JP7082773B1 - Ｘ線防護衣点検装置及びｘ線防護衣点検プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】Ｘ線防護衣の透視点検を支援する。【解決手段】本発明に係るＸ線防護衣点検装置は、Ｘ線防護衣を透視点検するためのＸ線防護衣点検装置であって、Ｘ線防護衣のＸ線透視画像を取得する透視画像取得手段と、Ｘ線透視画像に撮像された遮へい材の瑕疵を検出する瑕疵検出処理手段と、遮へい材の瑕疵が検出された場合に、Ｘ線透視画像に瑕疵を強調して表示する瑕疵強調表示手段と、を有する。【選択図】図１７

Description

本発明は、Ｘ線防護衣点検装置及びＸ線防護衣点検プログラムに関する。

従来より、Ｘ線防護衣は、放射線医療の現場において患者や放射線技師の被ばくを防護するために用いられる。Ｘ線防護衣のメンテナンスは、外観からの目視点検だけでは不十分で、例えば３ヶ月～半年毎の定期的な透視点検が必要である。Ｘ線防護衣は２枚の表面材で放射線遮へい材を挟んだ３層構造なので、表面から遮へい材の状態を目視することは難しい（例えば特許文献１参照）。

このため放射線技師等は、Ｘ線透視装置などで定期的に防護衣の撮影を行い、撮影した防護衣のＸ線透視画像を目視で確認する。これを透視点検という（例えば非特許文献１参照）。廃棄を判定する瑕疵（傷や穴等の欠陥）の大きさやＸ線透過率などの点検基準は施設毎に設定されるものの、防護衣の遮へい材に瑕疵が発生していると判断された場合、すみやかに防護衣の廃棄、及び新しい防護衣への交換が行われる。

特開２００４－０７７１７０号公報 放射線防護分科会、日本放射線技術学会雑誌、診断用X線防護衣管理に関する指針(2000.4)、２０００年５６巻４号ｐ．５５６－５５７

しかしながら、上記非特許文献１に記載されるように、放射線技師等が防護衣のＸ線透視画像を目視で透視点検を行う場合、点検者によっては瑕疵か否かの判断が困難であったり、その判断にばらつきが生じたり、点検作業に時間を要してしまうという問題がある。

本発明は、上記の点に鑑み提案されたものであり、一つの側面では、Ｘ線防護衣の透視点検を支援するＸ線防護衣点検装置等することを目的とする。

上記の課題を解決するため、本開示に係るＸ線防護衣点検装置は、Ｘ線防護衣を透視点検するためのＸ線防護衣点検装置であって、Ｘ線透視装置から、該Ｘ線透視装置により撮像された前記Ｘ線防護衣のＸ線透視動画像を取得する透視画像取得手段と、表示装置と、前記Ｘ線透視装置により撮像された前記Ｘ線透視動画像を、前記表示装置上リアルタイムにモニタリング表示するモニタリング表示手段と、特定箇所のＸ線透視動画像がモニタリング表示された画面のところで行われた点検者の操作に従って、該Ｘ線透視動画像における該特定箇所のＸ線透視静止画像をキャプチャする画像キャプチャ操作手段と、前記Ｘ線透視静止画像に撮像された前記Ｘ線防護衣内に収容されている遮へい材の瑕疵を検出する瑕疵検出処理手段と、前記遮へい材の瑕疵が検出された場合に、前記Ｘ線透視静止画像に該瑕疵を強調して表示する瑕疵強調表示手段と、を有する。

本開示の実施の形態によれば、Ｘ線防護衣の透視点検を支援するＸ線防護衣点検装置等を提供することができる。

本実施形態に係るＸ線防護衣点検システムの構成例を示す図である。 本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置のハードウェア構成例を示す図である。 本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置のソフトウェア構成例を示す図である。 本実施形態に係る防護衣管理ＤＢのデータ項目の一例を示す図である。 本実施形態に係る透視点検履歴ＤＢのデータ項目の一例を示す図である。 本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置の透視点検処理を示すフローチャート図である。 本実施形態に係るＸ線透視画像データの一例を示す図である。 本実施形態に係る防護衣Ｘ線透視画像上の瑕疵及び不要箇所を示す図である。 本実施形態に係る瑕疵検出処理を示すフローチャート図である。 、本実施形態に係る前処理を説明する図である。 本実施形態に係る縫い目除去処理を説明する図である。 本実施形態に係る縫い目除去処理を説明する図である。 本実施形態に係るＸ線透視画像上の瑕疵候補領域例を示す図である。 本実施形態に係る領域分類処理を説明する図である。 本実施形態に係る領域分類方法を説明する図である。 本実施形態に係る領域分類事例を説明する図である。 本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置の透視点検結果画面の一例を示す図である。

