JP7147838B2 - 抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具 - Google Patents

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Description

本発明は抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具に関し、詳細には、抵抗測定装置の測定精度を向上させる技術に関するものである。
従来、測定対象物の一方の面と他方の面とに複数の接触子を当接させ、対応する接触子間に電流を供給するとともに接触子間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定装置が知られている(例えば、特許文献1を参照)。当該特許文献1に記載の技術によれば、対応する接触子にそれぞれ接続される配線を別々に配置する構成としている。
特開2012-117991号公報
上記背景技術の如く、対応する接触子にそれぞれ接続される配線を別々に配置した場合は、外部から受ける電磁的な影響の度合いが配線ごとに異なる。このため、外部要因によってノイズが生じた場合、ノイズの大きさが配線ごとに異なるため測定精度が低下する要因となっていた。
本発明は以上の如き状況に鑑みてなされたものであり、本発明が解決しようとする課題は、外部要因によってノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる、抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具を提供することである。
本発明は、上記課題を解決するために、以下に構成する抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具を提供する。
本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを、前記抵抗測定部から前記第一治具の近傍を経由して接続する第二配線とを備え、前記抵抗測定部と前記第一治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置されるものである。
また、本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを接続する第二配線と、を備え、前記抵抗測定部から、前記第一治具との間の所定箇所まで、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一接触子ごとに、前記第一配線における前記所定箇所から延出される第三配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第二接触子ごとに、前記第二配線における前記所定箇所から延出される第四配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されるものである。
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接続される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具の近傍を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置される。
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一治具は、前記複数の第一接触子と前記第一配線とを接続する、第一接続部材を備え、前記第一接続部材は、前記複数の第一接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第一配線と接続する第一配線パターンと、前記第二配線の一部を構成する第二部分パターンと、を備え、前記第一接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが隣接して配置される。
第一実施形態に係る抵抗測定装置の構成を概略的に示す概念図。 抵抗測定装置の電気的構成を概略的に示すブロック図。 抵抗測定治具の電気的構成を概略的に示す図。 電圧とノイズの関係を示す図。 第二実施形態に係る抵抗測定装置における抵抗測定治具の電気的構成を概略的に示す図。 第三実施形態に係る抵抗測定装置における抵抗測定治具の電気的構成を概略的に示す図。
以下、本発明の第一実施形態に係る抵抗測定装置1の構成を図1から図4に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その説明を省略する。図1は、本発明の第一実施形態に係る抵抗測定装置1の構成を概略的に示す概念図である。図1に示す抵抗測定装置1は、測定対象物の一例である、リチウムイオン二次電池100のタブ端子104,114の抵抗値を測定する装置である。本実施形態における「リチウムイオン二次電池」には、正極、セパレータ及び負極の積層体と電解質とを組合わせる前の仕掛品を含むものとする。なお、本実施形態に係る抵抗測定装置1で抵抗値を測定する測定対象物は限定されるものではなく、他のあらゆる導電体を測定対象物とすることが可能である。
図1に示すリチウムイオン二次電池100は、複数の正極板101(電極板)と、複数の負極板111(電極板)とが、図略のセパレータを間に挟んで交互に積層されて構成されている。正極板101は、例えばアルミ箔等の金属箔からなる正極集電体102の表面に、図略の正極活物質が塗布されて構成されている。負極板111は、例えば銅箔等の金属箔からなる負極集電体112の表面に、図略の負極活物質が塗布されて構成されている。
リチウムイオン二次電池100の一端側に、各正極集電体102の一部がそれぞれタブ部103(シート、電極板の一部)として引き出され、各負極集電体112の一部がそれぞれタブ部113(シート、電極板の一部)として引き出されている。各タブ部103は前記一端の片側に寄せて引き出され、各タブ部113はタブ部103とは反対側に片寄らせて引き出されている。これにより、タブ部103とタブ部113とが重ならないようにされている。
