JP7125816B1 - 延伸試験装置 - Google Patents
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Abstract
Description
引出ユニット3は、略矩形の外形を有する平板状の本体部31と、本体部31に設けられた矩形状の貫通孔31cと、貫通孔31cの内部に設けられた試験片延伸部4とを備える。試験片延伸部4が配置された貫通孔31cは、本体部31の上面(第1面)31aから下面(第2面)31bに貫通する貫通領域である。すなわち、引出ユニット3は、Z方向に開口する貫通領域を有する部材であって、当該貫通領域内に試験片延伸部4が設けられている。一方、筐体2の正面には、筐体2に対して引出ユニット3を出し入れするための開口部21と、開口部21からY軸方向に沿って筐体2内(の奥側)に延在する空間からなる格納部22とが設けられている。
延伸試験装置1は、電磁波により試験片Tの特性を測定するための測定手段である測定部6を備えている。延伸試験装置1は、試験片Tの特性を測定する測定手段として、測定部6の他に張力測定手段47も備えている。張力測定手段47の詳細は、後述する試験片延伸部4の説明において述べる。測定部6は、延伸中の試験片Tから出射する電磁波を検出する検出部を備える。ここでの電磁波は、例えば、紫外線、可視光、赤外線、マイクロ波などがある。また、検出部は、電磁波を検出するための構成として、例えば、受光素子、1次元または2次元のアレイ状の受光素子、カメラなどを備えている。また、測定部6は、延伸中の試験片Tに入射させる電磁波を出射する電磁波源を含むように構成することができる。測定部6は、加熱槽5よりも試験片延伸部4から遠位に配置されている。加熱槽5における電磁波(試験片Tの特性を測定するための電磁波)が通過する部分は、当該電磁波を透過させることができるように構成されている(例えば、貫通孔または窓が設けられている。)。測定部6からの出力は、制御部70のデータ解析部によって解析される。測定部6の具体的構成は、後述する。
図4は、延伸試験装置が備える制御部の概略構成を示すブロック図である。同図に示す制御部70は、パーソナルコンピュータ(PC)などであってよい。この制御部70は、CPUなどの主制御部71と、ディスプレイなどの表示装置を備えた表示部72と、不揮発性メモリなどからなる記憶装置73と、マウスやキーボードなどの入力デバイス74とから主として構成されている。制御部70がPCの場合、延伸試験装置1が含む被制御要素、具体的には、加熱槽5が備える加熱手段および送気手段、試験片延伸部4等が備えるモータ等の駆動手段、ならびに測定部6が備える光源部および受光部の動作を制御する制御部として当該PCを機能させるための制御用プログラムがインストールされている。制御用プログラムは、入力デバイス74から入力された延伸試験装置1の動作パラメータに基づいて被制御要素を動作させる。また、制御用プログラムは、延伸試験装置1の状態を監視するために設けられている各種センサ(不図示)からの出力を取得し、当該出力の表示部72への表示や、当該出力による被制御要素のフィードバック制御またはフィードフォワード制御を行う。また、PCには、測定部6の出力を取得し、データ解析部としてPCを機能させるための解析用プログラムがインストールされている。解析用プログラムは、測定部6の出力を取得し、この取得した出力や、入力デバイス74から入力された解析パラメータを用いて、測定部6の出力を解析し、解析結果を表示部に表示するとともに、記憶装置73に記憶する。
試験片延伸部4は、図2に示すように、引出ユニット3の貫通孔31c内で井桁状に配置された4本のレール41(41XF,41XB,41YL,41YR)と、これら4本のレールにより形成されている矩形の4つの角の部分にそれぞれ設けられたスライダ42(42FL,42FR,42BL,42BR)とを備える。同図において4本のレールにより形成されている矩形の中心は、試験片延伸部4の中心TC(図2(b)を参照。)と一致している。レール41XFおよびレール41XBは、X方向に延在し、互いに平行に配置されている。そして、レール41XFおよびレール41XBの両端は、レール41XFおよびレール41XBのY方向の間隔を拡大または縮小するためのY方向間隔調整機構(不図示)によって支持されている。