JP7056998B2 - 交流-直流高電圧リーク検出のためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Description
[例]
[例1]
[慣用型HVLD露出]
[例2]
[ADHV露出]
[例4]
[感度]
002 欠陥バイアル
003 検査電極
005 検出電極
007 容器
023 AC高電圧
105 容器
107 カソードプレート
109 アノードロッド
111 補助電極ロッド
115 直流高電圧源
117 測定抵抗
119 スイッチ
121 弁別回路
200 リーク検出回路
201 検査電極
202 パッケージ
203 高電圧ケーブル
204 空隙
205 高電圧整流器
208 高電圧パルス自動変換器(高電圧パルス変換器)
209 第1のDC電圧電源
211 高電圧制御ボード
213 第2のDC電圧電源
215 ディスプレイ
217 プログラマブルロジックコントローラ
219 電流検出ボード
225 シールドケーブル
227 検出電極
301 検査電極
303 検出電極
305 パッケージ
323 AC高電圧
329 DC高電圧オフセット
400 リーク検出システム
401 検査電極
402 試験インターフェース
403 検出電極
405 高電圧ケーブル
407 シールドケーブル
409 パッケージ
411 ホルダ
413 回転機構
415 検出用スライド機構
417 検査用スライド機構
500 リーク検出システム
501 検査電極
501 パッケージ
502 試験インターフェース
503 検出電極
505 パッケージ
507 検出用スライド機構
509 検査用スライド機構
511 高電圧ケーブル
513 シールドケーブル
515 トレイ
517 ホルダ
519 回転機構
600 リーク検出システム
601 検査電極
602 検査インターフェース
603 検出電極
605 検査用スライド機構
607 検出用スライド機構
609 ホルダ
611 回転機構
613 パッケージ
615 トレイ
700 リーク検出システム
701 検査電極
702 試験インターフェース
703 検出電極
705 電極用スライド機構
707 コンベア
709 パッケージ
800 リーク検出システム
801 検査電極
802 検査インターフェース
803 検出電極
805 検査用スライド機構
807 検出用スライド機構
813 パッケージ
815 トレイ
Claims (7)
- リークを検出する方法において、
検査電極および検出電極の間に、ピンホール、亀裂のような欠陥を検出すべき、薬品、食品、およびその他の製品が充填されている、アンプル、バイアル、シリンジ、パウチ、フランジ、アルミパウチのような容器、および、任意の他の容器、または、密封不全を検出すべき、内容物がなく密封された容器を配置するステップと、
DC電圧オフセットを伴うAC電圧を上記電極を介して、印加するステップと、
上記検出電極を介して、上記容器を介して流れる電流の流れを検出するステップであって、上記電流流れは、上記検査電極を介して上記DC電圧オフセットを伴う上記AC電圧を印加することによりもたらされるステップと、
上記電流の流れにおける変化に基づいて、上記容器に欠陥があるかどうかを決定するステップとを有することを特徴とする上記方法。 - -18.5kV pk が5分の間だけ印加されるとき、0.004ppmのオゾンが生成される、請求項1に記載の方法。
- 上記容器の内部の物質に印加される電圧の量を減少させることをさらに有する、請求項1に記載の方法。
- -18.5kV pk が印加されたときに、非欠陥の容器の内部の製品に-300V pk しか測定されない、請求項1に記載の方法。
- 電流の測定された変化の感度を増加させることをさらに有する、請求項1に記載の方法。
- シールに欠陥のある容器およびシールに欠陥のない容器に対する信号レベルの比が、-12kV pk が印加されたときに7.7V/2.2V=3.5である、請求項1に記載の方法。
- リーク検出試験を通してオゾンの生成を減少させる請求項1記載の方法。
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