JP7077527B2 - 波長可変光源、及び波長制御方法 - Google Patents
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Description
光源と、
前記光源から出力される光の一部が入力される波長モニタと、
前記波長モニタの出力に基づいて前記光源から出力される光の波長を制御するコントローラと、を有し、
前記波長モニタは、周期的に変化する透過スペクトルを有し位相が互いに90°ずれた4つの成分を出力する波長フィルタと、前記波長フィルタの4つの出力光を検出する複数の受光素子を有し、
前記コントローラは、前記4つの出力光の中のひとつを選択して、選択された出力光のモニタ値の前記4つの出力光のモニタ値の総和に対する比を計算し、前記比が指定波長での目標値に近づくように前記光源の波長を調節する。
図6は、図4の光源モジュール10の変形例1として、光源モジュール10Aを示す。光源モジュール10Aの波長モニタ15Aは、基板13Aに作り込まれたゲルマニウム・フォトダイオード(GePD1~GePD4)を受光素子231~234として有する。
基板13Aに作り込まれたGePD1~GePD4から光電流を取り出してTLSコントローラ500へ供給するのに、中継基板40を用いる。GePD1~GePD4の出力はワイヤボンディング75a~75dにより、中継基板40の表面に形成されている接続パッドに電気的に接続されている。GePD1~GePD4の出力電流I1~I4は、中継基板40の接続端子からTLSコントローラ500に入力される。
図9は、変形例2として、光源モジュール10Bを示す。光源モジュール10Bは、図6の光源モジュール10Aと同様に、受光素子231~234として、ゲルマニウム・フォトダイオード(GePD1~GePD4)が基板13Aに作り込まれている。
図10は、変形例3として、光源モジュール10Cを示す。光源モジュール10Cは、変形例1及び変形例2と同様に、基板13Bに作り込まれたゲルマニウム・フォトダイオード(GePD1~GePD4)を受光素子231~234として有する。
図11は、変形例4として、光源モジュール10Dを示す。光源モジュール10Dは、波長モニタ15Cにおいて、基板13Cに作りこまれた3つのゲルマニウム・フォトダイオード(GePD1~GePD3)を受光素子231、232、335として用いる。
図12は、波長可変光源101Aの制御ブロック図である。波長可変光源101Aは、光源モジュール10(または光源モジュール10A~10Dのいずれか)と、TLSコントローラ500Aを有する。TLSコントローラ500Aは、光源モジュール10の波長を制御する波長制御部514と、光源モジュール10の出力光のパワー(または強度)を制御する出力パワー制御部516を有する。
(付記1)
光源と、
前記光源から出力される光の一部が入力される波長モニタと、
前記波長モニタの出力に基づいて前記光源から出力される光の波長を制御するコントローラと、
を有し、
前記波長モニタは、周期的に変化する透過スペクトルを有し位相が互いに90°ずれた4つの成分を出力する波長フィルタと、前記波長フィルタの4つの出力光を検出する複数の受光素子を有し、 前記コントローラは、前記4つの出力光の中のひとつを選択して、選択された出力光のモニタ値の前記4つの出力光のモニタ値の総和に対する比を計算し、前記比が指定波長での目標値に近づくように前記光源の波長を調節することを特徴とする波長可変光源。
(付記2)
前記コントローラは、前記4つの出力光のうち、前記指定波長において出力の変化率が最も大きくなる出力光を選択して前記比を計算することを特徴とする付記1に記載の波長可変光源。
(付記3)
前記4つの出力光のうちの1以上の出力光の各々について、あらかじめ前記総和に対する前記比の変化をスペクトル情報として記憶するメモリ、
をさらに有し、
前記コントローラは、前記メモリを参照して、前記指定波長において変化率が最も大きくなるスペクトルの出力光を選択することを特徴とする付記2に記載の波長可変光源。
(付記4)
前記コントローラは、前記波長モニタから前記4つの出力光の電流値を個別に受け取って前記比を計算することを特徴とする付記1~3のいずれかに記載の波長可変光源。
(付記5)
前記コントローラは、前記4つの出力光のうち2つの出力光のモニタ値を第1電流値、及び第2電流値として受け取り、他の2つの出力光のモニタ値を合わせたものを第3電流値として受け取って前記比を計算することを特徴とする付記1~3のいずれかに記載の波長可変光源。
(付記6)
前記コントローラは、選択された前記出力光のモニタ値を用いて、前記光源の利得を調整することを特徴とする付記1~5のいずれかに記載の波長可変光源。
(付記7)
光源と、
前記光源から出力される光の一部をモニタしてモニタ値を出力する波長モニタと、
を有し、
前記波長モニタは、周期的に変化する透過スペクトルを有し位相が互いに90°ずれた4つの成分を出力する波長フィルタと、前記波長フィルタの4つの出力光を検出して出力する複数の受光素子とを有することを特徴とする光源モジュール。
(付記8)
前記波長フィルタは、4つの出力導波路を有し、
前記波長モニタは、前記4つの出力導波路の各々に接続される4つの受光素子を有し、
前記4つの受光素子で検出された電流値が前記波長モニタのモニタ出力となることを特徴とする付記7に記載の光源モジュール。
(付記9)
前記波長フィルタは、4つの出力導波路を有し、
前記波長モニタは、前記4つの出力導波路の各々に接続される4つの受光素子を有し、
前記4つの受光素子のうち2つの受光素子で個別に検出された電流値が前記波長モニタの第1モニタ出力と第2モニタ出力となり、他の2つの受光素子で検出された電流値を合わせた値が第3モニタ出力となることを特徴とする付記7に記載の光源モジュール。
(付記10)
前記波長フィルタは、4つの出力導波路を有し、
前記波長モニタは、前記4つの出力導波路のうち2つの出力導波路に接続される2つの受光素子と、他の2つの出力導波路に共通に接続される1つの受光素子、を有することを特徴とする付記7に記載の光源モジュール。
(付記11)
前記波長フィルタと前記受光素子は第1基板上にモノリシックに形成されており、