Y方向間隔調整機構は、レール41XFとレール41XBとを、試験片延伸部4の中心TCから各レールまでの距離が同一になるように移動させるように構成されることが望ましい。また、レール41YLおよびレール41YRは、Y方向に延在し、互いに平行に配置されている。レール41YLおよびレール41YRは、レール41XFおよびレール41XBと立体交差している。そして、レール41YLおよびレール41YRの両端は、レール41YLおよびレール41YRのX方向の間隔を拡大または縮小するためのX方向間隔調整機構(不図示)によって支持されている。X方向間隔調整機構は、レール41YLとレール41YRとを、試験片延伸部4の中心TCから各レール41までの距離が同一になるように移動させるように構成されることが望ましい。X方向間隔調整機構およびY方向間隔調整機構によるレール41の移動速度および移動範囲は、制御部70によって制御される。
延伸試験装置1は、第1加熱槽5aと第2加熱槽5bとの2つの加熱槽5を備えている。加熱槽5について、図5~図7を用いて説明する。図5は、図3のA-A断面図であり、同図(a)は第1加熱槽を用いて延伸試験を行っている状態を示す図、同図(b)は、第2加熱槽を用いて延伸試験を行っている状態を示す図である。なお、図5中の実線矢印は、加熱気体の流れを示す。また、図6は、図5(a)のB-B断面図である。また、図7は、図5(b)のC-Cに対応する位置の断面を示す図であり、図7(a)は、第2加熱槽を用いて延伸試験を行うために、引出ユニットを引出しているときの加熱気体の流れを示す図、図7(b)は、第2加熱槽を用いて延伸試験を行っているときの加熱気体の流れを示す図である。なお、図7中の破線は、給気ダクト53および還気ダクト54を画成する加熱槽5内部の隔壁を示す。また、実線矢印は、C-C断面位置での加熱気体の流れを示す。また、破線矢印は、給気ダクト53および還気ダクト54内の加熱気体の流れを示す。
図6に示すように、筐体2の開口部21の高さ(Z方向の長さ)は、引出ユニット3の進退に必要十分なものとなっている。具体的には、開口部21の高さH1は、引出ユニット3の本体部31の上面31a及び下面2bの距離H2よりも若干長くなっている(H1>H2)。開口部21から筐体2内に延在する、引出ユニット3の可動空間の一部は、引出ユニット3が格納位置Pに格納された状態において、試験片Tの試験が行われる試験空間TSとなる。試験空間TSが大きいと、当該試験空間TS内を均一な試験温度に設定するために要する時間が長くなる。そこで、引出ユニット3が格納位置Pに配置された状態で、本体部31の上面31aと上面側加熱槽51のパンチング板58との距離ができるだけ小さくなるように上面側加熱槽51のパンチング板58が配置されている。下面側加熱槽52のパンチング板58も同様である。しかしながら、本体部31の上面31aと上面側加熱槽51のパンチング板58との隙間、および本体部31の下面31bと下面側加熱槽52のパンチング板58との隙間は、試験空間TS以外の筐体2内の空間に加熱空気が漏れる流路となり得る。それらの隙間から加熱空気が漏れると、退避位置EP1または退避位置EP2に位置付けられている他の加熱槽(5aまたは5b)や延伸試験装置1の他の構成要素に加熱空気が至ることで悪影響を及ぼす虞がある。
電磁波を用いた測定部6の具体例を説明する。測定部6は、ダブル光弾性変調法の複屈折位相差測定および光散乱観察の機能を有する。上記のとおり、延伸中の試験片Tは、中心領域の位置が不変である。したがって、様々な延伸設定条件に於ける延伸応力(Stress)-倍率(Strain)曲線を測定できる。そして、複屈折位相差分布の測定と、光散乱観察とによりフィルム偏肉精度の評価可能である。
次に、上記のとおり構成された延伸試験装置1を用いた延伸試験方法について説明する。以下で説明する延伸試験方法は、2軸方向に試験片Tを延伸して試験片Tの特性を評価する試験方法であって、第1加熱槽5aを用いてT1℃で2軸方向に試験片Tを延伸して試験片Tの特性を評価し、次いで第2加熱槽5bを用いてT2℃で2軸方向に試験片Tを延伸して試験片Tの特性を評価することを想定している。