各タブ部103は積層、密着され、帯状の網がけで示す溶着領域105で互いに溶着されて、正極のタブ端子104とされている。各タブ部113は積層、密着され、帯状の網がけで示す溶着領域115で互いに溶着されて、負極のタブ端子114(シート部材、タブ端子)とされている。溶着領域105,115の溶着方法としては、種々の溶着方法が適用可能であるが、例えば超音波溶着が用いられている。図1では、各タブ部103,113が溶着される前の状態を示している。
図1に示す抵抗測定装置1は、検出部4U,4Dと、抵抗測定部5と、報知部6と、検査対象のリチウムイオン二次電池100を検出部4U,4Dの間の所定位置に保持する図略の電池保持部とを備えている。検出部4U,4Dはそれぞれ、検出治具である第一・第二治具3U,3Dを備えている。検出部4U,4Dは、図略の駆動機構によって、第一・第二治具3U,3Dを、Z軸方向(タブ端子104、114の主面に略垂直の方向)に移動可能にされている。検出部4U,4Dは、互いに直交するX,Y,Zの三軸方向に移動可能にされても良く、さらに第一・第二治具3U,3Dを、Z軸を中心に回動可能にされていても良い。
報知部6は、抵抗測定部5によって得られた情報を、可視的にユーザに報知する報知装置である。報知部6としては、例えば液晶表示装置等の表示装置やプリンタを用いることができる。
検出部4Uは、図略の電池保持部に固定されたリチウムイオン二次電池100の上方に位置する。検出部4Uは、リチウムイオン二次電池100のタブ端子104,114に順次プローブPuを接触させるための検出治具である第一治具3Uを着脱可能に構成されている。第一治具3Uはタブ端子104,114の上側(正のZ軸方向側、以下同じ)の面に対向して設けられる。
検出部4Dは、図略の電池保持部に固定されたリチウムイオン二次電池100の下方に位置する。検出部4Dは、リチウムイオン二次電池100のタブ端子104,114に順次プローブPdを接触させるための検出治具である第二治具3Dを着脱可能に構成されている。第二治具3Dはタブ端子104,114の下側(負のZ軸方向側、以下同じ)の面に対向して設けられる。第一・第二治具3U,3Dは、検出部4U,4Dへの取り付け方向が上下逆になる点を除き、互いに同様に構成されている。
なお、第一・第二治具3U,3Dは、タブ端子104,114を一括して二つのタブ端子104,114に同時にプローブPu,Pdを接触させる構成とすることもできる。本実施形態においては、上方に位置する第一治具3Uに取り付けられたプローブをプローブPu、下方に位置する第二治具3Dに取り付けられたプローブをプローブPdと称する。以下、検出部4U,4Dを総称して検出部4と称し、プローブPu,Pdを総称してプローブPと称する。
第一・第二治具3U,3Dは、それぞれ、複数のプローブPu,Pdの先端をタブ端子104,114の溶着領域105,115へ向けて保持する支持部材31と、ベースプレート321とを備えている。ベースプレート321には、各プローブPu,Pdの後端部と接触して導通する図略の電極が設けられている。検出部4U,4Dは、ベースプレート321の各電極と後述の接続回路41とを介して、各プローブPu,Pdを抵抗測定部5の電源回路51及び電圧回路52と電気的に接続したり、その接続を切り替えたりする。
プローブPu,Pdは、全体として略棒状の形状を有している。支持部材31には、プローブPu,Pdを支持する複数の貫通孔が形成されている。支持部材31は、溶着領域105,115と対応する形状、大きさを有している。支持部材31は、溶着領域105内、又は溶着領域115内の略全領域に対して、略均等な分布で複数のプローブPu,Pdを接触させるように、プローブPu,Pdを支持する。複数のプローブPu,Pdは、例えば格子の交点位置に対応するように配設されている。
図2は、図1に示す抵抗測定装置1の電気的構成を概念的に示すブロック図である。図2に示す抵抗測定装置1は、第一治具3Uに設けられるM本のプローブPu1~PuM、第二治具3Dに設けられるM本のプローブPd1~PdM、抵抗測定部5、基端側配線帯Ca、及び、先端側配線帯Cbを備えている。図2では、タブ端子104にプローブPu1~PuM、Pd1~PdMを接触させた状態を示している。
基端側配線帯Caは、第一治具3Uと抵抗測定部5の接続回路41とを接続する配線の集合体である(図3を参照)。先端側配線帯Cbは第一治具3Uと第二治具3Dとを接続する配線の集合体である(図3を参照)。抵抗測定部5は図2に示す如く、接続回路41、電源回路51、電圧検出部52、及び制御部53等を備えている。
本実施形態においては、抵抗測定装置1から抵抗測定部5を除いた構成(第一治具3U、第二治具3D、基端側配線帯Ca、及び、先端側配線帯Cb)を総称して「抵抗測定治具」と記載する。抵抗測定装置1においては、抵抗測定治具を取り外し、検査対象のリチウムイオン二次電池100の種別に応じて、別の抵抗測定治具に交換することが可能に構成されている。
図2に示すタブ端子104は、図1に示すタブ端子104をX軸方向に沿って切断した断面で示している。プローブPu1~PuM、Pd1~PdMは、X軸方向に沿って並ぶ各一列のプローブPu、Pdに、プローブ番号を付したものである。プローブPu、Pdに付されたプローブ番号は、各プローブPが接触する溶着領域105の位置を示すX軸方向のX座標に対応している。即ち、プローブ番号が同じプローブPu、Pdは同じ位置で対応して設けられている。
プローブPu、Pdは、図2に示すプローブPの他、Y軸方向に隣接して略平行に複数列設けられているが、図示を省略している。プローブPの各列に番号を付与することで、当該列の番号は、各プローブPが接触する溶着領域105の位置を示すY軸方向のY座標に対応する。なお、プローブPの各列は、必ずしも一直線状の列である必要はなく、ジグザグであったり、曲がったり、ばらついたりしている列であってもよい。
各プローブPは、四端子測定法用の接触子Tを備えている。具体的には図2に示す如く、第一治具3Uに設けられるプローブPu1,Pu2,Pu3,Pu4・・・PuMには、タブ端子104,114の上側の面に当接可能とされる接触子T1,T3,T5,T7・・・T(N-1)が備えられる。ここで、NはMの2倍にあたる数(偶数)である。また、第二治具3Dに設けられ、プローブPu1,Pu2,Pu3,Pu4・・・PuMにそれぞれ対応するプローブPd1,Pd2,Pd3,Pd4・・・PdMには、タブ端子104,114の下側の面に当接可能とされる接触子T2,T4,T6,T8・・・TNが備えられる。本実施形態において、第一治具3Uに備えられる接触子T1,T3,T5,T7・・・T(N-1)を総称して「第一接触子」と記載する。また、第二治具3Dに備えられるT2,T4,T6,T8・・・TNを総称して「第二接触子」と記載する。
