JP2023090581A - X線防護衣点検装置及びx線防護衣点検プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本実施形態に係るX線防護衣点検システムの構成例を示す図である。図1に示すX線防護衣点検システム100は、X線防護衣点検装置10及びX線透視装置20、並びにX線防護衣30を有する。
X線透視画像は、静止画として撮像されるのみならず、モニター上リアルタイムに動画像として観察することも可能である。本実施形態に係るX線透視装置20においては、防護衣の定期的な透視点検を目的とするため、防護衣30を撮像対象としてX線を照射し、防護衣30のX線透視画像を生成する。
図2は、本実施形態に係るX線防護衣点検装置のハードウェア構成例を示す図である。X線防護衣点検装置10は、CPU(Central Processing Unit)11、ROM(Read Only Memory)12、RAM(Random Access Memory)13、HDD(Hard Disk Drive)14、通信装置15、及び表示装置16を有する。
図3は、本実施形態に係るX線防護衣点検装置のソフトウェア構成例を示す図である。X線防護衣点検装置10は、主な機能部として、個体識別子取得部101、透視画像取得部102、瑕疵検出処理部103、瑕疵強調表示部104、及び透視点検履歴記憶部105を有する。
図4は、本実施形態に係る防護衣管理DBのデータ項目の一例を示す図である。本実施形態に係る防護衣管理DB107は、防護衣情報を管理するためのDBである。新しい防護衣の使用開始時に、点検者によりその防護衣の情報が防護衣管理DB107に登録される。
図5は、本実施形態に係る透視点検履歴DBのデータ項目の一例を示す図である。本実施形態に係る透視点検履歴DB108は、防護衣の透視点検履歴情報を管理するためのDBである。防護衣の透視点検が実施されるたびに、その防護衣の透視点検履歴情報が透視点検履歴DB108に登録される。
(透視点検処理)
図6は、本実施形態に係るX線防護衣点検装置の透視点検処理を示すフローチャート図である。CPU11が本フローチャートを実現可能なプログラムを読み込んで実行させることで、各ステップ(以下、「S」と表記する)を実現することができる。
図8は、本実施形態に係る防護衣X線透視画像上の瑕疵及び不要箇所を示す図である。図8に示されるように、防護衣をX線透視した場合、X線透視画像上に、検出すべき遮へい材の瑕疵(傷や穴等の欠陥)以外にも、衣服特有の縫い目、(異なる生地間の)境界線、しわ、折り目等が写ってしまうことがある。このことから瑕疵検出処理においては、最終的に遮へい材の瑕疵を検出するにあたって、X線透視画像上からこれら不要箇所を除去する処理を実行する。
S6-1:X線防護衣点検装置10は、S3で取得したオリジナルX線透視画像データを対象に、前処理を実行する。S6-2の処理をしやすくするためである。
遮へい材の瑕疵領域である可能性が高いほど、領域内は白に近いという特徴がある。よって例えば、瑕疵候補領域内の画素の最大グレイ値を算出し、算出した最大グレイ値が高い瑕疵候補領域ほど(白に近い瑕疵候補領域ほど)、高スコアを付与とする。
上述したように遮へい材の瑕疵領域である可能性が高いほど、領域内は白に近いのに加え、遮へい材の瑕疵領域である可能性が高いほど、その領域に隣接する周辺領域内の色との差分が大きいという特徴がある。よって例えば、瑕疵候補領域内の画素の最大グレイ値と、更に瑕疵候補領域の周辺領域内の画素の平均グレイ値とを算出の上、瑕疵候補領域内の画素の最大グレイ値と、周辺領域内の画素の平均グレイ値との差分値を算出する。算出した差分値が高い瑕疵候補領域ほど(瑕疵が目立つ瑕疵候補領域ほど)、高スコアを付与する。
境界線、しわ又は折り目の非瑕疵領域は、瑕疵候補領域周辺の片側一方が黒に近く、逆のもう片側一方が白に近いという特徴がある。言い換えると、瑕疵候補領域と、周辺領域内で低グレイ領域とで、両領域の長さ・形状を比較して、瑕疵候補領域の両サイドで、色が分かれているという特徴がある。
閾値 = 周辺領域内画素のグレイ値平均 - X (X:パラメータ))