上記実施形態の延伸試験装置および延伸試験方法は、簡素化または高度化の変形が可能である。簡素化または高度化の変形例について、以下で説明する。以下の変形例の説明における括弧書きは、上記実施形態の延伸試験装置における構成要素を示す参考情報であって、これは単に変形例における構成要素が機能的に共通にすることを示すものであり、変形例における構成要素が上記実施形態の延伸試験装置における構成要素と配置的にまたは構造的に同一であることを示すものではない。
2 筐体
3 引出ユニット
4 試験片延伸部
5 加熱槽
5a 第1加熱槽
5b 第2加熱槽
5R レール
6 測定手段
31 引出ユニット本体
32 連結蓋(連結部材)
41,41XF,41XB,41YL,41YR レール
42,42FL,42FR,42BL,42BR スライダ
43 チャック部
44,44F,44B,44L,44R チャック部材
45,45S,45C 把持部
46 リンク部
47 張力測定手段
51,51a,51b 上面(表面)側加熱槽
52,52a,52b 下面(表面)側加熱槽
53 給気ダクト
54 還気ダクト
55 送風機構
56 気体加熱領域
57 発熱部
58 パンチング板
59 シャッタ手段
60 中空柱状体
61,62 貫通孔
I 軸線
EP1,EP2 退避位置
T 試験片
TC 試験片延伸部の中心
TP 試験位置
TS 試験空間
Claims (10)
- 筐体と、
前記筐体内に設けられた少なくとも1つの加熱槽と、
前記筐体内の格納位置と前記筐体外の取出位置との間で出し入れが可能な引出ユニットと、
前記引出ユニットに設けられて、試験片を保持して延伸することが可能な試験片延伸部と、
前記引出ユニットが前記格納位置にある状態で、前記試験片延伸部が位置付けられて前記試験片の延伸が行われる前記筐体内の試験空間と、を備え、
前記引出ユニットは、前記試験空間と前記加熱槽とを連結するための連結部材を備え、
前記連結部材は、前記引出ユニット側と前記加熱槽側との間で進退移動が可能であり、
前記連結部材が前記加熱槽側の突出位置に突出した状態で、前記連結部材によって前記試験空間と前記加熱槽との隙間が塞がれた状態となり、
前記連結部材が前記引出ユニット側の退避位置に退避した状態で、前記試験空間と前記加熱槽との隙間が開かれた状態となる
ことを特徴とする延伸試験装置。 - 前記加熱槽から前記試験空間に連通する連通部と、
前記連通部を開閉するシャッタ手段と、を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の延伸試験装置。 - 前記引出ユニットは、第1軸方向に進退移動が可能であり、
前記加熱槽は、前記筐体内で前記第1軸に直交する第2軸方向に移動可能である
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の延伸試験装置。 - 筐体と、
前記筐体内に設けられた少なくとも1つの加熱槽と、
前記筐体内の格納位置と前記筐体外の取出位置との間で出し入れが可能な引出ユニットと、
前記引出ユニットに設けられて試験片を保持して延伸することが可能な試験片延伸部と、
前記引出ユニットが前記格納位置にある状態で、前記試験片延伸部が位置付けられて前記試験片の延伸が行われる前記筐体内の試験空間と、
前記加熱槽から前記試験空間に連通する連通部と、
前記連通部を開閉するシャッタ手段と、
を備え、
前記引出ユニットが前記格納位置にある状態で、前記加熱槽と前記試験空間とが連通して前記加熱槽からの加熱空気が前記試験空間に流入可能となり、
前記引出ユニットが前記取出位置にある状態で、前記加熱槽と前記試験空間とが連通せず前記加熱槽からの加熱空気が前記試験空間に流入不可能となり、
前記引出ユニットは、第1軸方向に進退移動が可能であり、
前記加熱槽は、前記筐体内で前記第1軸に直交する第2軸方向に移動可能である
ことを特徴とする延伸試験装置。 - 前記加熱槽が、前記筐体内に少なくとも2つ設けられ、
少なくとも2つの前記加熱槽は、前記第2軸方向に並べて配列されており、
少なくとも2つの前記加熱槽のそれぞれが、独立して温度設定可能であって、
前記引出ユニットが前記格納位置にある状態で、少なくともいずれかの前記加熱槽と前記試験片延伸部が位置づけられた前記試験空間とが連通して前記加熱槽からの加熱空気が前記試験空間に流入可能となる