なお、各プローブを、電流供給用と電圧測定用との二本の接触子を備える構成としても差し支えない。例えば、特開2006-329998号公報に記載されているような、二本のニードルピン(接触子)を一対にしたプローブや、例えば特開2012-154670号公報に記載されているような、筒形状の一の接触子と、一の接触子の内部に挿通された他の接触子とからなる同軸状のプローブを用いることができる。あるいは、格子状に配置された棒状のプローブのそれぞれを接触子とし、二本のプローブ(接触子)を一組にして一つのプローブとして用いてもよい。
第一治具3Uに備えられる第一接触子T1,T3,T5,T7・・・T(N-1)は、基端側配線帯Caを介して抵抗測定部5の接続回路41と接続される。具体的には図3に示す如く、基端側配線帯Caは、第一接触子T1,T3,T5,T7・・・T(N-1)のそれぞれと接続回路41とを接続する第一配線C1,C3,C5,C7・・・C(N-1)を備えている。以下、第一配線C1,C3,C5,C7・・・C(N-1)を総称して、「第一配線群CA1」と記載する。
第二治具3Dに備えられる第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNは、基端側配線帯Ca及び先端側配線帯Cbを介して抵抗測定部5の接続回路41と接続される。具体的には図3に示す如く、基端側配線帯Ca及び先端側配線帯Cbは、第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNのそれぞれと接続回路41とを接続する第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNを備えている。以下、第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNを総称して、「第二配線群CA2」と記載する。
また、第一治具3Uに備えられる第一接触子T1,T3,T5,T7・・・T(N-1)は、先端側配線帯Cbを介して第二治具3Dと連結される。具体的には図3に示す如く、先端側配線帯Cbは、第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)のそれぞれと接続されるとともに第一配線C1,C3,C5,C7・・・C(N-1)のそれぞれから分岐して延出された第三配線Cb1,Cb3,Cb5,Cb7・・・Cb(N-1)を備えている。第三配線Cb1,Cb3,Cb5,Cb7・・・Cb(N-1)のそれぞれは第二治具3Dにおいて電気的に接続されておらず、開放端とされている。以下、第三配線Cb1,Cb3,Cb5,Cb7・・・Cb(N-1)を総称して、「第三配線群CB1」と記載する。なお、図5中の第二実施形態に示す如く、第三配線群CB1の開放端は第二治具3Dに近接していれば第二治具3Dから離間していても差し支えない。
また、第二治具3Dに備えられる第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNのそれぞれは、図3に示す如く、第一配線群CA1と第二配線群CA2とが枝分かれする箇所よりも先端側の第一治具3Uに設けられた第四配線Cb2,Cb4,Cb6,Cb8・・・CbNに接続されている。第四配線Cb2,Cb4,Cb6,Cb8・・・CbNは第一治具3Uにおいて第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNのそれぞれから分岐して延出されている。第四配線Cb2,Cb4,Cb6,Cb8・・・CbNのそれぞれは第一治具3Uにおいて電気的に接続されておらず、開放端とされている。以下、第四配線Cb2,Cb4,Cb6,Cb8・・・CbNを総称して、「第四配線群CB2」と記載する。なお、図5中の第二実施形態に示す如く、第四配線群CB2の開放端は第一治具3Uに近接していれば第一治具3Uから離間していても差し支えない。
本実施形態において接続回路41は、例えば複数のスイッチング素子を用いて構成されている。接続回路41は、制御部53からの制御信号に応じてタブ端子104を間に挟んで互いに対応する一対のプローブPu,Pd(一のプローブPu,Pd)を選択する。そして、選択された一のプローブPuの第一接触子Tに電源回路51の正極を接続し、当該一のプローブPuに対応する一のプローブPdの第二接触子Tに電源回路51の負極を接続する。例えば、一のプローブPu,PdとしてプローブPu1・Pd1を選択した場合は、第一接触子T1と第二接触子T2とを電源回路51に接続する。
また、接続回路41は、制御部53からの制御信号に応じてタブ端子104を間に挟んで互いに対応し、前記一のプローブPu及び一のプローブPuに隣接する一対のプローブPu,Pd(他のプローブPu,Pd)を選択する。そして、選択された他のプローブPuの第一接触子Tに電圧回路52の正極を接続し、当該他のプローブPuに対応するプローブPdの第二接触子Tに電圧回路52の負極を接続する。例えば、一のプローブPu,PdとしてプローブPu1・Pd1を選択した場合は、他のプローブPu,PdとしてプローブPu2・Pd2を選択し、第一接触子T3と第二接触子T4とを電圧回路52に接続することができる。
電源回路51は、例えばスイッチング電源回路等の定電流電源回路である。電源回路51は、制御部53からの制御信号に応じて、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとの間(例えば、プローブPu1の接触子T1とプローブPd1の接触子T2との間)に、予め設定された一定の直流電流Iを供給する。
電圧検出部52は、例えば分圧抵抗やアナログデジタルコンバータ等を用いて構成された、電圧測定回路である。電圧検出部52は、接続回路41によって選択された、一対のプローブPu,Pdにおける、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとの間(例えば、プローブPu2の接触子T3とプローブPd2の接触子T4との間)の電圧Vを測定し、その測定値を制御部53へ送信する。