以下、本実施形態について、図面を参照して説明する。同一の構成については、同じ符号を付して説明する。尚、以下の実施形態は本開示の技術を限定するものではなく、また、本実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが上記課題の解決手段に必須のものとは限らない。

＜システム構成＞
図１は、本実施形態に係るＸ線防護衣点検システムの構成例を示す図である。図１に示すＸ線防護衣点検システム１００は、Ｘ線防護衣点検装置１０及びＸ線透視装置２０、並びにＸ線防護衣３０を有する。

Ｘ線防護衣点検装置１０は、Ｘ線防護衣の定期的な透視点検に際し、Ｘ線防護衣（以下単に防護衣ともいう）３０のＸ線透視画像を画像解析することで、防護衣内に収容されている遮へい材の瑕疵（傷や穴等の欠陥）を検出する装置である。防護衣の遮へい材に瑕疵が発生していると判定された場合、すみやかに当該防護衣の廃棄、及び新しい防護衣への交換が行われる。

なお、本実施形態において、遮へい材における瑕疵とは、遮へい材の傷（穴までは開いていない状態）、及び、遮へい材に開いた穴を含む。防護衣の廃棄基準は施設毎に設定されるものの、傷はその後破れて穴となる可能性があるため、施設によっては遮へい材に傷が発生した時点で、予防的に廃棄するとの判断も考えられるためである。

Ｘ線透視装置２０は、人体にＸ線を照射して得られるＸ線透過量に基づいて、Ｘ線が透過する（白：２５５）、透過しない（黒：０）で表現されるグレースケールのＸ線透視画像を生成する装置である。
Ｘ線透視画像は、静止画として撮像されるのみならず、モニター上リアルタイムに動画像として観察することも可能である。本実施形態に係るＸ線透視装置２０においては、防護衣の定期的な透視点検を目的とするため、防護衣３０を撮像対象としてＸ線を照射し、防護衣３０のＸ線透視画像を生成する。

Ｘ線防護衣点検装置１０及びＸ線透視装置２０は、例えば有線ＬＡＮ、無線ＬＡＮなどの通信ネットワークで通信可能に接続されており、Ｘ線透視装置２０が撮像したＸ線防護衣のＸ線透視画像は、Ｘ線防護衣点検装置１０に送信される。

（ハードウェア構成）
図２は、本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置のハードウェア構成例を示す図である。Ｘ線防護衣点検装置１０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１１、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１２、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１３、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）１４、通信装置１５、及び表示装置１６を有する。

ＣＰＵ１１は、各種プログラムの実行や演算処理を行う。ＲＯＭ１２は、起動時に必要なプログラムなどが記憶されている。ＲＡＭ１３は、ＣＰＵ１１での処理を一時的に記憶したり、データを記憶したりする作業エリアである。ＨＤＤ１４は、各種データ及びプログラムを格納する。通信装置１５は、Ｘ線透視装置２０との通信を行う。表示装置１６は、防護衣のＸ線透視画像を表示する医療用高解像度ディスプレイでよい。

（ソフトウェア構成）
図３は、本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置のソフトウェア構成例を示す図である。Ｘ線防護衣点検装置１０は、主な機能部として、個体識別子取得部１０１、透視画像取得部１０２、瑕疵検出処理部１０３、瑕疵強調表示部１０４、及び透視点検履歴記憶部１０５を有する。

個体識別子取得部１０１は、Ｘ線防護衣３０の個体識別子を取得する機能を有している。

透視画像取得部１０２は、Ｘ線透視装置２０により撮影されたＸ線防護衣３０のＸ線透視画像データを取得する機能を有している。

瑕疵検出処理部１０３は、Ｘ線透視画像に撮像されたＸ線防護衣３０の遮へい材の瑕疵を検出する機能を有している。

また瑕疵検出処理部１０３は、Ｘ線透視画像からＸ線防護衣３０の表面材の縫い目領域を除去する縫い目除去部１０３ａと、Ｘ線透視画像の瑕疵候補領域のうち、遮へい材の瑕疵を含む瑕疵領域と、表面材の境界線、しわ又は折り目を含む非瑕疵領域とに分類する領域分類部１０３ｂとを含む。