前記受光素子の出力は、少なくとも3つのモニタ出力として第2基板を介して外部に出力されることを特徴とする付記7~10のいずれかに記載の光源モジュール。
(付記12)
前記光源の波長は、前記4つの出力導波路のうちの1つの出力導波路のモニタ値の、前記4つの出力導波路のモニタ値の総和に対する比が、指定波長における目標値になるように制御されることを特徴とする付記7~11のいずれかに記載の光源モジュール。
(付記13)
光源の波長を制御する波長制御方法において、
前記光源から出力される光の一部を、周期的に変化する透過スペクトルを有する波長フィルタに入力して、位相が互いに90°ずれた4つの出力光を生成し、
前記4つの出力光を検出してモニタ値を取得し、
コントローラで前記4つの出力光の中のひとつを選択して、選択された出力光のモニタ値の、前記4つの出力光のモニタ値の総和に対する比を計算し、
前記比が指定波長での目標値に近づくように前記光源の波長を制御する、
ことを特徴とする波長制御方法。
(付記14)
前記コントローラにて、前記4つの出力光のうち前記指定波長において出力の変化率が最も大きくなる出力光を選択して前記比を計算することを特徴とする付記13に記載の波長制御方法。
(付記15)
前記コントローラに前記4つの出力光の検出値を表わす3以上のモニタ値が入力され、前記3以上のモニタ値に基づいて前記比が計算されることを特徴とする付記14に記載の波長制御方法。
10,10A~10D 光源モジュール
11 半導体光増幅器(SOA1)
12 半導体光増幅器(SOA2)
13、13A~13C 基板
14 共振器フィルタ
15、15A~15C 波長モニタ
20 光源
32~34、232~234 受光素子
90 パッケージ
101、101A、101B 波長可変光源
131、132、133、152、153 光導波路
150 波長フィルタ
156、156a~156d 出力導波路
500 TLSコントローラ
510 プロセッサ
512 比計算部
513 比較部
514 波長制御部
515 指定波長入力部
516 出力パワー制御部
516-1 SOA1制御部
516-2 SOA2制御部
520 メモリ
521 スペクトル情報記憶部
Claims (4)
- 光源と、
前記光源から出力される光の一部が入力される波長モニタと、
前記波長モニタの出力に基づいて前記光源から出力される光の波長を制御するコントローラと、
を有し、
前記波長モニタは、波長に対して周期的に変化する透過スペクトルを有し位相が互いに90°ずれた4つの成分を出力する波長フィルタと、前記波長フィルタの4つの出力光を検出する複数の受光素子を有し、
前記コントローラは、前記複数の受光素子により検出された前記4つの出力光のモニタ値の総和に対する、いずれか1つの光出力のモニタ値または2つの光出力の和を表すモニタ値の比を計算し、前記比が指定波長での前記透過スペクトルのスペクトル値に近づくように前記光源の波長を調節し、
前記コントローラは、前記いずれか1つの光出力のモニタ値または前記2つの光出力の和を表すモニタ値のうち、前記指定波長において前記透過スペクトルの変化率が最も大きくなるモニタ値を選択して前記比を計算することを特徴とする波長可変光源。 - 前記コントローラは、前記波長モニタから前記4つの出力光の電流値を個別に受け取って前記比を計算することを特徴とする請求項1に記載の波長可変光源。
- 前記コントローラは、前記4つの出力光のうち2つの出力光のモニタ値を第1電流値及び第2電流値として受け取り、他の2つの出力光のモニタ値を合わせたものを第3電流値として受け取って前記比を計算することを特徴とする請求項1に記載の波長可変光源。
- 光源の波長を制御する波長制御方法において、
前記光源から出力される光の一部を、波長に対して周期的に変化する透過スペクトルを有する波長フィルタに入力して、位相が互いに90°ずれた4つの出力光を生成し、
前記4つの出力光を検出してモニタ値を取得し、
コントローラで前記4つの出力光のモニタ値の総和に対する、1つの出力光のモニタ値または2つの出力光の和を表すモニタ値の比を計算し、
前記比が指定波長で前記透過スペクトルのスペクトル値に近づくように前記光源の波長を制御し、
前記コントローラは、前記1つの出力光のモニタ値または前記2つの出力光の和を表すモニタ値のうち、前記指定波長において前記透過スペクトルの変化率が最も大きくなるモニタ値を選択して前記比を計算する、
ことを特徴とする波長制御方法。
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Families Citing this family (9)
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US10481333B2 (en) * | 2017-07-06 | 2019-11-19 | Macom Technology Solutions Holdings, Inc. | Athermal silicon photonics wavelength locker and meter |
JP6943060B2 (ja) * | 2017-08-03 | 2021-09-29 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | 波長可変光源、及び光モジュール |
US10365432B1 (en) * | 2018-04-21 | 2019-07-30 | Axalume, Inc. | Optical device with reduced back reflection |
US11064592B1 (en) | 2018-09-28 | 2021-07-13 | Apple Inc. | Systems and methods for wavelength locking in optical sensing systems |
US11835836B1 (en) | 2019-09-09 | 2023-12-05 | Apple Inc. | Mach-Zehnder interferometer device for wavelength locking |