制御部53は、例えば所定の演算処理を実行するCPU(Central Processing Unit)、データを一時的に記憶するRAM(Random Access Memory)、所定の制御プログラム等を記憶する記憶装置、及びこれらの周辺回路等を備えて構成された、いわゆるマイクロコンピュータである。そして、制御部53は、例えば上述の制御プログラムを実行することによって、検出制御部531、測定部532、及び、出力部533として機能する。
検出制御部531は、図略の駆動機構を制御して検出部4U,4Dを移動、位置決めさせ、リチウムイオン二次電池100の溶着領域105,115に順次、各プローブPu,Pdの先端を接触させる。なお、第一・第二治具3U,3Dが、溶着領域105,115に対して同時に接触可能な数のプローブPu,Pdを備え、溶着領域105,115に同時にプローブPu,Pdを接触させてもよい。この場合、各プローブPが接触子Tを備え、電流供給と電圧測定とが別の接触子Tによって行われるため、四端子測定法による抵抗測定が可能となる。
測定部532は、電源回路51が供給した電流値と、電圧検出部52が検出した電圧値との関係に基づいて、互いに対応するプローブPu,Pd(例えば、プローブPu1,Pd1)間におけるタブ端子104,114の抵抗値を算出する。出力部533は、測定部532で算出した抵抗値を報知部6によって出力させる。
接続回路41は、選択するプローブPu,Pdを変更して、対応するプローブPu,Pdごとに順に抵抗値を算出する。この際、一の検査ステップでは電流供給用として機能させたプローブPu,Pdを、次の検査ステップでは電圧測定用として機能させる。例えば、接続回路41において、接触子T1を電源回路51に電気的に接続した場合は、接触子T1は電流供給用として機能する(この際、第一配線C1は電流供給用配線として機能する)。一方、同じ接触子T1を電圧検出部52に電気的に接続した場合は、接触子T1は電圧測定用として機能する(この際、第一配線C1は電圧測定用配線として機能する)のである。本構成によれば、第一治具3Uに備えられた接触子Tの本数Mと略等しい数の測定点数を得ることが可能となる。
また、同一列で隣接する接触子Tの2本を電流供給用と電圧測定用として機能させる組合せだけでなく、隣接する列同士で隣接する接触子Tの2本の組合せも可能である。これにより、第一治具3Uに備えられた接触子Tの本数を上回る測定点数を得ることができるため、被測定物の単位面積あたりの測定点数を大きくすることができる。即ち、リチウムイオン二次電池100のタブ端子104,114において、溶着強度の局所的な不足に起因して高抵抗になっている部分を検出しやすくすることが可能となる。
本実施形態に係る抵抗測定装置1、及び、抵抗測定装置1が備える抵抗測定治具においては図3に示す如く、抵抗測定部5と第一治具3Uとの間を繋ぐ基端側配線帯Caにおいて、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとにそれぞれ接続された第一配線群CA1と第二配線群CA2が隣接して配置されている。具体的には、第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)のそれぞれに接続された第一配線C1,C3,C5,C7・・・C(N-1)と、第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNのそれぞれに接続された第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNとが、対応する位置に隣接して配置されている。
このように、本実施形態に係る抵抗測定装置1、及び、抵抗測定装置1が備える抵抗測定治具においては、抵抗測定部5と第一治具3Uとの間(第一治具3Uの基端側)において、互いに対応する第一接触子と第二接触子(例えば、第一接触子T1と第二接触子T2)にそれぞれ接続される第一配線と第二配線(例えば、第一配線C1と第二配線C2)とを隣接して配置している。このため、外部から受ける電磁的な影響によるノイズが、隣接する配線で略同一の大きさで生じることになる。
具体的には図4に示す如く、第一接触子T1と第二接触子T2のそれぞれで測定する電位をv1、v2としたとき、ノイズ成分Nvによる変化がv1及びv2の双方に同様に表れる。このため、ノイズ成分Nvの影響を受けた場合でも、電位差Vnは通常時の電位差Vcに対して大きく変化することがない。即ち、抵抗測定部5と第一治具3Uとの間で、外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置1における測定精度の低下を抑制することができるのである。
図2及び図3に示す如く、第二配線群CA2は、第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNごとに、抵抗測定部5と第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNとを、抵抗測定部5から第一治具3Uの近傍を経由して接続している。本実施形態においては図3に示す如く、第二配線群CA2は第一治具3Uにおいて第一配線群CA1から枝分かれする構成としている。但し、第二配線群CA2が第一配線群CA1から枝分かれする箇所は、第一治具3Uの近傍であれば第一治具3Uから離間していても差し支えない。換言すれば、本実施形態における「第一治具3Uの近傍」とは、「第一治具3U」と「第一治具3Uに近接して離間する箇所」との双方を指す意味で用いている。
また、本実施形態に係る抵抗測定装置1、及び、抵抗測定装置1が備える抵抗測定治具においては図3に示す如く、第一治具3Uと第二治具3Dとの間を繋ぐ先端側配線帯Cbにおいて、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとにそれぞれ接続された第三配線群CB1と第二配線群CA2が隣接して配置されている。具体的には、第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)のそれぞれに接続された第三配線Cb1,Cb3,Cb5,Cb7・・・Cb(N-1)と、第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNのそれぞれに接続された第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNとが、対応する位置に隣接して配置されている。