瑕疵強調表示部１０４は、遮へい材の瑕疵が検出された場合に、Ｘ線透視画像に瑕疵領域を強調して表示する機能を有している。

透視点検履歴記憶部１０５は、Ｘ線防護衣３０の個体識別子と、検出の結果とを、透視点検履歴ＤＢ１０８に対応付けて記憶する機能を有している。

なおＸ線防護衣点検装置１０には、Ｘ線防護衣点検プログラムが予めインストールされており、Ｘ線防護衣点検装置１０を構成するコンピュータのＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等のハードウェア資源上でＸ線防護衣点検プログラムが実行されることで、上記の各機能部が実現される。またこれら機能部は、「手段」、「モジュール」、「ユニット」、又は「回路」に読替えてもよい。

（防護衣管理ＤＢ）
図４は、本実施形態に係る防護衣管理ＤＢのデータ項目の一例を示す図である。本実施形態に係る防護衣管理ＤＢ１０７は、防護衣情報を管理するためのＤＢである。新しい防護衣の使用開始時に、点検者によりその防護衣の情報が防護衣管理ＤＢ１０７に登録される。

防護衣管理ＤＢ１０７は、個体管理番号、製造者（メーカー）、型番（品番）、サイズ、色、製造年月日、使用期限、製造者、購入業者、保管場所などのデータ項目を有する。なお、当該データ項目はあくまで一例であり、その他のデータ項目があってもよい。

個体管理番号は、個々の防護衣毎に付番される固有の個体識別子である。使用施設において固有の個体管理番号であればよい。保管場所は、使用施設における防護衣の保管場所（又は使用場所）である。

（透視点検履歴ＤＢ）
図５は、本実施形態に係る透視点検履歴ＤＢのデータ項目の一例を示す図である。本実施形態に係る透視点検履歴ＤＢ１０８は、防護衣の透視点検履歴情報を管理するためのＤＢである。防護衣の透視点検が実施されるたびに、その防護衣の透視点検履歴情報が透視点検履歴ＤＢ１０８に登録される。

透視点検履歴ＤＢ１０８は、個体管理番号、点検実施日、点検者ＩＤ、点検者名、Ｘ線透視画像、点検結果、次回点検予定日などのデータ項目を有する。当該データ項目はあくまで一例であり、その他のデータ項目があってもよい。

個体管理番号は、防護衣管理ＤＢ１０７に登録された各々の防護衣の透視点検履歴を紐付けるための個体管理番号であるので、防護衣管理ＤＢ１０７の個体管理番号と対応する。点検実施日、点検者ＩＤ、点検者名は、それぞれ防護衣の透視点検が実施された日、防護衣の点検を行った者のＩＤ（例えば職員技師ＩＤ）、防護衣の点検を行った者の氏名である。

Ｘ線透視画像は、点検実施日に撮像された防護衣のＸ線透視画像データである。点検結果は、防護衣の透視点検を行った点検結果情報であり、例えば点検結果画像、画像上の遮へい材の瑕疵箇所や大きさ等がある。次回点検予定日は、次回実施すべき点検予定日である。当該点検予定日の例えば３か月後の日付けが自動的に入力されてもよい。

＜情報処理＞
（透視点検処理）
図６は、本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置の透視点検処理を示すフローチャート図である。ＣＰＵ１１が本フローチャートを実現可能なプログラムを読み込んで実行させることで、各ステップ（以下、「Ｓ」と表記する）を実現することができる。

Ｓ１：Ｘ線防護衣点検装置１０（個体識別子取得部１０１）は、今回点検対象となる防護衣の個体管理番号を取得する。取得方法としては、望ましくは今回点検対象となる防護衣にコードが取り付けられている場合、点検者がコード読み取り装置（非図示）で当該コードを読み取ることで、今回点検対象となる防護衣の個体管理番号をＸ線防護衣点検装置１０に入力してもよい。コード情報は少なくとも個体管理番号を含むため、当該コードを読み取ることで、防護衣管理ＤＢ１０７との照合により、Ｘ線防護衣点検装置１０上で防護衣の管理情報を点検者に表示しうる。またもしくは例えば点検者が今回点検対象となる防護衣に取り付けられた個体管理番号を参照し、Ｘ線防護衣点検装置１０に当該個体管理番号を直接入力してもよい。入力された当該個体管理番号と防護衣管理ＤＢ１０７との照合により、Ｘ線防護衣点検装置１０上で防護衣の管理情報を点検者に表示しうる。

