量および周辺領域の特徴量が、背景またはエッジの影響を受けないようにできる。
第2の変形例における検査装置200は、注目画素に対する周辺領域を複数のサンプリング領域のうちから選択される1以上とする。
図12は、第3の変形例における周辺領域の一例を示す図である。図12を参照して、第3の変形例における周辺領域531は、注目画素501から第1距離以上離れた領域で、かつ、注目画素501から第2距離の以下の領域である。第1距離は画素N/2個分のサイズであり、第2距離は画素M/2個分の距離である。第3の変形例における検査装置200においては、直径が第1距離以下のノイズ領域を検出する精度を高めることができる。第3の変形例における周辺領域は、第1の距離が異なる複数を用いるようにしてもよい。また、図4に示した周辺領域と、図12に示した周辺領域とを用いるようにしてもよい。
図13は、第4の変形例における周辺領域の一例を示す図である。図13を参照して、第4の変形例における周辺領域541は、注目画素501からY軸方向に第1距離以上離れた領域で、かつ、注目画素501からY軸方向に第2距離の以下の領域である。第1距離は画素N/2個分のサイズであり、第2距離は画素M/2個分の距離である。これにより、X軸に平行なすじのノイズ領域を検出することができる。
本実施の形態における検査装置200は、画像形成装置として機能するMFP100に内蔵されてもよい。この場合、MFP100で画像が形成された用紙を、MFP100が備える原稿読取部に搬送する搬送経路を設け、原稿読取部で用紙に形成された画像を読み取らせるようにしてもよい。
(1)好ましくは、前記特徴領域決定手段は、前記元データからエッジを構成するエッジ画素を含む領域を前記特徴領域に決定する。この局面に従えば、しきい値が元データに存在するエッジの影響を受けないようにできる。
(2)好ましくは、前記特徴領域決定手段は、前記元データから背景を構成する背景画素を含む領域を前記特徴領域に決定する。この局面に従えば、しきい値が元データに存在する背景の影響を受けないようにできる。
(3)好ましくは、前記第1距離は、前記処理対象データ中に存在する検出対象のサイズに基づき決定される。この局面に従えば、検出対象であるノイズを正確に検出することができる。
Claims (17)
- 複数の画素が二次元に配列された処理対象データを構成する複数の前記画素それぞれを注目画素として処理することにより、前記処理対象データからノイズを検出するノイズ検出手段を備え、
前記ノイズ検出手段は、前記注目画素と所定の相対位置で定まる周辺領域に含まれる複数の前記画素の画素値に基づいて前記周辺領域の特徴を示す特徴量を決定する特徴量決定手段と、
前記特徴量に基づいて前記注目画素に対するしきい値を決定するしきい値決定手段と、
決定された前記しきい値と前記注目画素の画素値とを比較する比較手段と、
前記注目画素の画素値が前記注目画素に対して決定された前記しきい値で定まる範囲外となる場合に前記注目画素を候補画素に決定する候補決定手段と、
所定数以上が連続する前記候補画素の集合からなる領域をノイズが現れるノイズ領域に決定するノイズ領域決定手段と、を含む、検査装置。 - 前記周辺領域に含まれる複数のブロック毎に前記ブロックの特徴を示すサブ特徴量を決定するサブ特徴量決定手段と、
複数の前記ブロック毎に決定された前記サブ特徴量に基づいて、複数の前記ブロックのうちから1以上の候補ブロックを決定する候補ブロック決定手段と、をさらに備え、
前記特徴量決定手段は、1以上の前記候補ブロックそれぞれに含まれる複数の前記画素の画素値に基づいて、前記周辺領域の特徴量を決定する、請求項1に記載の検査装置。 - それぞれが前記注目画素と所定の相対位置で定まる複数のサンプリング領域ごとに、前記サンプリング領域に含まれる複数の前記画素の画素値に基づいて前記サンプリング領域の特徴を示すサンプリング特徴量を決定するサンプリング特徴量決定手段と、
複数の前記サンプリング領域ごとに決定された前記サンプリング特徴量に基づいて、複数の前記サンプリング領域のうち1以上を前記周辺領域に決定する周辺領域決定手段と、をさらに備えた請求項1または2に記載の検査装置。 - 前記サンプリング特徴量は、複数の前記画素の画素値の標準偏差、または、標準偏差および平均値である、請求項3に記載の検査装置。
- 画像形成装置が画像を形成した記録媒体を読み取り、画像データを出力する読取手段と、
前記画像データから前記処理対象データを生成する処理対象データ生成手段と、をさらに備えた、請求項1~4のいずれかに記載の検査装置。 - 前記画像形成装置が前記記録媒体に形成した前記画像の元になる元データを取得する元データ取得手段と、
前記元データ中で所定の特徴が表された特徴領域を決定する特徴領域決定手段と、をさらに備え、