このように、本実施形態に係る抵抗測定装置1、及び、抵抗測定装置1が備える抵抗測定治具においては、第一治具3Uと第二治具3Dとの間において、互いに対応する第一接触子と第二接触子(例えば、第一接触子T1と第二接触子T2)にそれぞれ接続される第三配線と第二配線(例えば、第三配線Cb1と第二配線C2)とを隣接して配置している。このため、第二配線が外部から受ける電磁的な影響によるノイズが、隣接する第三配線で略同一の大きさで生じることになる。即ち、第二配線に生じるノイズが第三配線にも同様に生じて第一配線に伝達することで、ノイズの影響を低減させることが可能となる。これにより、第一治具3Uと第二治具3Dとの間で、外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置1における測定精度の低下を抑制することができるのである。
また、本実施形態に係る抵抗測定装置1、及び、抵抗測定装置1が備える抵抗測定治具においては図3に示す如く、第一配線群CA1と第二配線群CA2とが枝分かれする箇所よりも先端側の第一治具3Uにおいて、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとにそれぞれ接続された第一配線群CA1と第四配線群CB2が隣接して配置されている。具体的には、第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)のそれぞれに接続された第一配線C1,C3,C5,C7,・・・C(N-1)と、第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNのそれぞれに接続された第四配線Cb2,Cb4,Cb6,Cb8・・・CbNとが、対応する位置に隣接して配置されている。
このように、本実施形態に係る抵抗測定装置1、及び、抵抗測定装置1が備える抵抗測定治具においては、第一配線群CA1と第二配線群CA2とが枝分かれする箇所よりも先端側の第一治具3Uにおいて、互いに対応する第一接触子と第二接触子(例えば、第一接触子T1と第二接触子T2)にそれぞれ接続される第一配線と第四配線(例えば、第一配線C1と第四配線Cb2)とを隣接して配置している。このため、第一配線が外部から受ける電磁的な影響によるノイズが、隣接する第四配線で略同一の大きさで生じることになる。即ち、第一配線に生じるノイズが第四配線にも同様に生じて第二配線に伝達することで、ノイズの影響を低減させることが可能となる。これにより、第一配線群CA1と第二配線群CA2とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置1における測定精度の低下を抑制することができるのである。
また、図5に示す第二実施形態の如く、第一配線群CA1、第二配線群CA2、第三配線群CB1、及び、第四配線群CB2の全てを備える構成であれば、第二配線群CA2が第一配線群CA1から枝分かれする箇所は、第一治具3Uの近傍である必要はない。即ち、本実施形態においては、抵抗測定部5(図2を参照)と第一治具3Uとの間で、第一治具3Uからは離間した所定箇所(図5において第二配線群CA2が第一配線群CA1から枝分かれする箇所)まで、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNとにそれぞれ接続された第一配線群CA1と第二配線群CA2とが隣接して配置されている。そして、所定箇所よりも先端側において、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNとにそれぞれ接続された第三配線群CB1と第二配線群CA2とが隣接して配置されている。さらに、所定箇所よりも先端側において、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNとにそれぞれ接続された第一配線群CA1と第四配線群CB2とが隣接して配置されている。
この構成によれば、所定箇所までは第一配線と第二配線とを隣接して配置し、所定箇所よりも先端側では、第三配線と第二配線とを隣接して配置し、かつ、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、それぞれの配線において外部要因によるノイズが生じた場合でも、隣接する配線で略同一の大きさで生じることになる。即ち、一の配線に生じるノイズが、隣接する配線にも同様に生じて伝達することで、ノイズの影響を低減させることが可能となる。これにより、何れの配線において外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置1における測定精度の低下を抑制することができるのである。
なお、本構成において、第三配線群CB1の開放端が第二治具3Dに到達していても良い。たとえば、後述の第二接続部材のようなPCB(Printed Circuit Board)インターポーザにおいて、第二配線パターンと開放端を有する第三配線パターンとが隣接して配置されており、第二配線群CA2の先端側の一部が第二配線パターンで構成され、第三配線群CB1の先端側の一部が第三配線パターンで構成されることで、第二治具3Dにおいて外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置1における測定精度の低下を抑制することができる。また、第四配線群CB2の開放端が第一治具3Uに到達していても良く、上記PCBインターポーザと同様に隣接する各配線パターンをそれぞれ第一配線群CA1、第四配線群CB2の先端側の一部として構成して良い。
次に、本発明の第三実施形態に係る抵抗測定装置における抵抗測定治具の電気的構成を、図6を用いて説明する。本実施形態における抵抗測定治具は、第一実施形態に係る抵抗測定治具の構成に対し、図6に示す如く第一治具3Uが第一接続部材3cUを備え、第二治具3Dが第二接続部材3cDを備える点が異なる。本実施形態において、前記第一実施形態と同様の構成については同符号を付して詳細な説明を省略する。なお、第一治具3Uのみが第一接続部材3cUを備え、第二治具3Dは第二接続部材3cDを備えない構成とすることも可能である。逆に、第二治具3Dのみが第二接続部材3cDを備え、第一治具3Uは第一接続部材3cUを備えない構成とすることも可能である。