Ｓ２：Ｘ線防護衣点検装置１０は、個体管理番号を取得したか否かを判定する。個体管理番号を取得したと判定した場合、次ステップへ進む。なお、Ｘ線防護衣点検装置１０上で防護衣の管理情報を点検者に表示し、点検者が所定の確認操作を行うことで、Ｘ線防護衣点検装置１０が個体管理番号を取得したと判定するようにしてもよい。

Ｓ３：次にＸ線防護衣点検装置１０（透視画像取得部１０２）は、Ｘ線防護衣のＸ線透視画像データを取得する。具体的に点検者がＸ線透視装置２０の走査台上にＸ線防護衣３０を着衣状態にして（前開きタイプの場合は前を閉じた状態）セットし、Ｘ線を照射することでＸ線透視画像データを撮像する。撮像したＸ線防護衣のＸ線透視画像データは、Ｘ線防護衣点検装置１０に送信される。

図７は、本実施形態に係るＸ線透視画像データの一例を示す図である。図７（ａ）は、Ｘ線防護衣点検装置１０がＸ線透視装置２０から取得したＸ線透視画像データ（静止画）を示したものである。

また図７（ｂ）に示すように、Ｘ線透視画像データは、Ｘ線防護衣点検装置１０がＸ線防護衣を分割して撮像した場合、全体画像が例えば９分割などの所定数に分割された部分画像群でもよい。この場合、一枚当たりのＸ線透視画像データの解像度を高くできるので、後述する瑕疵検出処理の精度を向上することができる。

また図７（ｃ）に示すように、Ｘ線透視画像データは、点検者の意思で特定された部分画像でもよい。上述したようにＸ線透視画像は、静止画として撮像されるのみならず、モニター上リアルタイムに動画像としてモニタリングすることも可能である。よってＸ線透視装置２０の走査台上に配置された防護衣が走査されると、モニタリング中のＸ線防護衣のＸ線透視動画像がＸ線防護衣点検装置１０にリアルタイムに送信されることで、Ｘ線防護衣点検装置１０の表示装置１６上においてもリアルタイムに防護衣のＸ線透視動画像がモニタリングされる。点検者は表示された防護衣のＸ線透視動画像を見ながら、特に点検したい特定箇所の画面のところで、画像キャプチャ操作を行うことで、当該特定の部分画像が取得される。特定箇所とは、瑕疵が疑われる箇所、瑕疵発生の頻度が高い箇所である。

なお、図７（ａ）に示されるように実際の医療現場のＸ線透視画像には、画像されたＸ線透視画像とは重ならない一部領域に、Ｘ線透視装置２０により付されたＤＩＣＯＭ情報（装置名、施設名、撮影条件、撮影者等々）が入っている場合がある。この場合、後述の瑕疵検出処理に備え、Ｘ線防護衣点検装置１０側でこのようなＤＩＣＯＭ情報の一部領域は画像上より除去されてよい。

Ｓ４：Ｘ線防護衣点検装置１０は、Ｘ線透視画像データを取得したか否かを判定する。Ｘ線透視画像データを取得したと判定した場合、次ステップへ進む。Ｘ線防護衣点検装置１０上で取得した防護衣のＸ線透視画像データを点検者に表示し、点検者が所定の確認操作を行うことで、Ｘ線防護衣点検装置１０がＸ線透視画像データを正常に取得したと判定するようにしてもよい。この表示時点でＸ線透視画像に防護衣が写っていない、鮮明でないなど、明らかにＸ線透視画像データに不具合があれば点検者の撮像ミスである可能性が高いので、点検者はＸ線透視装置２０で防護衣の撮像を再度やり直すことができる。

Ｓ５：Ｘ線防護衣点検装置１０（透視点検履歴記憶部１０５）は、Ｓ１で取得した個体管理番号に、Ｓ３で取得したＸ線透視画像データを紐付けて、透視点検履歴ＤＢ１０８に保存する。

Ｓ６：Ｘ線防護衣点検装置１０（瑕疵検出処理部１０３）は、Ｓ３で取得したＸ線透視画像データを対象に、瑕疵検出処理を実行する。瑕疵検出処理は、防護衣のＸ線透視画像データに基づいて、防護衣内に収容された遮へい材の瑕疵（傷や穴等の欠陥）の有無、位置、大きさ等を検出する画像解析処理である。

Ｓ７：Ｘ線防護衣点検装置１０（透視点検履歴記憶部１０５）は、Ｓ１で取得した個体管理番号に、Ｓ６で実行した瑕疵検出処理の結果を点検結果として紐付けて、透視点検履歴ＤＢ１０８に保存する。