そして特定した周辺領域の低グレイ値領域の最大長が瑕疵候補領域と同程度、かつ形状が内部に空洞を含む形状であるドーナツ型(例えば図16の(a)の周辺領域の低グレイ値領域の)でなく、また形状が分割されていない形状(例えば図16の(b)の周辺領域のうち更に低グレイ値領域)でない場合、さらに周辺領域の色のばらつき程度を判定するため、周辺領域の画素のグレイ値の標準偏差を算出する。周辺領域の画素のグレイ値の標準偏差が高いほど(色のばらつきがある、つまり瑕疵候補領域周辺の片側一方が黒に近く、逆のもう片側一方が白に近い)ほど低スコアを付与する。なお、周辺領域の低グレイ値領域の形状に関して、ドーナツ型、形状が分割されていない形状かどうかの判定は、従来技術を用いて判定すればよい。
このように本実施形態に係るX線防護衣点検システム100によれば、点検者がX線防護衣点検装置10を用いて防護衣30の透視点検を実施し、X線透視画像に遮へい材の瑕疵領域が表示された場合、点検者の経験や習熟度等に依らずとも、防護衣の遮へい材に瑕疵が発生していると容易に且つ迅速に認識することが可能である。また、瑕疵領域のサイズ表示によれば、点検者は施設の点検基準と照らし、容易に廃棄判断を行うことができる。即ち、本実施形態によれば、X線防護衣の定期的な透視点検を支援するX線防護衣点検装置等を提供することが可能である。
20 X線透視装置
30 X線防護衣
100 X線防護衣点検システム
101 個体識別子取得部
102 透視画像取得部
103 瑕疵検出処理部
104 瑕疵強調表示部
105 透視点検履歴記憶部
107 防護衣管理DB
108 透視点検履歴DB
Claims (8)
- X線防護衣を透視点検するためのX線防護衣点検装置であって、
前記X線防護衣のX線透視画像を取得する透視画像取得手段と、
前記X線透視画像に撮像された遮へい材の瑕疵を検出する瑕疵検出処理手段と、
前記遮へい材の瑕疵が検出された場合に、前記X線透視画像に該瑕疵を強調して表示する瑕疵強調表示手段と、
を有することを特徴とするX線防護衣点検装置。 - 前記X線防護衣の個体識別子を取得する個体識別子取得手段と、
前記X線防護衣の個体識別子と、前記検出の結果とを対応付けて記憶する透視点検履歴記憶手段と、
を有することを特徴とする請求項1に記載のX線防護衣点検装置。 - 前記瑕疵検出処理手段は、
前記X線透視画像から、前記X線防護衣の表面材の縫い目領域を除去する縫い目除去処理手段を含むこと、
を特徴とする請求項1に記載のX線防護衣点検装置。 - 前記縫い目除去処理手段は、
前記X線透視画像において、所定サイズ以下の白画素領域に膨張処理を実行し、該膨張処理により形成された一定サイズ以上の膨張白画素領域内にある前記所定サイズ以下の白画素領域を、前記X線透視画像から除去すること、
を特徴とする請求項3に記載のX線防護衣点検装置。 - 前記瑕疵検出処理手段は、
前記X線透視画像の瑕疵候補領域のうち、前記遮へい材の瑕疵を含む瑕疵領域と、前記X線防護衣の表面材の境界線、しわ又は折り目を含む非瑕疵領域とに分類する領域分類処理手段を含み、
前記瑕疵強調表示手段は、前記瑕疵領域を強調して表示すること、
を特徴とする請求項1に記載のX線防護衣点検装置。 - 前記領域分類処理手段は、
前記瑕疵候補領域の画素の最大グレイ値が高いほど、該瑕疵候補領域に対して高スコアを付与し、
前記瑕疵候補領域に付与されたスコアの高低に応じて、高スコアの前記瑕疵領域と、低スコアの前記非瑕疵領域とに分類すること、
を特徴とする請求項5に記載のX線防護衣点検装置。 - 前記領域分類処理手段は、
前記瑕疵候補領域の画素の最大グレイ値と、該瑕疵候補領域の周辺領域の画素の平均グレイ値との差分値が高いほど、該瑕疵候補領域に対して高スコアを付与し、
前記瑕疵候補領域に付与されたスコアの高低に応じて、高スコアの前記瑕疵領域と、低スコアの前記非瑕疵領域とに分類すること、
を特徴とする請求項5に記載のX線防護衣点検装置。 - コンピュータを、請求項1に記載のX線防護衣点検装置として機能させるためのX線防護衣点検プログラム。
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