第一接続部材3cU及び第二接続部材3cDはPCBインターポーザで構成されており、その内部には各種の配線パターン(詳細には後述する如く、第一~第四配線パターンP1~P4、及び、第二部分パターンPp2)が形成されている。また、第一接続部材3cU及び第二接続部材3cDは各コネクタCN1~CN3によって各種の配線群と接続されている。第一接続部材3cUは、第一接触子T1,T3,T5,T7・・・T(N-1)と第一配線C1,C3,C5,C7・・・C(N-1)とを接続する。また、第二接続部材3cDは、第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNと第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNとを接続する。
具体的には図6に示す如く、第一接続部材3cUは、第一接触子T1,T3,T5,T7・・・T(N-1)が接触する複数の電極E1,E3,E5,E7・・・E(N-1)と、これらの電極E1,E3,E5,E7・・・E(N-1)に接続するとともに第一配線C1,C3,C5,C7・・・C(N-1)と接続する第一配線パターンP1と、第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNの一部を構成する第二部分パターンPp2と、を備えている。また、第一接続部材3cUは、第二部分パターンPp2から延出される第四配線パターンP4をさらに備えている。
また、図6に示す如く、第二接続部材3cDは、第二接触子T2,T4,T6,T8・・・TNが接触する複数の電極E2,E4,E6,E8・・・ENと、これらの電極E2,E4,E6,E8・・・ENに接続するとともに第二配線C2,C4,C6,C8・・・CNと接続する第二配線パターンP2と、第三配線Cb1,Cb3,Cb5,Cb7・・・Cb(N-1)と接続する第三配線パターンP3と、を備えている。
そして、本実施形態によれば、第一接続部材3cUにおいて、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとにそれぞれ接続された第一配線パターンP1と第二部分パターンPp2とが隣接して配置される。このように、第一接続部材3cUにおいて、第一配線パターンP1と第二部分パターンPp2とを隣接して配置しているため、第一接続部材3cUにおける基端側で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、本実施形態によれば、第二接続部材3cDにおいて、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとにそれぞれ接続された第三配線パターンP3と第二配線パターンP2とが隣接して配置される。このように、第二接続部材3cDにおいて、第三配線パターンP3と第二配線パターンP2とを隣接して配置しているため、第二接続部材3cDで外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、本実施形態によれば、第一接続部材3cUにおいて、互いに対応する第一接触子T1,T3,T5・・・T(N-1)と第二接触子T2,T4,T6・・・TNとにそれぞれ接続された第一配線パターンP1と第四配線パターンP4とが隣接して配置される。このように、第一接続部材3cUにおいて、第一配線パターンP1と第四配線パターンP4とを隣接して配置しているため、第一配線パターンP1と第二部分パターンPp2とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
即ち、本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを、前記抵抗測定部から前記第一治具の近傍を経由して接続する第二配線とを備え、前記抵抗測定部と前記第一治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置されるものである。
この構成によれば、第一配線と第二配線とを隣接して配置しているため、抵抗測定部と第一治具との間で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、前記抵抗測定装置は、前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置されることが好ましい。
この構成によれば、第三配線と第二配線とを隣接して配置しているため、第一治具と第二治具との間で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、前記抵抗測定装置は、前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されることが好ましい。
この構成によれば、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、第一配線と第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを接続する第二配線と、を備え、前記抵抗測定部から、前記第一治具との間の所定箇所まで、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一接触子ごとに、前記第一配線における前記所定箇所から延出される第三配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第二接触子ごとに、前記第二配線における前記所定箇所から延出される第四配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されるものである。
この構成によれば、所定箇所までは第一配線と第二配線とを隣接して配置し、所定箇所よりも先端側では、第三配線と第二配線とを隣接して配置し、かつ、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、それぞれの配線において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接続される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具の近傍を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置される。
この構成によれば、第一配線と第二配線とを隣接して配置しているため、第一治具の近傍よりも基端側で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、前記抵抗測定治具は、前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置されることが好ましい。