Ｓ８：Ｘ線防護衣点検装置１０は、表示装置１６上に、Ｓ６で実行した瑕疵検出処理の結果を点検結果として出力表示する。例えば防護衣の遮へい材に重大な瑕疵が発生していると判定された場合、Ｘ線防護衣点検装置１０の表示装置１６上に、例えば防護衣の瑕疵を明示的に示した点検結果画像を表示するとともに、遮へい材に瑕疵が発見された旨、防護衣の廃棄及び新しい防護衣への交換を促すメッセージ等が表示される。

（瑕疵検出処理）
図８は、本実施形態に係る防護衣Ｘ線透視画像上の瑕疵及び不要箇所を示す図である。図８に示されるように、防護衣をＸ線透視した場合、Ｘ線透視画像上に、検出すべき遮へい材の瑕疵（傷や穴等の欠陥）以外にも、衣服特有の縫い目、（異なる生地間の）境界線、しわ、折り目等が写ってしまうことがある。このことから瑕疵検出処理においては、最終的に遮へい材の瑕疵を検出するにあたって、Ｘ線透視画像上からこれら不要箇所を除去する処理を実行する。

図９は、本実施形態に係る瑕疵検出処理を示すフローチャート図である。以下、図６のＳ６の瑕疵検出処理について詳しく説明する。
Ｓ６－１：Ｘ線防護衣点検装置１０は、Ｓ３で取得したオリジナルＸ線透視画像データを対象に、前処理を実行する。Ｓ６－２の処理をしやすくするためである。

図１０は、本実施形態に係る前処理を説明する図である。前処理において、Ｘ線防護衣点検装置１０は、Ｓ３で取得したＸ線透視画像データを対象に、適応的二値化処理（適応的しきい値処理ともいう）を行う。単純な二値化処理においては、その画素値が閾値値より大きければある値(白)を割り当て、そうでなければ別の値(黒)を割り当てるところ、適応的二値化処理は、閾値を固定せず画素毎に異なる閾値を算出して設定する二値化処理である。一般に不鮮明な写真や影が写り込んでいる写真など、全体的に緩やかに明るさが変化しているような画像に対する二値化処理手法として適している。Ｘ線透視画像の場合、同じ画像内に光源の偏りがあると二値化が上手くいかないため、適応的二値化処理によれば、光源環境の影響を排除し、精度よく二値化処理を行うことができる。

また、Ｘ線透視画像上において検出すべき遮へい材の瑕疵（傷や穴等の欠陥）は一定以上のサイズ（大きさ）があるものであるため、Ｘ線透視画像上に写っている非常に小さな点のような箇所は除去できる。よってＸ線防護衣点検装置１０は、適応的二値化処理後の画像において、白画素領域（白画素が隣り合って形成される領域）のサイズ（領域の画素数）が一定サイズ以下（領域の画素数が一定数以下）の領域について、黒の値を割り当てる処理を行う。

Ｓ６－１の前処理によって前処理済みのＸ線透視画像データを、瑕疵候補画像１と呼ぶ。

Ｓ６－２：Ｘ線防護衣点検装置１０（縫い目除去部１０３ａ）は、Ｓ６－１で前処理した瑕疵候補画像１を対象に、縫い目除去処理を実行する。縫い目除去処理は、防護衣のＸ線透視画像上から不必要な縫い目領域を除去する処理である。

図１１及び１２は、本実施形態に係る縫い目除去処理を説明する図である。防護衣の縫い目の特徴としては、比較的小さい白画素領域が一定等間隔に並んだ点線状となっている。このことから縫い目の一検出方法として、例えばＸ線透視画像内の縫い目と想定される白画素領域（予め想定した縫い目相当の所定サイズ以下の白画素領域）を、所定サイズ分膨張させることで縫い目領域を検出しうる。なお予め想定した縫い目相当の所定サイズを超える白画素領域は、縫い目の可能性は低いので、膨張処理の対象外とする。

具体的に、一定間隔に並んだ白画素領域（１つ１つの縫い目）の場合、白画素領域に膨張処理を実行すると、一定等間隔に並んでいるために白画素領域同士（縫い目同士）が結合し、一定サイズ以上の膨張白画素領域が形成される。つまり一定サイズ以上に形成された膨張白画素領域が、縫い目を含む領域であることを特定できる。

そして、この一定サイズ以上の膨張白画素領域内にあって、膨張処理前にあった白画素領域（縫い目）の画素値に黒の値を割り当てることで、瑕疵候補画像１から防護衣の縫い目を除去することができる。