CA3111302A1 (en) * | 2020-03-09 | 2021-09-09 | Thorlabs Quantum Electronics, Inc. | Tunable laser assembly and method of control |
US11005566B1 (en) * | 2020-05-14 | 2021-05-11 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Wavelength modulation to improve optical link bit error rate |
EP4050741A1 (en) * | 2021-02-26 | 2022-08-31 | EFFECT Photonics B.V. | Monolithic photonic integrated circuit and opto-electronic system comprising the same |
US20230100317A1 (en) * | 2021-09-24 | 2023-03-30 | Apple Inc. | Interference Devices for Wavelength Locking |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000323784A (ja) | 1999-05-06 | 2000-11-24 | Fujitsu Ltd | マルチ波長安定化装置、マルチ定波長光源装置、波長分割多重方式用光源装置および波長判別装置 |
US20030021308A1 (en) | 2000-10-25 | 2003-01-30 | Kuznetsov Mark E. | Interferometric filter wavelength meter and controller |
JP2005274507A (ja) | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Yokogawa Electric Corp | レーザ分光分析装置 |
JP2007121232A (ja) | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Yokogawa Electric Corp | 波長モニタ |
JP2011003591A (ja) | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長ロッカー集積型半導体レーザ素子 |
JP2011513711A (ja) | 2008-02-21 | 2011-04-28 | ルナ イノベーションズ インコーポレイテッド | 波長可変レーザの高精度波長測定と制御 |
US20130064542A1 (en) | 2011-09-12 | 2013-03-14 | Adva Optical Networking Se | Optical frequency locking method and device for optical data transmission |
JP2013089961A (ja) | 2011-10-13 | 2013-05-13 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長モニタ、波長固定レーザ及び波長固定レーザの出射光波長の調整方法 |
WO2014118836A1 (ja) | 2013-02-01 | 2014-08-07 | 日本電気株式会社 | 光機能集積ユニット及びその製造方法 |
JP2015002210A (ja) | 2013-06-13 | 2015-01-05 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 波長可変レーザ装置 |
JP2015060961A (ja) | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 住友電気工業株式会社 | 波長制御システムおよび波長制御方法 |
JP2015068854A (ja) | 2013-09-26 | 2015-04-13 | 住友電気工業株式会社 | 光学素子および波長モニタ |
JP2015159191A (ja) | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 住友電気工業株式会社 | 光伝送装置 |
WO2016010528A1 (en) | 2014-07-15 | 2016-01-21 | Nokia Technologies Oy | Ultra-compact wavelength meter |
JP2016072464A (ja) | 2014-09-30 | 2016-05-09 | 住友電気工業株式会社 | 光伝送装置 |
WO2016194349A1 (ja) | 2015-05-29 | 2016-12-08 | 日本電信電話株式会社 | 光コヒーレントミキサ回路 |
JP2017216384A (ja) | 2016-06-01 | 2017-12-07 | 富士通株式会社 | 波長可変レーザ |
JP2018110158A (ja) | 2016-12-28 | 2018-07-12 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | 波長可変光源、及びこれを用いた光トランシーバ |
JP2018129338A (ja) | 2017-02-06 | 2018-08-16 | 富士通株式会社 | 波長可変レーザ装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1850170A1 (en) * | 2006-08-01 | 2007-10-31 | Alcatel Lucent | Finetuning of embedded wavelength monitor |
JP6186713B2 (ja) * | 2012-12-05 | 2017-08-30 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | 光変調器及び光送信機 |