この構成によれば、第三配線と第二配線とを隣接して配置しているため、第一治具と第二治具との間で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、前記抵抗測定治具は、前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されることが好ましい。
この構成によれば、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、第一配線と第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一治具は、前記複数の第一接触子と前記第一配線とを接続する、第一接続部材を備え、前記第一接続部材は、前記複数の第一接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第一配線と接続する第一配線パターンと、前記第二配線の一部を構成する第二部分パターンと、を備え、前記第一接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが隣接して配置される。
この構成によれば、第一接続部材において、第一配線パターンと第二部分パターンとを隣接して配置しているため、第一接続部材における基端側で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、前記抵抗測定治具は、前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第二治具は、前記複数の第二接触子と前記第二配線とを接続する、第二接続部材を備え、前記第二接続部材は、前記複数の第二接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第二配線と接続する第二配線パターンと、前記第三配線と接続する第三配線パターンと、を備え、前記第二接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線パターンと前記第二配線パターンとが隣接して配置されることが好ましい。
この構成によれば、第二接続部材において、第三配線パターンと第二配線パターンとを隣接して配置しているため、第二接続部材で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
また、前記抵抗測定治具において、前記第一接続部材は、前記第二部分パターンから延出される第四配線パターンをさらに備え、前記第一接続部材の前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第四配線パターンとが隣接して配置されることが好ましい。
この構成によれば、第一接続部材において、第一配線パターンと第四配線パターンとを隣接して配置しているため、第一接続部材で第一配線パターンと第二部分パターンとが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
このような抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具によれば、外部要因によってノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
この出願は、2018年3月23日に出願された日本国特許出願特願2018-56107を基礎とするものであり、その内容は、本願に含まれるものである。なお、発明を実施するための形態の項においてなされた具体的な実施態様又は実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、本発明は、そのような具体例のみに限定して狭義に解釈されるべきものではない。
1 抵抗測定装置 3 検出治具
3D 第二治具 3U 第一治具
3cD 第二接続部材 3cU 第一接続部材
4 検出部 4D 検出部
4U 検出部 5 抵抗測定部
6 報知部 31 支持部材
41 接続回路 51 電源回路
52 電圧検出部 53 制御部
100 リチウムイオン二次電池
101 正極板 102 正極集電体
103 タブ部 104 タブ端子
105 溶着領域 111 負極板
112 負極集電体 113 タブ部
114 タブ端子 115 溶着領域
321 ベースプレート 531 検出制御部
532 測定部 533 出力部
Ca 基端側配線帯 Cb 先端側配線帯
C1~CN 配線 Cb1~CbN 配線
CA1 第一配線群 CA2 第二配線群
CB1 第三配線群 CB2 第四配線群
I 直流電流 Nv ノイズ成分
P プローブ P1~P4 配線パターン
Pp2 部分パターン Pd プローブ
Pu プローブ V 電圧
Vc 電位差 Vn 電位差

Claims (8)

  1. 測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
    前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
    前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
    前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
    互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、
    前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、
    前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを、前記抵抗測定部から前記第一治具の近傍を経由して接続する第二配線とを備え、
    前記抵抗測定部と前記第一治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
    前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、
    前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置される、抵抗測定装置。