Ｓ６－２の縫い目除去処理によって縫い目除去済みのＸ線透視画像データを、瑕疵候補画像２と呼ぶ。

Ｓ６－３：次にＸ線防護衣点検装置１０（領域分類部１０３ｂ）は、遮へい材の瑕疵領域（傷や穴等の欠陥）と、それ以外の境界線等の非瑕疵領域（例えば衣服特有の境界線、しわ、折り目等）とを、スコア値に基づいて分類する領域分類処理を実行する。

図１３は、本実施形態に係るＸ線透視画像上の瑕疵候補領域例を示す図である。図１３（ａ）は、検出すべき遮へい材の瑕疵領域例を示す。一方、図１３（ｂ）は、非検出すべき表面材の境界線領域及びしわ等の非瑕疵領域例を示す。衣服特有の境界線、しわ又は折り目等は、縫い目とは異なりその位置や大きさに規則性が無いため、Ｓ６－２の縫い目除去処理は異なる処理が必要となる。

図１４は、本実施形態に係る領域分類処理を説明する図である。まず瑕疵候補画像２から画像上の白画素領域を瑕疵候補領域として特定する。一方、瑕疵候補領域の画像データとしては、Ｓ３で取得したオリジナルのＸ線透視画像データから瑕疵候補画像２の対応した瑕疵候補領域の画像データを取得する。後述のスコア算出にあたってグレイ値等を用いるため、二値化画像ではなく、グレースケール画像が必要であるためである。

図１５は、本実施形態に係る領域分類方法を説明する図である。図１６は、本実施形態に係る領域分類事例を説明する図である。図１６に示すように、対象の瑕疵候補領域の画像毎に対して、図１５に示した「分類反対項目」及び「算出内容」に従ってスコアを算出し、スコアの高低に応じて、それぞれの瑕疵候補領域を、「遮へい材の瑕疵領域」、「周辺に黒い箇所がある場合の瑕疵領域」、及び「境界線等の非瑕疵領域」に分類判定することができる。

図１５に示す分類判定の項目は、「瑕疵候補領域の色」、「瑕疵候補領域と周辺領域の差分、「周辺領域の低グレイ値領域の最大長及び面積」及び「周辺領域の標準偏差」がある。

・「瑕疵候補領域の色」
遮へい材の瑕疵領域である可能性が高いほど、領域内は白に近いという特徴がある。よって例えば、瑕疵候補領域内の画素の最大グレイ値を算出し、算出した最大グレイ値が高い瑕疵候補領域ほど（白に近い瑕疵候補領域ほど）、高スコアを付与とする。

・「瑕疵候補領域と周辺領域の差分」
上述したように遮へい材の瑕疵領域である可能性が高いほど、領域内は白に近いのに加え、遮へい材の瑕疵領域である可能性が高いほど、その領域に隣接する周辺領域内の色との差分が大きいという特徴がある。よって例えば、瑕疵候補領域内の画素の最大グレイ値と、更に瑕疵候補領域の周辺領域内の画素の平均グレイ値とを算出の上、瑕疵候補領域内の画素の最大グレイ値と、周辺領域内の画素の平均グレイ値との差分値を算出する。算出した差分値が高い瑕疵候補領域ほど（瑕疵が目立つ瑕疵候補領域ほど）、高スコアを付与する。

・「周辺領域の低グレイ値領域の長さと形状」及び「周辺領域のグレイ値の標準偏差」
境界線、しわ又は折り目の非瑕疵領域は、瑕疵候補領域周辺の片側一方が黒に近く、逆のもう片側一方が白に近いという特徴がある。言い換えると、瑕疵候補領域と、周辺領域内で低グレイ領域とで、両領域の長さ・形状を比較して、瑕疵候補領域の両サイドで、色が分かれているという特徴がある。