US9571206B2 (en) * | 2014-09-29 | 2017-02-14 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Symbol timing and clock recovery for variable-bandwidth optical signals |
-
2017
- 2017-02-24 JP JP2017033741A patent/JP7077527B2/ja active Active
-
2018
- 2018-02-22 US US15/902,227 patent/US10349492B2/en active Active
Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000323784A (ja) | 1999-05-06 | 2000-11-24 | Fujitsu Ltd | マルチ波長安定化装置、マルチ定波長光源装置、波長分割多重方式用光源装置および波長判別装置 |
US20030021308A1 (en) | 2000-10-25 | 2003-01-30 | Kuznetsov Mark E. | Interferometric filter wavelength meter and controller |
JP2005274507A (ja) | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Yokogawa Electric Corp | レーザ分光分析装置 |
JP2007121232A (ja) | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Yokogawa Electric Corp | 波長モニタ |
JP2011513711A (ja) | 2008-02-21 | 2011-04-28 | ルナ イノベーションズ インコーポレイテッド | 波長可変レーザの高精度波長測定と制御 |
JP2011003591A (ja) | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長ロッカー集積型半導体レーザ素子 |
US20130064542A1 (en) | 2011-09-12 | 2013-03-14 | Adva Optical Networking Se | Optical frequency locking method and device for optical data transmission |
JP2013089961A (ja) | 2011-10-13 | 2013-05-13 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長モニタ、波長固定レーザ及び波長固定レーザの出射光波長の調整方法 |
WO2014118836A1 (ja) | 2013-02-01 | 2014-08-07 | 日本電気株式会社 | 光機能集積ユニット及びその製造方法 |
JP2015002210A (ja) | 2013-06-13 | 2015-01-05 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 波長可変レーザ装置 |
JP2015060961A (ja) | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 住友電気工業株式会社 | 波長制御システムおよび波長制御方法 |
JP2015068854A (ja) | 2013-09-26 | 2015-04-13 | 住友電気工業株式会社 | 光学素子および波長モニタ |
JP2015159191A (ja) | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 住友電気工業株式会社 | 光伝送装置 |
WO2016010528A1 (en) | 2014-07-15 | 2016-01-21 | Nokia Technologies Oy | Ultra-compact wavelength meter |
JP2016072464A (ja) | 2014-09-30 | 2016-05-09 | 住友電気工業株式会社 | 光伝送装置 |
WO2016194349A1 (ja) | 2015-05-29 | 2016-12-08 | 日本電信電話株式会社 | 光コヒーレントミキサ回路 |
JP2017216384A (ja) | 2016-06-01 | 2017-12-07 | 富士通株式会社 | 波長可変レーザ |
JP2018110158A (ja) | 2016-12-28 | 2018-07-12 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | 波長可変光源、及びこれを用いた光トランシーバ |
JP2018129338A (ja) | 2017-02-06 | 2018-08-16 | 富士通株式会社 | 波長可変レーザ装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Seok-Hwan Jeong, et al.,"Novel Optical 90° Hybrid Consisting of a Paired Interference Based 2×4 MMI Coupler, a Phase Shifter and a 2×2 MMI Coupler",Journal of Lightwave Technology,2010年02月17日,Vol.28,No.9,p.1323-1331 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10349492B2 (en) | 2019-07-09 |
JP2018139266A (ja) | 2018-09-06 |
US20180249555A1 (en) | 2018-08-30 |
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