  2. 前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、
    前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置される、請求項1に記載の抵抗測定装置。
  3. 測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
    前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
    前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
    前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
    互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、
    前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、
    前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを接続する第二配線と、を備え、
    前記抵抗測定部から、前記第一治具との間の所定箇所まで、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
    前記第一接触子ごとに、前記第一配線における前記所定箇所から延出される第三配線を備え、
    前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
    前記第二接触子ごとに、前記第二配線における前記所定箇所から延出される第四配線を備え、
    前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置される、抵抗測定装置。
  4. 測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
    前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
    前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
    前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
    前記第一接触子ごとに接続される第一配線と、
    前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具の近傍を経由する第二配線と、を備え、
    前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
    前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、
    前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置される、抵抗測定治具。
  5. 前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、
    前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置される、請求項に記載の抵抗測定治具。
  6. 測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
    前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
    前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
    前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
    前記第一接触子ごとに接される第一配線と、
    前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具を経由する第二配線と、を備え、
    前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
    前記第一治具は、前記複数の第一接触子と前記第一配線とを接続する、第一接続部材を備え、
    前記第一接続部材は、前記複数の第一接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第一配線と接続する第一配線パターンと、前記第二配線の一部を構成する第二部分パターンと、を備え、
    前記第一接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが隣接して配置される、抵抗測定治具。
  7. 前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、
    前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
    前記第二治具は、前記複数の第二接触子と前記第二配線とを接続する、第二接続部材を備え、
    前記第二接続部材は、前記複数の第二接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第二配線と接続する第二配線パターンと、前記第三配線と接続する第三配線パターンと、を備え、
    前記第二接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線パターンと前記第二配線パターンとが隣接して配置される、請求項に記載の抵抗測定治具。
  8. 前記第一接続部材は、前記第二部分パターンから延出される第四配線パターンをさらに備え、
    前記第一接続部材の前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第四配線パターンとが隣接して配置される、請求項又は請求項に記載の抵抗測定治具。
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