よってまず、瑕疵候補領域に隣接する周辺領域内において、画素のグレイ値が閾値より低い低グレイ値領域を算出・特定する。なお、低グレイ値領域を算出・特定するにあたって、当該周辺領域内において画素のグレイ値が低いか否かを判定するための閾値は、光源環境の影響を排除するために例えば以下で算出しうる。
閾値 ＝ 周辺領域内画素のグレイ値平均 － X （X：パラメータ））
そして特定した周辺領域の低グレイ値領域の最大長が瑕疵候補領域と同程度、かつ形状が内部に空洞を含む形状であるドーナツ型（例えば図１６の(ａ)の周辺領域の低グレイ値領域の）でなく、また形状が分割されていない形状（例えば図１６の（ｂ）の周辺領域のうち更に低グレイ値領域）でない場合、さらに周辺領域の色のばらつき程度を判定するため、周辺領域の画素のグレイ値の標準偏差を算出する。周辺領域の画素のグレイ値の標準偏差が高いほど（色のばらつきがある、つまり瑕疵候補領域周辺の片側一方が黒に近く、逆のもう片側一方が白に近い）ほど低スコアを付与する。なお、周辺領域の低グレイ値領域の形状に関して、ドーナツ型、形状が分割されていない形状かどうかの判定は、従来技術を用いて判定すればよい。

図１６には、対象の瑕疵候補領域として、瑕疵候補領域（ａ）、（ｂ）、（ｃ）が例示されている。瑕疵候補領域(a)は、実際に遮へい材の瑕疵傷（又は穴）を示すものであるが、瑕疵候補領域の色は白く、周辺と比較しても白さが際立ち、瑕疵候補領域周辺の片側一方が黒に近く、逆のもう片側一方が白に近いという特徴もないことから、高スコアが付与された結果、「遮へい材の瑕疵領域」と分類されている。

瑕疵候補領域(ｂ)は、実際に遮へい材の瑕疵傷（又は穴）を示すものであるが、瑕疵候補領域の色は白く、周辺と比較しても白さは際立つほどではないが、瑕疵候補領域周辺の片側一方が黒に近く、逆のもう片側一方が白に近いという特徴もないことから、中スコアが付与された結果、「周辺に黒い箇所がある場合の遮へい材の瑕疵領域」と分類されている。

瑕疵候補領域(ｃ)は、実際に防護衣表面材の境界線を示すものであるが、瑕疵候補領域の色はそれほど白くはなく、周辺と比較しても白さは際立つほどではなく、瑕疵候補領域周辺の片側一方が黒に近く、逆のもう片側一方が白に近いという特徴があることから、低スコアが付与された結果、「境界線等の非瑕疵領域」と分類されている。

なお、高スコア、中スコア、又は低スコアの何れであるかの判定は、各々のスコア合計から判定してもよいし、もしくは何れか個々のスコアが高低の何れかに突出している場合、それを以って高スコア、低スコアと判定してもよい。

Ｓ６－４：Ｘ線防護衣点検装置１０は、Ｓ３で取得したオリジナルのＸ線透視画像上において、Ｓ６－３で分類された（ａ）遮へい材の瑕疵領域と、（ｂ）周辺に黒い箇所がある場合の瑕疵領域とに、瑕疵強調表示処理を実行する。瑕疵強調表示は、瑕疵領域を色付けしたり、領域線を付けたり、点検者が視認しやすくなる表示処理である。

具体的に再び図１４の点検結果画像を参照する。Ｘ線防護衣点検装置１０は、最終瑕疵画像を点検結果画像とし、オリジナルのＸ線透視画像上に、高スコアが付与された瑕疵候補領域を、遮へい材の瑕疵領域として、点検者が視認しやすいような第１色で強調し、表示装置１６に表示する。また、中スコアが付与された瑕疵候補領域を、遮へい材の瑕疵領域として、点検者が視認しやすいような第２色で強調し、表示装置１６に表示する。

一方、低スコアが付与された瑕疵候補領域については、衣服特有の境界線、しわ又は折り目等の領域である可能性が高いので、強調表示は行わない。但し、必要に応じて、第３色で強調し、表示装置１６に適宜表示してもよい。点検者は、Ｘ線防護衣点検装置１０のＵＩを操作し、強調表示された瑕疵候補領域（特に第３色で強調表示された瑕疵候補領域）を選択的に削除可能とする。

また、Ｘ線透視画像データが、Ｘ線透視装置２０により付されたＤＩＣＯＭ情報として画像サイズ情報（例えば、１ｍｍ当たりのピクセル数）を含む場合、Ｘ線透視画像上の瑕疵サイズを算出し、点検者に対して、遮へい材の瑕疵領域のサイズ表示を行うことも可能である。

点検者は、Ｘ線防護衣点検装置１０を用いて防護衣３０の透視点検を実施し、Ｘ線透視画像に遮へい材の瑕疵領域が表示された場合、防護衣の遮へい材に瑕疵が発生していると容易に認識することが可能である。また、廃棄すべき防護衣遮へい材の瑕疵の大きさ基準は施設毎に設定されるところ、瑕疵領域のサイズ表示によれば、点検者は施設の点検基準と照らし、容易に廃棄判断を行うことができる。