前記特徴量決定手段は、前記周辺領域のうち前記特徴領域以外の領域に含まれる複数の前記画素に基づいて前記周辺領域の前記特徴量を決定する、請求項5に記載の検査装置。 - 前記処理対象データ生成手段は、前記読取手段が出力する前記画像データの解像度を変更することにより前記処理対象データを生成する、請求項5または6に記載の検査装置。
- 複数の画素が二次元に配列された処理対象データを構成する複数の前記画素それぞれを注目画素として処理することにより、前記処理対象データからノイズを検出するノイズ検出手段と、
画像形成装置が画像を形成した記録媒体を読み取り、画像データを出力する読取手段と、
前記画像データから前記処理対象データを生成する処理対象データ生成手段と、を備え、
前記処理対象データ生成手段は、前記読取手段が出力する前記画像データの解像度を変更することにより前記処理対象データを生成し、
前記ノイズ検出手段は、前記注目画素と所定の相対位置で定まる周辺領域に含まれる複数の前記画素の画素値に基づいて前記周辺領域の特徴を示す特徴量を決定する特徴量決定手段と、
前記特徴量に基づいて前記注目画素に対するしきい値を決定するしきい値決定手段と、
決定された前記しきい値と前記注目画素の画素値とを比較する比較手段と、を含み、
前記ノイズ検出手段は、前記注目画素の画素値が前記注目画素に対して決定された前記しきい値で定まる範囲外となる場合に前記注目画素をノイズが現れるノイズ領域に決定する、検査装置。 - 前記処理対象データ生成手段は、前記読取手段が出力する前記画像データに含まれる複数の前記画素の画素値に代えて当該画素を含む所定範囲の複数の前記画素の画素値の平均値を設定したデータを前記処理対象データとして生成する、請求項6~8のいずれかに記載の検査装置。
- 前記ノイズ検出手段は、前記注目画素の画素値が前記注目画素に対して決定された前記しきい値で定まる範囲外となる場合に前記注目画素を候補画素に決定する候補決定手段と、
所定数以上が連続する前記候補画素の集合からなる領域をノイズが現れるノイズ領域に決定するノイズ領域決定手段と、をさらに含む請求項8に記載の検査装置。 - 前記周辺領域は、前記注目画素を除く前記注目画素の周辺の領域である、請求項1~10のいずれかに記載の検査装置。
- 前記周辺領域は、前記注目画素から第1距離の距離以上離れた領域である、請求項1~10のいずれかに記載の検査装置。
- 前記周辺領域は、前記注目画素から第2距離の以下の領域である、請求項1~12のいずれかに記載の検査装置。
- 前記周辺領域は、前記注目画素から所定の方向に第2距離以下の領域である、請求項1~12のいずれかに記載の検査装置。
- 前記周辺領域は、前記注目画素から第1方向に第2距離以下の第1領域と、前記注目画素から前記第1方向と交わる第2方向に前記第2距離以下の第2領域と、を含む請求項1~12のいずれかに記載の検査装置。
- 検査装置で実行される検査方法であって、
複数の画素が二次元に配列された処理対象データを構成する複数の前記画素それぞれを注目画素として処理することにより、前記処理対象データからノイズを検出するノイズ検出ステップを含み、
前記ノイズ検出ステップは、前記注目画素と所定の相対位置で定まる周辺領域に含まれる複数の前記画素の画素値に基づいて前記周辺領域の特徴を示す特徴量を決定する特徴量決定ステップと、
前記特徴量に基づいて前記注目画素に対するしきい値を決定するしきい値決定ステップと、
決定された前記しきい値と前記注目画素の画素値とを比較する比較ステップと、
前記注目画素の画素値が前記注目画素に対して決定された前記しきい値で定まる範囲外となる場合に前記注目画素を候補画素に決定する候補決定ステップと、
所定数以上が連続する前記候補画素の集合からなる領域をノイズが現れるノイズ領域に決定するノイズ領域決定ステップと、を含む、検査方法。 - 複数の画素が二次元に配列された処理対象データを構成する複数の前記画素それぞれを注目画素として処理することにより、前記処理対象データからノイズを検出するノイズ検出ステップを、コンピューターに実行させ、
前記ノイズ検出ステップは、前記注目画素と所定の相対位置で定まる周辺領域に含まれる複数の前記画素の画素値に基づいて前記周辺領域の特徴を示す特徴量を決定する特徴量決定ステップと、
前記特徴量に基づいて前記注目画素に対するしきい値を決定するしきい値決定ステップと、
決定された前記しきい値と前記注目画素の画素値とを比較する比較ステップと、
前記注目画素の画素値が前記注目画素に対して決定された前記しきい値で定まる範囲外となる場合に前記注目画素を候補画素に決定する候補決定ステップと、
所定数以上が連続する前記候補画素の集合からなる領域をノイズが現れるノイズ領域に決定するノイズ領域決定ステップと、を含む、検査プログラム。
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