ことを特徴とする請求項3又は4に記載の延伸試験装置。 - 前記加熱槽は、給気ダクトと、還気ダクトと、送気手段と、気体を加熱するための加熱手段と、前記給気ダクトから供給される気体を吹き出すための第1貫通孔を有するパンチング板と、前記給気ダクトから供給される気体が前記還気ダクトを経て再び前記給気ダクトに戻る気体循環流路と、を備え、
前記給気ダクトから供給され、前記パンチング板の第1貫通孔から吹き出した加熱気体が、前記試験片延伸部に保持された前記試験片を加熱した後、前記還気ダクトに流入する
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の延伸試験装置。 - 前記パンチング板は、前記還気ダクトに連通する第2貫通孔をさらに有し、
前記給気ダクトから供給され、前記パンチング板の前記第1貫通孔から吹き出した加熱気体が、前記試験片延伸部に保持された前記試験片を加熱した後、前記パンチング板の前記第2貫通孔を経て前記還気ダクトに流入する
ことを特徴とする請求項6に記載の延伸試験装置。 - 前記試験片は、板状体またはフィルム状体であり、
前記加熱槽は、前記試験片の上面側を加熱する上面側加熱槽と前記試験片の下面側を加熱する下面側加熱槽と、を有する
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の延伸試験装置。 - 前記試験片は、外形が略矩形の板状体またはフィルム状体であり、
前記試験片延伸部は、伸縮可能に構成され、それぞれが多角形の辺をなすように配置された複数のチャック部材と、前記多角形の隣接する辺をなす2つの前記チャック部材の両端を支持し、スライド移動可能な複数のスライダと、を備える
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の延伸試験装置。 - 前記試験片延伸部によって延伸されている前記試験片の特性を測定する測定手段をさらに備え、
前記測定手段は、前記試験片から出射する電磁波を検出する検出部を備え、
前記加熱槽は、前記電磁波が通過可能な窓部を備え、
前記検出部は、前記加熱槽よりも前記試験片延伸部から遠位に配置され、前記試験片から出射して前記窓部を通過した前記電磁波を検出する
ことを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の延伸試験装置。
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Citations (5)
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JP2011095252A (ja) | 2009-09-29 | 2011-05-12 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂フィルム特性評価装置 |
JP2016003980A (ja) | 2014-06-18 | 2016-01-12 | エスペック株式会社 | 試験装置及び恒温装置 |
JP2017207473A (ja) | 2016-05-11 | 2017-11-24 | 株式会社島津製作所 | 材料試験用恒温槽および材料試験機 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011095252A (ja) | 2009-09-29 | 2011-05-12 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂フィルム特性評価装置 |
JP2016003980A (ja) | 2014-06-18 | 2016-01-12 | エスペック株式会社 | 試験装置及び恒温装置 |
JP2017207473A (ja) | 2016-05-11 | 2017-11-24 | 株式会社島津製作所 | 材料試験用恒温槽および材料試験機 |
JP2018072140A (ja) | 2016-10-28 | 2018-05-10 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
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