図１７は、本実施形態に係るＸ線防護衣点検装置の透視点検結果画面の一例を示す図である。本実施形態に係る透視点検結果画面においては、点検者により撮像された防護衣のＸ線透視画像１１１、防護衣管理ＤＢ１０７の防護衣管理情報１１２、透視点検履歴ＤＢ１０８の透視点検履歴情報１１３、図１４に示した点検結果画像１１４、点検結果を示す点検結果内容１１５、点検者が拡大したい点検結果画像１１４上の拡大領域を指定する領域指定部１１６、指定された領域を拡大した指定領域拡大図１１７などが表示される。

また点検者が、透視点検結果画面上の例えば「過去の点検結果を表示」１１８を操作すると、透視点検履歴ＤＢ１０８が参照され、同一個体管理番号の透視点検履歴情報を表示するができる。この場合、防護衣における過去の点検結果画像と、点検結果画像１１４とを、並べて表示することも可能である（非図示）。これにより点検者は過去の点検結果画像を比較することで、新たに発生した瑕疵、過去の瑕疵の程度の違い、瑕疵進み具合など、多面的な観点から防護衣の透視点検を行うことができる
このように本実施形態に係るＸ線防護衣点検システム１００によれば、点検者がＸ線防護衣点検装置１０を用いて防護衣３０の透視点検を実施し、Ｘ線透視画像に遮へい材の瑕疵領域が表示された場合、点検者の経験や習熟度等に依らずとも、防護衣の遮へい材に瑕疵が発生していると容易に且つ迅速に認識することが可能である。また、瑕疵領域のサイズ表示によれば、点検者は施設の点検基準と照らし、容易に廃棄判断を行うことができる。即ち、本実施形態によれば、Ｘ線防護衣の定期的な透視点検を支援するＸ線防護衣点検装置等を提供することが可能である。

以上、本発明の好適な実施の形態により、特定の具体例を示して本発明を説明したが、特許請求の範囲に定義された本発明の広範な趣旨および範囲から逸脱することなく、これら具体例に様々な修正および変更を加えることができることは明らかである。すなわち、具体例の詳細および添付の図面により本発明が限定されるものと解釈してはならない。

なお、本発明は、上述の実施形態の１つ以上の機能を実現するプログラムを、ネットワークまたは記録媒体を介してシステムまたは装置に供給し、そのシステムまたは装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読み出し作動させる処理でも実現可能である。

１０ Ｘ線防護衣点検装置
２０ Ｘ線透視装置
３０ Ｘ線防護衣
１００ Ｘ線防護衣点検システム
１０１ 個体識別子取得部
１０２ 透視画像取得部
１０３ 瑕疵検出処理部
１０４ 瑕疵強調表示部
１０５ 透視点検履歴記憶部
１０７ 防護衣管理ＤＢ
１０８ 透視点検履歴ＤＢ

Claims (3)

1. Ｘ線防護衣を透視点検するためのＸ線防護衣点検装置であって、
   Ｘ線透視装置から、該Ｘ線透視装置により撮像された前記Ｘ線防護衣のＸ線透視動画像を取得する透視画像取得手段と、
   表示装置と、
   前記Ｘ線透視装置により撮像された前記Ｘ線透視動画像を、前記表示装置上リアルタイムにモニタリング表示するモニタリング表示手段と、
   特定箇所のＸ線透視動画像がモニタリング表示された画面のところで行われた点検者の操作に従って、該Ｘ線透視動画像における該特定箇所のＸ線透視静止画像をキャプチャする画像キャプチャ操作手段と、
   前記Ｘ線透視静止画像に撮像された前記Ｘ線防護衣内に収容されている遮へい材の瑕疵を検出する瑕疵検出処理手段と、
   前記遮へい材の瑕疵が検出された場合に、前記Ｘ線透視静止画像に該瑕疵を強調して表示する瑕疵強調表示手段と、
   を有することを特徴とするＸ線防護衣点検装置。
2. 前記Ｘ線防護衣の個体識別子を取得する個体識別子取得手段と、
   前記Ｘ線防護衣の個体識別子と、前記検出の結果とを対応付けて記憶する透視点検履歴記憶手段と、
   を有することを特徴とする請求項１に記載のＸ線防護衣点検装置。
3. コンピュータを、請求項１に記載のＸ線防護衣点検装置として機能させるためのＸ線防護衣点検プログラム。
   

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